Профиль линии

Опорная длина профиля г — сумма длин отрезков, отсекаемых на выступах измеряемого профиля линией, эквидистантной средней линии, в пределах базовой длины в [c.86]

Под опорной длиной профиля Рр понимают сумму длин отрезков в пределах базовой длины, отсекаемых на заданном уровне в материале выступов профиля линией, эквидистантной средней линии. [c.408]

Профиль линии, получаемый в общей теории, оказывается сдвинутым относительно невозмущенной частоты то и несимметричным (рис. 102). Центральная часть линии хорошо описывается в ударном приближении, на крыльях превалирует статистическое ионное уширение. [c.271]

Рассмотрим, например, обтекание профиля безграничным потоком (рис. 7.32, а). Вдалеке от профиля линии тока и эквипотенциали приближенно являются взаимно ортогональными прямыми. Поэтому прямоугольник, стороны которого велики по сравнению 266 [c.266]

Водопроводные линии располагаются по проездам или обочинам дорог параллельно линиям застройки, желательно вне асфальтовых и бетонных покрытий. Пересечение проездов производится под прямым углом. В продольном профиле линии следуют микрорельефу местности на глубине заложения. Линии разбивают на отдельные участки, длина которых не должна превышать 800—1000 м. В повышенных местах устанавливают вантузы, а в пониженных — выпуски. Геометрический уклон линий не должен быть менее 0,001 в сторону выпусков. Водоразборные колонки размещаются на сети таким образом, чтобы радиус их действия не превышал 100 м. [c.135]

Соединим центры вращения профилей линией Ofi, и точку ее пересечения с общей нормалью NN, обозначим Р,. Из подобия треугольников и LP O, следует [c.49]

Опорная длина профиля Т1р — сумма длин отрезков, отсекаемых на заданном уровне р) в материале выступов измеряемого профиля линией, эквидистантной средней линии, в пределах базовой длины [c.23]

Опорная длина профиля — это сумма длин отрезков в пределах базовой длины, отсекаемых на заданном уровне в материале выступов профиля линией, эквидистантной средней линии. Отношение опорной длины профиля к базовой длине называется относительной опорной длиной профиля. [c.88]

Отклонение от соосности имеет разновидности отклонение от соосности относительно (ки базовой поверхности 1 (рис. 5.5, а), отклонение от соосности относительно общей оси 2 (рис. 5.5, б). Допуск соосности рекомендуется указывать в диаметральном выражении. Кроме названных выше терминов в отдельных случаях могут применяться понятия об отклонении от концентричности и допуске концентричности. Отклонение от концентричности — расстояние в заданной плоскости между центрами профилей (линий), имеющих номинальную форму окружности (рис. 5.5, е). Допуск концентричности в диаметральном выражении — удвоенное наибольшее допускаемое значение отклонения от концентричности в радиусном выражении — наибольшее допускаемое значение отклонения от концентричности поле допуска концентричности — область на заданной плоскости, ограниченная окружностью, диаметр которой равен допуску концентричности в диаметральном выражении Т или удвоенному допуску концентричности в радиусном выражении R, а центр совпадает с базовым центром 3 (лежит на базовой оси, рис. 5.5, е), [c.102]

Сумма длин отрезков, отсекаемых на заданном уровне в материале профиля линией, эквидистантной средней линии в пределах базовой [c.128]

Линия выступов [впадин] профиля — линия, эквидистантная средней линии и проходящая через наивысшую (наинизшую) точку профиля в пределах базовой длины. [c.181]

Аналитическое представление реальной поверхности позволяет более четко выявить законы суммирования отклонений размера и формы поверхности. Различают номинальные геометрические поверхности, имеющие предписанные чертежом формы и размеры, без каких бы то ни было неровностей и отклонений, и действительные (реальные) поверхности деталей. Понимая под профилем линию пересечения поверхности плоскостью, ориентированной определенным образом, различают также номинальный и действительный профили детали. [c.25]

Реальная поверхность, состоящая из впадин и выступов профиля, определяющих неровности поверхности, ограничена линиями выступов и впадин профиля линия выступов 2—2 эквидистантна средней линии и проходит через высшую точку профиля в пределах базовой длины линия впадин 3—3 также эквидистантна средней линий и проходит через нижнюю точку профиля в пределах базовой длины. [c.342]

Простейшим массовым методом определения параметров 3. а. по спектральным линиям является метод кривых роста, позволяющий без знания профилей линий, по одним эквивалентным ширинам находить все осн. характеристики 3. а., включая хим. состав. Для звёзд с детально изученными спектрами используют метод синтетич. спектра — метод сравнения с наблюдениями теоретически рассчитанных спектров с учётом наиб, важных (обычно многих тысяч) спектральных линий. Это позволяет уточнить все осн. параметры 3. а. Более тонкие характеристики, такие, как вращение звезды, вертикальные движения, наличие пятен и т. д., определяют исследуя профили спектральных линий и их переменность. [c.62]

Рис. 2.1. Профиль линии усиления /((v) и частотный спектр излучения лазера в многомодовом (а) ч одномодовом (б) режимах генерации

Параметры шероховатости, связанные с формой неровностей профиля. Опорная длина профиля г]р — сумма длин отрезков bi, отсекаемых на заданном уровне р в материале профиля линией, эквидистантной средней линии т в пределах базовой длины (рис. 3.1). [c.133]

Опорную длину профиля т р определяют на уровне сечения профиля р, т. е. на заданном расстоянии между линией выступов профиля и линией, пересекающей профиль эквидистантно линии выступов профиля. Линия выступов профиля — линия эквидистантная средней линии, проходящая через высшую точку профиля в пределах базовой длины. Значение уровня сечения профиля р отсчитывают по линии выступов и выбирают из ряда 5 10 15 20 25 30 40 50 60 70 80 90% от Д . Относительная опорная длина профиля 1р может быть равна 10 15 20 25 30 40 50 60 70 80 [c.133]

Отклонением формы называется отклонение формы реальной поверхности или реального профиля от формы номинальной поверхности или номинального профиля. Под номинальной поверхностью понимается идеальная поверхность, номинальная форма которой задана чертежом или другой технической документацией. Реальная поверхность — это поверхность, ограничивающая деталь и отделяющая ее от окружающей среды. Профиль — линия пересечения поверхности с плоскостью или заданной поверхностью. Волнистость включается в отклонение формы. В обоснованных случаях допускается нормировать отдельно волнистость поверхности или часть отклонения формы без учета волнистости. Шероховатость поверхности не включается в отклонение формы. [c.138]

Профиль - линия пересечения поверхности с плоскостью или заданной поверхностью. [c.415]

Если допуск относится к поверхности или к ее профилю (линии), а не к оси элемента, то стрелку располагают на достаточном расстоянии от конца размерной линии (размерной стрелки). [c.452]

Профиль — линия пересечения поверхности с плоскостью или с заданной поверхностью (существуют понятия реального и номинального профилей, аналогичные понятиям номинальной и реальной поверхностей). [c.65]

Рассмотрим, например, обтекание профиля безграничным потоком (рис. 151). Вдалеке от профиля линии тока и эквипотен- [c.297]

На рис. 12 показана профилограмма неровностей поверхности с малыми и большими шагами, подразделенная на четыре участка, длина каждого из которых (/ = 1, 2, 3 и 4) равна базовой длине I и суммарная длина равна 4/. Малые шаги примерно в 5 раз меньше базовой длины, а большой шаг в 10 раз больше малого и в 2 раза больше базовой длины. В соответствии с нормативными документами неровности с малыми шагами должны быть отнесены к шероховатости, а с большим шагом — к волнистости. Такие примеры нередки. В пределах каждого участка длины I проведена средняя линия профиля (линия ортогональной регрессии) в целом на профнлограмме она представляет собой ломаную прямую с разрывами на краях 3-го участка. На общей длине показана прилегающая линия. По отношению к ней отрезки средней линии на четырех участках наклонены под разными углами ф ( = 1, 2, 3 и 4). Эти углы представляют собой углы наклона боковых сторон неровностей с большими шагами ( волн ). Максимальную высоту шероховатости (примерно одинаковую на всех участках) обозначим через Нц, высоту волнистости (без учета шероховатости) через //ц и суммарную высоту неровностей Н . Из геометрических построений можно [c.30]

Рентгенографическое исследование поверхности образцов иа стали 45 при всех режимах трения проводилось через каждые два прохода индентора. На дифрактометрах УРС-50И и ДРОН-0,5 в железном нефильтрованном излучении снимались линии (110) a-Fe (0 = 28°30 ) и (220) a-Fe (0 = /2°40 ). Профиль линий записывался на диаграммную бумагу при V h = 0,5 град/мин, Убум = = 4800 мм/ч и размере щелей 0,5 0,5 0,25. Ширина линий, за значение которой бралось среднее из трех измерений, определялась делением площади, ограниченной профилем линии и фоном, на высоту. [c.43]

При температуре обработки до 2000° С профиль линии (002) сильно асимметричен с явно выраженным максимумом со стороны больших углов дифракции и соответствует компоненту с высокой степенью совершенства — природному графиту. В области малых углов намечается второй размытый максимум от низкосовершенной структуры второго компонента — полукокса. Поэтому вычисленный коэффициент текстуры по суммарной кривой распределения зависит от вклада каждой [c.37]

Исправление профиля линий для исключения инструментального уширения осуществляют путем сравнения с линиями эталона— природного графита. При этом допускают, что физическое уширение инии обусловлено блочностью структуры. Однако применение Фурье-анализа с расчетом коэффициентов на ЭВМ показало, что такое допущение ведет к занижению полученных результатов из-за леучтенного вклада микродеформаций в уширение дифракционных линий. Оценить это занижение [c.100]

Определения. Поперечное сечение тонкостенного стержня называется его профилем. Линия, делящая пополам толщину стенки профиля, называется средней линией. По виду средней линии профили делятся на открытые и замкнутые. Средние линии стенок открытого профиля могут пересекаться в одной точке, образуя пучок (примеры — угольник, крест, тавр), могут не иметь одной общей точки (швеллер, зетобраз-ный профиль) и быть разветвленными (двутавр) (фиг. 1, а). Замкнутые профили, имеющие более одной ячейки, [c.169]

Определения. Поперечное сечение тонкостенного стержня называют его профилем. Линия, деляш,ая пополам толщину стенки профиля, называется средней линией. По виду средней линии профили делят на открытые и замкнутые. Средние линии стенок открытого профиля могут пересекаться в одной точке, обра-суя пучок (примеры — угольник, крест, [c.131]

Под опорной длиной т)р понимается сумма длин отрезков 6 в пределах базовой длины, отсекаемых на заданном уровне в материале выступов профиля линией, эквидистантной средней линии. Опорная длина определяется на заданном уровне р. Если уровень р плавно изменять от О до 100 %, то значение tp будет так же изменяться от о до 100 %. Кривую ip = I (р) называют опорной кривой или кривой Аббота (рис. 12.1). Опорная кривая характеризует структуру неровностей и показывает закономерность нарастания площади опоры в выбранном сечении. Параметр ip определяет фактическую площадь контакта при контактировании поверхностей на заданном уровне сечения. Относительная опорная длина профиля ip назначается из следующего ряда чисел 10 15 20 25 30 40 50 60 70 80 90 %. [c.344]

Излучательная способность и объёмные РП плазмы. Осп. характеристикой И, п. является излучат, способность т (сй)< — энергия, излучаемая единицей объёма оптически тонкой (прозрачной) плазмы за единицу времени в единицу телесного угла в интервале частот от <й до (o-j-d . Зависимость т] от и темп-ры специфична для каждого механизма И. п., завпсимость же от концентраций N соответствующих частиц в ряде случаев проста и универсальна. Так, для ЦИ г)ц((й)со oiVp (излучение как бы беспрерывно струится от каждого электрона), для ТИ и ФИ т]х,ф ш)сси . , (излучение возникает в результате парпых столкиовенпй электронов с ионами). Для ЛИ зависимость T от JV сложнее, т. к. вследствие щтарковского уширения и JVf входят в качестве параметров в выражение для профиля линии. Однако для интегральной величины 00 [c.108]

Переизлучение в условиях полного перераспределения по частоте, приводящее к практич. одинаковости профилей линий поглощения и переизлучения, создаёт такую ситуацию, когда в результирующем потоке фотонов, выходящих в единицу времени за пределы системы, преобладают не наиболее многочисленные (но и наиболее сильно поглощаемые) фотоны из центра линии ( о) — oqI й Г), а относительно малочисленные фотоны из далёких крыльев линии ( ы — Шд[ Г), такие, свободный пробег к-рых 1/х(ю) сравним по порядку величины с размером системы L. [c.636]

X. 3. и Солнца излучают гл. обр. в резонансных спектральных линиях (в осв. в УФ-области спектра) ионов магния, кальция, углерода и др. элементов. В таких линиях звёздные атмосферы обладают очень большой оптич. толщиной X, и фотоны, прежде чем выйти из X. з., многократно рассеиваются, диффундируют в пространстве и по частоте. Последнее рассеяние происходит в том слое, где на излучаемой длине волны X в пределах профиля линии т < 1. В результате разные части профиля линии несут информацию о разных слоях X. з., чем широко пользуются при изучении солнечной хромосферы. В звёздах с абсорбционным характером спектра X. з. проявляют себя лишь в наиб, сильных линиях поглощения, вблизи центра к-рых видны раздвоенные эмиссионные пики, означающие, что в звёздной атмосфере имеется инверсия темп-ры. Ширина эмиссионного пика несёт информацию об ускорении силы тяжести в X. 3. (т. и. эффект Вилсона—Баппу), отношение интенсивностей в эмиссионных пиках А 2 и /tj, (рис.) — о градиенте скорости в X. з., в частности о наличии звёздного ветра, интенсивность эмиссии и её профиль — о темп-ре, плотности и протяжённости X. 3. [c.416]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...