Спектральные характеристики

В работах [164—166] уравнение переноса излучения было рассмотрено для случая крупных по сравнению с длиной волны излучения частиц. При решении использовался метод сферических гармоник. Полученные результаты предлагались для определения спектральных характеристик псевдоожиженного слоя, которые, как было показано, существенно отличаются от аналогичных характеристик одиночной частицы. [c.145]

В работе [173] выполнен сравнительный расчет спектральных характеристик разреженной и концентрированной дисперсных систем. Для расчета переноса излучения в разреженной системе использовалось уравнение переноса, а для описания концентрированной - системы — модель стопы. Как оказалось, спектральные характеристики концентрированной и разреженной дисперсных систем, особенно в случае больших частиц, сильно различаются. [c.147]

Проблема детектора теплового излучения неотделима от вопроса об излучательных свойствах источника излучения. Спектральные характеристики излучения черного тела, как будет показано, описываются законом Планка. Проинтегрированный по всем длинам волн закон Планка приводит к закону Стефана — Больцмана, который описывает температурную зависимость полного излучения, испущенного черным телом. Если бы не было необходимости учитывать излучательные свойства материалов, оптический термометр был бы очень простым. К сожалению, реальные материалы не ведут себя как черное тело, и в законы Планка и Стефана — Больцмана приходится вводить поправочные факторы, называемые коэффициентами излучения. Коэффициент излучения зависит от температуры и от длины волны и является функцией электронной структуры материала, а также макроскопической формы его поверхности. [c.311]

Предположим, что имеется идеальный нейтральный фильтр с коэффициентом пропускания т (практическую реализацию такого фильтра рассмотрим позднее) и можно измерить отношение R(Tau, Т) = 1/х следующим образом. Выбрав подходящий детектор со спектральной характеристикой s X), через оптическую систему, которая включает узкополосный фильтр со спектральным коэффициентом пропускания t X), наблюдаем по очереди черные тела при температурах Гди и Т. Температура второго черного тела Т регулируется до тех пор, пока сигнал от детектора, регистрирующего излучение черного тела в точке золота, не станет равен сигналу, возникающему при наблюдении второго черного тела через нейтральный фильтр. При этих условиях можно записать [c.369]

На рис. 1-14 представлены спектральные характеристики показателя преломления стекла /, кварца 2 и флюорита 3 [5]. Из графиков видно, что существует сильная [c.31]

Поверхность, имеющая высокое значение степени черноты в условиях преимущественного теплообмена излучением, служит для сброса тепла. На рис. 8-4 [158] приведены спектральные характеристики поверхности фотоэлемента с покрытием и без него. На рис. 8-5 показана зависимость интегральной степени черноты от температуры поверхности этих же элементов. [c.190]

Таким образом, исследованиями [188] показано, что к. п. д. устройства, который зависит от поглощения солнечной энергии, идущей на производство в термическом преобразователе полезной работы, можно значительно повысить путем применения поверхностей с избирательными спектральными характеристиками излучения и поглощения. [c.218]

ПРЯМОЕ ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ФУРЬЕ. Оно часто называется преобразованием Фурье без оговорки. Для него приняты и другие названия комплексный спектр, спектральная плотность, спектральная функция, спектральная характеристика. [c.61]

Подставляя /г 1 см, и 1,5 и - = 5000 А, получим т = 10 . Забегая вперед, отметим достоинства эшелона Майкельсона. При ознакомлении со спектральными характеристиками оптических приборов Г гл. Vn мы увидим, что разрешающая сила дифракционной решетки равна [c.153]

Следует отметить, что обсуждаемые свойства фотоэлектрических приемников (спектральная характеристика и чувствительность, линейность, инерционность) весьма существенны для исследования возможности применения того или иного устройства при решении конкретных задач. [c.437]

Рис. 26.7. Спектральные характеристики фотокатодов из чистых металлов

Важное значение имеет спектральная характеристика фотокатода, т. е. зависимость спектральной чувствительности у от длины световой волны Я. Экспериментальные спектральные характеристики для некоторых чистых металлов приведены на рис. 26.7. Из рисунка видно, что, начиная с красной границы, с уменьшением л происходит возрастание чувствительности фотокатода. У металлов щелочной группы и их сплавов, а также у сложных фотокатодов (например, сурьмяно-цезиевого и кислородно-цезиевого), для которых красная граница лежит далеко в видимой и даже в инфракрасной областях и которые, следовательно, чувствительны к широкому интервалу длин волн, спектральная характеристика имеет другой вид. На ней обнаруживается резкий максимум в определенной области спектра (рис. 26.8). Такой фотоэффект называется селективным, или избирательным. Полное объяснение этого явления дается современной квантовой теорией. [c.162]

Рис. 26.19. Спектральные характеристики некоторых фотосопротивлений

Спектральные характеристики. Каждый люминофор характеризуется своим, присущим только ему спектром люминесценции. В случае фотолюминесценции необходимо учитывать также спектр поглощения. Оба спектра отражают структуру энергетических состояний данного люминофора (точнее говоря, его центров люминесценции). [c.191]

Дополнительные погрешности при измерениях радиационных тепловых потоков могут быть вызваны пренебрежением отличия спектральных характеристик измеряемого теплового излучения и излучения источника, использовавшегося при тарировке датчика. [c.275]

Спектральная характеристика — зависимость или У от частоты или длины волны падающего излучения. [c.575]

Рис. 25.12. Спектральная характеристика квантового выхода ФЭ с чистой поверхности меди [18]

Рис. 25.13. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для образцов кремния п- и р-типов с различной степенью легирования %1Ее 4 [16]

Рис.. 25.15. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для фотокатодов на основе антимонидов щелочных металлов

Рис. 25.19. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для иодидов щелочных металлов [16]

Рис. 25.17. Спектральная характеристика квантового выхода ФЭ для фотокатода из Ag—О— s [16]

Рис, 25.20. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для некоторых щелочногалоидных соединений [16] [c.578]

Рис. 25.21. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для некоторых галоидных соединений серебра

Рис. 25.22. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для фотокатодов с ОЭС

Рис. 25.25. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для кремниевого фотокатода при освещении на отражение (/) и на просвет (2) [21]

В большинстве случаев спектральный коэффициент излучения определяют экспериментально. Тогда принимают, что спектральные характеристики излучения и его пространственное распределение независимы и функция е(Х, Т, р, ф) представляется в виде [c.44]

Спектральная характеристика иде ального фотоэлектрического ПЛЭ [c.66]

Дальнейшее повышение к. п. д. при прочих равных условиях достигается применением селективных покрытий на застекленной поверхности опреснителя, благодаря чему она становится изоляцией. Стеклянная пластина, покрытая тонким слоем определенного материала, например двуокисью олова, несколько хуже пропускает солнечное излучение в области спектра 0,3—2,5 мкм, но зато почти полностью отражает длинноволновое излучение (область спектра 4—20 мкм) [204]. На рис. 8-37 приведены спектральные характеристики пропускания и отражения системы стекло-Ьпленка SnOa—F . [c.225]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Величина фото-э.д.с. существенно зависит от свойств используемого полупроводника и технологии изготовления. Для уменьшения флуктуаций темпового тока полезно охлаждение устройства. Широкое распространение получили германиевые и кремниевые фотодиоды. На рис. 8.28 приведены спектральные характеристики таких приемников света. Как видно, максимальная чувствительность германиевого фотодиода наблюдается в такой области длин волн (). iiK мкм), где использование фотоумножителей практически уже невозможно. [c.443]

При выбранных условиях съемки спектр флуоресценции получается слищком интенсивным. Для уравнивания времен экспозиции его искусственно ослабляют. Это достигается уменьшением потока возбуждающего света, для чего на кювету с флуоресцирующим раствором надевают металлическую трубочку с небольшими прорезами, расположенными в шахматном порядке. Площадь прорезей и их количество подбирают так, чтобы свет флуоресценции был равномерно распределен по объему кюветы, а время экспозиции марок почернения не слишком отличалось от времени съемки СКР. Обычно площадь прорезей составляет несколько процентов от площади боковой поверхности трубочки. Ослабление возбуждающего потока является полезным и в другом отношении. При малых освещенностях флуоресцирующий раствор долго не разлагается и может работать более длительное время без изменения своих спектральных характеристик. [c.142]

Рис. 25.14. Спектральные характеристики коэффициента поглощения а (/) и квантового выхода ФЭ (2) для фотокатода из saSb [16]

Рис. 25.18. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для фотокатода из sjTe без избытка цезия (1) и с избытком цезия (2) [16]

Рис. 25.23. Спектральная характеристика квантового выхода ФЭ для полупрозрачного фотокатода из GaAs [18]

Рис. 25.24. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для фотокатодов из Gai 1пдг As с различной шириной запрещенной зоны 4= 1,43 эВ A =0 g = = 1,29 эВ х=0,1 Eg=l,18 эВ х=0,17, =1,13 эВ л = 0.2 [20]

Рис. 25.26. Спектральные характеристики квантового выхода ФЭ для фотокатодов из InGaAs — 1пР — Ag— s—О, при различных значениях внешнего смещения [19]

В технических требованиях обычно указьшают следующее дальность действия прибора или его (увствительность, при этом оговариваются спектральные характеристики полезного излучателя, фонов и возможных искусственных помех [c.7]

Величины т, 5 и т должны быть перес штаны из соответствующих спектральных характеристик с учетом спектрального состава излучения. Вопросы такого пересчета достаточно подробно изложены в литературе [ 2.3]. поэтому дальнейшие рассуждения проводятся без дополнительных ссылок. Вопросы пересчета спектральных характ еристик рассмотрены подробно в гл. 3. [c.23]

Энергетические характеристики оптического излучения описываются квантовой теорией, в соответствии с которой любой излучатель представляет собой совокупность квантовых осцилляторов. Суммарное излучение излучателя определяется в результате статистического осреднения излучения отдельных осцилляторов. Спектральные характеристики излучения зависят от агрегатного состояния и 1лучающего вещества, а также от способа возбуждения энергетических уровней его атомов и молекул. По характеру излучения различают источники тепловые с непрерывным спектром излучения, в которых энергия излучения образуется за счет преобразования тепловой энергии люминесцентные, как правило, с линейчатым [c.42]

При перекрытии линий излучения г зов вследствие значительного их уширения или в силу близости расположения линий излучения газов, составляющих композицию, образуется сравнительно плавный (полосовой) спектр излучения. В этом случае, а таюке в случаях, когда в спектре источника присутствует как тепловое, так и люминесцентное излучение, или когда источник излучения является электрическим прибором (лампы накаливания, дуговые, дуговые газоразрядные лампы и пр.), спектральные характеристики излучения которого зазисят не только от физических свойств излучающей среды, но и от характеристик элементов конструкции [c.45]

Модель некогерентной оптической системы получена для некогерентного монохроматического источникг излучения. Для большинства прикладных задач некогерентность излуч ния сопровождается его полихрома-тичностью (тепловые, люминесцентные источники излучения). Тогда распределение освещенности в изображечии, даваемом оптической системой, определяется спектральными характеристиками источников излучения, монохроматическими аберрациями оптической системы и зависимостью дифракционных явлений от длины волны [c.52]

В этом случае целесообразно ввести в рассмотрение редуцированные энергетические характеристики объекта и изображения, учитывающие спектральные характеристики g (X) не только оптической системы, но и других звеньев оптико-электронно о тракта ( ) слоя пространства между объектом и оптической системой и (X) приемника излучения. Пространственный спектр редуцироканной освещенности в изображении оптической системы [c.52]

Характер спектральной характеристики ПЛЭ в общем случае определяется тем, относится ли ПЛЭ к тепювым (термоэлементы, болометры, пневматические, оптико-акустические, пироэлектрические ПЛЭ) или к фотоэлектрическим (фоторезисторы, фотодиоды, фототриоды, фотоэлементы, ЭОП, ФЭУ, телевизионные тр ки). Тепловые ПЛЭ неселективны спектральная чувствительность идеального теплового ПЛЭ постоянна во всем оптическом диапазоне (X) = onst. Однако у реальных ПЛЭ спектральный диапазон чувствительности ограничен, например, спектральной полосой пропускания оптических фильтров, используемых как элемент конструкции ПЛЭ. Поэтому спектральную характеристику даже идеализированного теплового приемника сл дует записывать [c.66]

Использование идеальных спектр шьных характеристик ПЛЭ целесообразно на начальных этапах пapaмeтpи еской оптимизации ОЭП, когда уточняется спектральный диапазон его чувствительности, так как процесс оптимизации не сковывается рамками каталога ПЛЭ. Реальные спектральные характеристики ПЛЭ используются на завершенных этапах оптимизации ОЭП, когда окончательно формируется задание на ПЛЭ как элемент оптико-электронного тракта. Необходимость конкретизации спектральной характеристики и, следовательно, материала ПЛЭ вызывается тем, что в ряде случаев реальные спектральн1.1е характеристики могут существенно отличаться от идеальных. [c.66]

LAMB - значение верхней границы спектральной характеристики ПЛЭ (мкм) [c.179]

LAME - значение нижней гранищ.1 спектральной характеристики ПЛЭ (мкм) (e jffl ПЛЭ неселективный, тс указанным параметрам придаются значения границ спектрального интервала, выбранного пользователем для объекта проектирования) [c.179]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...