Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Приборы спектральные

При выборе для проведения измерений значения X в длинноволновой части спектра X = 4,651 мкм) необходимо удовлетворить двум следующим противоположным требованиям к значению спектрального коэффициента поглощения я- С одной стороны, значение ах должно быть достаточно низким, чтобы обеспечить высокую пропускательную способность пристенного слоя по отношению к излучению ядра потока, с другой — значение должно быть достаточно высоким, чтобы обеспечить при заданных размерах слоя столь высокую поглощательную способность, при которой фоновое влияние эффективного излучения противоположной стенки и прилегающего к ней газового слоя было бы минимальным. Указанным двум условиям удовлетворяет значение = 52,12 m i при X = 4,651 мкм. При этом более 40 % регистрируемой прибором спектральной интенсивности падающего излучения связано с собственным излучением ядра слоя и лишь 1,5 % — с фоновым излучением противоположной стенки.  [c.201]


Необходимость проведения указанных спектральных измерений при параболическом профиле температуры обусловливается необходимостью более подробного зондирования слоя по его глубине. Чем дальше от стенки отстоит точка, в которой надо определить температуру слоя, тем больше требуется информации для решения этой задачи, т. е. тем большее число участков спектра должно быть выбрано для измерений спектральной интенсивности падающего излучения. При этом следует учитывать, что при постоянном температурном перепаде между центральным и пристенным участками слоя изменение температуры ядра потока Тц заметно сказывается на регистрируемой прибором спектральной интенсивности падающего излучения для всех длин волн, на которых проводятся измерения. Изложенное наглядно иллюстрируется данными рис. 5-16. В зависимости от температуры Гц.и перепада температур ДГ спектральная интенсивность падающего  [c.201]

При использовании в приборе спектральной призмы необходимо рассматривать увеличения в двух плоскостях в плоскости главного сечения призмы и в плоскости, перпендикулярной главному сечению.  [c.36]

Здесь N — количество разрешаемых прибором спектральных интервалов Т — полное время опыта Рс — мощность сигнала Рш — Средняя мощность шума. При выводе соотношения (66) предполагается, что уровень шума не зависит от величины сигнала, а распределение амплитуд сигнала и шума подчиняется гауссову закону. Считается, кроме того, что шум стационарен и не меняется при переходе от одного спектрального компонента к другому.  [c.115]

Задача оценивания решается в предположении, что искомая аномалия и погрешности измерений являются стационарными гауссовскими случайными процессами с известными спектральными плотностями. Спектральные плотности погрешностей измерений определяются по результатам лабораторных испытаний прибора. Спектральная плотность аномалии обычно известна из геологических данных.  [c.137]

Для того чтобы / р определить правильно, следует ширину входной щели выбрать равной нормальной . Так как нормальная ширина по (7.1.3) равна дифракционной, то в этом случае будем иметь наиболее выгодные условия для наблюдения двух разрешаемых прибором спектральных линий и достаточную освещенность в фокальной плоскости. Величина эм определяется числом N штрихов на 1 мм изображения абсолютной контрастной миры, разрешаемым фотоэмульсией эм=1/Л . Таким образом, зная линейную дисперсию, можно по (7.5.5) рассчитать  [c.484]

Большую группу оптических приборов составляют приборы спектрального анализа, в которых для изучения состава жидких сред и определения концентрации веществ, содержащихся в жидкостях, используется их оптический спектр. Спектральный анализ делится как методически, так и по области применения на три вида атомно-эмиссионная спектро фотометрия, регистрирующая спектр, излучаемый светящимися парами вещества (сюда относится также метод пламенной фотометрии), абсорбционный спектральный анализ (абсорбционная спектрофотометр и я),  [c.85]


Другой подход при работе с пирометром отношения состоит в" том, что его рассматривают как прибор, измеряющий спектральные яркостные температуры 7 и при двух длинах волн и Я,2. В этом случае  [c.385]

Полученное выражение (2.24) для сложной волны можно приближенно считать уравнением монохроматической волны с частотой 0)1, волновым числом ki и медленно меняющейся (модулированной) амплитудой 2 о Нели такой модулированный по амплитуде импульс принимается спектральным прибором, то он будет регистрировать две частоты oi и СО2.  [c.29]

Подставляя /г 1 см, и 1,5 и - = 5000 А, получим т = 10 . Забегая вперед, отметим достоинства эшелона Майкельсона. При ознакомлении со спектральными характеристиками оптических приборов Г гл. Vn мы увидим, что разрешающая сила дифракционной решетки равна  [c.153]

ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА КАК ПРИБОР ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО РАЗЛОЖЕНИЯ СВЕТА  [c.154]

ХАРАКТЕРИСТИКИ СПЕКТРАЛЬНЫХ ПРИБОРОВ  [c.190]

Поскольку положение спектральных линий в приборе определяется направлением лучей, а на экране (или на фотопластинке) — расстоянием д е кду соответствующими спектральными линиями, вводятся соответственно такие характеристики прибора, как угловая (D) и линейная (D ) дисперсии.  [c.192]

Формула (7.30) сохраняет силу также для интерференционных спектральных приборов с той лишь разницей, что N будет обозначать число интерферирующих лучей.  [c.195]

Получение большой разрешающей силы в оптическом приборе связано с определенными трудностями. Даже идеальные объективы — неотъемлемая часть спектрографов — вследствие дифракции на их оправе ограничивают разрешающую силу спектральных приборов. Для устранения этого недостатка пользуются высококачественными длиннофокусными объективами большого диаметра.  [c.195]

Сопоставление свойств различных спектральных приборов приводится в табл. 5 , составленной для зеленых лучей (X = 5000 А).  [c.197]

Методы измерения высоких температур на основе законов теплового излучения (зависимость спектральной и интегральной излучательной способностей от температуры тел) называются оптической пирометрией. Приборы, используемые для этой цели, называются пирометрами излучения.  [c.333]

Для повышения качества выпускаемой продукции весьма важно иметь на заводе аналитическую лабораторию, хорошо оснащенную современной техникой, позволяющей в короткое время проводить анализ металла по многим составляющим. Наиболее распространены для этих целей квантометры — приборы спектрального анализа. Их применение может позволить расшихтовать низкосортный металл, доведя содержание примесей в нем до максимально допустимых значений. Имея такую технику, можно с высокой эффективностью использовать вторичный алюминий и его сплавы для шихтовки первичного алюминия [8].  [c.402]

Для измерения уровня шума применялась аппаратура фирмы Брюль и Кьер , удовлетворяющая требованиям, предъявляемым к прецизионным приборам. Спектральный анализ выполнялся в октавном диапазоне частот.  [c.96]

Разработка упрощенных, недорогих узко специализированных приборов для выполнения отдельных видов анализа. Это направление особенно характерно для лабораторной медицинской техники, представленной большой группой гемоглобинометров, оксиметров, сахариметров, билирубинометров, коагулометров и др. При разработке таких приборов спектральный и динамический диапазоны, чувствительность, точность и производительность выбираются с учетом специфики данного лабораторного исследования.  [c.245]

Спектральные приборы с эталоном Фабри—Перо. В этих приборах спектральное разложение выполняется эталоном Фабри—Перо, действие которого основано на многолучевой ин-терфереицпи. При высокой светосиле они имеют очень большую разрешающую способность.  [c.339]

Шум и другие свойства фотоумножителей, существенные для оптической термометрии, были широко исследованы в работах [18—20, 22, 23, 29]. Выбор способа работы фотоумножителей методом постоянного тока [44] или методом счета фотонов в основном зависит от вкуса потребителя. Не существует никаких заметных преимуществ одного метода перед другим. В обоих случаях необходимо, чтобы фотоумножителю не мешали избыток шума, усталость или нелинейность. Метод счета фотонов имеет, однако, преимущество в том, что зависимость амплитуды сигнала от усиления меньще и ослабляется эффект утечек тока внутри фотоумножителя или около его цоколя. Кроме того, сигнал имеет цифровую форму, которая облегчает прямую связь с ручной цифровой обработкой и с контрольно-компьютерной системой. В обоих методах — на постоянном токе и методе счета фотонов — критичным является контроль температуры фотоумножителя, так как спектральная чувствительность (особенно вблизи длинноволновой границы), а также темновой ток зависят от температуры. Фотоумножители с чувствительным в красной области спектра фотокатодом 8-20, такие, как ЕМ1-9558 (щтырьковая замена для ЕМ1-9658 фотоумножителя 8-20), для понижения темнового тока должны работать при температуре примерно —25 °С. Применение чувствительного в красной области фотокатода позволяет работать с длинами волн примерно до 800 нм, хотя если прибор предназначен исключительно для воспроизведения МПТШ-68 выше точки золота, такие длины волн требуются редко.  [c.377]


Метод, основанный на измерении отношения интенсивности квазиыюиохроматического потока излучения от исследуемого покрытия и от черного тела. Чаще всего этот метод используется как относительный, т. е. на поверхности создается участок с черным излучением, который имеет одинаковую температуру с покрытием, и прибор (поочередно визируют на исследуемое покрытие и на модель черного тела. Спектральная степень черноты вычисляется как отношение показаний индикатора приемника излучения (поток излучения проходит предварительно какое-то монохроматизирующее устройство в первом и во втором случае), т. е.  [c.162]

Интерферометр Фабри — Перо применяется при исследовании тонкой структуры спектральных линий, выделенных более грубыми спектральными приборами. Широко применяемые в последнее время так называемые 1[нтерференционные фильтры, способные пропускать свет в определенной области длин волн, устроены по принципу действия интерферометра Фабри — Перо с очень малым расстоянием I между пластинками.  [c.116]

На пластинке Люммера— Герке наблюдаются интерференционные полосы очень высокого (десятка тысяч) порядка. Это позволяет использовать ее в сочеташш с другим спектральным прибором в основном для исследования тонкой структуры спектральных линий.  [c.117]

Спектральный прибор, диспергирующим элементом которого является призма, называется призменным спектроскопом (если картина наблюдается визуально) и и1 спектрографом (если спектр фотографируется или записывается при помощи специального устройства). Схема Рмс. 7.22 нризмешюго спектрографа такая же, как  [c.190]

В зависимости от величины линейной дисперсии спектральные приборы делится на приборы малой, средней, болыпой и высокой дисперсии. Интерференцпопные спектральные приборы обладают высокой (0,1 —0,01 А/мм), дифракционные—большой (10—1 А/мм), а призменные—малой и средней (100—10 А/м) дисперсией.  [c.193]

Целесообразность введения такой количественной характеристики для разрушающей силы подтверждается тем, что она определяет ушпре1ше линии падающего излучения, связанного самим спектральным прибором.  [c.194]

Несмотря на условность критерия Рэлея, он позволяет сравнивать разрешающие силы разных приборов. Ои[5еделим разрешающую силу разных спектральных приборов.  [c.194]

Как следует из определения, спектральный прибор дает различимые максимумы и минимумы при ширине интервала ДХ G. В качестве примера определим дисперсионную область дифракционнон решетки.  [c.197]

Нами была проанализирована разрешающая сила спектральных приборов, предназначенных для раздельного наблюдения двух близких по длине спектральных линий. Для количественной характеристики в данном случае было введено понятие разрешаюихей силы, вернее хроматической разрешающей силы, равной Х/бХ.  [c.198]


Смотреть страницы где упоминается термин Приборы спектральные : [c.309]    [c.415]    [c.615]    [c.349]    [c.519]    [c.279]    [c.373]    [c.154]    [c.155]    [c.190]    [c.190]    [c.191]    [c.193]    [c.196]    [c.197]    [c.197]    [c.266]    [c.424]    [c.426]    [c.428]   
Метрология, специальные общетехнические вопросы Кн 1 (1962) -- [ c.339 ]



ПОИСК



Анализ установки спектральных. приборов в каналы СИ, примеры, общие замечания

Введение в технику и методы молекулярной спектроскопии Принципиальная оптическая схема спектральных приборов

Визуальные спектральные приборы

Влияние способа освещения щели на контур спектральной лиРеальная разрешающая способность спектрального прибора

Время релаксации газа спектральных приборах

Выбор параметров спектрального прибора и условий освещения щел

ДВУХЦВЕТНАЯ СПЕКТРАЛЬНАЯ СЕЛЕКЦИЯ КАК СРЕДСТВО БОРЬБЫ С ПОМЕХАМИ В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ Спектральная селекция объекта на фоне помех по цветовой температуре

Дисперсия света. Основы теории спектральных приборов

Дисперсия спектральных приборов

Дифракционная решетка как прибор для спектрального разложения света

Дифракционная решетка как спектральный прибор

Дифракционные спектральные приборы

Дифракционные явления в спектральном приборе

Искривление спектральных линий в приборах с плоской дифракционной решеткой

Классификация спектральных приборов и их применение в химии

Конденсированная искра источников света спектральных приборов -

Конструктивные элементы спектральных приборов с одномерной дисперсией

Линейная дисперсия призменных спектральных приборов

Линейная дисперсия призменных спектральных приборов — Теоретическая разрешающая способность спектральных приборов

Материалы оптических деталей спектральных приборов

Методы анализа принципов работы спектральных приборов

Методы увеличения дисперсии призменных спектральных приборов

Некоторые элементы и особенности конструкции фурье-спёктрометров (НО) Заключение. Основы классификации спектральных приборов

Определение коэффициента пропускания спектрального прибора

Основные схемы спектральных приборов с плоскими дифракционными решетками

Основные тины лриз.ченпых спектральных приборов

Основные характеристики спектральных приборов

Особенности конструктивные спектральных приборов

Потери свети и прптмсшшх спектральных приборах

Приборы для производства спектрального анализ

Призменные спектральные приборы

Приложение П.З. Измерение ширины входной щели спектрального прибора по дифракционной картине

Разрешающая сила дифракционной решетки спектральных приборов

Разрешающая способность спектрального прибора. Аппаратная функция

Реальная разрешающая способность спектрального прибора

Светосила спектрального прибора

Светосила спектрального прибора по освещенности в случае непрерывного спектра

Систематизация спектральных приборов по признакам пространственного кодирования

Сочленение интерферометра со спектральным аппаратом прибором

Спектральные приборы в канале СИ

Спектральные приборы и специфика спектральных исследований

Спектральные приборы контроля

Спектральные приборы, юстировка

Сравнение спектральных характеристик приборов с призмами и решетками

Теоретическая разрешающая способность спектральных I приборов

Теория и конструкция спектральных приборов

Типы спектральных приборов

Увеличение прибора, имеющего спектральные призмы

Увеличение спектрального прибор

Установление автоколебаний в спектральных приборах

Учет характера спектра и особенностей спектрального прибор

Фокусировка спектральных приборов. Фотографирование спектров

Фотометрические характерпстпкп спектральных приборов с одномерной дисперсией

Характеристики призменного спектрального прибора

Характеристики спектральных приборов

Ширина аппаратурная линии щели спектральных приборов

Ширина и условие освещения входной щели спектральных приборов

Щели спектральных приборов

Элементы оптической системы спектрального прибора

Эшелон Майкельсона и интерференционные спектральные приборы

Юстировка спектральных приборо



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте