Спектроскопические методы

Определение массы нейтрона. В состав атомных ядер входят не только заряженные частицы — протоны (р), но и электрически нейтральные частицы — нейтроны (л). Нейтрон (п) не имеет электрического заряда, и поэтому масс-спектроскопический метод не применим для определения массы нейтрона. [c.60]

Оптическая пирометрия не ограничивается рассмотренными методами. Разработаны специальные спектроскопические методы измерения температур на основе исследования спектральных линий в излучении и поглощении. Эти методы используются для измерения температуры нагретых газов и плазмы. Ввиду их сложности и необходимости специальных знаний из области атомной спектроскопии, эти методы рассматривать не будем. [c.152]

В заключение рассмотрим воздействие космического излучения на атмосферу. В процессе генерации и поглощения ядерно-актив-ной компоненты в верхних слоях атмосферы происходят различные ядерные реакции. Благодаря этим реакциям в атмосфере, во-первых, поддерживается некоторое равновесное содержание радиоактивных изотопов,таких, как Н , С , Ве , S , i . В частности, только за счет космического излучения в земной воде концентрация тяжелого изотопа водорода — трития — поддерживается на уровне 10 %. Во-вторых, происходит накопление стабильных изотопов. Для примера укажем, что за время существования Земли 4-10 лет) космическое излучение увеличило распространенность изотопа лития Li на 0,03%, т. е. на величину, вполне измеримую современными масс-спектроскопическими методами. [c.646]

Один из перспективных способов оценки структуры материала — анализ спектра донных сигналов (спектроскопический метод). Частота заполнения ультразвуковых импульсов меняется от посылки к посылке, при этом по амплитуде определяется область рэлеевского рассеяния. Влияние величины зерна на затухание усиливается вследствие многократного прохождения ультразвуковых волн через границы зерен. Для определения величины зерна также применяют резонансные методы, особенно иммерсионный. Например, при контроле импульсно-резонансным способом затухание определяют по отношению амплитуды колебаний в стенке изделия на резонансной частоте к амплитуде колебаний при отсутствии резонансных явлений. [c.282]

Неправильный химический состав Химический анализ отливок обычными, а также спектроскопическими методами [c.257]

Известны абсолютный и относительный спектроскопические методы измерения [Л. 11-1, 11-9, 11-24]. С их помощью можно отдельно измерить температуры нейтральных частиц, ионов и электронов. Эти температуры совпадают только в случае термодинамического равновесия. [c.322]

Вместо сложного и отнимающего много времени химического анализа для быстрого качественного и приближенного количественного анализа сталей и различных цветных сплавов широкое применение имеет спектроскопический метод анализа, осуществляемый с помощью стилоскопа. Этот метод состоит в том, что в спектре сплава с помощью стилоскопа находят характерные линии элементов (качественный анализ), а по интенсивности этих линий приближенно определяют содержание элементов (количественный анализ). Стило-скоп позволяет обнаруживать наличие и определять количество хрома, воль-фрама, марганца, ванадия, молибдена. [c.143]

В настоящее время к изучению этих изменений привлекаются спектроскопические методы анализа [10, И, 12]. С помощью их определяют как структуру молекул, так и интенсивность их движения. В сочетании со статистическими методами спектроскопические методы позволяют раскрыть динамику молекулярных процессов. [c.54]

СТРУКТУРНЫЕ И СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ [c.25]

Магнитное поле, как уже указывалось, в большинстве случаев не изменяет существенно свойств диэлектриков, которые преимущественно являются диамагнетиками или парамагнетиками. Магнитные воздействия на диэлектрик используются главным образом в магнитной спектроскопии, позволяющей исследовать микроструктуру дефектов и критические явления в окрестностях фазовых переходов в диэлектриках. Важнейшими из спектроскопических методов исследования диэлектриков являются электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) и ядерный магнитный резонанс (ЯМР) [3-5, II]. [c.25]

Весьма интересно и полезно совместное применение интерференционного и спектроскопического методов для изучения параметров плазмы, в частности, для определения температурного поля газового разряда. [c.181]

С помощью спектроскопического метода измерения температуры разряда (но относительным интенсивностям эмиссионных линий железа Fel и цинка 2п1) можно определить точные значения показателя преломления. Для этого измеряют распределение интенсивности вдоль спектральной линии, характеризующее температуру по зонам разряда вдоль секущей облака разряда. [c.183]

Основным достоинством комбинированного метода является возможность получения кривой распределения температур как в центральных, так и периферийных зонах разряда. Применение только спектроскопического метода не дает возможности получить надежные данные в периферийных зонах, однако их весьма удобно определить интерференционным методом. [c.183]

В данной главе рассматриваются некоторые методы определения ширины линии отдельных спектральных компонент, излучаемых квазимонохроматическим лазером (т. е. при Дсо/ш <С 1). Таких методов немного, поскольку ширина узких спектральных линий, излучаемых лазером, чрезвычайно мала. Во многих случаях это такие методы измерения ширины спектральных линий, которые применяются только в лазерной технике. В этих методах важное значение могут иметь такие особенности лазерного излучения, как высокая спектральная яркость или малая угловая ширина луча. В тех случаях, когда спектральное излучение состоит из большого числа компонент, можно пользоваться обычными спектроскопическими методами для определения полной ширины полосы излучения лазера, а также для того, чтобы выделить и детально изучить одну компоненту. [c.361]

Обычные спектроскопические методы совершенно непригодны для оптических измерений кратковременной стабильности газовых лазеров. Но их можно применять с достаточным успехом для определения кратковременной стабильности твердотельных и диодных лазеров, поскольку стабильность таких квантовых приборов ниже. [c.416]

Становление и развитие физических исследований в Казанском физтехе связано с открытием в Казани в 1944 году Евгением Константиновичем Завойским явления электронного парамагнитного резонанса. Он был одним из первых сотрудников Физтеха и, хотя проработал в институте недолгое время, всю свою жизнь не терял контакта с ним, оказывая влияние на формирование научной тематики института. В секторе широкое развитие получили спектроскопические методы. В дальнейшем под руководством Б.М. Козырева именно это направление получило наибольшее развитие. [c.43]

Применение спектральных приборов. Среди разнообразных оптических методов особое место занимают спектроскопические методы, использующие различные спектральные приборы для исследования спектров излучения, поглощения, отражения, рассеяния и др. Изучение этих спектров позволяет получить большую информацию как о физических процессах в источнике излучения. так и о физических свойствах той среды, через которую распространяется излучение. [c.7]

В последнее вре.мя для получения спектров поглощения начали применять совершенно новые методы, без использования собственно спектрального прибора, т. е. без разложения излучения в спектр. Речь идет о методах, в которых применяются источники квази-монохроматического излучения с перестраиваемой частотой и производится непосредственное измерение зависимости коэффициента пропускания исследуемых веществ от длины волны [1(1]. Источниками монохроматического излучения служат лазеры с перестраиваемой частотой, а в длинноволновой инфракрасной области — генераторные лампы обратной волны с умножением частоты. Разрешающая способность таких методов определяется спектральной шириной излучения, и в ряде областей спектра она оказывается значительно выше, чем для традиционных спектроскопических методов. К недостаткам нового метода следует отнести пока относительно небольшую область перестройки частоты и значительные экспериментальные трудности в осуществлении самой перестройки. Краткое описание новых спектральных приборов. можно также найти в [12. 13]. [c.15]

Исследование природы межмолекулярных сил спектроскопическими методами основывается на изучении изменений полос поглощения и испускания при фазовых переходах, а также при замене растворителя. Различные типы связей проявляются неодинаково. Сравнительно часто наблюдаются сдвиги спектров, изменение их ширины, формы, интегральной интенсивности, появление новых полос или исчезновение старых. Содержащаяся в этих изменениях информация может быть расшифрована путем строгого и последовательного анализа, в процессе которого следует разделить спектроскопические эффекты, связанные с наличием разнообразных взаимодействий, и установить количественные соотношения между характеристиками спектральных полос и параметрами среды. [c.6]

Спектроскопические методы определения энергий электронных переходов [c.58]

Опре)1еление массы заряженных частиц масс-спектроскопическими методами. Поток заряженных частиц, проходя через электрические и магнитные поля, разделяется на отдельные пучки частиц [c.53]

Спектроскопический метод определения скорости небесных тел был применен Фогелем (1861 г.), а впоследствии Ланглеем и Корню [c.438]

Настоящая книга является учебным пособием для студентов 3—4-х курсов физических факультетов университетов для специального практикума по оптической спектроскопии. Создание такого самостоятельного пособия вполне оправдано, так как спектроскопические методы исследования нащли широчайщие применения в физике, химии, биологии, геологии, медицине и многих других разделах науки и практики. По своей чувствительности. [c.3]

Для экспериментального обнаружения расщепления необходимо исследовать линии лаймановской серии водорода, лежащие в далеком ультрафиолете, прибором высокой разрешающей силы и при условии, что ширина линий достаточно мала. Практически это пока недостижимо, поэтому сверхтонкое расщепление уровней водорода остается не исследованным спектроскопическими методами. В дальнейшем ( 97), мы увидим, что в последнее время удалось измерить сверхтонкое расщепление основного уровня водорода и дейтерия радиочастотным методом. [c.543]

Излучение канала разряда. Спектроскопические методы исследования искрового канала дают наибольшую информацию о термодинамических процессах, протекающих в фазе его расширения. Для измерений спектральной плотности излучения из зоны канала использовалась фотоэлектрическая запись сигнала. Источником сравнения в измерениях служил эталонный источник сплошного спектра с яркостной температурой Т 39000К. [c.44]

Химический и спектроскопический методы не требуют разборки двигателя, так как анализ наличия в смазке металлических примесей можно вести и при работающем двигателе. Однако указанные методы требуют довольно большого времени и, что самое главное, не дают коннретного представления об изнашиваемой детали, а тем более о месте износа. [c.133]

На рис. 11-4,6 приведены типичные профили температуры в дозву- ковой струе газа вблизи среза сопла, измеренные спектроскопическим методом. Видно, что в подогревателе с боковым выходом струи при диаметре сопла 20 мм имеет место достаточно равномерный профиль температуры. В линейном подогревателе с осевым истечением струи диаметром 26 мм профиль температуры на выходе достаточно равномерный только в центральной струе диаметром 14—16 мм. [c.323]

Наиболее свежими по фактическому содержанию являются четвертая и пятая главы, в которых анализируются структура и свойства компактных наноматериалов. Почти все описанные в них результаты получены после 1988 года. Подавляющее большинство исследований компактных нанокристаллических материалов так или иначе сосредоточены вокруг нескольких проблем. Одна из них — проблема микроструктуры компактных наноматериалов и ее стабильности, состояния межзеренных границ и их релаксации непосредственное изучение микроструктуры проводится различными электронно-микроскопическими, дифракционными и спектроскопическими методами. К этим исследованиям достаточно близки работы по изучению структуры компактных наноматериалов косвенными методами (изучение фононных спектров, температурных зависимостей микротвердости, модулей упругости, электрокинетических свойств, калориметрия). Ожидается, что компактные наноматериалы наибольшее применение найдут в качестве конструкционных и функциональных материалов новых технологий и как магнитные материалы, поэтому в пятой главе особое внимание уделено механическим и магнитным свойствам компактных наноматериалов. Последовательное обсуждение структуры и свойств изолированных наночастиц и компактных наноматериалов должно составить единое представление о современном состоянии исследований этого особого состояния вещества, выявить между изолированными наночастицамй и компактными наноматериаламп общее и особенное. [c.16]

Впервые таллий экспоннровался на международной Лондонской выставке 1862 г. За год до этого Вильямс Крукс, исследуя спектроскопическим методом шламы одного сернокислотного завода в Германии на содержание теллура, обнаружил в спектре характерную зеленую линию и сделал заключение, что эта линия принадлежит новому элементу. Сравнивая цвет спектральной линии с ярко-зеленой окраской молодой растительности, Крукс назвал элемент таллием (латин. tiiullus — распускающаяся в.етка). Ему удалось получить небольшое количество металлического таллия для демонстрацнн на выставке 1862 г. [c.669]

Наибольший интерес представляют экспериментальные данные исследования электронной структуры аморфных сплавов, полученные с использованием спектроскопических методов. С помощью метода РФЭ было обнаружено, что плотность состояний на уровне Ферми N Er) в аморфных сплавах Pd — Си — Si и Pd — Si значительно ниже, чем N(Er) кристаллического Pd и что их РФС-спектры значительно отличаются, особенно в области Ег. Эти закономерности электронной структуры стали основой для формулирования известного критерия стабилизации аморфной структуры Нагеля-Тауца. Однако расчеты ПС электронов на основе моделей СПУ, как для чистых металлов, так и для сплавов (Fe — В) показали, что энергия Ферми Ef попадает в область максимума ПС. Детальный анализ парциальных плотностей состояний, отвечающих различным зонам, позволяет, по мнению авторов, сделать вывод, что данные спектроскопии (сплав Pd—Si) также не подтверждают электронный критерий стабилизации аморфной структуры, подразумевающий положение псевдощели в области Ег. Спектроскопические данные позволяют также предположить, что по крайней мере в сплавах Pd — Si перенос электронов от атомов Si к атомам Pd отсутствует, происходит перенос электронов только внутри атомов Pd. [c.19]

К сожалению, природа гетерогенных источников в работах [589, 590] не рассматривалась. Однако на основании анализа большого количества имеющихся литературных данных [572-584] можно предполагать, что ответственным за этот гетерогенный механизм зарождения является распад пересыщенного твердого раствора кислорода (а также углерода) в Si и Ge [591—595] (рис. 123, б, 124), который протекает не только при специальных термообработках (рис. 124), но и частично непосредственно в процессе выращивания кристалла [574-578]. В пользу этого свидетельствуют результаты работы [575], где бьшо показано, что резкое сокращение инкубационного периода распада, а иногда и полное его отсутствие можно объяснить лишь с учетом предыстории выращенного образца, а именно с позиций наличия готовых центров осаждения для кислорода, которые образуются в процессе роста кристалла. Другим аргументом в пользу частичного распада твердого раствора кислорода в процессе выращивания является тот факт, что концентрация кислорода, определяемая спектроскопическим методом, существенно повышается, если кристалл отжечь при 1350° С (т.е. растворить ростовые включения SiOj) [575]. [c.196]

По данным одних исследователей в пассивных пленках молибден обнаруживается, и его содержание выше, чем в, сплаве [72, 144—147]. По другим данным [30, с. 730, 148] молибден в составе пассивных пленок либо не обнаруживался, либо его содержание было таким же как в сплаве или меньше. В работе Я. М. Колотыркина и В. М. Княжевой [30, с. 678] на основании изучения парциальных скоростей растворения Fe—Сг—Мо сплавов у-спектроскопическим методом анализа раствора было сделано заключение об обогаш,ении поверхности этих сплавов молибденом во всей области пассивных потенциалов при поляризации сплавов-в H2SO4. [c.152]

Сейчас мы убедимся, что статистическая механика заполняет этот пробел. Метод канонического распределения дает нам модель системы, находящейся в тепловом равновесии, и позволяет выразить все термодинамические величины через величины, характеризующие микроскопические свойства молекул. Справедливость такой модели убедительно подтверждается сопоставлением с экспериментальными результатами. Статистическая механика позволяет решать проблемы двоякого ряда. С одной стороны, она позволяет находить термодинамические параметры исходя из микроскопической механики (например, анергетических уровней молекул, определяемых спектроскопическими методами). С другой стороны, Она позволяет определять микроскопические свойства (например, природу межмолекулярных взаимодействий) исходя из результатов измерений макроскопических термодинамических параметров. Наконец, последнее, но не самое маловажное обстоятельство статистическая механика позволяет исследовать пределы применимости классической термодинамики, а также раздвинуть гранихщ исследований макроскопических свойств вещества и распространить ИХ на такие условия, при которых термодинамика заведомо непригодна. [c.143]

Протяженность оптического диапазона, занимающего 24 октавы. является одной из причин широкого использования спектральных приборов. Спектроскопические методы исследования и спек-троаналитические методы измерения играют исключительно важную ро.ль в развитии це.лого ряда отраслей науки и техники. Они используются для решения самых разнообразных научных п прикладных задач, причем цель этих задач часто отлична от чисто спектроскопической и не сводится к изучению только самого электромагнитного пзлучешш, а состоит в исследовании разных физических явлений или процессов и решении практических вопросов по той информации, которая содержится в спектре. [c.7]

Значительные успехи достигнуты в развитии и применении двух спектроскопических методов эмиссионного спектрального анализа и атомной абсорбционной спектрофотометрии [60 ]. В установках для эмиссионного спектрального анализа требуемая энергия возникает в процессе электрического возбуждения атомов, обычно проводимого с помощью дуги или искры. В результате таких разрядов анализируемый материал испаряется, происходит возбуждение атомов и генерируется светойое излучение, характеризующее эти атомы. Излучение затем разлагается призмой или дифракционной решеткой на отдельные спектральные линии, располагающиеся на приемной фотопластинке (фотопленке) в порядке следования длин волн в приборах с непосредственным отсчетом линии проектируются на фотокатоды установленных соответствующим образом фотоумножителей. Поскольку соотношение между концентрацией элемента в исследуемом материале и интенсивностью спектра его излучения неизвестно, это соотношение находят эмпирически сопоставлением с калибровочной кривой, получаемой аналогичным возбуждением стандартных образцов (эталонов) с известным химическим составом. Точность спектрального анализа всецело определяется исследуемым образцом, поэтому к нему предъявляют. определенные требования [75]. [c.86]

В работах Н. Г. Бахшиева на основании разработанной ранее в [ ] теории, описывающей влияние универсальных межмолекулярных взаимодействий на положение спектров молекул в жидких двухкомпонент-пых растворах, предложен общий спектроскопический метод определения постоянных ДИПОЛЬНЫХ моментов молекул в основном ( х ) и первом возбужденном ([X,) электронных состояниях, а также угла а между моментами и Метод основан на использовании соотношений, связывающих электрические и геометрические характеристики молекул с экспериментально определяемыми параметрами теории [ ] и Согласно [ ], указанные соотношения имеют следующий вид [c.18]

Изучена Павликовым, Лопато и Тресвятским [1 ] методом отжига и закалки . Образцы синтезировались кристаллизацией из расплава с последующим отжигом. В случае содержания свободной окиси хрома смеси плавились в виде стержней, подвешенных на вольфрамовой проволоке, остальные смеси плавились в тиглях из молибденовой жести. Фазовый анализ образцов проводился с помощью рентгеновского, микроскопического и спектроскопического методов. Фазовые превращения соединений изуча- [c.607]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...