Юстировка прибора

Интерферометр Майкельсона образован двумя отражателями Т] и Т2 и полупрозрачным зеркалом М (рис. 5.48). Металлическое зеркало М2 укреплено на подвижных винтах, что удобно для юстировки прибора. В качестве отражателей Tj и Т2 применяют призмы полного внутреннего отражения уголковые отражатели. Такая призма представляет собой тетраэдр из стекла с углами между боковыми гранями А, В, С, равными 90° (рис. [c.234]

Обычно в качестве возбуждающей используют линию Н 435,8 нм расположенную в видимой (синей) части спектра, что позволяет работать со стеклянной оптикой и облегчает юстировку прибора. Эта линия интенсивна и вблизи нее, в широкой спектральной области, нет мешающих ртутных линий, что очень удобно для получения СКР и проведения анализа. Линии Hg 434,8 434,4 и 433,9 нм из-за относительно малой интенсивности обычно не мещают исследованию СКР. Для возбуждения можно также использовать фиолетовую линию Hg 404,7 нм. Интенсивные ультрафиолетовые линии Hg 253,7 нм и Н 365,0 нм используются реже. [c.117]

Принципы построения оптико-механических приборов изложены в работах [11, 161, вопросы сборки и юстировки приборов — в работе [5], поверка приборов подробно описана в работах [I, 5], перспективы развития оптико-механических приборов рассмотрены в работах [2, 15]. [c.183]

Ввиду высокой чувствительности пружинного механизма при использовании приборов в положении, отличающемся от указанного в паспорте (как правило, вер-тикального), и при длительном хранении приборов необходимо провести дополнительную юстировку механизма в рабочем положении. Для юстировки прибора отворачиваются винты 2/ и снимается крышка П, отворачиваются винты 12 и передвигается передний угольник 13, меняется его рабочее плечо. Завернув винты 12 с разным натягом, поворачивают передний угольник 13 вокруг острия хобота 11 корпуса 25 таким образом, чтобы создать скрученной ленте предварительный натяг в 1 —1,5 оборота. Окончательная регулировка передаточного механизма осуществляется винтом 14. Юстировка производится по концевым мерам длины, предназначенным для поверки при температуре 20 1 С. [c.189]

При перемещении пузырька изображения обоих его концов будут двигаться в противоположные стороны и только в одном т-ложении эти изображения сойдутся, образуя один общий контур (рис. 201). При юстировке прибор налаживают так, что этому положению соответствует строгая параллельность оси ампулы горизонтальной плоскости. Если при этом прибор стоит на выверенной горизонтальной плите, то отсчет его по вертикальной шкале должен бы ь 10, а по круговой — 0. [c.240]

Три выступа, имеющиеся на каждой из торцовых поверхностей колец, расположены симметрично, так что линия, соединяющая центры двух соответствующих выступов, параллельна оси кольца. Эти выступы круглой или прямоугольной формы, площадью не более 2—3 мм . Поверхности выступов обычно плоские, а иногда сферические и отполированы с высокой точностью. Расстояние между соответствующими выступами вдоль образующих колец, т. е. параллельность плоскостей, определяемых ими, выдерживается с погрешностью, не превышающей долей микрона. Дальнейшая подгонка параллельности положения зеркал достигается при юстировке прибора путем воздействия упругой силы пружины на [c.32]

Дробную часть порядка интерференции в каждом отдельном случае можно найти экспериментально — либо по диаметрам колец при интерференции равного наклона, либо по смещениям полос при интерференции равной толщины. Сложнее определить целый порядок. Его можно получить, сосчитав число интерференционных полос при изменении разности хода в интерферометре путем передвижения одного из его зеркал. Передвигать зеркало при изменении разности хода следует так, чтобы оно оставалось строго параллельным своему первоначальному положению — в противном случае может нарушиться юстировка прибора. А это приведет к появлению дополнительной разности хода и, следовательно, к ухудшению видимости интерференционной картины. Избежать нарушения параллельности можно, если весьма точно изготовить механические детали прибора. Однако трудности получения направляющих с высокой степенью прямолинейности для больших раздвижений интерферометра заставляют, даже при наличии фотоэлектронных счетчиков интерференционных полос, отказаться от этого метода при большом числе полос. Метод непосредственного определения числа полос применим лишь для малых разностей хода. Вот почему Майкельсон, пользуясь этим методом при сравнениях с длиной волны красной линии кадмия, мог использовать только длину самого маленького — 0,39 мм — из специально изготовленных им эталонов. К большим же разностям хода Майкельсон переходил, сравнивая длину этого эталона с эталоном удвоенной длины и используя при этом явление интерференции в белом свете. Постепенно удваивая длину эталона, экспериментатор доходил до 10-сантиметрового эталона, длину которого уже сравнивал с длиной прототипа метра. [c.50]

Выбор и утверждение значений вторичных эталонных длин волн необходим и потому, что в настоящее время форма хранения эталона единицы длины делается совершенно отличной от прежней. Универсальность нового определения метра заключается в том, что его воспроизведение в принципе возможно в любой лаборатории, имеющей интерференционные приборы. Однако точность этого воспроизведения, как показывает опыт, зависит от правильности соблюдения ряда условий измерения условий возбуждения источника света, юстировки прибора, соблюдения температурного режима, правильности определения и введения поправок в значение длин волн при переходе от вакуума к воздуху. Это достигается сличением интерференционных установок, предназначенных для подобных измерений. Без строгого контроля возможна потеря единства измерений длины. Именно в поддержание единства измерений и должна вылиться форма хранения нового эталона. [c.74]

Эта формула для анализатора симметричного типа к = — 12=1, Я=у и 61 = 62 = 0) И ДЛЯ анализатора с отклонением на 180° (/1 = /2=0) приводится к рассмотренному выше виду кх = га . Следовательно, в случае любого анализатора с фокусировкой первого порядка величина га определяет минимальную ширину изображения в положении наилучшей юстировки прибора, удовлетворяющей уравнению Герцога. [c.17]

Иногда, главным образом в бинокулярных приборах, круглые защитные стекла оптической системы делают с небольшой клиновидностью, чтобы путем разворота их производить юстировку прибора (например, параллельности оптических осей). [c.280]

Для производства измерений высокой точности необходимо точное взаимное расположение узлов и деталей прибора. Для этого в конструкции прибора предусмотрены компенсационные элементы и устройства для регулировочных перемещений, с помощью которых производится сборка и юстировка прибора. [c.425]

Дефекты, выявленные при проверке прибора, часто устраняются только юстировкой его, без ремонта. Для юстировки прибора иногда оказывается достаточной разборка одного или нескольких узлов. Разборка всего прибора требуется редко. Полную разборку прибора следует производить по отдельным узлам, которые после ремонта и юстировки нужно устанавливать на место или помещать под стеклянный колокол для защиты от пыли. В случаях, когда исправление прибора только юстировкой невозможно (вследствие износа или механического повреждения деталей прибора), производят ремонт прибора. Разборка оптических приборов требует большой осторожности и внимания, так как легко можно повредить тонкие стеклянные сетки, линзы, призмы или зеркала, замена которых представляет большие трудности. Металлические детали также можно повредить при разборке, поэтому для разборки приборов нужно применять соответственно изготовленные по месту инструменты. Разборку следует производить на столе или над столом во избежание падения или потери деталей прибора. [c.31]

Для разборки и юстировки приборов юстировщик должен иметь набор слесарных и часовых отверток разных размеров, пинцеты, круглогубцы, раздвижной ключ и пр. Специальные инструменты (см. табл. 2), нужные для разборки и юстировки приборов, изготовляют так, чтобы не портить поверхностей деталей прибора. В настоящее время создается облегченный набор ключей, состоящий из специальной ручки, в которой закрепляются короткие головки ключей форм, приведенных в табл. 2. Для проверки приборов также необходимо иметь соответствующие измерительные средства (см. табл. 3). [c.32]

Погрешности измерительной цепи возникают вследствие неизбежных при изготовлении, сборке и юстировке прибора отклонений. Погрешности измерительной цепи вызываются следующими основными причинами [c.103]

Проверка точности и стабильности показаний прибора. После ремонта и юстировки прибора производят проверку точности и стабильности показаний. [c.115]

Микроскоп имеет и другие недостатки,. менее существенные, но мешающие работе и затрудняющие его ремонт и юстировку. Некоторые из перечисленных выше недостатков могут быть исправлены ремонтом и юстировкой прибора. Исправление других недостатков в ряде случаев невозможно, в связи с чем погрешности показаний микроскопа не укладываются в нормы, принятые в СССР для приборов данного типа. [c.215]

При проверке и юстировке прибора производят наружный осмотр рабочих и нерабочих поверхностей прибора и проверку взаимодействия частей. [c.367]

Дополнительное усложнение при работе с коротковолновым излучением состоит в необходимости создания вакуума, что, разумеется, не только предъявляет очень серьезные требования к корпусу прибора, но и затрудняет работу, в частности, юстировку прибора и установку источника излучения. Кроме того, создание вакуума в больших объемах — обычно довольно длительный процесс. Ранее пытались, вместо того чтобы создавать вакуум в приборе, заполнять его прозрачным для исследуемого излучения газом, например, аргоном или гелием. Однако для того чтобы избавиться от остаточных газов, прибор перед заполнением необходимо откачать. Поэтому, на наш взгляд, за- [c.127]

Метод, основанный на использовании стандартов длин волн. На одно и то же место пластинки снимаются два спектра спектр элемента В, длины волн которого применяют в качестве стандарта ), и спектр элемента Л. Линии в спектре элемента А расшифровываются по линиям элемента В. При этом желательно, чтобы оба источника одинаково заполняли решетку светом, ибо в противном случае вследствие дефектов нарезки решетки или юстировки прибора может произойти смещение спектров. Если спектр расположен вблизи нормали к решетке, то в пределах небольших участков спектра дисперсию прибора можно считать постоянной и пользоваться линейной интерполяцией (см. формулу (3.5)). Для больших углов дифракции дисперсия меняется с изменением длины волны. Поэтому к линейной интерполяции можно прибегнуть только при наличии достаточно близких линий сравнения. Для углов дифракции, близких к 90°, постоянной будет вторая производная от длины волны по длине [c.229]

В конструкторской документации на изделие указан рабочий диапазон температур работы изделия. Например, нормальная работоспособность транспортных машин обеспечивается в диапазоне температур от +40 до —50 °С, а метрологического оборудования при юстировке приборов 20 1 С. [c.189]

При правильной установке и юстировке прибора в кювете образуется светящаяся фигура в виде двух соприкасающихся вершинами конусов. Обычно этот светящийся объем коллоидного раствора называют конусом Тиндаля. Он очень хорошо виден в микроскоп без [c.735]

Юстировка прибора, необходимая для достижения высокой степени взаимной когерентности перекрывающихся пучков, сводится к нескольким легко осуществимым и воспроизводимым операциям, что обеспечивает предсказуемость поведения прибора в процессе его юстировки. [c.37]

Картина высокой контрастности наблюдается только после тщательной юстировки установки на перпендикулярность оси выходящего из коллиматора первичного светового пучка по отношению к плоской поверхности зеркала 3. С целью иллюстрации важности указанной процедуры, как это уже отмечалось выше в п. 1.4 (III), на рис. 1.25 приведены две интерферограммы. Первая из них (рис. 1.25А) получена при достижении необходимой перпендикулярности. Вторая (рис. 1.25Б) даёт вид того же поля зрения при тех же условиях опыта, но при единственном отличии, сводящемся к отклонению оси первичного коллимированного пучка относительно нормали к поверхности зеркала на малый угол 6(р = 10 рад (несколько угловых минут) посредством воздействия на регулировочный винт ВЗ (рис. 1.33). Способ юстировки прибора, позволяющий добиться необходимого результата, и последовательность юстировочных операций подробно описаны в п. 1.7.1. [c.55]

При разработке норм точности, по которым выполняют окончательную приемку изделий, целесообразно устанавливать допускаемую погрешность нормируемого параметра для нового изделия и для изделия в конце срока его эксплуатации (до ремонта машины или HOBoi i юстировки прибора). Запас точности следует создавать не только по геометрическим параметрам, но и по электрическим, упругим и другим функциональным параметрам, изменяющимся в процессе работы изделия. Например, нужно предусматривать запас точности упругой характеристики чувствительных элементов приборов, длины волны резонансных электромагнитных колебаний в резонаторных системах, определяющих качество электровакуумных приборов, II т. д. [c.28]

ЛГ-56, работающий на длине волны 0,63 мкм в одномодовом режиме. Все элементы интерференционного эллипсометра закреплены на массивном металлическом основании. Наиболее жесткие требования предъявляются к узлу подвижного зеркала 3. Это устройство должно обеспечить необходимое смещение зеркала по заданному закону, причем (что весьма существенно) с минимальным перекосом, влияющим на юстировку прибора. В описанной выше конструкции использовались магнитоэлектрические и пьезоэлектрические вибраторы (см. п. 10). Лучи после призмы Волластона направляются на фотоприемники 9, 10, сигнал с которых после усиления подается на вертикальный 13 и горизонтальный 14 усилители осциллографа. Картина на экране последнего соответствует состоянию входящего в эллипсометр излучения. [c.205]

На этом основана возможность полной компенсации биения визирной оси, которое вызывают иодвинши сетки и окулярной призмы. Если визир без призмы Дове имеет такое биение визирной оси, то его можно устранить юстировкой, установив направление главного луча, на котором лежит центр вращения сетки С", параллельно оси вращения нризмы Дове. Это и есть основное условие юстировки прибора. [c.455]

Рассматриваемые в настоящей работе сложные (штико-механи-ческне измерительные приборы требуют непосредственно после сборки предварительной юстировки сначала отдельных узлов, а затем полной юстировки прибора. [c.30]

Приборы, не имеющие дефектов изготовления, а вышедшие из строя в связи с износом механических частей или разъюстированисм оптической системы, как правило, могут быть полностью отремонтированы. Точность показаний отремонтированного прибора зависит в основном от правильности сборки и юстировки его. Для юстировки прибора в его конструкции предусматриваются устройства, обеспечивающие возможность перемещения отдельных узлов. Юстировку осуществляют путем установки прокладочных колец, использования зазоров между винтами и отверстиями деталей, перемещением отдельных узлов специально предназначенными для этого юстировочными винтами и др. При юстировке прибора в целом или отдельных его узлов следует соблюдать последовательность операций, с тем чтобы юстировкой последующего элемента не нарушать положения отъюстированной ранее части прибора. [c.30]

Компарометр имеет ряд недостатков, основными из которых являются сравнительно малый диапазон рабочего перемещения измерительного стержня ( 55 мк) большая толщина штрихов шкалы и указателя, затрудняющая отсчитывание долей деления шкалы невысокое качество изготовления трубки трудность юстировки важных элементов прибора неудачная конструкция узла преломления пучка лучей (фиг. 36) от пластины 2 к объективу 3, затрудняющая юстировку прибора. [c.95]

Чистка оптических деталей приборов имеет важное значение н состав 1яет обычно значительный объем работы при ремонте и юстировке приборов. Время, затрачиваемое на чистку оптических деталей, зависит от правильности организации рабочего места, чистоты помещения, качества применяемых промывочных и протирочных. материалов, а такл<е от последовательности разборки узлов прцбора при чистке. На вычищенных оптических деталях не должно быть точек пыли, грязи, следов оксидировки, пятен волосков и других дефектов. [c.424]

Начинают юстировку прибора без осветительной спстемы, приблизив ртутную лампу как можно ближе к входной щели. Иногда, чтобы получить хорошие условия юстировки прибора, щель закрывают рассеивающим экраном (матовое стекло, папиросная бумага и т. п.). В последнем случае можно пользоваться и источником со сравнительно малой светящейся поверхностью, не заботясь при юстировке спектрального прибора о занолнении светом входного коллиматора и правильно ориентиров е источника относ -тельной оптической оси прибора. [c.156]

Метод сравнения почернений с помощью микрофотометра. Малоопытному фотометристу может вначале показаться, что отыскание спектральных участков равной плотности почернений, как этого требует вышеописанны метод спектров сравнения, визуальным способом проводится недостаточно надежно. Кроме того, добиться юстировкой прибора в контрольном снимке равенства почернений с абсолютной точностью невозмо кпо. Равные, казалось бы, на глаз плотности почернений при измерении микрофотометром оказываются несколько отличающимися друг от друга. Объясняется это тем, что точность определения оптических плотностей на фотоэлектрическом лнгкрофотометре выше в 10 раз, если не больше, чем визуальным методом. [c.396]

После несложной юстировки прибора приступают к измерениям. Ультрамикроскопический метод позволяет в ряде случаев довольно просто определить размеры коллоидных частиц. Наиболее точные результаты, разумеется, получаются при исследовании монодиспер-сионных золей. Такие золи создаются по зародышевому методу для случая благородных металлов золота, платины, серебра. Предположим, что в некотором объеме золя V находится п [c.736]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...