Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Фотоэлектрические методы

На рис. 35.3, а показана траектория, по которой глаз последовательно осматривает детали объекта, а на рис. 35.3, б — сам объект. Точки соответствуют тем местам, на которых глаз останавливается, черточки — перемещению глаза. Таким образом, глаз как приемник света сочетает в себе особенности, присущие фотографическому и фотоэлектрическому методу регистрации. Одновременно, с хорошим разрешением воспринимается конечная, но небольшая часть изображения. Все же изображ ение регистрируется за счет последовательного просматривания. Такое устройство позволяет концентрировать внимание на наиболее существенных деталях предметов и вместе с тем получать некоторое общее представление обо всём, что находится в поле зрения. Благодаря этой особенности глаза мы не замечаем ограниченности поля ясного зрения и оцениваем поле зрения глаза по вертикальному и горизонтальному направлениям примерно в 120—150°, т.е. значительно больше, чем у очень хороших оптических инструментов.  [c.676]


В тех случаях, когда вещество сильно поглощает в синей области спектра для возбуждения СКР иногда используют зеленую линию Нд 546,1 нм или желтый дублет линий Hg 577,0—579,1 нм. Однако при этом СКР может попасть в красную часть спектра, где чувствительность как фотографического, так и фотоэлектрического методов его регистрации сильно снижается.  [c.118]

Фотоэлектрический метод анализа  [c.131]

Упражнение 2. Качественный анализ фотоэлектрическим методом.  [c.137]

Упражнение 4. Количественный анализ фотоэлектрическим методом с использованием интенсивностей линий индивидуальных веществ.  [c.145]

МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ ЛАКОКРАСОЧНЫХ ПОКРЫТИЙ ГОСТ 896 -69. Материалы лакокрасочные. Фотоэлектрический метод определения блеска.  [c.147]

Возбуждающие пучки электронов получались гораздо более однородными по скоростям. Интенсивность линий измерялась фотоэлектрическим методом, позволявшим получать значительно большее число точек на кривых, чем в прежних работах методами фотографической фотометрии. Тщательнее соблюдались условия, при которых возбуждение атомов происходит только за счет соударений с электронами и отсутствуют вторичные явления (реабсорбция света, удары 2-го рода и т. д.). Эти работы показали, что оптические функции возбуждения имеют в ряде случаев по несколько тесно расположенных максимумов.  [c.446]

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МЕТОД ПРЕОБРАЗОВАНИЯ  [c.95]

Буравлев Ю. М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. 12 л. 60 к.  [c.431]

Энергетические параметры излучения измеряются тепловыми и фотоэлектрическими методами. К тепловым относятся калориметрический, болометрический, термоэлектрический и пироэлектрический методы, позволяющие производить абсолютные измерения мощности и энергии [110].Фотоэлектрические методы основаны на применении приемников излучения, в которых  [c.94]

Фотоэлектрический метод с использованием фотоприемников с внешним фотоэффектом применяется для измерения энергии излучения в видимой и ближней инфракрасной областях спектра. Такие приборы обладают высокой чувствительностью и малой инерционностью, однако они не могут быть использованы для измерения мощности непрерывного излучения или импульсного, следующего с большой частотой, так как их чувствительность изменяется при длительном облучении.  [c.99]

Фотоэлектрический метод основан на том, что лазерный световой зонд малого размера сканирует по исследуемому объекту, вызывая в каждой его точке фототок, анализ которого дает возможность получать информацию об объекте.  [c.178]

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ  [c.224]

Возможность контроля фотоэлектрическим методом полупроводниковых структур исследовалась в работе [14]. Выяснена L возможность определения таких дефектов, как наличие инверсных слоев и каналов, мест локального умножения на поверхности, неоднородность в металлическом покрытии, загрязненные поверхности.  [c.226]


Фотоэлектрический метод используется также для неразрушающего контроля интегральных схем металл—окисел—полупроводник (МОП), в которых контроль обработки изменений параметров различных МОП-элементов сводится к исследованию внутреннего фотоэффекта в полупроводнике. Исследование влияния лазерного зонда на работу элементов МОП-схем проводилось на установке, оптическая схема которой представлена на рис. 133.  [c.226]

В отношении точности фотографического метода существуют различные мнения. Казалось бы, что за счет большого числа промежуточных операций его точность по сравнению с фотоэлектрическим методом должна быть меньшей. Однако говорить о точности любого метода, отвлекаясь от конкретных условий его применения, не представляется возмон<ным. Можно утверждать, что вследствие способности фотослоя аккумулировать действие падающей на него световой энергии, фотографический метод при регистрации слабых световых потоков может превосходить по точности фотоэлектрический. В связи с отмеченным свойством фотослоя оказывается также возможным измерять фотографическим методом сильно различающиеся по абсолютному значению световые потоки с одинаковой относительной погрешностью, что выгодно отличает его от фотоэлектрического.  [c.310]

Метрологическая схема автомата приведена на рис. 6. Для контроля неперпендикулярности торцов применен фотоэлектрический метод.  [c.395]

Фотоэлектрический метод, помимо повышенной точности и объективности по сравнению с фотографическим, требует значительно меньшего времени на проведение анализа (до 40 раз).  [c.160]

Перо можно либо фотографическим, либо фотоэлектрическим методом. Обработка полученной интерферограммы заключается в измерении на негативах диаметров изображений интерференционных колец с помощью измерительного микроскопа. Для построения контура линии измеряют распределение плотности почернения в направлении диаметра на специальных приборах — микрофотометрах. В результате получают кривые распределения интенсивности в интерференционной картине, подобные контуру спектральной линии источника.  [c.39]

К фотоэлектрическим методам измерения оптической энергии и мощности относятся все методы, основанные на применении приемников излучения, в которых поглощение фотона сопровождается электрически регистрируемым процессом, например испусканием электрона или образованием электронно-дырочной пары. Такие приемники можно назвать счетчиками квантов в том смысле, что взаимодействие связано с одиночным фотоном энергии излучения и выходной сигнал пропорционален не средней мощности, а числу фотонов (при постоянном квантовом выходе).  [c.118]

При различных приложениях полезен переход от фотографической регистрации интерференционной картины к фотоэлектрической записи. В этом случае исключается трудоемкая и чреватая дополнительными ошибками операция перехода от почернений фотопластинки к ее освещенности. Это важно тогда, когда исследователя интересует не только положение, но и относительная интенсивность компонент изучаемой структуры. Основы фотоэлектрического метода были разработаны в 50-х годах нашего столетия группой французских физиков (Жакино, Дюфур, Шабаль и др.). За последние годы фотоэлектрический метод получил широкое распространение, особенно в связи с исследованиями в области лазеров.  [c.250]

Перспективной задачей гелиоэнергетики является создание крупных солнечных энергоустановок и станций. При решении этой проблемы наиболее приемлемыми следует признать термодинамические и фотоэлектрические методы преобразования солнечной энергии. Предстоит преодолеть немалые технические трудности, главные из которых состоят в значительном снижении стоимости установленного 1 кВт солнечных электростанций и обеспечении отпуска преобразованной энергии по заданному графику нагрузки.  [c.204]

Наибольшее применение, главным образом в космической технике, получил фотоэлектрический метод преобразования. КПД самых распространенных кремниевых фотопреобразователей составляет 10—12%. В последнее время разработаны фотопреобрааователи более сложной структуры на основе галлия, мышьяка и сурьмы, КПД которых достигает 20—22%.  [c.181]

Ученые США считайт возможным в настоящее время строительство орбитальных солнечных электростанций мощностью по 5—10 МВт. Б США разработан внеземной вариант солнечной энергоустановки, который предполагается реализовать в 1980—1985 гг. Масса ее 25 т. Советские исследователи в области использования солнечной энергии Н. С. Лидоренко и С. Ф. Мучник сообщают, что примерно в 80-е годы возможно опытное применение автономных солнечных установок небольшой мощности По их мнению, главная трудность в широком использовании солнечной энергии — высокая стоимость фотоэлектрического метода ее преобразования и относительно низкий коэффициент полезного действия — не более 15%.  [c.323]


Для преобразования солнечной энергии в электрическую известны три основных метода. Во-первых, это применяемый на спутниках фотоэлектрический метод прямого преобразования света в электричество при низком напряжении при помощи дорогих и сравнительно малоэффективных солнечных элементов, стоимость которых в 1973 г. оценивалась примерно в 20 долл. США на 1 Вт. Упрощенные более дещевые модели используют для зарядки аккумуляторов на буровых установках на шельфе и т. д. Во-вторых, используется тепловой метод, при котором применяют различные типы коллекторов плоские, вогнутые, желобообразные, цилиндрические или параболические с механизмами для их перемещения или без них со специальными чувствительными покрытиями или без них. В коллекторах солнечная энергия нагревает промежуточный энергоноситель, которым обычно является вода, а в некоторых схемах жидкий натрий (см. ниже). Третий метод наиболее далек от воплощения он предусматривает сооружение солнечных станций на спутниках Земли с передачей энергии при помощи микроволн на наземные приемные станции.  [c.216]

Измерение фотоэлектрическими методами основано на использовании в качестве приемников излучения фотоэлементов и разряде с их помощью конденсаторов в самоинтегрируюш ей схеме. Источник питания заряжает конденсатор и на нем устанавливается напряжение, которое поляризует фотоэлемент [143]. Излучение лазера, попадая на фотоэлемент, вызывает в нем импульс тока и частично разряжает конденсатор. При линейной зависимости фототока от интенсивности излучения падение напряжения АУ пропорционально энергии импульса излучения  [c.99]

В световом моделировании радиационного теплообмена наряду с фотоэлектрическими методами измерения световых потоков весьма перспективным оказался также фотографический метод регистрации [Л. 27, 184, 185]. Следует отметить, что фотографический метод измерения световых потоков широко используется в современной науке и технике. Благодаря его применению был решен целый ряд важных задач в различных научных исследованиях. Например, в теплофизике этот метод с успехом используется для целей фотопирометрии и определения радиационных характеристик различных материалов [Л. 192—196].  [c.309]

Одним из достоинств фотографического метода является его универсальность, т. е. пригодность для решения не только тех задач, которые могут быть решены фотоэлектрическим методом, но -и задач, которые с помощью последнего в настоящее время решить затруднительно. К таким задачам относятся определение локальных освещенностей в местах модели, где невозможно поместить фотоэлемент, регистрация очень слабых световых полей, измерения в области спектра за пределами чувствительности фотоэлемента и пр. Важное достоинство фотографического метода состоит также в получении с его помощью нанлучшей формы научной документации, так как снимки характеризуются объективностью, полнотой и наглядностью исследуемого поля и могут  [c.309]

Измерение вакуума в камере осуществляется с помощью вакуумметров ВИ-12 и ВИТ-1А. Для анализа состава газов используется масс-спектрометр MGX-3A, для регистрации параметров трения и температур — тензометрическая станция ТУ-6М и потенциометры ЭПП-09. Скорость вращения измеряется фотоэлектрическим методом с помощью осветителя, фотодиода ФД-3 и модулятора световых лучей, закреплепного на валу электродвигателя. Импульсы фототока усиливаются транзисторным усилителем и подаются на пересчетную станцию ПС-1000.  [c.7]

Для регистрации температуры использован двухлучевой осциллограф С1-17 с предусилителем G1-15, имеющий полосу пропускания 0—1 мгц. Параметры трения измеряются с помощью тен-зометрического усилителя 8АНЧ-7М и регистрируются шлейфовым осциллографом. Скорость вращения измеряется фотоэлектрическим методом и также осциллографируется. Для фотографирования изображения на экране электронного осциллографа применяется синхронизатор, пускающий однократную развертку сигнала. Установка имеет следующие технические характеристики  [c.22]

Поляризационный К. о. нрименяется для анализа состояния поляризации света. Общий принцип устройства " превращение исследуемого света в свет, поляризованный линейно (при визуальных измерениях) или циркулярно (при фотоэлектрич. измерениях). При визуальных измерениях обычно применяют дополнит, полутсыевые устройства, благодаря которым измерение производится путёц уравнивания яркостей двух полей (см. Полу теневые приборы). Фотоэлектрические методы более быстры, удобны и точны [2].  [c.428]

Комплексная методика измерений дараметроа импульсного облучения, рассматриваемая ниже, включает абсолютные измерения энергии падаищего излучения и количества облучения тепловым методом в сочетании с относительными измерениями хода облученности во времени фотоэлектрическим методом. Получаемые при этом данные позволяют достаточно просто перевести относительные зна-чения облученности в абсолютные, а также дают возможность непосредственно (путем введения параллельной интегрирующей схемы при измерении облученности) или путем последующей обработки получить ход нарастания энергий излучения или количества облучения во времени. Следует заметить, что указанная комплексная методика имеет ряд существенных преимуществ в точности, временном разрешении и широте диапазона измерений, в простоте а надежности измерительной аппаратуры перед некоторыми известными методиками, где измерения всех перечисленных параметров и их временного хода ведутся тепловым методом а вместо интегрирующих применяются дифференцирующие измерительные схемы.  [c.614]

Кратко остановимся на измерениях облученности при помощи комплексной методики. Относительные измерения облученности выполняются фотоэлектрическим методом, рассмотрение которого не входит в нашу задачу. Основные достоинства этого метода прямая связь величины фотоэдс, генерируемой фотоэлектрическими приемниками излучения, со значением облученности, большая чувствительность и высокое вреыенн(5е разрешение (прпооры Ф5К [lObJ 10 сек, пикохроны [iSS] 5.10 сек). Главные недостатки фотоэлектрического метода - избирательность приемников излучения и некоторая нестабильность их технических показателей.  [c.677]


В сочетании с абсолютными измерениями энергии падающего излучения или количества облучения тепловым методом, когда обеспечивается неиэбирательнрсть поглощения излучения в широком спектральном интервале, недостатки фотоэлектрического метода при относительных измерениях облученности существенно ослабляются, а его достоинства используются в полной мере. Не-  [c.677]

За последние 10—15 лет значительно расширилась область Приложений многолучевой интерференционной спектроскопии. Развитие фотоэлектрического метода регистрации интерференционной картины, разработка многослойных диэлектрических слоев с высоким коэ( ициентом пропускания и малой величиной поглощения, применение электронно-оптических преобразователей, создание широкой номенклатуры узкополосных интерференционных фильтров для видимой, ультрафиолетовой и инфракрасной областей спектра, разработка способов сканирования интерференционной картины и устройств для их реализации, теоретическое обоснование и экспериментальное осуществление муль-типлекс-эталона существенно расширили экспериментальные возможности спектрометра Фабри-Перо во всех областях оптического спектра. Следует заметить при этом, что важной причиной успешного применения эталона Фабри-Перо является его высокая свето--сила, превосходящая светосилу обычных спектральных приборов с призмой или решеткой, имеющих одинаковую тэлором Фаори-Перо величину разрешающей сйлы,  [c.5]


Смотреть страницы где упоминается термин Фотоэлектрические методы : [c.440]    [c.203]    [c.306]    [c.263]    [c.579]    [c.61]    [c.64]    [c.444]    [c.447]    [c.241]    [c.118]   
Смотреть главы в:

Измерение лазерных параметров  -> Фотоэлектрические методы

Измерение лазерных параметров  -> Фотоэлектрические методы



ПОИСК



Измерение относительной яркости спектральных линий фотоэлектрическим методом

Методы анализа оптико-акустические фотоэлектрические

Методы фотоэлектрического смешения сигналов

Фотоэлектрические методы спектрального анализа

Фотоэлектрический метод контроля

Фотоэлектрический метод преобразования



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте