Спектральная ширина

Следует подчеркнуть, что указанное преобразование зарегистрированных сведений осуществляется чрезвычайно быстро. Минимальное время,необходимое для восстановления изображения, можно оценить с помощью следующих рассуждений. Пусть просвечивающая волна представляет собой световой импульс с длительностью т. Импульс ограниченной длительности можно рассматривать как набор монохроматических волн, причем спектральная ширина импульса бv, согласно изложенному в 21, связана с т универсальным соотношением бvт = 1. Голограмма, будучи, по существу, дифракционной решеткой, произведет спектральное разложение импульса, и изображение каждой точки предмета будет соответствующим образом расширено. Для того чтобы такое уширение практически не было заметным, спектральная ширина импульса должна быть меньше интервала частот, разрешаемого голограммой-решеткой (см. 50). На основе высказанных соображений легко показать, что длительность импульса должна удовлетворять условию [c.268]

Из сказанного следует, что в случае импульсных лазеров спектральная ширина компонент в спектре их излучения никак не меньше величины, обратной длительности импульса. Для лазеров с модулированной добротностью, например, Т х 10 с, и бсо не менее 10 . [c.800]

В случае квантовых генераторов непрерывного действия минимальная возможная спектральная ширина отвечала бы времени Т между моментами включения и выключения лазера (при Т = = 1 час мы имели бы бсо я 2-10" ). Однако есть много причин, обусловливающих значительно большие значения спектральных ширин. Одна из этих причин состоит в следующем. Согласно соотношению (228.3) частоты со зависят от длины резонатора Ь и показателя преломления среды Это обстоятельство находит [c.800]

Помимо технических, существуют так называемые естественные причины уширения линий излучения квантовых генераторов, а именно броуновское движение зеркал и спонтанное испускание активной среды. Как показывают опыты и расчеты, спектральная ширина, определяемая естественными причинами, составляет 10 — 10 с , т. е. фантастически малую величину. [c.801]

Ранее неоднократно подчеркивалось, что изменение амплитуды импульса со временем в какой-либо точке пространства с необ.хо-димостью означает конечность ширины его спектра если импульс направить в спектральный аппарат с подходящей разрешающей способностью, то на спектрограмме мы обнаружим излучение, сконцентрированное в некотором интервале частот Ао) около средней частоты (Оо, входящей в аргумент косинуса в выражении (234.1). Величина интервала частот (так называемая спектральная ширина импульса) связана с длительностью импульса Т соотношением (см. 21) [c.829]

Спектральная ширина излучения жидкостных лазеров составляет 4—30 нм. Ее можно сделать значительно уже, если внутрь резонатора поместить какой-либо дисперсионный элемент, т. е. создать селективный резонатор. Такого рода резонаторы могут быть различных типов. Можно, например, поместить внутрь резонатора (между активным слоем и одним из зеркал) обычную призму или интерферометр. Часто заменяют одно из зеркал отражательной дифракционной решеткой. При наличии в резонаторе селективных элементов вдоль оси лазера может распространяться излучение лишь некоторых длин волн. Излучение других волн, отражаясь от решетки или проходя через призму, отклоняется от оси и выходит за пределы резонатора. [c.294]

При записи спектров поглощения эталонных веществ следует работать с таким разрешением прибора, которое обеспечивает лучшее воспроизведение образцовых спектров (рис. 52—56). Разрешающая способность прибора зависит от спектральной ширины щели и для автоколлимационных систем может быть приближенно вычислена по формуле [c.149]

Для выбора оптимальных условий записи спектров при градуировке спектрометра часто применяют следующий способ. По эталонному спектру поглощения проводят оценку полуширины наиболее узкой полосы поглощения. Спектральную ширину щели берут приблизительно равной Д полуширины полосы. После вычисления и установки рабочей ширины щели подбирают усиление регистрирующей схемы с таким расчетом, чтобы во время записи перо самописца не выходило за пределы шкалы. Затем устанавливают приемлемый уровень шумов путем подбора постоянной времени усилителя. Скорость сканирования определяют таким образом, чтобы время записи наиболее узких линий поглощения было равно 10—20 т. Правильность выбора условий записи контролируют сравнением качества записанного и эталонного спектров. [c.150]

Проведите запись всех рекомендуемых эталонных спектров. Для каждого спектра определите спектральную ширину щели. [c.160]

При проведении количественного анализа используется формула (4.13), которая выведена для строго монохроматического излучения. В то же время излучение, проходящее через выходную щель монохроматора спектрофотометра, не строго монохроматическое. Характеристикой степени монохроматичности пучка является спектральная ширина щели АХ, которая для автоколлимационных систем в видимой и УФ-области спектра для не очень узких щелей может быть вычислена по формуле [c.192]

ФТ Т Г = 33 7. В случае кривых За и 36 отсутствует зависимость от спектральной ширины щели. [c.247]

Используя данные о линейной дисперсии спектрографа или измерив дисперсию по полученным фотографиям, определяют, какая ширина его входной щели необходима для получения заданной величины спектральной ширины щели (4, 8, 12 или 16 см ). Фотографируют спектр угольной дуги с выбранной щелью при разных выдержках. При этом следует учитывать, что концентрация молекул СЫ в разряде с уменьшением температуры быстро падает (см. рис. 93) и интенсивность полос СЫ уменьшается. Поэтому при введении в дугу примесей, понижающих температуру разряда, нужно увеличить время выдержки. Однако при изменении выдержки более чем в 3—4 раза можно ожидать изменения наклона кривой почернения фотопластинки. [c.250]

Точность измерений повышается с увеличением концентрации излучающих частиц, которое приводит к росту поглощения йил и ширины линии 61, и с уменьшением спектральной ширины щели ДА,. Выбор спектрального прибора с большой дисперсией также способствует увеличению точности определения температуры. [c.257]

Спектральная ширина излучения ОКГ очень мала и может быть на много порядков меньше, чем ширина линии атомного перехода. Эту особенность излучения ОКГ можно пояснить следующим образом. Колебания электромагнитного поля в резонаторе происходят не только на какой-либо из резонансных частот, но и в некоторой ее окрестности, называемой резонансной полосой частот, ширина которой зависит от коэффициента отражения зеркал резонатора Я и при его высоких значениях изменяется про- [c.281]

Внесение в резонатор усиливающей среды, которая частично или полностью компенсирует потери излучения при отражении от его зеркал, эквивалентно увеличению коэффициента отражения до некоторого эффективного значения / эфф ( < эфф 1)- Благодаря этому резонансная полоса сужается в (1—Я)/ 1— эфф) раз. Если считать, что при стационарной генерации лазера усиление в активной среде полностью компенсирует потери излучения при отражении от зеркал резонатора, то надо положить эфф=Г Это дает нулевую ширину резонансной полосы и соответственно нулевую спектральную ширину линии генерации лазера. В действительности, спонтанное излучение ( шум ) приводит к тому, что усиление в активной среде лазера оказывается меньше потерь в резонаторе . Недостаток усиления компенсируется непрерывным поступлением энергии со стороны спонтанного излучения. Вследствие этого. / эфф<1 и ширина линии генерации оказывается хотя и крайне малой, но вое же конечной величиной. Ее теоретическое значение составляет 10 Гц. В реальных случаях в силу ряда [c.281]

Нерегулярный, хаотический характер пичков, наблюдающийся в реальных случаях, можно объяснить следующим образом. Каждая мода имеет определенную пространственную структуру и черпает энергию в основном в тех областях кристалла, где напряженность ее поля велика. Поэтому каждая мода обладает в какой-то степени своим запасом инверсной населенности. Опыт показывает, что в каждом пичке происходит возбуждение малого количества продольных мод и в большинстве случаев лишь одной поперечной моды. Перескок генерации с одних мод на другие приводит к неравномерности временных интервалов, разделяющих пички, и к хаотическим пульсациям их интенсивности. Значительную роль в нарушении регулярности пичков играют пространственно-временные флуктуации накачки и неоднородности кристалла, вследствие которых различные участки кристалла не дают одновременной генерации. Спектральная ширина излучения отдельного пичка составляет 0,01—0,05 см . Полная спектральная [c.297]

Схема установки для проведения подобных исследований приведена на рис. 132. Органический лазер 1 работает в спектральном интервале от 0,387 до 0,415 мкм и при настройке на определенную длину волны обеспечивает мощность в импульсе около 10 кВт при длительности 5 не. Спектральная ширина импульса составляет 0,025 нм при угле расходимости излучения около 3 мрад. Излучение, прошедшее через плазму, определяется по отношению показаний фотодиодов Jh и Это излучение [c.223]

МОНОХРОМАТОР — спектральный оптич. прибор для выделения узких участков спектра оптич, излучения. М. состоит (рис. 1) из входной щели 1, освещаемой источником излучения, коллиматора 2, диспергирующего элемента 3, фокусирующего объектива 4 и выходной щели 5. Диспергирующий элемент пространственно разделяет лучи разных длин волн Я,, направляя их под разными углами ф, и в фокальной плоскости объектива 4 образуется спектр — совокупность изображений входной щели в лучах всех длин волн, испускаемых источником. Нужный участок спектра совмещают с выходной щелью поворотом диспергирующего элемента изменяя ширину щели 5, изменяют спектральную ширину бЯ выделенного участка. [c.210]

Четыре безразмерных параметра, отмеченных выше, достаточны для классификации М. с. в поле бесконечно плоской когерентной волны. Реальные пучки лишь частично когерентны, и их рассеяние зависит ещё от длины когерентности г, точнее от пятого параметра — = г/Х. Поскольку этот параметр характеризует статистич. свойства поля, а оно определяется свойствами источника света и пути, к-рый прошла волна до того, как попала на М. с., то его значение никак не связано с предыдущими четырьмя параметрами. Длина когерентности т = к /АХ, где АХ — спектральная ширина излучаемой линии. При учёте частичной когерентности света исследование кооперативных эффектов становится особенно сложной задачей. [c.223]

Интервал спектра АЯсп, занимаемый геометрическим изображением щели (1.13), называется спектральной шириной щели [c.19]

На практике часто осуществляется случай, когда вращательная структура молекулярного спектра разрешена лишь на хвосте колебательной полосы. В голове же полосы вращательные линии сливаются, наложившись друг на друга, во-первых, из-за сгущения линий вблизи вершины параболы Фортрата (рис. 87), во-вторых, из-за значительной величины спектральной ширины щели прибора и конечной ширины самих линий. Учитывая все факторы, приводящие к взаимному наложению вращательных линий в голове полосы, можно прийти к формуле, связывающей температуру Т плазмы с максимальными интенсивностями голов полос [c.246]

Кривые 1а дают связь между отношениями интегральных интенсивностей второй и первой колебательных полос и температурой. Интегральные интенсивности полос подсчитываются графически как площади, ограниченные линиями БИПУБ и АКУЛА (рис. 92). В зависимости от величины спектральной ширины щели спектрографа, использованной при съемках спектров, необходимо выбирать разные кривые 1а. На рис. 90 приведены кривые 1а для спектральных ширин щели, равных 4, 8, 12 и 16 см . [c.246]

Если использовать несколько измененное отношение интегральных интенсивностей (отношение площадей БИЗЯГЕКБ и АКЕГЛА), которое очень слабо зависит от спектральной ширины щели, при всех ширинах, меньших 16 см , можно пользоваться одной кривой 16. [c.247]

Кривые 2 выражают связь интенсивностей в максимумах второй и первой полос с температурой. Кривые 2а справедливы для отношения БР1АВ (рис. 92), зависящего от спектральной ширины щели. Кривая 26 используется для отношения 5Д/АВ, не зависящего от спектральной ширины щели. [c.247]

Рис. 92. Контуры интенсивностей полос СЫ с длинами волн кантов 388,3 и 387,2 нм в случае ЛТР-плазмы при 7 =6000К и спектральной ширине щели спектрографа 6 = 8 см

Экспериментальная установка. Измерение температуры дуги по молекулярным полосам СМ может быть выполнено на любом спектральном приборе большой или средней дисперсии. Следует работать при величинах спектральной ширины щели в пределах 4—16 см , для которых построены приведенные на рис. 90 и 91 кривые. При такой ширине щели вращательные линии полос, на-кладываясь друг на друга, образуют сплошной фон. Ошибки в измерениях интенсивностей и в построении контуров, необходимых для определения температуры по площадям (по кривым 1) и по спаду интенсивности в полосе (по кривым <3), в этом случае оказываются наименьшими. [c.249]

Для нахождения температуры пламени по (5.32) нужно измерить интенсивность линии при просвечивании /пл+спл, интенсивность линии непосредственно-от пламени /дп, интенсивность непрерывного спектра /спл при той же длине волны или в непосредственной близости от нее и, кроме того, знать яркостную-температуру Гспл источника сплошного спектра. Обобщенный метод обращения-спектральных линий позволяет определять температуру пламени, превосходящую яркостную температуру имеющегося источника сплошного спектра. Он применим и для коптящих пламен, излучающих сплошной спектр. При ширине линии, меньшей спектральной ширины щели, величина ЬХ1АХ< . Если ширина линии превышает спектральную ширину щели, линию можно рассматривать как часть сплошного спектра, из которого входная щель вырезает участок, равный спектральной ширине щели. В этом случае ЬХ=АХ и 6Х/ДХ=1. [c.255]

Примем в качестве параметра величину ПилбА/АЯ, которую легко варьировать, меняя спектральную ширину щели прибора. Выберем следующие значения йал(> Х1 1аХ 1, 01 и 0,01. Первое значение является предельным. Оно возможно, если пламя для данной длины волны предполагается абсолютно черным телом (апл = 1) и ширина линии равна или больше спектральной ширины щели, т. е. бл = А . Подставив в (5.33) 7 пл = 2000К (бунзеновское пламя), Сг=14 320 мкм-град и Я=0,6 мкм, получаем [c.255]

З есь К — длина волны у-излучспия, Г — спектральная ширина резонансного перехода ядра в кристалле. [c.410]

Источники излучения. К некогерентным источникам излучения относят источники спонтанного излучения. Это — светодиоды (СД), из к-рых наиб, распространёнными являются СД на основе гетероструктур системы AlGaAs. Рекордный кпд этих СД превышает 20% (однако при ВЧ электрич. модуляции он уменьшается), их быстродействие достигает 0,1 нс. В отличие от когерентных источников СД обладают большой угл. апертурой и спектральной шириной излучения. Изготовляются матрицы СД. [c.462]

Селективные П. с. пропускают излучение только в узком спектральном интервале. К ним относится изобретённый в 1933 В. Лио (В. Lyot) П. с., представляющий собой последовательность к поляризаторов (с идентично ориентированными поляризующими направлениями) и расположенных между ними (/г — 1) фазовых пластин. Каждая последоват. тройка элементов (поляризатор —фазовая пластинка — поляризатор) представляет сооой простейший описанный выше П. с. Толщина первой фазовой пластинки выбирается такой, чтобы обеспечить полное пропускание первой тройкой элементов фильтра Лио на заданной длине волны Ха (т. е. фазовый сдвиг кратен 2л). Толщина каждой следующей пластинки точно вдвое превышает толщину предыдущей, сохраняя, т, о., указанную кратность фазового сдвига на длине волны В результате все компоненты фильтра обеспечивают полное пропускание на длине волны Хо, тогда как на остальных участках спектра по мере роста числа пластин пропускание всё в большей степени подавляется. Практически таким способом удаётся создать П. с. со спектральной шириной полосы пропускания до 10 нм. Недостатки П. с. Лио — малая угл. рабочая апертура и сильная температурная зависимость спектральных характеристик, что приводит к необходимости тщательной термо-стабилнзацип всего устройства, [c.64]

Совр. способы изготовления ОДР — нарезка на металле (алюминий, золото) алмазным резцом на станке с управлением от ЭВМ (макс, частота 3600 штрихов на мм возможно получение профиля штриха с малым углом наклона при ограничениях на форму подложки), а также голография, методы с использованием УФ-ла-зеров и синхротронного излучения (макс, частота — до неск. десятков тысяч штрихов на мм). Для достижения оптим. профиля штрихов — треугольного или прямоугольного — и переноса голография, рисунка решётки на более гладкую подложку применяют ионное травление. Для полученных таким способом кварцевых ОДР с прямоуг. штрихом КВ-гравица составляет ок. 0,5 нм. С помощью рентгеновской литографии изготовляют рентгеновские ОДР с многослойным покрытием, к-рые могут работать с высокой эффективностью при больших о вплоть до нормального падения, однако их область дисперсии ограничена спектральной шириной максимума отражения покрытия. [c.349]

Как правило, в Р. т. используется только двухволновая дифракция, когда для каждого пучка излучения с длиной волны Я, условие Брэгга — Вульфа выполняется только для ОДНОЙ системы отражающих плоскостей и возникает только один дифрагиров. пучок. В соответствии с ф-лой Брэгга расходимость дифрагиров. пучка 60 в плоскости рассеяния связана с его спектральной шириной соотношением [c.354]

Х — спектральная ширина падающего на кристалл пучка), то 6в лимитируется спектральной ширк-вой падающего на кристалл излучения в соответствии с соотношением (1) обычно этот случай реализуется при съёмке в монохроматическом (напр,, характеристическом) излучении. Расходимость падающей волны определяется как [c.354]

Спектральная ширина С. определяется как ширина частотного интервала Д с> в пределах к-рого фазовое рассогласование взаимодействующих волн в области взаимодействия не превышает [c.528]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...