Излучение плоскими источниками

ИЗЛУЧЕНИЕ ПЛОСКИМИ ИСТОЧНИКАМИ [c.255]

Плотность потока излучения от источника в виде бесконечной пластины толщиной h с самопоглощением, защищенного плоской защитой толщиной d, [c.105]

Аналитическое решение задачи для сферического источника радиусом R с самопоглощением за плоской защитой является приближенным. Оно основано на замене функции излучения сферического источника функцией излучения дискового источника того же радиуса, мощность излучения которого на единицу площади Sa равна [c.105]

Поглощение заряженных частиц может сопровождаться испусканием у-квантов, например тормозное излучение при поглощении (3-частиц. Энергия у-квантов рассеивается главным образом вне тонкого экрана, поглощающего заряженные частицы. Это должно быть учтено как в расчете мощности излучения, поглощаемого в экране, так и в расчете энерговыделения в защите, примыкающей к экрану. Для окружающей среды экран становится плоским источником у-квантов. Такой источник всегда можно представить суммой дисковых плоских источников. Подобная интерпретация является распространенным вариантом. В связи с этим рассмотрим схему расчета тепловыделения в некоторой среде от плоского дискового источника. Обозначим элемент поверхности диска ds. Из спектра у-квантов выделим кванты с энергией, близкой к До. Предположим, что скорость [c.109]

Рассмотрим круглый цилиндрический канал (рис. 12.5), на входе которого перпендикулярно его оси расположен плоский источник излучения с равномерной мощностью источников и угловым распределением, задаваемым в виде (12.5). [c.144]

Па рис. 7.1 показана типичная схема теневого дефектоскопа с визуальным, изображением поля прошедшего излучения. Источник 1 УЗ-волн обычно достаточно большой, чтобы интерференционными явлениями в ближней зоне можно было пренебречь и считать с достаточной точностью поле излучения плоской однородной волной. С этой же целью его, наоборот, можно сделать малым, чтобы работать в дальней зоне, но в этом случае амплитуда поля суш,ественно снизится. УЗ-волны проходят через объект контроля 2. При наличии в объекте контроля дефекта однородность поля нарушается и позади дефекта образуется звуковая тень. Для повышения контрастности и четкости изображения прошедшие лучи обычно фокусируют ультразвуковой линзой 3. В фокальной плоскости линзы возникает акустический рельеф, т. е. определенное распределение интенсивности или амплитуды в плоскости поперечного сечения звукового пучка, соответствуюш,ее наблюдаемому дефекту. Чтобы сделать звуковой рельеф видимым, применяют различные устройства, называемые акустико-оптическими преоб-разователя.ми 4. [c.392]

Представленные в сборнике результаты расчета влияния излучения посторонних источников при тепловых методах контроля и экспериментальные данные по чувствительности приемников излучения в зависимости от температуры среды и фоновой засветки позволяют учесть влияние излучения посторонних источников при измерении температуры, когда их интенсивность в несколько раз превышает полезный сигнал. Даны результаты исследования по оптимизации магнитных свойств и кристаллической структуры железо-кобальтовых сплавов, используемых в качестве материалов для полюсных наконечников в электромагнитах с высокой однородностью поля. Рассчитана оптимальная конфигурация проводников с током для коррекции поля в электромагнитах радиоспектрометров ядерного магнитного резонанса, показана возможность изготовления системы коррекции в виде плоских проводников с током. [c.4]

Площадь измерения S (рис. 1, а) является сечением телесного угла а, опирающегося на входное окно ионизационной камеры. При отсутствии поглотителя идущий от плоского источника 1 излучения без коллиматора поток р-частиц, ограниченный углом а, попадает в ионизационную камеру 2. [c.212]

Полученные функции влияния позволяют рассчитывать функции ослабления плотности потока излучения цилиндрических источников при произвольной пространственной ориентации источника, плоской защиты и детектора, а также защиты цилиндрической формы. Результаты (1) — (16) несложно распространить на поверхностные цилиндрические источники. [c.307]

Вторая часть книги посвящена теории излучения сферическими, цилиндрическими и плоскими источниками, теории рассеяния. Изложены вопросы волноводного распространения звука, основы акустики помещений. [c.2]

Излучение от источника с распределением амплитуды о( ) проходит через ряд плоских объектов с функциями прохождения 9 (а ). Распространение излучения на расстояние от л-го до (п 1)-го объекта представляют сверткой с функцией распространения р х) (фиг. 3.4). В малоугловом приближении [c.75]

Это означает, что при таких профилях поглощения создание стационарного поля излучения в бесконечной Среде с плоским источником при консервативном рассеянии невозможно оно бесконечно велико, как и при монохроматическом рассеянии. Бели процесс излучения первичных фотонов плоскостью в бесконечной среде начался в какой-то момент, то эти фотоны не исчезают и не выходят из среды. Поэтому излучение будет только усиливаться и его интенсивность станет бесконечной. На практике такое невозможно, так как с усилением излучения начнут включаться нелинейные процессы. [c.185]

Преобразовать (2.1,13) так. чтобы оно выражало долю излучения плоского изотропного источника в среде с показателем преломления п, которая будет распространяться по волокну, имеющему показатель преломления сердцевины /п,, а оболочки 2, [c.237]

В схеме с дифференциальным включением приемников (рис. 246) излучение от источника 1 после отражения от плоских зеркал 2 и 2 поступает в объектив 3 измерительной ветви, в которой установлен исследуемый объект , и в объектив 3 эталонной ветви. Для изменения потока излучения в эталонной ветви устанавливается компенсатор 5—5 с переменным коэффициентом пропускания (или диафрагма переменного диаметра). Объективы 6 и б концентрируют излучение соответственно на приемниках 7 и 7. В схеме используется встречное включение цепей приемников, что исключает реакцию при одинаковых потоках излучения, поступающих на приемники. По шкале клинового компенсатора снимается значение измеряемой величины. [c.317]

Излучение, создаваемое источником — лазером (1), с помощью светоделительных зеркал (2) направляется к удаленному объекту (7). Волну (4) на выходе из системы в начальный момент времени условно считаем плоской. После прохождения волной возмущающей среды (5) (например, турбулентной атмосферы) фазовый фронт искажается (на рис. 7.7 это условно показано штриховой линией (6)). Если на поверхности объекта имеется участок с достаточно высоким коэффициентом отражения, причем размер этого участка меньше разрешения системы, то этот участок — блестящая точка , создающая блик, может рассматриваться как точечный источник отраженной сферической волны (8). [c.149]

Пусть линейно-поляризованная плоская световая волна распространяется в системе К (х, у, г, t), связанной с источником излучения, в направлении k (fe — волновой вектор световой волны). Уравнение волны в этой системе запишется в виде [c.422]

Плотность потока излучения от точечного источника за плоской защитой толщиной d [c.104]

Часто встречаются угловые распределения источников, которые могут быть записаны как комбинация членов изотропных и косинусоидальных различной степени п угловых распределений излучения. Тогда поле излучения определяют для каждого вида углового распределения при фиксированном значении л с унятом их относительного вклада соответственно. Например, токовое угловое распределение на плоской границе в непоглощающей изотропно рассеивающей среде, в которой диффундируют частицы или кванты, приближенно описывается распределением Ферми вида [c.133]

Составляющие рассеянного излучения определим методом задания эквивалентных источников рассеянного излучения на стенках канала для плоского изотропного источника. [c.153]

Рис. 12.9. Схема к расчету компонент излучения натекания в точке Р на оси канала, частично пронизывающего защиту, от плоского изотропного источника.

Полученные результаты приведены в виде графиков. Для примера на рис. 15.12 показано распределение плотности нейтронных звезд в железе в зависимости от толщины защиты для начальной энергии протонов 70 Гэв с и различных расстояний от оси пучка (г = 0, 2, 5, 10, 20 и 30 см). Распределения проинтегрированы по бесконечной плоскости, нормальной к направлению пучка первичных протонов. В таком виде проинтегрированное распределение плотности соответствует ослаблению излучения плоского мононаправленного источника. На рис. 15.12 показано также экспоненциальное ослабление потоков первичных частиц в результате процессов неупругого взаимодействия. [c.258]

Итак, для создания в эксперименте плоской монохроматической Е олны нужно использовать коллиматор, монохроматор и поляризатор. Излучение произвольного источника света, пропу-пдениое через систему, содержащую все эти устройства, в какой-то степени соответствует идеальной волне см. (1.24) . Излуче ние лазера в еще большей степени соответствует принятой идеализации. [c.38]

Возможности дифракции света могут быть использованы для контроля объектов и их поверхностей с прнмене- нмем эталона объекта. При этом на малом расстоянии от поверхности исследуемого объекта устанавливается поверхность эталона с заранее известной конфигурацией и формой. Зазор между поверхностями образует щель, которая освещается монохроматическим излучением от источника типа лазера. В результате на экране или в плоскости анализа наблюдается дифракционная картина, по виду которой и расположению колец или полсс судят о состоянии исследуемой поверхности, Такой способ применим для контроля профиля, плоскостности, ЦИ-линдричности и других геометрических параметров круглых и плоских, подвижных и неподвижных изделий. [c.95]

Рис. 1. Зависимость погрешности показаний Р-пучового прибора от положения поглотителя между источником излучения и иопизациоппой камерой в приборах с плоским источником без коллиматора а) и с цилиндрическим источником с коллиматорными

Для контроля плоских степок разработана приставка к тому же прибору, действие которой основано на использовании явления рассеяния излучения контролируемой стенкой (рис. 2). При этом, в отличпс от прибора для труб, здесь применен экран 2 между излучателем 1 и детектором излучения 4. Схема прибора благодаря этому значительно проще. Поглотитель, размещенный между излучателем и кристаллом, заметно не утяжеляет прибор, так как здесь применены изотопы с мягким излучением (Se ) или тормозное излучение Р-источников Sr9o, или В первом [c.218]

Особенно важна Р. з. в случае проникающего нейтронного излучения. Прохождение нейтронов через защитный слой анализируют в осн. методом моментов, лю-тодом Монте-Карло и численного интегрирования ур-ния Больцмана. Ослабление потока быстрых нейтронов в защитном слое происходит из-за упругого (особенно в водородсодержащих веществах Н2О, парафин, Полиэтилен, гидриды металлов, бетон) и неупругого рассеяния нейтронов. На достаточно больших расстояниях от плоского источника ослабление пучка с расстоянием происходит экспоненциально. Р. э. ядер-ного реактора отличается те.ч, что поглощение в защитном слое одного вида частиц, напр. тепловых нейтронов, как правило, сопровождается возникновением у-излучения (ядерная реакция (п, у)]. Так, при поглощении теплового нейтрона ядром водорода образуется фотон с энергией 2,2 МэВ, а в случае более эфф. поглотителя (напр., d) на один захваченный нейтрон приходится более 10 фотонов. Оптимальная Р. з. реактора содержит водородсодержащяе вещества или графит, замедляющие быстрые нейтроны до тепловых энергий (см. Замедление нейтронов), и ядра, захватывающие тепловые нейтроны (В, Сс1, Gtl). На АЭС обычно используют бетон с добавками металлич. скрапа и дроби, эффективно ослабляющий как нейтронное, так и у-излу-чение. [c.201]

Поскольку линза преобразует излучение точечного источника, находящегося в ее фокусе (р = /), в пучок с плоским фронтом (1/р = 0), ее прохождение приводит, кроме добавления некоего общего фазового набега, к домножению распределения комплексной амплитуды на ехр[—(iA /2/)X X + 7 )] Что касается общего фазового набега, то он, судя по лучу, следующему вдоль оси, превышает набег на участке пустого пространства той же протяженности на kh(nQ — 1), где к — постоянная распространения в пустом пространстве, по — показатель преломления вещества линзы и Л — ее толщина на оси. Можно для простоты считать линзу локализованной на плоскости и умножать распределение комплексной амплитуды пересекающего эту плоскость пучка на функщ1ю пропускания Т вида [c.18]

В качестве примера расчета распределения поля в явном виде можно рассмотреть задачу о преломлении излучения точечного источника на плоской границе раздела двух сред с гауссовой ди-афрагмой (3.49). В параксиальном приближении напряженность поля Es, в точке наблюдения Гз(рз, Zs) после преломления дается [c.147]

Эта величина W ие зависит от г, как и следовало ожидать, так как среднее количество энергии, заключенной в пространстве, ограниченном двумя концентрическими сферическими поверхностями, остается в данном случае постоянным. W есть мера излучения энергии источником (в единицу времени). Эту формулу можно также вывести, пользуясь тем соображением, что на большом расстоянии данную волиу MOHIHO рассматривать как плоскую. Заменяя в (8) А на /1/4лг из (13) и умножая на получим [c.285]

Кювета для комбинационного рассеяния света 3 имеет с одной стороны плоское окно, а с другой — зачерненный рог (рог Вуда), который поглощает излучение возбуждающей линии ртути, отраженное от внутренних стенок и окон кюветы. Этот свет сильно мешает наблюдению слабого КР-спектра, Чтобы излучение от источника возбуждения не мешало наблюдению. малоинтенсивного КР-спектра, рассеянный свет фотографируется под углом 90°. Рассеянный свет от кюветы собирается и направляется на щель спектрографа 6 линзой-конденсором 7. Конденсор, как и осветитель, укрепляется на рельсе спектрографа на строго определенном расстоянии от щели. Обычно передняя часть кюветы (дно) проецируется на объектив коллиматора, а задняя (начало рога Вуда) — на щель спектрографа. Для стандартных кювет длиной около 10 см и при фокусном расстоянии конденсора /=9,5 см это.му требованию удовлетворяет расстояние от щели до задней части кюветы— примерно 33 с.м. В связи с тем что линии КР-спектра очень слабы и времена экспозиции при фотографировании достигают нескольких часов, необходимо устранить все посторонние источники света. Для этого на конденсор надеты выдвижные светозащитные кожу.хи, а кассетную часть рекомендуется прикрывать черной материей. Кроме того, необходимо устанавливать более широкие входные щели (порядка 50 мкм), чем в случае полосатых спектров испускания двухатомных молекул. В спектре ртутной лампы наряду с возбуждающей линий А=435,8 нм содержатся еще ряд более слабых линий, и в КР-спектре они могут проявляться как линии релеевского рассеяния. Для того чтобы эти линии идентифицировать на фотопластинке рядом с КР-спектром снимают также и спектр ртутной лампы. [c.145]

Наилучшими параметрами в этом смысле обладают двухлучевые интерферометры, построенные по схеме с обратнокруговым ходом лучей. В таком интерферометре оба пучка проходят по одному и тому же пути, и все изменения оптической длины пути, возникающие на каком-либо участке интерферометра, одинаковым образом сказываются на обоих пучках. По схеме с обратно-круговым ходом построен сисам СП-101, разработанный В. М. Архиповым и Б. А. Киселевым (рис. 61). Излучение от источника, пройдя входную диафрагму / и отразившись от плоского зеркала 2, попадает на входной коллиматор 3. Собственно интерферометр образован полупрозрачным зеркалом 4, дифракционными решетками 5, а также вспомогательным плоским зеркалом 6. Введение этого зеркала позволяет вращать обе решетки при сканировании спектра в [c.70]

Два аргумента резольвенты объясняются тем, что один из них ука-зьдвает на расположение источника излучения (глубины плоского источника), а другой — на расположение приемника. [c.103]

Пока мы ничего не убрали, справедливо равенство 5 + + + (, + 1 = 0. Теперь уберем аи 6 и предпололшм, что движение электронов в пробке 1 (непрозрачное препятствие) не изменилось. (Это является приближением, потому что на электроны в пробке воздействует как излучение от частей экрана а и Ь, так и излучение от источника.) Поле за пробкой равно 5 + 1. В близкой области за пробкой (понятие близкой области будет определено) поле будет практически таким, как и при наличии всего экрана, так как части экрана а я Ь находятся в этом случае далеко от близкой области и их вклад мал по сравнению с 5 + 1. Поэтому в близкой области за пробкой электрическое поле будет практически равно нулю. Это — тень пробки. Она возникает благодаря тому, что в близкой точке за экраном поле (равное нулю) определяется главным образом источником 5 и близлежащими зарядами, которые в этом случае принадлежат пробке 1. Таким образом, вблизи за экраном суперпозиция 1 и 5 даст нуль. Отсюда следует, что пробка 1 испускает часть плоской волны в том же направлении, в котором распространяется падающая плоская волна от удаленного источника 5. Амплитуда волны от пробки равна амплитуде падающей волны от источника 5, а фаза волны от пробки сдвинута на 180° относительно фазы падающей волны, так что суперпозиция 5+ в близкой области равна нулю. Таким образом, получается тень. Непрозрачное препятствие не съедает падающий свет, а излучает пучо-к света отрицательной амплитуды (т. е, отрицательной относительно [c.445]

Предварительные замечания. В 3 рассматривалась только плоская электромагнитная волна. Здесь будет дано описание электромагнитных волн, излучаемых простейшим точечным источником—жсточншаом, размеры которого малы по сравнению с длиной волны. Мы не будем выво дить излагаемую картину из уравнений Максвелла такой вывод потре бовал бы применения математического аппарата, незнакомого еш е тем, для кого предназначена эта книга он дается в курсах электродинамики (теории электромагнитного поля) ). Мы ограничимся тем, что напишем формулы, описывающие волну, и раскроем их физический смысл. Заметим, что мы поступили аналогичным образом при рассмотрении излучения точечного источника акустических волн (гл. VI, 5). [c.264]

Вывод соотношений, характеризующих излучение продольных и поперечных -волн от сил, приложенных к границе, является довольно сложным. Синтез распределения напряжений в источнике согласно решениям волнового уравнения в выбранной координатной системе, определение интегральных выражений для смещений, интегрирование по частотам с целью построения импульсных сейсмограмм и оценка интегралов в некотором диапазоне перемек-иых — каждый из этих шагов требует математического искусства и изобретательности даже в случае простейшей геометрии границ к источников. В случае же с меньшей симметрией сложность во много раз возрастает. Например, излучения от двух противоположно направленных сосредоточенных сил, действующих на стейку пустой цилиндрической полости, можно было оценить способом Хилена, но отсутствие осевой симметрии усложняет каждый шаг. Если вместо воздействия на свободную границу сосредоточенная сила действовала бы на плоской границе между твердой и жидкой средами, то потенциалы в жидкой среде необходимо было бы учитывать на протяжении всех вычислений. Вывод точных интегральных выражений для смещений и построение приближенных выражений для низких частот и больших расстояний — весьма сложная задача, а для более сложной геометрии какие-то упрощения должны быть сделаны еще раньше. В этом разделе показывается, что простой метод вычисления характеристик излучения различных источников. вытекает из принципа взаимности для упругих волн. Этот метод, в котором излучение источника вычисляется как бы в обратном порядке, приводится ниже, [c.220]

Теоретический расход холода (тепла) в этом случае должен равняться тепловыделениям (теплопоглощению) человека, что должно дать экономию в мощности по крайней мере в 5 раз. Однако практически невозможно осуществить поверхность, не поглощающую тепловых лучей. Поглощенное тепло отводится от поверхностей путем конвекции к воздуху комнаты. Это является первым источником теплопотерь. Кроме того, необходимость смены воздуха в помещении (проветривание) требует охлаждения (нагрева) приточного воздуха. Поэтому практически экономия холода (тепла) получается меньшей. Одноэтажный дом, в котором была осуществлена опытная установка кондиционирования воздуха, имел следующие показатели общая площадь 168 м объем 460 м площадь наружных стен 149 м площадь остекления 56 м . Стены — бревенчатые (0150 мм) с обшив кой из красного дерева, пол — бетонный по земле, крыша— плоская с изоляцией войлоком. Стены и потолок были оклеены внутри тисненными обоями из плотной бумаги, покрытой слоем алюминиевой фольги толщиной 0,01 мм. Фольга в свою очередь была покрыта тонким слоем (1 мкм) подкрашенного лака, прозрачного в инфракрасной области спектра, но поглощающего тепловое излучение в видимой части спектра. Цвета этого лака подбирались так, чтобы, создав приятное для глаз восприятие, не уменьшать значительно отражательную [c.238]

При использовании модели сечений выведения (и длины релаксации) возможно приближенное рассмотрение поля быстрых нейтронов (или первичных у-квантов) и для других геометрических конфигураций активной зоны и защиты. В этом случае можно применять аналитические формулы и таблицы, полученные для различных объемных источников с равномерной плотностью излучения (см. гл. VI). Например, для плоского полубесконеч-ного пространства в качестве модели активной зоны [c.53]

Проиллюстрируем подход к расчету компоненты излучения натекания методом лучевого анализа на примере круглого цилиндрического канала для точки детектиро.вания Я на его оси (см. рис. 12.5), на входе которого расположен бесконечный плоский изотропный источник излучения, в предположении экспоненциального закона ослабления излучения в защите. [c.146]

Пусть на входе в канал расположен плоский бесконечный мононаправленный источник (рис. 12.6, а). Учитывая, что канал не вносит возмущение в угловое распределение излучения па границе среды (см. 7.3), и пользуясь угловым распределением интенсивности рассеянного излучения на стенках канала й/ (Еа, ро2, 0)/ 1Й в виде (7.41) или (7.36), можно определить компоненту натекания. [c.148]

Для расчета составляющих рассеянного излучения удобно пользоваться методом задания эквивалентных источников. Проиллюстрируем решение этой задачи на примере определения интенсивности излучения на оси канала от плоского моноэнер-гетического изотропного источника у-квантов 5, отделенного от канала средой (рис. 12.9). [c.153]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...