Поле изображения

Другими преимуществами такого мультипликатора являются высокая (близкая к дифракционной) разрешающая способность, особенно в центральной части поля, и простота получения больших полей изображений, определяемых числом мультиплицирующих элементов (голограмм). [c.62]

Принцип образования изображения в системе может быть рассмотрен как процесс двойной дифракции. Первая дифракция происходит на объекте 2, освещаемом плоской монохроматической волной, образуемой когерентным источником света /. Объект 2 расположен в передней фокальной плоскости объектива 3, который образует в своей задней фокальной плоскости 4 пространственный спектр объекта (т. е. осуществляет преобразование Фурье объекта). В плоскости голограммы 4, которая одновременно является передней фокальной плоскостью второго объектива 5, находится мультиплицирующий элемент, представляющий собой голограмму набора точечных источников, число и расположение которых соответствует желаемому числу и расположению размноженных изображений. В результате в плоскости голограммы 4 имеем произведение двух спектров Фурье объекта и набора точечных источников. Второй объектив 5 в свою очередь осуществляет преобразование Фурье объекта, находящегося в его фокальной плоскости. Как следствие. этого в плоскости изображения 6 получаем совокупность изображений исходного объекта, причем линейное увеличение системы 7 и размер изображений определяются соотношением фокусов объективов системы 7==/,//,. Очевидно, что размеры отдельных модулей могут быть большими (более 5—10 мм), они ограничиваются лишь полем изображения второго объектива 5. Это является большим преимуществом системы. [c.63]

Температурный ход теплоемкости при сверхпроводящем переходе (при отсутствии магнитного поля) изображен кривой на рис. 44. [c.241]

Наличие аберраций, растущих по мере удаления центра кривизны падающей волны от центра кривизны одной из волн записи, ограничивает размеры того объекта, высококачественное изображение которого может сформировать ДЛ (обычно говорят об ограничении полезного поля изображения). Задачу устранения (компенсации) аберраций даже низших порядков малости нельзя решить для отдельной ДЛ, как и для отдельной рефракционной линзы требуется рассмотрение систем ДЛ. [c.21]

Подставляя последние соотношения в уравнение (2.16) и заменяя на радиус выходного зрачка р, а у —на радиус поля изображения R, приходим к еще одной форме записи аберраций системы [c.59]

Методы теории аберраций оптических систем в лучшем случае позволяют найти систему, у которой полностью или частично компенсированы аберрации низших порядков — третьего и пятого, причем всегда существуют остаточные аберрации, определяющие максимально возможные апертуру и полезное поле изображения системы. Более, того, в большинстве случаев решение, найденное из аберрационного расчета, — всего лишь исходный пункт последующей численной оптимизации параметров системы, осуществляемой методом прослеживания хода лучей. В процессе оптимизации, как правило, нарушается достигнутая коррекция аберраций низших порядков, и остаточная аберрация системы представляет собой сложный комплекс членов различных порядков, сбалансированных таким образом, чтобы их совместное влияние на качество изображения было минимальным. Поэтому разработка оптической системы обязательно включает оценку ее реального качества — оценку, при которой [c.80]

Полезное поле изображения рассмотренного дублета ограничено второй комой пятого порядка, влияние которой уменьшается, если вызвать небольшую кому третьего порядка. Двухлинзовый объектив (рис. 4.5) дает редкую в своем роде возможность аналитически продемонстрировать взаимную коррекцию полевых аберраций разных порядков. [c.127]

Точку у о, в которой следует компенсировать вторую кому с целью максимального расширения полезного поля изображения, определяют с помощью полуэмпирической формулы [c.129]

Заметим, что для поля, изображенного на фиг. 126, [c.204]

Как известно, основное преимущество концентрических систем заключается в том, что если для осевой точки сферическая аберрация исправлена, то для всех,точек поля изображение получается стигматическим. Недостатком рассматриваемых систем является наличие кривизны поля, но в некоторых случаях этот недостаток не имеет значения. [c.360]

Ввиду того, что при методе темного поля изображение образуется только рассеянными лучами, имеющими слабую интенсивность, для уверенной работы необходимо применять наиболее яркие источники света. [c.15]

Существенным недостатком перечисленных трех групп объективов является кривизна изображения, в результате которой на краях поля зрения приблизительно от трети до половины радиуса поля изображение получается размытым. Этот недостаток устранен в объективах следующей группы. [c.23]

Степень увеличения можно вычислить, разделив величину высшей пространственной частоты увеличиваемой голограммы на максимальную пространственную частоту, соответствующую разрешающей способности устройства ввода. Следует отметить, что при увеличении голограмм требуется высокая разрешающая способность системы фотографического увеличения по всему полю изображения. Поэтому при выборе объективов нельзя полностью полагаться на значение разрешающей способности, указанной в паспорте, а требуется знать полную частотно-контрастную характеристику объектива, измеренную как для центра поля зрения объектива, так и для периферии. [c.166]

Если иметь в виду, что в установках Теплера пользуются длиннофокусными объективами и поэтому угол между оптической осью и направлением на элемент источника света меньше 4°, то можно считать, что освещенность в каждой точке поля изображения на экране с точностью до 1 % пропорциональна расстоянию ножа до оптической оси. При этих условиях Г. Шадрин получил следующее приближенное выражение для вычисления Е [c.220]

Пара Фрепко.ля 37, 129 Парное взаимодействие 179 Пластическая деформация 33 Поверхность Ферми 102 Поле изображения 52 Постоянная решетки 132 [c.365]

В одном из лабораторных макетов оптического профилометра использован так называемый механизм Фуко, заключающийся в том, что при изменении положения, точечного осветителя на оптической оси идеального объектива. дифракционное изображение лезвия, находящегося на уровне оптической оси объектива, меняет свое положение на диаметрально противоположное по отношению к оси симметрии поля изображения в зависимости от того, приближается или удаляется светящаяся точка к объективу от нейтрального положения, в котором поле оказывается равномерно освещенным. В приборе использованы фотоэлементы и фотоумножитель, а профилограмма записывается с помощью самописца. При использовании фиолетового, голубого, зеленого и красного (от лазерного источника) света и апертур от 0,50 до 0,95 оказывается возможным воспроизводить неровности поверхности от 0,01 до 60 мкм. Прибор может использоваться лишь в термоконстантном помещении, свободном от вибраций. Для производственных целей он не предназначен. [c.122]

В прикладных задачах статики стержней часто внешние силы, действующие на стержни, зависят от перемещений стержня (или от их первых двух производных). Классическим примером являются стержни на упругом основании (рис. 2.1). При нагружении стержня возникают со стороны основания распределенные силы, зависящие от перемещений (прогибов) стержня. Стержни (вернее конструкции или элементы конструкций, которые сводятся к модели стержня) из разных областей техники показаны на рис. 2.2 — 2.6. Упругий металлический элемент прибора, находящийся в магнитном поле, изображен на рис. 2.2. Сила притяжения (распределенная) зависит от прогибов стержня аналогично случаю балки на упругом основании. Стержень, находящийся на вращаю.щейся платформе (см. рис. 2.3), нагружается силами, зависящими от прогибов, причем в этом случае наряду с нормальной распределенной нагрузкой qy (у) появляется и осевая распределенная нагрузка у). При продольно-поперечном изгибе (см. рис. 2.4) в произвольном сечении стержня возникает момент от осевой силы, пропорциональный прогибу. К этому классу относятся задачи статики трубопроводов, зашолненных движущейся жидкостью. При поперечном изгибе трубопровода (см. рис. 2.5) из-за появляющейся кривизны осевой линии стержня возникают распределенные силы, обратно пропорциональные радиусу кривизны. К этому классу можно причислить задачи, относяшд1еся к плавающим объектам и сводящиеся к схеме стержней (см. рис. 2.6), например понтон. [c.33]

АНАСТИГМАТ (от греч, аи — отрпцат. частица и астигматизм) — наиболее совершенный тип объектива (преим. фотографического), характеризующийся исправлением аберраций в пределах всего поля изображения. Существенным при.чнаком А. является исправление астигматизма и кривн.эны поля изображения. Раяреигающая способность у А. в центре поля достигает [c.82]

Из ф-лы ( ) ) также вытекает известное свойство сферич. 3., центр входного зрачка к-рого совпадает с центром кривизны 3., а именно, у него отсутствуют все аберрации, кроме сферической и кривизны поля изображения. Действительно, при ж = г и е=0 ф-ла ( ) принимает вид [c.83]

КРИВИЗНА ПОЛЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ — одна из аберраций оптических систем, заключающаяся в том, что ruiB pxiio Tb наплучшей фокусировки не совпадает с. фокальной ПЛОСКОСТ1.Ю, а оказывается искривлённой. Радиус кривизны R этой поверхности определяется [c.491]

О. микроскопа — важнейшая часть его оптич, системы, создающая увелич. изображение объекта наблюдения в передней фокальной плоскости окуляра. Масштаб изображения обратно пропорционален фокусному расстоянию О. и составляет примерно от 1,5 до 100 крат. Предел разрешения микроскопа е — мин. расстояние между центрами светящихся точек объекта, видимых раздельно, определяется дифракц. явлениями в О. и вычисляется по ф-ле е = 0,6 ХМ, где А — числовая апертура О., равная произведению показателя преломления среды, находящейся между объектом и О., на синус апертурного угла. Для О, микроскопов 0,03 Л 1,4 диаметр поля изображения — от 18 мм до 32 мм. Простейшие О. микроскопов создают изображение, обладающее значит, кривизной, в результате чего при переходе от наблюдения центр, части поля к его краям необходима перефокусировка. [c.392]

Измерение динамич. характеристик (скорости перемещения объектов в поле изображения, направления перемещения и траектории, распределения скоростей в потоках движущихся объектов, динамики изменения размеров фрагментов, изменения окраски объектов и др.) в большинстве случаев основано на корреляц. признаках. В нек-рых ТС этого вида измеряются одновременно корреляц. ф-ция сигнала и его спектральная плотность. [c.60]

Команда Zoom (Масштаб) управляет масштабом изображения на экране. При увеличении масштаба все элементы на экране увеличиваются, как бы приближаясь к оператору. При последовательном уменьшении масштаба в поле изображения попадает все большая часть чертежа, и можно сориентироваться во взаимном положении его элементов. Вызвать опции команды Zoom (Масштаб) можно при помощи пиктограмм на стандартной панели инструментов. Ниже перечислены основные опции этой команды. [c.46]

Смещение дифракционного фокуса из плоскости гауссова изображения (АзоФО) означает искривление поля изображения. К этому эффекту, как следует из выражений (3.12), приводит не только аберрация кривизны поля La, но и остальные четные аберрации — сферическая аберрация, птера, астигматизм, в которые как полевые, так и зрачковые координаты входят в четных степенях [см. формулы (3.8), (3.9) или (1.26), (1.27)]. Смещение дифракционного фокуса в гауссовой плоскости (Аг/о= 0) означает дисторсию в изображении, которую вызывает не только аберрация под таким названием Lg, но и остальные нечетные аберрации — кома и сагитта. [c.89]

Программное обеспечение выполнено в среде MS Windows 3.1. Пользовательский интерфейс приложения управления приемом построен в элементах стандартных меню и диалогов. Расписание витков может быть рассчитано в приложении или загружено в приложение из текстового файла. При наличии расписания приложение автоматически перевох1ит систему в состояние приема по наступлении времени начала витка и автоматически прекращает прием по окончании витка или при потере сигнала. Формируемое изображение индицируется на дисплее ПЭВМ в реальном времени в уровнях серого тона с автоматическим масштабированием, обеспечивающим возможность наблюдения всего поля изображения по одному из каналов. [c.280]

Формируемое изображение индицируется на дисплее ПЭВМ в реальном времени в уровнях серого тона с автоматическим масштабированием, обеспечивающим возможность наблюдения всего поля изображения по одному из спектральных каналов. Комплекс содержит аппаратные и программ111>1С средства для noinaroBoro внутреннего тестирования. [c.285]

Нетрудно здесь построить другие возможные поля скольжения (например, осесимметричное поле, определяемое контуром отверстия). Однако поле, изображенное на фиг. 121, приводит к меньшей предельной нагрузке и подтверждается наблюдениями Ханди [ ] на полученных им фотографиях (фиг. 122) видны линии скольжения в начальной и более поздней стадиях пластического течения. [c.197]

При фотографировании изображение проектируется линзой 13 и гомалью 14 на пластинку фотокамеры 15. Гомаль применяется для исправления кривизны поля изображения. [c.83]

При фотографировании микропрепаратов на основании 1 устанавливается и закрепляется микроскоп (аналогично прибору ФМН-3). В этом случае окуляр микроскопа заменяют гомалью — оптической системой, исправляющей кривизну поля изображения. [c.127]

Для вычисления размера изображения на бумаге в масштабе /4"= начинать нужно с ширины объекта — ширины поля изображения в Auto AD, которая равна 175. Отсюда получим ширину изображения на бумаге, приведенную к дюймам, — 43V4". [c.131]

Команда ZOOM (ПОКАЖИ) позволяет управлять масштабом чертежа на экране. Эта команда производит тот же эффект, что и объектив с переменным фокусным расстоянием, который используется в теле- и кинокамерах. При увеличении масштаба все элементы изображения на экране увеличиваются — вы как бы приближаете его к себе и можете рассмотреть более мелкие детали. При уменьшении масштаба в поле изображения попадает все большая часть чертежа, и можно сориентироваться во взаимном положении его элементов. Команда ZOOM имеет множество параметров, которые позволяют очень гибко управлять процессом масштабирования и подбирать именно тот вариант, который более всего подходит к данной ситуации. [c.169]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...