Интерферометрия двухлучевая

Закончим на этом изучение двухлучевых интерферометров, хотя многие их приложения остались вне нашего поля зрения. [c.237]

На рис. 9 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферометра Майкельсона. Свет от источника 1 (лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму <3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало в и контролируемую поверхность 7 соответственно. После отражения от эталона и изделия пучок проходит через те же элементы схемы и фокусируется линзой 8 в плоскости диафрагмы 9, в которой с помощью окуляра /О наблюдают интерференционную картину взаимодействия эталонного и рабочего пучков света. [c.67]

Пусть в двухлучевом интерферометре частота сигнального пучка б)о + о)д, а частота референтного пучка — со ,. Выраже- [c.280]

Высокоточным методом аттестации образцовых колец из прозрачного материала является метод абсолютных интерференционных измерений при отражении света от диаметрально противоположных участков поверхности отверстия. По данным работы 110], этот метод обеспечивает измерения с погрешностью 0,05 мкм. Интересен метод аттестации прозрачных колец по аттестованным пробкам [11 ]. Во ВНИИМ им. Менделеева создан прибор для измерения диаметров аттестованных колец с погрешностью 0,3 мкм. Прибор содержит двухлучевой интерферометр, фотоэлектрический оптический щуп и систему подачи с помощью пьезокерамического устройства [ 1 ]. [c.202]

Температурное расширение определяется на основе измерения смещения интерференционных полос в картине, создаваемой двухлучевым поляризационным интерферометром во время нагрева образца. Измерение осуществляется по схеме, изображенной на рис. 7.44. [c.430]

Метод интерференционного контраста. Небольшие изменения микрорельефа поверхности можно обнаружить с помощью интерференционного микроскопа или, микроинтерферометра. Последний прибор позволяет, кроме того, количественно оценивать изучаемый рельеф, что особенно важно для исследования структурного механизма пластической деформации. Используют методы двухлучевой и многолучевой интерферометрии. В первом случае (интерферометр Линника) свет от источника Ь расщепляется полупрозрачной пластинкой Т на два пучка (рис. 1.7). Один пучок, отраженный от [c.27]

Рис. 1.7. Принципиальная схема метода двухлучевой интерферометрии

По принципу разделения световых пучков, участвующих затем и в интерференции, интерферометры бывают многолучевые и двухлучевые при этом обычно как в тех, так и в других используется явление интерференции, создаваемое в плоскопараллельной или клинообразной пластинке. [c.23]

Явление интерференции в плоских воздушных пластинках , как уже упоминалось, лежит в основе и двухлучевого интерферометра Майкельсона, принципиальная схема которого изображена на рис. 20. Параллельный пучок света от источника 1, выйдя из линзы коллиматора 2, попадает на плоскопараллельную стеклянную пластинку 3, передняя поверхность которой покрыта полупрозрачным светоделительным слоем, где световой пучок разделяется [c.34]

Распределение интенсивности в кольцах или полосах в интерферометре Майкельсона, как в обычном двухлучевом интерферометре, носит характер близкий к синусоидальному с весьма широкими расплывчатыми максимумами и минимумами. Поэтому при падении на интерферометр монохроматического света наблюдается ряд размытых колец (при параллельной установке неподвижного зеркала 4 и изображения зеркала 5 в фокальной плоскости объектива — см. рис. 20) или полос (при небольшом наклоне зеркала 4) в плоскости этого зеркала. Если на интерферометр падают две волны 11 и Л2, то максимумы для обеих волн будут совпадать при условии i Li = 2 i2 = 2d os г (для нормального падения лучей kiX = k2 k2). При этих условиях интерференционная картина от одной волны наложится на картину от другой. Но если 36 [c.36]

Рис. 4. Схемы двухлучевых интерферометров с плоскими волнами, которые пригодны для работы с точечными источниками. СД — светоделитель ИП — плоскость интерференции БФ — бипризма Френеля L — линза М — зеркало S — источник.

Рис. 5. Схемы двухлучевых интерферометров со сферическими волнами, пригодные для работы с точечными источниками. Здесь те же обозначения, что и на рис. 4. S,- — мнимый источник.

В подобных случаях достаточно измерить запаздывание света в образце. Это делается с помощью двухлучевых интерферометров [53,129] (рис.21). [c.83]

Рис. 21. Блок-схема двухлучевого интерферометра для измерения электрооптических коэффициентов

Интерферометрические методы регистрации термооптических искажений активных элементов. Экспериментальные исследования волновых аберраций, вносимых в лазерный резонатор термооптическими искажениями активного элемента, проводят с помощью двухлучевых интерферометров, в которых используется амплитудное деление первоначального параллельного пучка лучей с разнесением в пространстве измерительного пучка, пропускаемого через исследуемый объект, и пучка сравнения (опорного). При последующем совмещении в пространстве этих двух пучков (в общем случае частично когерентных) образуется интерференционная картина, состоящая из светлых и темных полос, объединяющих точки сечения пучков, в которых [c.173]

Структура интерференционной картины, образующейся при пересечении сравнительного и измерительного пучков, зависит как от характера деформации волнового фронта измерительного пучка, так и от угла, под которым сводятся лучи на выходе интерферометра. В двухлучевых интерферометрах с плоским фронтом первоначальные волны искажения, вносимые исследуемым фазовым объектом, наблюдаются на фоне полос бесконечной или конечной ширины, которая задается первоначальной юстировкой интерферометра. [c.174]

Из всех двухлучевых интерферометров для изучения термооптических искажений активных элементов лазеров наиболее удобной является модификация интерферометра Маха — Цен-дера, схема которой приведена на рис. 4.3. Интерферометр состоит из двух делительных пластин (полупрозрачные зеркала) 3 и 3 и двух зеркал 4 и 4, расстояния между которыми удовлетворяют соотношениям ab = d = 2ас = 2bd. Полупрозрачная пластина 3 разделяет сформированный осветителем параллельный пучок лучей на измерительный й опорный пучки, которые после прохождения геометрических путей a d и abd пространственно совмещаются на пластине 3, В основном состоянии [c.180]

Итак, двухлучевая схема с общим пассивным обращающим зеркалом не может измерять изменения фазы, т.е. перестает быть интерферометром. В то же время она позволяет производить операции над оптическими изображениями путем вычитания (сложения) комплексных амплитуд интерферирующих полей на экранах А (Б). Изображения Ti (х. у), Тг (х. у) вносятся на транспарантах Ti, Гг, расположенных на одинаковом расстоянии от расщепителя пучков, и переносятся на экраны линзами Л , Лц. [c.228]

В заключение обсудим быстродействие двухлучевых интерферометров с обращающими зеркалами. Оно ограничивается приемной системой, если изменения происходят только в плече с обычным зеркалом. То же относится и к интерферометру с одним (в том числе общим) пассивным обращающим зеркалом, если изменяется лишь продольная фаза интерферирующих пучков. В противном случае измерения возможны вплоть до момента стирания наведенных решеток измененными пучками. Наконец, возможны непрерывные изменения при адиабатически медленных (по сравнению с временем релаксации решеток) фазовых изменениях, которые решетки успевают отслеживать. [c.229]

Подавление косого отражения. Известной модификацией двухлучевого интерферометра является интерферометр Фокса—Смита, который образуется, если в интерферометре Майкельсона повернуть расщепитель пучка так, чтобы концевые зеркала оказались связанными отражением от него. Интерферометр Фокса - Смита давно и успешно используется в лазерах [33]. Как известно, в нем путем подбора расстояния между зеркалами можно интерференционно ослабить или даже подавить излучение в открытое плечо интерферометра. [c.229]

Многолучевые интерферометры отличаются от двухлучевых тем, что в образовании интерференционной картины участвует множество когерентных световых пучков. Это приводит к появлению целого ряда качественных особенностей многолучевых интерферометров. [c.10]

Подставляя соотношение (130) в формулу (129), находим выражение для чувствительности двухлучевого интерферометра [c.114]

Интерферометры, где используются два пространственно разделенных луча, между которыми создается определенная разность хода, называются двухлучевыми. Существует меюго разновидностей двухлучевых интерферометров. Рассмотрим два интерферометры Жамеиа и Майкельсона. [c.109]

Такой дифрактометр пригоден для решения различных задач. Нетрудно заметить, что фактически исследовалась (с применением новых понятий и терминов) идея двухлучевого интерферометра Рэлея, который еще в начале нашего столетия использовался Майкель( оном для измерения угловых размеров небесных светил (см. 6.7). [c.313]

Классическая волновая оптика во всех деталях количественно описывает явление интерференции. Эксперимент полностью подтверждает теорию. В интерферометре Маха-Зендера осуществляется двухлучевая интерференция делением амплитуды волн с помощью полупрозрачных пластин А и D. Интерферирующие волны проходят различные пути AB D и ABjD, отдаление которых друг от друга в пространстве может быть сколь угодно большим. [c.410]

Лазерные измерительные интерферометры обычно строятся по двухлучевой системе Майкельсона, включающей лазер, светоделительное зеркало и два отражателя, один из которых неподвижен, а другой жестко связан с изделием (см. рис. 7, в). Отразившись от эталонного и объектного зеркал, пучки света соединяются и интерферируют. На выходе прибора с помощью фотометрического счетчика подсчитывается число полос иитерферепции, пропорциональное перемещению изделия. Погрешность ЛИ составляет не более длины волны света, излучаемого лазером (при измерениях в пределах десятков метров и более). Недостаток ЛИ — 01н0сительн0 высокая чувствительность к механическим воздействиям, что обусловило их применение, в основном, в прецизионном приборостроении, станкостроении и метрологии. Применение угловых отражателей вместо плоских зеркал существенно уменьшает чувствительность ЛИ к вибра- [c.64]

Для исследования и установления этой зависимости был выполнен комплекс экспериментальных работ, в процессе которых моделировался процесс износа большого числа активированных образцов из различных конструкционных материалов, активированных на типовых режимах. В процессе моделирования при истирании образцы истирались на доводочной плите, а впоследствии на машине трения типа МЭИМ-2, разработанной и изготовленной НИИМАШ (г. Минск) совместно с МВТУ им. Баумана. В процессе истирания контролировалась относительная скорость счета и величина снятого слоя (износ). Измерения износа осуществлялись интерферометром типа ИКПВ, действие которого основано на принципе двухлучевой интерференции света, возникающей без участия измеряемого объекта и действующей как масштабный механизм высокой чувствительности. Шкала прибора градуировалась путем изменения ширины интерференционных полос на цену деления в 1 мкм. Таким образом, первоначально в табличной форме получали требуемую заиисимость. [c.259]

СИСАМ (спектрометр интерференционный с селективной амплитудной модуляцией) — спектральный прибор, построенный на основе двухлучевого интерферометра Майкельсона, в к-ром концевые зеркала заменены синхронно поворачивающимися дифракц. решётками и введён модулятор но оптич. разности хода. См. Спектральные приборы. [c.534]

Свсаи — спектрометр интерференционный с селективной амплитудной модуляцией — строится на основе двухлучевого интерферометра (рис. 5), в к-ром зер- [c.614]

Рнс. . Принципиальная оптическая схема двухлучевого сканирующего интерферометра Д , Д, — входная в выходная круглые диафрагмы С — светоделитель 3, — неподвижное аеркало 3, — подвижное зеркало, перемещаемое (сканируемое) а расстояние д (разность кода). [c.614]

Во втором варианте С. в процесс распространения излучения вводится переменная временная задержка т и измеряется автокорреляц. ф-ция /(т). Наиб, эффективно это реализуется в двухлучевом интерферометре Майкельсона СКанирование.м по разности хода Д = гт. Изменения сигнала приёмника при таком скаиирова-нии дают интерферограмму /(Д), фурье-образ к-рой представляет собой спектр Ф(а), где о — волновое число (а = i k = с, К — длина волны). [Подробнее см. в ст. Фурье-спектрометр. Ниже рассматриваются методы измерения Ф(v).] [c.622]

Для полного использования потенциальных возможностей этого метода оставалось ждать изобретения современной цифровой вьиисли-тельной машины. В приложении к измерениям длин волн двухлучевой интерферометр бьш заменен многолучевым методом, использованным в интерферометре Фабри-Перо. Затем в 50-х годах началось возрождение метода, послужившее основой современной фурье-спектроскопии (разд. 6.5). [c.137]

Это выражение совпадает с результатом подхода Майкельсона-Рэлея в разд. 6.3.2. Величину Гц(х) , или ее нормированный аналог 7ц(х) , можно связать с видностью таким же образом, как было сделано для IYuI в уравнении (6.39). Напомним, что распределение интенсивности в спектре lf(v)p было обозначено в разд. 6.3.2 как/(o ). Кривые видно-сти, полученные с помощью двухлучевого спектрального интерферометра, можно интерпретировать как представляющие Yi2(x) , функцию разницы длины пути (соответствующей времени х), которая была введена с целью сравнения волнового пакета с самим собой. [c.143]

Интерферометр Номарского представляет собой двухлучевой поляризационный прибор, реализуемый на базе обычного (например, металлографического) микроскопа с помощью приставки — призмы Волластона, которая устанавливается между объективом и остальной частью оптической системы микроскопа. [c.234]

Возможность пространственного согласования волновых фронтов измерительного и опорного пучков в области локализации интерференционной картины двухлучевых интерферометров с параллельным пучком лучей позволяет использовать в них обычные (не лазерные) источники пространственно-некогерент-ного света сплошного или линейчатого спектра. Однако из-за низкой спектральной яркости такие источники не позволяют получать резкие интерференционные картины. При исследовании нестационарных искажений протяженных объектов обеспечение достаточной для фотографирования мощности излучения в этом случае достигается либо расширением рабочего участка спектра, что приводит к спектральному размытию интерференционных полос, либо увеличением рабочей поверхности источника, что также ухудшает интерференционную картину вслед -ствие увеличения углового расхождения пучков. [c.178]

В последние годы многолучевые интерферометры все чаще начинают применяться как высокочувствительные индикаторы изменений параметров прозрачной среды, расположенной между зеркалами, Это объясняется тем. что распространенные в экспериментальной технике двухлучевые интерферометры в ряде задач оказываются недостаточно эффективными для точных измерений малых разностей хода, вносимых исследуемыми оптическими неод иородностями. Кроме этого, сравнительно простое конструктивное устройство многолучевых интерферометров делает их использование весьма целесообразным и при некоторых исследованиях, не требующих высокой чувствительности. [c.8]

Для сравнения определим чувствительность двухлучевого интерферометра. Б.удем полагать при этом, что изменение интенсивности в интерференционной полосе регистрируется в точке половинной интенсивности с одинаковой степенью точности. [c.114]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...