ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ЯВЛЕНИЯ

Форма интерференционной картины, положения максимумов и минимумов зависят от толщины и формы пластин, от угла между их поверхностями, от состояния поиерхности н т. д. Следовательно, можно, изучая форму и положение интерференционных полос, судить о свойствах исследуемой пластинки. Иначе говоря, интерференционные явления могут быть применены для измерения физических параметров прозрачных тел. Ценность интерференционного метода заключается, в частности, в том, что он чувствителен [c.104]

При описании интерференционных явлений часто используют понятия временной и пространственной когерентности. Временную когерентность обычно связывают со степенью монохроматичности исследуемых колебаний, а степенью пространственной когерентности характеризуют геометрию экспериментов. В дальнейшем (см. 5.3) понятие пространственной когерентности подробно обсуждается при рассмотрении наложения интерференционных картин от многих элементарных источников, образующих протяженный источник света. [c.179]

В проходящем сеете всегда возникает интерференционная картина, дополнительная к появляющейся в отраженном свете. Ото положение, легко демонстрируемое на примере колец Ньютона, позволяет еще раз отметить общее свойство всех интерференционных явлений — стационарная интерференционная картина всегда возникает в результате перераспределения потока энергии в пространстве. [c.215]

Особенности интерференционных явлений, излагаемые здесь и ниже, в равной мере относятся к любой фотометрической величине (потоку, яркости, освещенности). Поэтому не имеет смысла конкретизировать, о какой именно фотометрической величине идет речь в том или ином случае, и термин интенсивность будет применяться для любой энергетической величины, пропорциональной квадрату амплитуды колебаний напряженности поля. [c.63]

Интерференционные явления описываются, очевидно, членом 2 1 2 в этом соотношении. Для осуществления интерференции поляризованных световых колебаний необходимо, следовательно, обеспечить встречу двух световых лучей, в которых направления колебаний и 2 должны быть не перпендикулярными. Если же 1 и взаимно перпендикулярны, то интерференция не наблюдается и область перекрытия световых пучков освещена равномерно. Максимальное значение видимости полос достигается в том случае, когда интерферирующие волны поляризованы одинаково, т. е. 1 и параллельны. Таким образом, интерференция поляризованных световых волн зависит не только от их амплитуд и фаз, но и от состояния поляризации. [c.87]

Интерференционные явления используются также для очень точного определения углов. Здесь также оказывается возможным применение весьма разнообразных приемов. Так, для контроля правильности углов в стеклянных призмах используют явления в тонких пластинках (воздушный клин). Изготовив стандартный стеклянный угольник и накладывая его на грани призмы, можно по интерференционным картинам контролировать правильность угла призмы с точностью, соответствующей воздушному клину, катет которого не превышает 0,03 мкм. [c.149]

Измерение распределения фаз можно осуществить с помощью интерференционных явлений (см. гл. IV—VII). Сущность интерференции заключается в том, что при сложении когерентных колебаний разность их фаз обусловливает изменение амплитуды суммарного колебания, иными словами, происходит преобразование фазовых соотношений волн в амплитудную структуру интерференционной картины. Следовательно, если на приемник излучения, помимо интересующей нас волны, послать другую, пробную волну с относительно простой формой фронта, например, плоскую или сферическую, то возникшая интерференционная картина полностью охарактеризует закон изменения разности фаз этих двух волн на поверхности приемника. Таким способом мы получим возможность составить представление о фазовой структуре изучаемой волны. [c.236]

Принимая во внимание коэффициент увлечения, Лорентц мог доказать общую теорему, согласно которой движение системы не влияет с погрешностью до величин порядка = о /с на результаты оптических опытов с замкнутым путем света, т. е. опытов, к которым принадлежат все интерференционные явления. Таким образом, с помощью подобных опытов можно, согласно теории Лорентца — Френеля, обнаружить движение Земли относительно эфира, предполагаемого неподвижным, но лишь при условии, что точность опытов позволяет учитывать величины второго порядка (Р по сравнению с единицей), т. е. если погрешности при их выполнении не превышают примерно 10 . Все эффекты первого порядка в таких опытах с замкнутым оптическим путем компенсируются благодаря явлению частичного увлечения. Поэтому особый принципиальный интерес приобретают опыты, обеспечивающие погрешности не более Р . Как мы уже упоминали, явление Допплера могло бы, в рамках теории Лорентца, служить для обнаружения абсолютного движения систем в эфире, если бы соответствующие измерения можно было бы произвести с ошибкой, меньшей р . [c.449]

АВТОР. Идеи, обсуждавшиеся в двух последних главах, важны как для понимания физики фотонов, так и для рассмотрения теоретических основ квантовой оптики, которым посвящена последняя часть книги. Но дело не только в этом. Проделанный экскурс в квантовую физику показал, что интерференционные явления, всегда, казалось бы, связанные с волнами, могут рассматриваться с корпускулярных позиций . Такой подход к интерференции и дифракции основан на вероятностных представлениях и предполагает использование особых правил работы с вероятностями, а именно сложение амплитуд вероятностей. [c.122]

АВТОР. Речь шла не только об этом. Подчеркивалось, например, что квантовая физика позволяет рассматривать как возникновение, так и разрушение интерференции, что, с точки зрения квантовой физики, интерференционные явления могут выходить за рамки волновых представлений. Теперь же мы пойдем еще дальше — убедимся, что для объяснения некоторых интерференционных опытов фотонные представления становятся необходимыми. В связи с этим мы поговорим о флуктуациях числа фотонов в световых пуч- [c.288]

В интерференционных явлениях участвует только когерентная амплитуда. Некогерентная амплитуда создает диффузный фон, обычно лишь затрудняющий исследования. [c.553]

Если толщина слоя, покрывающего поверхность металла, меньше длины волнового пакета, то вследствие интерференционных явлений в слое коэффициент потери чувствительности Кон может быть существенно меньше расчетного значения Ко- Средние значения измерений коэффициентов Ко и Кои сведены в табл. 5.2. [c.229]

Па рис. 7.1 показана типичная схема теневого дефектоскопа с визуальным, изображением поля прошедшего излучения. Источник 1 УЗ-волн обычно достаточно большой, чтобы интерференционными явлениями в ближней зоне можно было пренебречь и считать с достаточной точностью поле излучения плоской однородной волной. С этой же целью его, наоборот, можно сделать малым, чтобы работать в дальней зоне, но в этом случае амплитуда поля суш,ественно снизится. УЗ-волны проходят через объект контроля 2. При наличии в объекте контроля дефекта однородность поля нарушается и позади дефекта образуется звуковая тень. Для повышения контрастности и четкости изображения прошедшие лучи обычно фокусируют ультразвуковой линзой 3. В фокальной плоскости линзы возникает акустический рельеф, т. е. определенное распределение интенсивности или амплитуды в плоскости поперечного сечения звукового пучка, соответствуюш,ее наблюдаемому дефекту. Чтобы сделать звуковой рельеф видимым, применяют различные устройства, называемые акустико-оптическими преоб-разователя.ми 4. [c.392]

Дифракцией называется огибание световыми волнами препятствий, размеры которых соизмеримы с длиной волны света, и сопровождающие этот процесс нарушения законов геометрической оптики и интерференционные явления. [c.224]

НО не входят в элементарные учебники по оптике, но которые составили бы весьма полезный фундамент для данной главы. Таким образом, в разд. 4.2.1 мы дадим введение в матричную формулировку геометрической оптики в рамках приближения параксиальных лучей. В разд. 4.2.2 и 4.2.3 рассмотрим многочисленные интерференционные явления, которые имеют место соответственно в интерферометре Фабри — Перо и многослойном диэлектрическом покрытии. [c.165]

Перейдем к рассмотрению интерференционных явлений, возникающих в системе, состоящей из тонкого слоя и подложки. Общая теория расчета подобных систем была развита в работах [c.35]

Совершенно очевидно, что когда разность фаз ф з—фзд существенно отличается от 0 или я, необходимо учитывать поглощающие свойства в случае оптически менее плотной подложки. При исследовании интерференционных явлений в системе с подложкой, оптически более плотной, чем слой, можно в первом приближении пользоваться простыми соотношениями [c.37]

Выходящие пучки поляризованы во взаимно перпендикулярных направлениях. Поскольку интерференционные явления в этом случае минимальны, то такая поляризация для голографии невыгодна. Поэтому нужно на пути пучка, электрический вектор которого колеблется параллельно плоскости падения, поместить полуволновую пластинку, поворачивающую плоскость поляризации на 90°. [c.107]

Когерентный пучок формируется оптическими элементами, которые не являются идеальными. Не затрагивая вопроса об аберрациях, рассмотрим только дефекты, ухудшающие внутреннюю структуру пучка. Имеются в виду дифракционные и интерференционные явления, которые проявляются в виде локального увеличения или уменьшения интенсивности пучка. Эти эффекты возникают в результате рассеяния света на твердых частицах, прилипающих к поверхности оптических элементов, на пузырях в стеклянных элементах, механических повреждений просветляющих покрытий, неоднородностей оптической склейки и т. п. (рис. 79). [c.110]

Знание величин волновых аберраций еще не является исчерпывающим критерием оценки качества изображения более полное представление о качестве изображения можно получить по картине распределения световой энергии в плоскости изображения при точечном источнике света в предметном пространстве. Эта картина не может быть получена без учета волновой природы света, проявляющейся в интерференционных явлениях, связанных с расположением рассматриваемых точек в пространстве изображений. [c.156]

В общем случае эти элементы могут быть самостоятельными источниками света, не когерентными друг с другом. Поэтому, анализируя результаты сложения освещенностей, не будем учитывать интерференционных явлений, полагая, что такое сложение [c.168]

Многолучевой интерференционный метод получил большое распространение при исследовании тонких пленок. Этому способствовало то обстоятельство, что в последнее время в различных областях науки и техники получило значительное развитие изготовление тонких пленок и их применения для целого ряда задач — покрытие деталей защитными лаками, многослойные диэлектрические покрытия, использование светоделительных слоев для расщепления электромагнитных волн, просветление оптики, применение пленок в качестве приемников излучения (в болометрах, фотосопротивлениях и т. д.). Особенность этих пленок состоит в том, что интерференционные явления, возникающие в пленках часто оказывают значительное влияние на свойства рабочих поверхностей узлов или деталей, на которые они нанесены. Многолучевые интерференционные методы являются удобными и одними из самых Эффективных средств для исследования толщины, сдвига фазы, коэффициента отражения и преломления пленок [87, 1571. [c.7]

Интерференционные явления при многократном отражении световой волны от зеркальных полупрозрачных пластин имеют целый ряд особенностей, весьма важных для объяснения некоторых теоретических и практических вопросов многолучевой интерферометрии. [c.13]

Правильный выбор источника света является одним из решающих условий эффективного применения интерферометра. Как известно, интерференционные явления, происходящие и многолучевом интерферометре, как правило, характеризуются большими разностями хода между интерферирующими лучами. Поэтому для наблюдения полос интерференции источник света должен излучать узкие спектральные линии. Использование высоких коэффициентов отражения для получения высокой чувствительности приводит к значительным световым потерям. Следовательно, спектральные линии должны обладать достаточной интенсивностью. [c.55]

Интерференционные явления, наблюдаемые в схемах рис. 39 — 41, можно рассматривать как результат совместного действия двух одинаковых диффузоров диффузора АВ [c.49]

Степень когерентности стабилизированных газовых лазеров непрерывного действия такова, что интерференционные явления могут наблюдаться при разности хода в несколько сотен метров. Таким образом, можно наблюдать интерференционные полосы, создаваемые излучением двух лазеров, если лазеры совершенно одинаковы и работают в одинаковых условиях. Полосы быстро проходят точку наблюдения с частотой, равной разности частот обоих лазеров. Частоту биений можно мыслить себе как величину, связанную с функцией корреляции между двумя лазерными источниками света. Тогда можно определить среднее время, когерентности для двух лазеров как удвоенный временной интервал, на протяжении которого фаза биений остается почти постоянной. Другими словами, среднее время когерентности двух независимых лазеров можно отождествить с временем когерентности частоты биений [35, 36]. При определении времени коге- [c.378]

В этом случае могут иметь место интерференционные явления, связанные с рассеянием нейтронов обоими протонами молекулы. [c.51]

В предыдущих главах мы изучали различные процессы взаимодействия частиц со свободными изолированными ядрами. Однако при изучении взаимодействия частиц с веществом ядра, вообще говоря, нельзя рассматривать как свободные. Учёт связи между атомами особенно необходим для тех процессов, в которых участвуют медленные частицы, в частности, медленные нейтроны. Благодаря этой связи возникают интерференционные явления при упругом и неупругом рассеянии медленных нейтронов в кристаллах в ряде случаев связь оказывает существенное влияние на радиационный захват медленных нейтронов в кристаллах. [c.352]

Мы видим, что когерентное рассеяние обусловливается столкновениями без изменения направления спина нейтрона. Это связано с тем, что в интерференционных явлениях должны участвовать все ядра, что может иметь место только в том случае, если при рассеянии направление спина нейтрона не изменяется. [c.377]

Здесь отброшена временная зависимость [при данной форме записи она выглядела бы как ехр(—tojO] и учтено, что источник испускает сферическую волну, исходная амплитуда которой E q. Для простоты будем считать, что точечный источник S испускает монохроматическую сферическую волну. Но все приближения, сделанные ранее (например, квазимонохроматическая волна, излученная протяженным источником, и др.) и позволившие обосновать возможность наблюдения интерференционных явлений, конечно, остаются в силе. Вывод можно провести для произвольной поверхности а, но проще всего предположить, что она совпадает с волновым фронтом от точечного источника, т.е. является сферой радиуса а. [c.257]

Оптические квантовые генераторы оказали и, несомненно, будут оказывать в дальнейшем значительное влияние на развитие оптики. Изучение свойств самих лазеров существенно обогатили наши сведения о дифракционных и интерференционных явлениях (см. 228—230). Распространение мощного излучения, испущенного оптическим квантовым генератором, сопровождается так называемыми нелинейными явлениями. Некоторые из них — вынужденное рассеяние Мандельштама — Бриллюэна, вынужденное рассеяние крыла линии Рэлея и вынужденное температурное рассеяние — описаны в главе XXIX выше упоминались также многофотонное поглощение и многофотонная ионизация (см. 157), зависимость коэффициента поглощения от интенсивности света (см. 157), нелинейный или многофотонный фотоэффект (см. 179), многофотонное возбуждение и диссоциация молекул (см. 189), эффект Керра, обусловленный электрическим полем света (см. 152) сведения о других будут изложены в 224 и в гл. ХК1. Совокупность нелинейных явлений составляет содержание нелинейной оптики и нелинейной спектроскопии, которые сформировались в 60-е годы и продолжают быстро развиваться. [c.770]

Наряду с установившимся обтеканием приводятся сведения об их нестационарных аэродинамических характеристиках. Гл. 11 содержит задачи и вопросы, относящиеся к аэродинамике летательных аппаратов, представляющих собой комбинации различных элементов, таких, как корпус, крыло, оперение, рулевые устройства. В ней изучаются в основном интерференционные явления, определяющие характер аэродинамического взаимодействия между отдельными элементами и величину суммарного силового влияния обтекающей среды на летательный аппарат в целом. На основе данных о неустановившемся обтекании изолированных крыльев и тел вращения рассматриваются суммарные ь естационарные характеристики в виде аэродинамических производных. [c.5]

Аппаратура для контроля теневым методом проще эхо-дефек-тоскопа (рис. 2.12). Синхронизатор I, генератор радиоимпульсов 2, излучатель 3, приемник 5, усилитель 6, временной селектор 7 и пороговый индикатор 8 (регистратор с амплитудным дискриминатором) выполняют те же функции, что и в эхо-дефекто-скопе. Импульсные приборы используют гораздо чаш,е, чем приборы с непрерывным излучением, так как, применяя достаточно короткие импульсы (см. подразд. 3.4), легче избавиться от помех, связанных с изменением амплитуды прошедшего сигнала в результате интерференционных явлений (например установлением стоячих волн) в изделии 4 и слоях жидкости. Стробируя время прихода сквозного сигнала за счет связи синхронизатора и временного селектора, уменьшают действие внешних электрических шумов. [c.118]

Действие слабокислого раствора тиосульфата натрия как цветного травителя обусловлено нестабильным поведением осаждающегося на поверхности шлифа сульфида, контактирующего с воздухом, и интерференционными явлениями. Превращение сульфида начинается уже во время травления в зависимости от концентрации ионов Пока шлиф еще находится в травителе, наблюдается собственная окраска сульфида для FeS — темно-коричневая, которая затем, если травление продолжается доста-56 [c.56]

Эффенбергер и Скуин [100], руководствуясь методом Пепер-хофа, разработали основы и методику оптического выявления структуры. При напылении диэлектрического слоя (ZnS) на поверхность шлифа, очищенную с помош,ью ионной бомбардировки от адсорбционных слоев, структурные составляющие непосредственно выявляются благодаря интерференционным явлениям. К преимуществам метода можно отнести то, что структура выявляется без химического воздействия. [c.97]

НОСТИ. Наоборот, дифрак- (сплошные линии) и п= 1/1,2 ция на крупных частицах (пунктирные). Числа у кривых— [Л. 359] связана в основ- значения kd. ном с возмущением излучения различными точками частицы в условиях постоянства разности фаз колебаний после возмущения. Из-за этого рассеяние на крупных частицах когерентно и возникают результирующие интерференционные явления и характерная сильно вытянутая вперед форма индикатрисы рассеяния. Правда, и в отсутствие дифракции с приближением п к единице рассеянное согласно законам геометрической оптики излучение отбрасывается только вперед Л. 265] (рис. 3-12). Дифракционная составляющая на крупных частицах сосредоточивается вблизи направления распространения прямого луча в угле примерно 1/р, где p = nflf/A—параметр дифракции. [c.83]

При уменьшении толщины подзатворных диэлектриков необходимо учитывать не только интерференционные явления, но и влияние изменения высоты потенциального барьера в зависимости от толщины пленки оксида. Для диэлектрических слоев двуокиси кремния с толщиной более 10 нм можно считать высоту потенциального барьера постоянной и равной для электронов 3,2 эВ и для дырок 3,8 эВ [37]. С уменьшением толщины двуокиси кремния до нескольких нанометров высота эффективного потенциального барьера падает и становится равной для электронов 2 эВ при толщине диэлектрика 2 нм. Уменьшение толщины [c.119]

Эффекты полного отражения обусловлены интерференционными явлениями на волнах, запертых в слое, поэтому общее их количество в резонансной зоне зависит от дистанции, где осуществляется фазовый набег (здесь h), и тем больше, чем толще слой диэлектрика. Вследствие этого на нижних рисунках (решетка внутри слоя) меньше точек полного отражения, так как роль регулярных участков здесь играют половинки слоя. Естественно, что распределение точек проявления эффекта полного отражения в областях, где выполнены необходимые условия (реализованы определенные режимы связи зон отражения и прохождения), зависит от положения решетки относительно слоя, поляризации, преобразующих свойств границ и пр. [c.59]

При указанных на рис. 31, в параметрах расстояние между точкой возникновения первой волноводной волны в щелях и точкой Хрез довольно велико и ширина всплеска кривых больше, чем в предыдущем случае. Первая точка полного прохождения здесь обусловлена не резонансом в точке х = = (2 os трГ , а выполнением условия (2.19), поэтому кривая носит двугорбый характер. Изрезанность кривых на рис. 31, б вблизи точек возникновения новых распространяющихся волноводных волн в щелях можно объяснить интерференционными явлениями, связанными с существованием в щелях нескольких распространяющихся волн. Коэффициент отражения от раскрывов щелей только что появившейся распространяющейся волны велик, и поэтому она играет наиболее существенную роль в интерференционных явлениях. [c.78]

Анализируя особенности интерференционных явлений различных вариантов четырехзеркальных интерферометров, следует отметить практическую применимость интерферометра с двумя парами равноотстоящих друг от друга зеркал, В этом интерферометре образуются интерференционные полосы наложения [138 [, для которых характерна весьма малая величина разности хода между лучами (при строгом выполнении условий hi — h , pi = = p2,Tj = Tj, Sj = S2), претерпевшими (2Л — 2) отражений в первом интерферометре и 2 отражения во втором. При наблюдении интерференционных полос наложения необходимо, чтобы расстояние между интерферометрами было достаточно большим для устранения дополнительных систем интерференционных полос. [c.40]

Хотя интерференционные явления в диффузном свете были известны уже в XVII в., они практически исследовались с середины прошлого столетия. Только после появления лазеров физики заинтересовались интерференцией в диффузном свете и ее практическими применениями. [c.43]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...