ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Возможности дифракции света могут быть использованы для контроля объектов и их поверхностей с прнмене- нмем эталона объекта. При этом на малом расстоянии от поверхности исследуемого объекта устанавливается поверхность эталона с заранее известной конфигурацией и формой. Зазор между поверхностями образует щель, которая освещается монохроматическим излучением от источника типа лазера. В результате на экране или в плоскости анализа наблюдается дифракционная картина, по виду которой и расположению колец или полсс судят о состоянии исследуемой поверхности, Такой способ применим для контроля профиля, плоскостности, ЦИ-линдричности и других геометрических параметров круглых и плоских, подвижных и неподвижных изделий. [Выходные данные]