Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Оптическая длина пути

Чтобы дать математическое выражение принципа Ферма, воспользуемся понятием оптической длины пути.  [c.167]

Оптическая длина пути и математическое выражение принципа Ферма. Под оптической длиной пути понимается произведение геометрической длины пути луча I в однородной среде на показатель преломления среды п, в которой распространяется свет (/) = п1, где (/) — оптическая длина пути. Если среда, в которой распространяется свет, является неоднородной, то путь луча нужно разделить на такие маленькие участки, в пределах каждого из которых показатель преломления можно считать постоянным. В этом случае  [c.167]


Оптическая длина пути 168  [c.428]

Учитывая, что скорость электромагнитной волны в веществе и = с/п, легко показать, что запаздывание по фазе будет определяться произведением длины пути d на показатель преломления п, которое называют оптической длиной, пути.  [c.117]

Оптическая длина пути. Таутохронизм оптических систем  [c.89]

Произведение показателя преломления на длину пути называется оптической длиной пути вводя обозначение = ( 1), мы можем записать выражение для разности фаз в виде  [c.90]

Как уже упоминалось выше (см. 28), интерференционные методы дают возможность с большой точностью определять ничтожные изменения показателя преломления, влекущие за собой изменение оптической длины пути, и, следовательно, смещение интерференционной картины.  [c.148]

Оптическая разнос гь хода Д — разность оптических длин пути двух пучков излучений (dim Д = L, [Д] = 1 м).  [c.193]

Определение диэлектрической проницаемости материалов производят путем измерения оптической длины пути или сдвига фаз, возникающего при внесении образца между приемной и излучающей антеннами.  [c.137]

ОПТИЧЕСКАЯ ДЛИНА ПУТИ между точками А в В прозрачной среды — расстояние, на к-рое свет (оптич. излучение) распространился бы в вакууме за то же время, за какое он проходит от А до В в среде. Поскольку скорость света в любой среде меньше его скорости в вакууме, О. д. п. всегда больше реально проходимого расстояния (в предельном случае вакуума равна ему). В оптич, системе, состоящей из р однородных сред (траектория луча света в такой систе-  [c.431]

Лит. Гиббс Д ж.. Термодинамика. Статистическая механика. пер. с англ., М., 1982, гл- 12 К р ы л о в Н. С., Работы по обоснованию статистической физики, М,— Л,. 1950 Б а л е-с к у Р., Равновесная и неравновесная статистическая механика, лер. с англ., т. 2. приложение Эргодическая проблема, М.. 1978 Заславский Г, М., Стохастичность динамических систем, М,, 1984, гл. 1 Л о с н у т о в А. Ю., Михайлов А. С,, Введение в синергетику, М., 1990. Д, Н. Зубарев. РАЗНОСТНЫЙ тон — комбинационный тон с частотой 0)1 — Юа, возникающий в нелинейной акустич. системе при воздействии на неё двух звуковых колебаний с частотами о>1 и Особое значение Р. т. заключается в том, что он может оказаться в слышимом диапазоне частот, даже если 0)1 и ш, — неслышимые частоты, а это позволяет регистрировать сигналы с частотами ( 1 и Шд. РАЗНОСТЬ ХОДА лучей (в оптике) — разность оптических длин путей двух световых лучей, имеющих  [c.248]


Оптической длиной пути s называется величина  [c.224]

В первом случае необходимы объектив с телецентрическим ходом лучей и плоскостность изображения масштаб изображения должен быть отъюстирован на расстояние экран — объектив. Поэтому увеличенный профиль сравнения (эталонный образцовый чертеж) должен лежать строго в плоскости проекционного экрана. чертеж не должен быть покрыт стеклянной пластинкой, так как иначе изменяется оптическая длина пути.  [c.412]

Величина L = xn называется оптической длиной пути.  [c.9]

Пользуясь уравнением распространения волны (1), можно разность фаз ф1 и ф2 двух колебаний выразить через оптическую длину пути.  [c.20]

Длина волны фокусное расстояние линзы f, оптическая длина пути L имеют раз.мерность длины L и выражаются в метрах.  [c.58]

При плавном изменении высоты ступеньки дифракционные картины (рис. 1.1.2) периодически сменяются. Таким образом, изучение дифракционной картины от щели, на которую наложен прозрачный преломляющий объект, позволяет судить о соотношении оптических длин путей. В отличие от случая амплитудного объекта, здесь нет однозначности. Наблюдая и измеряя распределение энергии в дифракционной картине от щели, перекрытой фазовым объектом, в общем случае нельзя определить истинное значение толщины различных участков объек-та. Кроме того, трудно отличить этот случай от опыта, в котором в некоторой точке объекта изменяется не оптическая длина пути, а показатель преломления. Определенное изменение показателя преломления приведет к точно такому же результату, как и соответствующее изменение толщины.  [c.15]

Здесь 1 = Zo + x /2zo - z - оптическая длина пути. После выполнения интегрирования по времени получим  [c.101]

Цуги волп, исходящие одновременно из двух точек фронта волны (среда считается однородной, и поэтому фронт волны совпадает с волновой поверхностью) М и Мз, проходя разные пути MiBi и М2В2, придут в точку 6х в разное время. Если разность оптических длин путей M Biii, . — значи-  [c.131]

Использование принципа Ферма иногда облегчает решение оптических задач. Так, очевидны условия фокусировки света при его отражении от эллиптического зеркала. И.зображение светящейся точки, помещенной в одном из фокусов эллипсоида вращения Р, получается в фокусе Q, так как суммарная длина РО + OQ (рис. 6.19) постоянна для любого положения точки О на поверхности эллипсоида. Так же легко понять фокусирующее действие линзы, у которой суммарная оптическая длина пути в стекле и воздухе оказывается стационарной (рис. 6.20).  [c.277]

Оптическая длина пути . s —сумма произведений расстояний, проходимых монохроматическим излучением в различных средах, на соответствующие показатели преломления (dim5 = L, [s] = 1 м).  [c.193]

Так как для измерений в оптически чувствительных покрытиях пользуются отраженным светом, оптическая длина пути света f при просвечивании покрытия по нормали равна удвоенной толш ине покрытия, т. е.  [c.275]

Установка УИГ-Ш. Измерительная голографическая установка предназначена для измерения параметров быстропротека-ющих процессов методами голографии и голографической интерферометрии. Установка позволяет измерять изменение оптической длины пути в прозрачных объектах, координаты и геометрические параметры отражающих и рассеивающих объектов, распределение скоростей движения частиц в пространстве, деформации поверхностей произвольной формы. Установка предназначена для использования в лабораторных условиях. В ее состав входят лазер на рубине, лазерные усилители, блоки управления, блоки синхронизации и временной задержки, оптическая скамья с комплектом приборов для монтажа, юстировки и контроля голографических схем.  [c.311]

Установка имеет следующие технические характеристики. Энергия одномодового излучения в режиме модуляции добротности 0,5 Дж, а длительность импульса 4-10" с. Коэффициент усиления двухкаскадного усилителя 20, размер голографируемой сцены 200x200x1000 мм, пределы измерения разности оптической длины пути от 1 до 60 мкм. Пределы геометрических размеров объекта от 20 до 2-10 мкм. Погрешность результата измерения  [c.311]


Феноменологич. объяснение Ф. э. заключается в том, что в общем случае намагниченное вещество нельзя охарактеризовать одним показателем преломления п. Под действием магн. поля показатели преломления и для циркулярно право- и левополяризованного света становятся различными. Вследствие этого при прохождение через среду вдоль магн. поля право- и левополяризованные составляющие линейно поляризованного излучения распространяются с разными фазовыми скоростями, приобретая разность хода, линейно зависящую от оптической длины пути. В результате плоскость поляризации линейно поляризованного монохроматич. света с длиной волны X., про-шедщ1его в среде путь /, поворачивается на угол  [c.275]

Второй этап компрессии—сжатие импульса, на к-рый наложен чирп. На этой стадии импульс проходит через дисперсионную линию задержки, состоящую из пары установленных параллельно друг другу дифракционных решёток. При этом излучению каждой частоты соответствуют определ. угол дифракции и своя оптическая длина пути— она увеличивается с уменьшением о). Подбором угла падения пучка на решёточную пару можно добиться условий, при к-рых в одном из дифракционных максимумов отич. задержка переднего фронта импульса (с меньшей частотой) будет больше, чем задержка его заднего фронта (с большей за счёт чирпа частотой) в результате импульс на выходе решёточной пары будет скомпенсирован во времени. С помощью компрессии получены оптич. импульсы короче 10 фс достигнутая мин. длительность 6 фс (1987) близка к фундам. пределу (2—3 фс), соответствующему одному световому периоду.  [c.280]

Другим оптическим методом, основанным на принципе интерференции, является интерферометрический метод. Он позволяет непосредственно определить поле плотности. Два когерентных луча одинаковой длины волны и с постоянной разностью фаз, попадая на экран, складываются и образуют систему интерференционньгх полос. Если изменить оптическую длину пути, проходи-  [c.137]

Независимо от формы, числа и прочих свойств апертур в маске, все полученные таким образом картины считаются принадлежащими к фраунгоферовскому типу. На рис. 1.6 вновь показана схема с объектной маской, содержащей одиночную апертуру конечного размера детали получаемой при этом картины Фраунгофера рассматриваются в разд. 2.2, Во всех примерах дифракции Фраунгофера существует линейное изменение оптической длины пути, проходимого дифрагировавшим светом от точек объекта до конкретной точки дифракционной картины. Таким образом, разность оптических длин YP ХР = YW на рис. 1.6 пропорциональна XY. В противоположность этому соответствующее изменение на рис. 1.2 является нелинейным и образующиеся при этих условиях картины принадлежат к картинам типа Френеля.  [c.22]

Первым и основным недостатком зонных пластинок Сорэ или Вуда является разбрасывание световой энергии по изображениям разных порядков этот иедостатрк вытекает из того, что оптическая длина пути, соединяющего точку-объект и изображение его, непостоянна. Однако VII.19  [c.563]

Во многих практических схемах голографирования объекта достаточно средств для того, чтобы флуктуации, источником которых является первое и третье звено, сделать малыми по сравнению с флуктуациями, возникающими во втором, записывающем звене системы. Имеется достаточно богатый материал по флуктуациям детекторов светового излучения. Применительно к голографии этого материала оказывается недостаточно в связи с тем, что в нем отражается только анализ флуктуаций отклика на действие света по коэффициенту пропускания или отражения, а также так называемых темновых флуктуаций, имеющих место и при отсутствии света. В связи с тем, что при восстановлении волнового фронта весьма значительную роль играет постоянство разности фаз при прохождении или отражении восстанавливающей волны от голограммы, на потери информации существенно влияют флуктуации фазового сдвига, вызванные флуктуациями оптической длины пути света в записывающем материале. Последняя, в свою очередь, зависит от флуктуаций толщины материала и его показателя преломления при прохождении света через материал или от флуктуаций поверхностного рельефа при отражении восстанавливающей волны от поверхности голограммы. Следует отметить,  [c.72]

Эксперименты по внутрирезонаторной ГВГ с угловой настройкой были выполнены на 20°-ном срезе кристалла KNbOs размером 5X5X5 мм в котором внутренние потери составляли 0,8 /о. Потери в элементах с температурной настройкой составляли 0,25% при оптической длине пути 1 — 6,7 мм и 0,12% при l — 2,i мм. Авторы [68] отмечают, что большие потери в первом случае были вы-  [c.35]

Ко второй группе атмосферных эффектов относятся прежде всего явления, связанные с турбулентным характером атмосферы. Турбулентные потоки воздуха обусловливают возникновение местных флуктуаций плотности атмосферы и, следовательно, изменение ее коэффициента преломления. Эти флуктуации имеют микромасштабное время корреляции порядка нескольких миллисекунд. Изменения коэффициента преломления вызывают изменение оптической длины пути луча. В результате в пределах лазерного пучка могут нарушиться существовавшие в нем фазовые соотношения. В силу случайного характера турбулентности коэффициент преломления вдоль всего пути распространения лазерного излучения изменяется случайным образом. Поэтому в качестве основной характеристики в данном случае выступает некоторый поперечный корреляционный размер ркор- В соответствии с определением ркор — есть минимальное расстояние между двумя ближайшими лучами, которые из-за прохождения участков атмосферы с различными коэффициентами преломления оказываются некоррелированными у цели.  [c.52]



Смотреть страницы где упоминается термин Оптическая длина пути : [c.133]    [c.168]    [c.230]    [c.88]    [c.275]    [c.118]    [c.439]    [c.424]    [c.205]    [c.115]    [c.563]    [c.416]    [c.370]    [c.80]    [c.181]    [c.54]    [c.51]   
Смотреть главы в:

Справочник конструктора оптико-механических приборов  -> Оптическая длина пути


Оптика (1977) -- [ c.168 ]

Теория ядерных реакторов (0) -- [ c.22 , c.288 ]



ПОИСК



Длина оптическая

Длина пути

Интерференция света. Основы теории интерферометров. . — Оптическая длина пути

Оптическая длина пути. Таутохронизм оптических систем

Оптический путь

Температурные изменения оптической длины пути в лазерных материалах

Томографические методы, основанные на измерении производной от оптической длины пути



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте