Поля модуляции метод

Позитронов аннигиляция 41, 241, 258 Поликристалл, осцилляции 497 Поля модуляции метод 42, 118, 138, [c.670]

В частности, трудно было интерпретировать первые измерения времен релаксации [11], основанные на изучении поведения сигналов при насыщении, при модуляции внешнего поля и при наличии уширения, вызванного неоднородностью этого поля. Перечисленные методы были заменены прямыми методами с использованием импульсной техники, спинового эха или адиабатического быстрого прохождения. [c.89]

Возможность применения спектрального анализа сигналов ВТП определяется тем, что в процессе воздействия монохроматического электромагнитного поля на объект в сигналах ВТП появляются составляющие частот, отличающиеся от частоты первой гармоники генератора. Это может происходить за счет проявления нелинейных свойств материала изделия или за счет изменения во времени каких-либо факторов контроля. В первом случае возникают кратные гармоники основной частоты, которые несут дополнительную информацию о свойствах объекта. Метод, основанный на анализе параметров кратных гармонических составляющих, называется методом высших гармоник. Он получил применение при контроле ферромагнитных материалов. Во втором случае возникает модуляция выходного напряжения ВТП изменяющимися параметрами объекта, возникает спектр частот сигнала. Метод, основанный на обработке спектра модуляционных колебаний, называют модуляционным. [c.136]

Дальнейшим развитием этого метода является анализ амплитуд и фаз гармоник измеряемого сигнала, ко-торый называют, методом высших гармоник [Л. 12, 28, 42]. В сочетании с подмагничиванием постоянным полем этот способ, по-видимому, позволит значительно увеличить информационную способность метода. Намечаются пути по применению амплитудной и частотной модуляции намагничивающего и подмагничивающего полей [Л. 42]. [c.106]

Прямыми методами измерения плотности и энергетич. спектра П. с,, находящихся в запрещённой зоне полупроводника, являются поля эффект (изменение проводимости) и модуляция ёмкости МДП-структуры при изменении напряжения, приложенного между полупроводником и металлом. Этот метод даёт возможность измерить долю заряда на П. с. и в приграничном слое полупроводника при известном изгибе зон у поверхности, определяющем положение П. с. относительно уровня Ферми. Аналогичные результаты дают и измерения изменения работы выхода полупроводника при освещении. [c.652]

При определении вклада источника этим методом измеряют коэффициенты модуляции в источнике (х и в исследуемой точке суммарного поля а затем рассчитывают= /Для повышения точности оценок коэффициентов модуляции вибрации можно рекомендовать переход от парциальных коэффициентов модуляции к суммарному коэффициенту модуляции (х = (ц ) , что эквивалентно усреднению по ряду измерений [c.283]

Исследование частотной модуляции сигнального и холостого импульсов проводилось методом динамической интерферометрии. На рис. 4.18 приведены динамические интерферограммы на выходе волоконного световода (а) и на выходе параметрического усилителя (б — сигнальный импульс, в — холостой). Область свободной дисперсии интерферометра Майкельсона составляла 555 см Ч Измеряя наклон полос, можно вычислить скорости изменения частоты со временем а , (. и х- Знак наклона полос обусловлен знаком частотной модуляции. Как видно из рисунка, полосы на частотах С0(, и со наклонены в разные стороны, т. е. фазовые характеристики сигнальной и холостой волн являются сопряженными, что непосредственно следует из уравнений параметрического усиления, записанных в приближении заданного поля накачки ( 3.3). При компрессии параметрически усиленных частотно-модулированных импульсов получено сжатие до 280 фс, пиковая мощность сжатых импульсов достигала 10 Вт. [c.194]

Если ширину щелей, вырезающих части интерференционного поля, выбрать таким образом, что радиус-вектор описывает окружность, то полярный угол этого вектора будет равняться б. Следовательно, замеряя полярный угол радиуса-вектора, можно проводить счет интерференционных полос с учетом направления их движения. Для измерения положения радиуса-вектора используется метод фазовой модуляции напряжения несущей частоты и определения угла сдвига его фазы относительно некоторого опорного напряжения той же частоты с помощью вращающегося трансформатора. [c.110]

Следует отметить, что так как квант магнитного потока очень мал, то можно обнаружить очень небольшие изменения магнитного поля. Для того чтобы использовать двойной контакт для измерения малых изменений напряжения, воспользуемся источником э. д. с. с сопротивлением и направим суммарный ток через катушку, включенную последовательно с сопротивлением. Магнитное поле, создаваемое катушкой, прикладывается к двойному контакту, и в двух сверхпроводниках при использовании быстро меняющегося колеблющегося тока наблюдается с помощью зондов напряжений модуляция критического тока. При использовании этого метода оказывается возможным определять изменения величины 1с порядка 1%. [c.413]

Метод активной синхронизации за счет модуляции оптической длины резонатора (частотная модуляция) по сути также сводится к модуляции потерь для поля моды за счет сдвига ее резонансной кривой при изменении длины резонатора. Активный метод синхронизации применяется для лазеров непрерывного режима генерации. Однако с его по- [c.191]

Значительно большей чувствительностью обладает модуляционный метод, предложенный Г. С. Гореликом и И. И. Бернштейном. Сущность этого метода заключается в том, что каким-либо способом меняют в небольших пределах разность фаз интерферирующих колебаний по периодическому закону и тем самым осуществляют модуляцию потока излучения на выходе интерферометра. При помощи фотоприемника регистрируют поток от небольшой области поля интерференции и производят гармонический анализ электрического сигнала. [c.228]

Стробоскопический метод. Этот метод основан на модуляции объектного поля в процессе записи голограммы с частотой, которая синхронизирована с частотой колебания объекта. Таким образом, реализуется мгновенная запись различных фаз колебаний вибрирующего объекта. По своей сущности стробоскопический метод аналогичен методу двух экспозиций. В сравнении с методом усреднения по времени стробоскопический метод имеет существенное преимущество. Контраст полос слабо зависит от амплитуды колебаний. Это позволяет исследовать с помощью данного метода вибрации с большой амплитудой. [c.326]

Поле в зоне модуляции удовлетворяет системе интегро-дифференциальных уравнений (3.295). Рассмотрим метод решения системы (3.295). Вместо непрерывных [c.208]

Наряду с ракетами и спутниками применяются наземные методы исследования, особенно важные для изучения ниж. части И. методы частичного отражения и перекрёстной модуляции, измерения поглощения кос-мич. радиоизлучения на разных частотах, исследования поля длинных и свер.здлинных радиоволн, а также метод наклонного и возвратно-наклонного зондированпя. Большое значение имеет метод обратного некогерент-ного (томпсоновского) рассеяния, основанный на принципе радиолокации. Этот метод позволяет измерять не только распределение до очень больших высот [c.212]

МЕРЦАНИЙ МЕТОД — метод определения параметров турбулентной среды и источника, к-рым просвечивается среда, на основе измерения статистич. характеристик флуктуаций потока излучения, вызванных модуляцией волн неоднородностями показателя прело.м-ленин. Метод базируется на теории распространения волн в средах с ноказателем ореломления, являющимся случайной ф-цией координат г (см. Распространение радиоволн в случайно неоднородных средах). Развитие возмущений поля волны начинается с развития фазовых возмущений, затем эффекты фокусировки, дифракции и интерференции приводят к появлению флуктуаций потока — мерцаниям (см. Мерцания радиоволн). Различают два режима мерцаний режим слабых и режим сильных (насыщенных) мерцаний. Движение среды относительно луча зрения преобразует пространств, флуктуации во временные. [c.99]

Появление лазеров вызвало интенсивное развитие методов внутр. М, с., основанных на управлении когерентным излучением за счёт изменения параметров лазера. При этом мы. устройства, применяемые как внеш. модуляторы, номещаются внутри оптического резонатора лазера. Используя разл. способы внутр. модуляции, получают любой вид М. с. амплитудный, частотный, фазовый и поляризационный. Частотой излучения лазера управляют, изменяя добротность оптич. резонатора лазера, напр. менян оптич. длину резонатора. С этой целью одно из зеркал резонатора закрепляют либо на магнитострикционном стержне (см. Магнитострикционный преобразователь), либо на пьезоэлементе и изменяют длину резонатора синхронно с модулирующим напряжением. Тот же эффект достигается путём изменения показателя преломления среды, заполняющей резонатор, для чего используется электрооптич. кристалл. Частотную модуляцию излучения лазера можно получить также при наложении на активную среду магн. или электрич. полей (см. Зеемана эффект, Штарка эффект), под действием К-рых происходит расщепление и смещение рабочих уровней атомов, ответственных за генерацию когерентного излучения. Изменяя величину коэф. усиления, получают амплитудную модуляцию излучения лазера. Для этого воздействуют на разность населённостей активной среды, либо изменяя мощность её возбуждения, либо используя всцомогат. возбуждение, приводящее к-перераспределению населённостей. Амплитудная модуляция излучения может быть получена и при помощи модуляции тока разряда газовых или полупроводниковых лазеров, работающих в непрерывном режиме. Одним из методов управления когерентным излучением является модуляция величины обратной связи лазера, т. е. коэф. отражения зеркал резонатора. С этой целью используют резонатор, одно из зеркал к-рого вращается с большой скоростью, и потому условия генерации выполняются лить в короткие промежутки времени. Вместо зеркал часто используют вращающуюся призму полного внутр. отражения. Изменение величины обратной связи можно получить, заменяя одно из зеркал на систему зеркал, образующих интерферометр Фабри — Перо. Коэф. отражения такого резонатора зависит от расстояния между зеркалами, изменяя к-рое можно модулировать интенсивность излучения и получать т. н. гигантские импульсы, мощность излучения в к-рых существенно превосходит мощность непрерывной генерации. Наконец, излучение лазеров также модулируют, изменяя добротность оптич. резонатора путем введения потерь, величина к-рых управляется внеш. сигналом. Для этого используют модуляторы на основе элек- [c.184]

Т к. Цв я 10 , зеемановские расщепления вращат. уровней энергии вырожденных электронных состояний наблюдаются и точно измеряются уже в полях в неск. десятков Гс. Поэтому методы, основанные на эффекте Зеемана (зеемановская модуляция в микроволновой спектроскопии и лазерный магн. резонанс), используются для изучения радикалов и ионов с открытыми электронными оболочками. [c.191]

Для регистрации эффекта О. н. используются разл. методы возбуждение резонансного перехода мощными световыми импульсами с длительностью т < T a включение взаимодействия оптич, излучения со средой при помощи настройки частоты перехода в резонанс с излучением лазеров непрерывного действия за счёт штарковского сдвига (см. Штарка эффект) спектральной линии в импульсном электрич. поле быстрое переключение частоты генерации лазеров. Кроме модуляции резонансного излучения эффект О. н. проявляется в виде колебаний фототока, обусловленного фотовони-зацией возбуждённых атомов, а также в виде колебаний интенсивности излучения, генерируемого за счёт резонансных параметрич, взаимодействий. Своеобразное [c.436]

Регистрация изменений М, вызванных вращением Я. г., также осуществляется с помощью динамич. методов— явления ядерного магнитного резонанса и эффектов модуляции величины поглощения или фарадеевского вращения плоскости поляризации оптич. излучения, проходящего через активную среду Я. г. с прецессирующим магн. моментом М. Процесс прецессии обеспечивается за счёт работы Я. г. в режиме спинового генератора (СГ). Для этого Я. г. помещают в перем. магн. поле Н. , перпендикулярное пост, полю Но. В результате в Я. г, возбуждается Лармора прецессия магн. момента М. В инерц. системе координат вектор М прецессирует вокруг поля Hq с частотой (Bj g = / Яо, где J—магнитомеханическое отношение. Если Я. г. вращается вокруг направления поля Яо с угл. скоростью 0, то частота прецессии ot определяется [c.673]

В равносигна тьных радиомаяках при определении навигационного параметра — курсового угла используют метод сравнения. Антенны таких маяков имеют пересекающиеся диаграммы направленности в горизонтальной плоскости и излучают амплитудно-модулированные колебания с частотой модуляции 90 гц в одном лепестке и 150 гц — ъ другом. Линия курса посадки совпадает с равносигнальным направлением. Поле с частотой "Модуляции 150 гц преобладает справа от линии курса по направлению захода самолета на посадку, а с частотой модуляции 90 гц — слева от линии курса. [c.252]

Курсовой радиомаяк с опорным напряжением работает по методу минимума глубины амплитудной модуляции. Антенная система маяка одновременно формирует в пространстве две диаграммы направленности. Одна диаграмма создается на несущей частоте, промодулированной по амплитуде колебаниями поднесущей частоты 10 кгц. Поднесущая, в свою очередь, имеет частотную модуляцию низкочастотным напряжением частоты 60 гг( (сигнал постоянной фазы). Другая диаграмма создается на боковых частотах спектра высокочастотных колебаний, балансно-модулированных напряжением с частотой 60 гц и имеет в горизонтальной плоскости два главных лепестка с нулевым излучением вдоль линии курса и сдвигом фазы поля в одном лепсстке на 180° относительно фазы в другом. [c.253]

Прежде чем приступить к анализу экспериментальных электрооптических коэффициентов, следует в какой-то степени познакомиться с тем, как эти данные получают. Большинство общепринятых методов определения электрооптических коэффициентов заключается в измерении изменений фазы света и интенсивностей побочных максимумов. Все изменения фазы (7.3.11) и интенсивностей в побочных максимумах (7.3.15) непосредственно связаны с соответствующими электрооптическими коэффициентами. Оба метода измерений обычно реализуются при квазиэлектростатических условиях, т. е. при частотах модуляции, которые много ниже фундаментальных частот акустических резонансов образца. При этих условиях кристалл может свободно деформироваться в соответствии с законами пьезоэлектричества и изменение напряжения в нем отслеживает модуляцию поля. Измеренный таким образом электро-оптический коэффициент обозначают через гТ , (низкочастотный ко- фициент). Если частота действующего электрического поля много выше фундаментальных частот акустических резонансов, то кристалл не деформируется и является фактически сжатым (т. е. находится при постоянном сжатии). В этом случае измеренный электро- [c.284]

Усилитель. Проблемы разработки и расчета характеристик усилителя в лазерной системе, в том числе и на основе газов, возникают прежде всего тогда, когда от этой системы необходимо получить более короткие и более интенсивные импульсы излучения, чем при использовании одного генератора с применением техники модуляции добротности и сихронизации мод. Кроме этого усилитель широко используется в лазерных системах с частотной селекцией и селекцией пространственного распределения поля излучения. В таких системах исходное излучение формируется задаюш,им генератором небольшой мош,ности, в кототом разработанными методами селекции частоты и пространственного распределения сравнительно легко добиваются заданных характеристик излучения. Роль усилителя в такой системе сводится к усилению полученного от задаюш,его генератора излучения до нужного уровня мош,ности, причем искажения, вносимые усилителем во все характеристики исходного сигнала, не должны превышать пределов точности их экспериментальных определений. В этом разделе мы остановимся на анализе и расчете характеристик молекулярных газовых усилителей (МГУ) излучения СОа-лазера. Это опять же связано с широким кругом прикладных задач, в которых используют такие системы, начиная от лазерного термоядерного синтеза и прикладной нелинейной оптики в ИК-Диапазоне и кончая современной технологией. Сразу отметим, что весь алгоритм этого анализа и расчета может быть использован при разработке усилителя на любых газах с возбуждением его активной смеси электрическим разрядом. Обш,ей схемой анализа МГУ можно считатьструктурнуюсхему для лазеров (см, рис. 2.3). Для задач усилителя в ней исключается из описания Резонатор и вместо уравнения, описываюш,его режим генерации, в блоке Mil в полуклассическую модель вместо (2.21, г) и в балансную модель вместо (2.22, в) вводятся уравнения, описываюш,ие прохождение излучения в среде усилителя, а именно [c.77]

На Практике чаще всего используют управление оптической активностью слоя нематического жидкого кристалла с положительной анизотропией диэлектрической Проницаемости, закрученного наподобие холестерической спирали на угол ф=л/2. Это достигается путем задания взаимно ортогональной ориентациа молекул на Прилегающих к разным подложкам участках- с.1 )я жидкого кристалла. В отсутствие электрического ноля слои Вращает 11лоскость поляризации ггроходящего света на 90°. Приложение поля снимает оптическую активность слоя, и за анализатором интенсивность света изменяется от нуля до максимума или наоборот, в зависимости от того, как ориентирован анализатор по отношению к направлению поляризации падающего света —параллельно или ортогонально. Достоинством метода является возможность модуляции белого света. [c.28]

Рассмотрим дополнительно физический аспект модуляция света в ПВМС на основе ПЗС-структуры и возможности метода. Чтобы определить эффективность модуляции, нужно рассмотреть распределение электрического поля в ячейке ПЗС, При [c.123]

Известен метод гологра< рования в многомодовом излучении [115], основанный на точном совмещении пространственной структуры опорного и объектного пучков в плоскости голограммы. Однако возможность практического применения такого метода существенно лимитируется в связи с ограниченностью класса объектов, доступных для гологра< рования, и сложностью настройки. Кроме того, зтот метод не позволяет полностью устранить шумовую пространственную модуляцию изображений, связанную с характерной неоднородностью поля многомодового лазерного пучка. [c.45]

Важную роль как предшественники голографии сыграли работы Брэгга [4—6] в рентгеновской микроскопии и еш,е раньше работы Вольфке [36]. Исследования Брэгга были связаны также с получением полной записи рассеянного волнового поля от объекта, а именно от кристалла, облученного рентгеновскими лучами. Как и голография, метод Брэгга представлял собой двухступенчатый дифракционный процесс. Зафиксированное на фотопленке рентгеновское излучение, рассеянное кристаллом, использовалось затем для восстановления аналогичной волновой картины в видимом свете. Брэгг, как и Вольфке, рассматривал кристалл в виде трехмерной периодической структуры следовательно, если кристалл освещается плоской волной, то в соответствии с правилами брэгговской дифракции в каждый момент времени создается только одна составляющая (пространственная частота) дифрагированной волны. С точки зрения теории это различие непринципиально. В любом случае необходимо записать фазу и амплитуду, однако детекторы позволяют регистрировать лишь амплитуду. В методе Брэгга кристалл выбирался такой симметрии, что дифракционная картина (фурье-образ) в дальнем иоле, создаваемая точками объекта, становилась вещественной, т. е. лишенной какой-либо фазовой модуляции. Кроме того, исследуемые кристаллы имели в центре ячейки тяжелый атом, что обеспечивало смещенный фон, в результате чего фурье-образ представлял собой не только вещественную, но и положительную величину. Таким образом, достаточно было измерить только амплитуды плоских волн, соответствующих фурье-компонентам. Брэггу оставалось лишь, после того как он записал амплитуду волны, сконструировать маску с отверстиями, расположение и размер которых соответствовали бы значениям фурье-компонент. При освещении маски когерентным светом формировалась бы дифракционная картина дальнего поля, представляющая собой изображение атомной структуры кристалла. Эти исследования были продолжены Бюргером [7] и Бёршем [3], выполнившими аналогичные эксперименты в ФРГ. [c.13]

Важнейшими электрооптическими эффектами являются эффекты Поккельса и Керра (линейный и квадратичный). Эффект Керра, как и электрострикция, наблюдается в любых диэлектриках, в то время как эффект Поккельса имеет место только в нецентросимметричных кристаллах (подобно пьезоэффекту). Оба эффекта широко используются в технике оптической связи и приборостроении для модуляции, переключения и других видов электрического управления световыми сигналами. Электрическое поле изменяет также коэффициент отражения света электроотражение — один из современных методов исследования оптических и динамических свойств кристаллов. [c.29]

При решении задач прикладной физики, механики, машиностроения и т. д. важное значение имеет выяснение закономерностей поведения различного рода элементов, совершающих колебательное движение. Весьма широко распространены методы изучения формы колебаний различных пьезоэлектриков, так как ряд свойств пьезоэлементов связан именно с формой колебаний (одно-волновость, глубина модуляции и т.д.). Например, при исполь-. зовании пьезокристаллов в качестве интерференционных и дифракционных модуляторов суш,ественным параметром является светосила модулятора, в значительной степени определяемая характером колебаний пьезоэлемента. Применение пьезокристаллов в ультразвуковьгх методах исследования также обусловливает необходимость экспериментального анализа свойств колеблю-ш,ихся элементов, так как последние играют решаюш,ую роль при формировании структуры возбуждаемого ими ультразвукового поля и определении его интенсивности. [c.208]

Гетеродинный метод детектирования оптической модуляции — это интерференционный или фотосмесительный метод, который возможен при квадратичной характеристике приемника мощности. В оптическом методе гетеродинного детектирования волна сигнала объединяется со второй волной, генерируемой в самом приемнике затем эти волны падают на поверхность фотоприемника, где они интерферируют. Вторую волну называют волной гетеродина в силу очевидной аналогии между этим методом и методом смешения сигналов, широко известным в радиодиапазоне. Если волны сигнала и гетеродина имеют амплитуды и 2 и частоты oi и (02, то на приемнике суммарное поле равно [c.519]

В простейшем варианте метода атмосферный канал включается в одно из плеч трехзеркального внутрирезонаторного лазерного спектрометра. Причем в качестве третьего зеркала могут использоваться не только выносные отражатели, но и естественные топографические светорассеиваюндие объекты или подстилаюндая поверхность [23]. Более сложные варианты предполагают использование амплитудно-фазовой модуляции излучения на выходе зеркала связи (промежуточного зеркала) с последуюш,им синхронным детектированием [19, 29], а также реализацию лазерного внутрирезонаторного гетеродинирования путем свипирования частоты генерации в пределах контура линии усиления лазера с использованием эффекта Доплера при движении отражателя [5, 19, 31], как это осуш,ествляется при обычном (внерезонатор-ном) оптическом смешении опорного и отраженного полей. [c.204]

В отличие от изложенных выше способов селекции поля дефекта и ложных сигналов метод амплитудной модуляции основан на компенсации в одном из каналов не помехи, как это делается в обычных с.хемах, а полезного сигнала. Такой подход объясняется тем, что при дефектоскопии свар<ных соединений мы имеем дело с полем дефекта, обусловливающим сигнал, значительно меньший по хмощности, чем низкочастотные сигналы помех, обусловливае- [c.171]

В работе [91] решена нестационарная задача для режима 5 . = 0 в случае расположения на движуш,ейся поверхности одиночной впадины. Показано значительное отличие распределений давления, толш,ины пленки, а также поля подповерхностных напряжений от стационарных в сходных точках контактной зоны. Решение нестационарной задачи для условий Ф О с одиночной впадиной или с волнистостью только на одной из поверхностей получено в работе [89]. Из решения для условий, когда скорость движения волнистости меньше средней скорости, т.е. 2и2/(и- +и2)<1, следовало, что модуляции толщины пленки распространяются в зоне высокого давления быстрее, чем модуляции давления. Показано, что частота модуляции толщины пленки зависит от скорости волнистой поверхности. В работе [12] представлены результаты решения многосеточным методом аналогичной нестационарной задачи, но с учетом измеренной шероховатости реальной поверхности. Из решения нестационарной задачи о скольжении следует, что шероховатость деформируется в значительно меньшей степени, чем в стационарном случае, и ее профиль близок к первоначальному, вместе с тем амплитуды пульсаций давления в обоих случаях различались незначительно. С уменьшением абсолютных значений снижаются высокочастотные пульсации давления, при з =0 наблюдались только низкочастотные пульсации давления. [c.510]

Модуляция равновесного градиента температуры или ускорения силы тяжести не исчерпывает всех возможностей параметрического воздействия на конвективную устойчивость. Однако эти два способа наиболее естественны с точки зрения реализации в экспери]У1енте. Основное их различие состоит в том, что при вертикальных колебаниях полости с жидкостью модулируемый параметр — ускорение поля тяжести — остается однородным по объему. При колебаниях же температуры на границах равновесный градиент температуры зависит не только от времени, но и от координат модуляции градиента в основном сосредоточены, в приграничном слое, толщина которого уменьшается с увеличением частоты (температурный скин-эф-фект). При низких частотах модуляции градиента это отличие пропадает, и в этом случае оба способа параметрического воз" действия оказываются, в сущности, эквивалентными. Определение границ устойчивости при этом сводится к нахождению периодических решений некоторой стандартной системы обыкновенных дифференциальных уравнений, с периодическими коэффициентами ( 33). Для прямоугольного закона модуляции решение этих уравнений может быть получено точно для синусоидального закона области устойчивости и неустойчивости определяются численно ( 34). В предельном случае вертикальных вибраций высокой частоты простые результаты получаются с помощью метода усреднения ( 35). В 36 рассмотрена [c.237]

Если конвективная система подвергается параметрическому воздействию, то в области неустойчивости в результате развития возмущений устанавливается периодическое во времени конвективное движение конечной амплитуды. Исследование надкритических колебаний возможно лишь на основе полных нелинейных уравнений конвекции. Как и в статическом случае ( 23), здесь весьма эффективным оказывается численный метод сеток. В работах Г. И. Бурдэ стационарные надкритические колебания изучались этим методом на примере области квадратной формы. Решалась плоская нестационарная задача конвекции в квадратной области с теплоизолированными вертикальными границами. Рассмотрены оба вида параметрического воздействия, обсуждавшиеся в предыдущих параграфах,— модуляции поля тяжести и периодические колебания температуры на горизонтальных границах. [c.261]

Генерация затравочного стоксова импульса возможна не в отдельном ВР-генераторе, а в самом усилителе. Для этого на переднем фронте импульса или в его середине необходимо принудительно со.здать на короткое время сдвиг частоты (например, фазовой модуляцией), равный частоте гиперзвука [70]. После отражения от обьнпюго зеркала, установленного в конце нелинейной среды, эта Затравка, полученная по существу беспороговым. методом, усилит Бается в поле импульса накачки, где частота не сдвинута. Если [c.221]

В случае решетки с непрерывным профилем для решения системы (3.111) используются чиетенные методы типа метода Рунге-Кутта. Для бинарной решетки коэффициенты Фурье (3.112), (3.113) не зависят от переменной у. В этом случае поле в зоне модуляции описывается системой дифференциальных уравнений 1-го норя дка с постоянными коэффициентами. Решение системы (3.111) с постоянными коэффициентами для граничного условия Хо, определенного в уравнении (3.116) или (3.139), может быть представлено в компактном матричном виде [c.166]

Развитая в предыдущих разделах теория была основана главным образом на детерминистическом описании электомагнитного поля, т. е. предполагалось, что поле имеет вполне определенное значение даже при конечной ширине частотной полосы излучения (что можно приписать амплитудной или фазовой модуляции). На самом же деле всегда есть некоторая статистическая неопределенность, связанная с любым электромагнитным полем (это касается даже излучения лучших стабилизированных по амплитуде одномодовых лазеров). Эту неопределенность можно учесть, пользуясь методами статистической теории, т. е. определив подходящим образом средние (по времени или ансамблю) от ненаблюдаемых в эксперименте величин. Именно эта программа — определение средних и нахождение их связи с наблюдаемыми — и является содержанием теории когерентности электромагнитного излучения. Почти всюду в этой книге мы будем иметь дело с детерминированными полями (за исключением задач, связанных с некогерентным изображением см. разд. 4.15). Однако читателя необходимо ознакомить с некоторыми основными элементами теории когерентности, чтобы понять, каким образом по одной определенной реализации поля можно вычислить его значимые статистические средние. [c.52]

Основным конструктивным узлом спектрометров ЭПР является резонансная система (колебательный контур или резонатор), в пучность магнитного поля которой помещается исследуемый образец. Резонансная система является нагрузкой генератора работающего в ВЧ или СВЧ-диапазоне. Большинство стандартных ЭПР-спектрометров работает на длине волны 3 см, напряженность магнитного поля при этом достигает величин 3000 Э. В широкодиапазонных спектрометрах (диапазон от 8 мм до 100 см) напряженность поля изменяется в пределах от 12 ООО до 100 Э. Чувствительность спектрометров может быть увеличена за счет метода двойной магнитной модуляции (например, в модели ЭПР-2, выпускаемой СКБ АП АН СССР), когда на медленно меняющееся магнитное поле (магнитная развертка) накладывается высокочастотное синусоидальное магнитное поле с амплитудой, меньшей полуширины линии. В измерительном блоке определяется амплитуда высокочастотного поля. На результаты измерений влияют изменения свойств системы в зависимости от времени и температуры. В современных спектрометрах предусмотрены меры, позволяющие вести непрерывную работу на приборе в течение многих часов, причем температуру растворов можно варьировать от субгелиевых до 500 °С. [c.293]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...