Двойной Pi-метод

Давление 11, 98, 305 Движение жесткое 170 Движения случайные Двойной -метод 393 Двухчастичное взаимодействие 75 Действия сфера 29, 75, 76 [c.488]

Количество паров, которое требуется для поддержания Хв и Хв постоянными, может быть рассчитано двойным методом проб и ошибок, т. е. с учетом как О, так и V. Если Хр увеличилось с 0,5 до [c.361]

На рис. 142 показан чертеж кронштейна, полученного методом литья из стали марки 45 Л-И. Контуры детали на главном виде изображены, как и на чертеже штампованной детали, одной линией, а не двойной, так как уклоны и конусность здесь отчетливо не выявляются. [c.200]

Двойной микроскоп основан на использовании метода светового сечения с его помощью определяют среднюю высоту микронеровностей в пределах 3—70 мк. [c.91]

При обработке шеек коленчатого вала методом суперфиниша абразивные бруски, укрепленные в головке, совершают 450 двойных [c.201]

МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ДВОЙНОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СЛОЯ [c.166]

Схема компенсационной установки для измерения емкости двойного электрического слоя изображена на рис. 117. Метод состоит в сообщении поверхности металла и раствору некоторых малых количеств электричества AQ и —AQ и вычислении изменения потенциала электрода АУ и емкости. Чтобы электричество не тратилось на электрохимические реакции, при работе используется переменный ток высокой частоты. [c.166]

По окончании испытаний в растворах по методам А, AM, В образцы извлекают из реакционного сосуда, промывают, просушивают и загибают на угол 90° С. При загибе образцов в тисках радиус закругления губок или оправки должен быть равен 3 мм при толщине образцов до 1 мм при толщине образцов от 1 до 3 мм он не должен быть более 3-кратной толщины образца, а при толщине образцов свыше 3 мм он должен составлять 10 мм. Качество поверхности изогнутых образцов оценивают с помощью лупы при увеличении 8—10 раз. Наличие поперечных трещин на поверхности изогнутого образца (исключая трещины непосредственно на кромках) является браковочным признаком. Если такие трещины обнаруживают, то испытание повторяют на двойном количестве образцов той же партии. Если и в этом случае даже на одном из образцов при его изгибе образуются поперечные трещины, металл считается не выдержавшим испытание на меж-кристаллитную коррозию. Для литья и металла сварного шва браковочным признаком является наличие поперечных трещин, отличающихся от трещин, обнаруженных на образцах, изогнутых до испытания. Наличие в сварных образцах ножевой коррозии (коррозионного разрушения, напоминающего острый надрез ножом) также является браковочным признаком. [c.452]

Одним из методов получения химически стойких сплавов, как известно, является легирование неустойчивого или малоустойчивого металла атомами более устойчивого металла, например легирование меди золотом или железа никелем и т. п. Рассмотрим процесс коррозии двойного сплава, являющегося гомогенным твердым раствором, в котором один из компонентов вполне стоек в данной агрессивной среде, а другой, наоборот, растворяется в ней. [c.125]

В заключение отметим, что кроме рассмотренных цилиндрических пружин постоянного сечения с пологим наклоном витка существует много других конструкций витых пружин конические, призматические и различные фасонные (параболические, двойные конические, бочкообразные и др.). При этом шаг пружины может быть как постоянным, так и переменным, а сечение витка не только круглой, но и прямоугольной формы. Методы расчета таких пружин достаточно сложны и рассматриваются в специальной литературе. [c.234]

Для определения потенциала поля скорости ср используем метод двойных сферических разложений, предложенный в [35] для расчета поля температур в жидкости вне двух сферических пузырьков газа. С этой целью введем потенциал [c.90]

Решение. Метод плоского движения. В планетарной передаче с двойным приводом, изображенной на рис. а, колесо радиуса г-з, водило Н и колесо радиуса вращаются вокруг неподвижной оси О. Сателлиты радиусов Гз и r совершают плоское движение. Так как угловая скорость 2 задана, то скорость точки А, принадлежащей водилу, равна [c.465]

При проектировании сил Т, и Tj на оси Ау и Az применен метод двойного проектирования. Например, для того чтобы найти Т у, следует (ввиду того, что угол между Ti и осью Ау неизвестен) сначала спроектировать силу Ti на какую- [c.26]

Искусственное двойное лучепреломление используется для изучения деформаций в прозрачных телах. Такой метод исследования деформации, называемый методом фотоупругости, нашел широкое применение в различных областях науки и техники. Одним из важных применений фотоупругости является использование его при исследовании распределения напряжений в оптических стеклах, возникающих при их изготовлении, а также при исследовании остаточных напряжений. [c.285]

Для решения задачи воспользуемся методом Бубнова — Галер-кина. Решение задачи будем искать в виде двойных рядов [c.247]

Большой заслугой Гюйгенса является создание стройной теории прохождения световой волны через кристалл, объясняющей возникновение двойного лучепреломления. Примененный им метод прост и нагляден, а как способ определения направления обыкновенного и необыкновенного лучей сохранил свое значение и по сей день. [c.131]

Майкельсон применил интерферометрическое наблюдение для оценки малых угловых расстояний между двойными звездами, а также для оценки углового диаметра звезд. Метод Майкельсона, равно как и применение его к определению размеров субмикроскопических частичек, будет изложен ниже (см. 45). Наконец, понятно, что интерференционные методы, позволяющие с огромной точностью определять длину волны, могут служить для самых тонких спектроскопических исследований (тонкая структура спектральных линий, исследование формы и ширины спектральных линий, ничтожные изменения в строении спектральных линий). Интерференционные спектроскопы, их достоинства и недостатки будут обсуждены вместе с другими спектральными приборами (дифракционная решетка, призма) в 50. [c.149]

Указанным методом Майкельсон в начале 1920 г. измерил угловое расстояние между компонентами двойной звезды Капеллы, оказавшееся равным 0,042". При помощи этого прибора можно было даже проследить орбитальное движение звезд друг относительно друга, ибо в зависимости от положения звезд должны быть соответствующим образом ориентированы и щели на объективе. [c.196]

Рассмотрим один из методов прикладной голографии, именуемый голографической интерферометрией и нашедший очень широкое распространение. Сущность этого метода в простейшем варианте заключается в следующем. На одну фотопластинку последовательно регистрируются две интерференционные картины, соответствующие двум разным, но мало отличающимся состояниям объекта, например, в процессе деформации. При просвечивании такой двойной голограммы образуются, очевидно, два изображения объекта, измененные относительно друг друга в той же мере, как и объект в двух его состояниях. Восстановленные волны, формирующие эти два изображения, когерентны, интерферируют, и на поверхности изображения наблюдаются полосы, которые и характеризуют изменение состояния объекта. [c.269]

В качестве зонда для прощупывания атома Резерфорд выбрал а-частицы, т. е. быстро летящие ионы гелия с атомным весом 4 и двойным элементарным зарядом, выделяющиеся при радиоактивном распаде сложных атомов. Так как а-частицы представляют собой сравнительно тяжелые частицы (атомный вес их равен 4, т. е. масса 6,65 10 г), летящие с большой скоростью (до /l5 скорости света), то кинетическая энергия отдельных а-частиц весьма значительна. Это делает возможным непосредственное наблюдение на опыте отдельных а-частиц. Действительно, существует несколько методов таких наблюдений. Простейшим из них является метод сцинтилляций, основанный на способности а-частицы при ударе о фосфоресцирующий экран вызывать вспышку, достаточно яркую для наблюдения при помощи лупы. Можно также непосредственно наблюдать путь а-частицы в виде узкого пучка тумана в камере Вильсона. [c.719]

В современных масс-спектрометрах используется метод двойной фокусировки по скоростям и направлениям. Благодаря этому разрешаюш,ая способность таких приборов очень высока [c.31]

Наиболее распространенным методом детектирования быстрых частиц является использование телескопов из нескольких счетчиков С, расположенных на одной оси и включенных в схему совпадений (рис. 28). Как известно, схема совпадений устроена таким образом, что она пропускает на выходное устройство только сумму всех импульсов, одновременно возникающих во всех счетчиках, и не пропускает одиночных, двойных и других импульсов. Такая система позволяет с большой точностью [c.65]

В первом способе масс-спектрометрическим методом (см. т. I, 2) оценивается количество дочернего вещества, образовавшегося в результате двойного р-распада 2р-активных ядер, входящих в состав минералов известного возраста. Очевидно, что этот способ практически применим только при одновременном выполнении следующих условий. [c.238]

Явления, имеющие место при внесении кристаллической пластинки между двумя поляризаторами, носят название хроматической поляризации. Просветление поля или появление интерференционной картины при внесении анизотропного вещества между скрещенными поляризаторами представляет собой очень чувствительный метод обнаружения и исследования двойного лучепреломления. [c.60]

Двойное лучепреломление сохраняется после прекращения действия деформирующей силы, если в теле остаются напряжения. Например, блоки закаленного стекла обнаруживают хорошо выраженную хроматическую поляризацию. Искусственная анизотропия является чувствительным методом наблюдения напряжений, возникающих в прозрачных телах. К сожалению, большинство технически важных материалов (металлы) непрозрачно, поэтому данный метод непосредственно к ним не применим. Однако оптическим методом можно проводить исследования напряжений на моделях из прозрачного изотропного материала (обычно из оргстекла). Выполненная из такого материала модель детали, подлежащей исследованию, ставится под нагрузку, имитирующую ту, которая имеет место в действительности, и по картине между скрещенными поляризаторами изучают возникающие напряжения, их распределение, зависимость от соотношения частей модели и т. д. Этот метод исследования называется методом фотоупругости. [c.64]

Чертежи поверхностей двойной кривизны следует выполнять по ГОСТ 2.419 — 68 Правила выполнения документации при плазовом методе производства . [c.254]

Процесс азотирования очень продолжителен, поэтому было сделано много попыток ускорить егэ. Из этих попыток реальным оказался только метод ступенчатых циклов, за лючающийся в проведении процесса не при одной, а при нескольких темпер турах. Наибольшее распространение в промышленности имеет двойной повишающийся цикл, при котором вначале азотирование проводят при 500—520°0, а затем температуру повышают до 600—620"С. При этом ускоряется процес в 1,5—2 раза и это мало отражается на твердости, которая имеет почти та (ое же высокое значение, как при низкой температуре изотермического цикла. [c.335]

Процесс изготовления шлицев на валах (или других деталях) строганием (шлицестрогание) аналогичен процессу долбления зубьев зубчатых. колес методом копирования с помощью многорезцовой головки. В этом случае все шлицы также обрабатываются одновременно набором профильных резцов, число которых равно числу впадин обрабатываемого шлицевого вала. Обрабатываемая деталь, расположенная вертикально, движется возвратно-поступательно при каждом ходе вверх она входит внутрь неподвижной резцовой головки, в радиальных пазах которой размещены резцы. Все резцы одновременно нарезают шлицы, получая радиальную подачу на двойной ход обрабатываемой детали. При обратном ходе детали (вниз) резцы в головке отходят в радиальном направлении, чтобы избежать трения задних поверхностей резцов об обрабатываемую поверхность. [c.345]

Червячное колесо нарезают червячными фрезами. Червячная фреза для нарезки червячного колеса является копией червяка. Только фреза имеет режущие кромки и наружный диаметр больиге па двойной размер радиального зазора в зацеплении. При нарезании заготовка колеса и фреза совершают такое же взаимное движение, какое имеют червячное колесо и червяк в передаче. Такой метод нарезания колеса автоматически обеспечивает сопряженность профилей червяка и червячного колеса и в то же время обусловливает необходимость введения стандарта на основные геометрические параметры червяка (а, т, q, Zi, h , с ) для того, чтобы иметь ограниченный ряд стандартного инструмента. [c.174]

Внутреннее шлифование может осуш,ествляться методом про-дольно и поперечной подач. При шлифовании с продольной подачей величина подачи не должна превышать 3/4 высоты круга за одна оборот детали. Подача в направлении, перпендикулярном обрабатрлваемой поверхности, при этом осуидествляется непрерывно илп прерывисто на каждый одинарный или двойной ход стола. [c.159]

Проекторы предназначены для контроля н измерения деталей, спроецированных в увеличенном масштабе на экран. Проекторы могут работать в проходящем и отраженном свете. Их используют главным образом для контроля изделий со сложным профилем шаблонов, плат, лекал, зубчатых колес, HiTaMnoBaHHbix детален, фасонных резцов и т. п. Свет от источника (рис. 5.17, а и б) через конденсор 1 параллельным пучком направляется на проверяемую деталь 2. Объективом 3 действительное обратное изображение детали, через систему зеркал 5—6 проецируется на экран 4. Контролируемое изображение детали на экране можно проверять различными методами, например сравнения с вычерченным в увеличенном масштабе номинальным контуром с двойным контуром, вычерченным в соответст-вки с 1]редельными положениями годного профтля показаний от-счетных устройств проектора с помощью масштабных линеек совмещением противоположных контуров детали. В соответствии с ГОСТ 19795—82 выпускают проекторы типа ПИ с экраном диаметром до 250 мм 250—400 мм и свыше 400 мм. Часовой проектор ЧП (рис. 5.17, б) состоит из осветителя I, сменных конденсоров 3, стола 5 с продольным и поперечным винтами 4 п 9 (цена деления [c.129]

Его фрактальная размерность равна 1,66 0,03. Фрактальную размерность таких структур, как правило, определяют путем получения фотофафий, выполненных с различным увеличением, с последующим нанесением на фотографии квадратной сетки. Далее подсчитывается число квадратов, в которое попали точки объекта. Фрактальная размерность определяется по величине тангенса угла накгюна прямой, построенной в двойных логарифмических координатах число отмеченных квадратов - коэффициент увеличения. Этот метод применим к квазиодномерным объектам. Дчя квазидвумерных струюур используют связь между массой М фрактала и радиусом R окружности, опоясывающей фрактал [c.87]

Я перенес главу, посвященную основным фотометрическим понятиям, во введение, желая использовать правильную терминологию уже при описании явлений интерференции и оставив в отделе лучевой оптики лишь вопросы, связанные с ролью оптических инструментов при преобразовании светового потока. Заново написаны многие страницы, посвященные интерференции, в изложении которой и во втором переработанном издании осталось много неудовлетворительного. Я постарался сгруппировать вопросы кристаллооптики в отделе VIII, хотя и не счел возможным полностью отказаться от изложения некоторых вопросов поляризации при двойном лучепреломлении в отделе VI, ибо основные фактические сведения по поляризации мне были необходимы при изложении вопросов прохождения света через границу двух сред, с которых мне казалось естественным начать ту часть курса, где проблема взаимодействия света и вещества начинает выдвигаться на первый план. Я переработал изложение астрономических методов определения скорости света и добавил некоторые новые сведения о последних лабораторных определениях этой величины. Гораздо больше внимания уделено аберрации света. Рассмотрены рефлекторы и менисковые системы Д. Д. Максутова. Значительным изменениям подверглось изложение вопроса о разрешающей способности микроскопа я постарался отчетливее представить проблему о самосветя-щихся и освещенных объектах. Точно так же значительно подробнее разъяснен вопрос о фазовой микроскопии, приобретший значительную актуальность за последние годы. [c.11]

Рис. 27.3. Схема интерференционного метода наблюдения ра.зности (п — п) или (/ о — п) при двойном лучепреломлении.

На кривой дисперсии (рис. 31.7) соотношения представлены в преувеличенном масштабе. Кривая / показывает ход показателя преломления в магнитном поле для луча, поляризованного по ле-врму кругу, а кривая II — для луча, поляризованного по правому кругу. Из чертежа ясно, что для какой-нибудь длины волны X в магнитном поле появляется круговое двойное преломление. Эффект тем значительнее, чем ближе X и Х . Действительно, вблизи собственных линий абсорбции эффект вращения особенно велик. Но даже и очень далеко от собственных частот явление легко наблюдается благодаря чрезвычайно большой чувствительности метода вращения плоскости поляризации (см. 168). [c.630]

Эффект Зеемана лежит в основе объяснения двух главных магнитооптических явлений — магнитного вращения плоскости поляризации (эффект Фарадея) и магнитного двойного лучепреломления (эффект Коттона — Мутона). Изучение эффекта Зеемана на спектральных линиях атомов в видимой и ультрафиолетовой областях сыграло большую роль в развитии учения о строении атома, особенно в период, последовавший за созданием теории Бора. В настоящее время исследование эффекта Зеемана на спектральных линиях атомов представляет собой один из важных методов определения характеристик уровней энергии атомов и значительно облегчает интерпретацию сложных атомных спектров. Изучение зеема-новского расщепления спектральных линий позволяет также получать ценные сведения о магнитных полях, в источниках света, например при исследовании Солнца. [c.102]

Описываемый метод применим в основном лишь к одноосным кристаллам (для стекол он не очень удобен, так как в этом случае окрун ение магнитных ионов не вполне определено). В других кристаллах двойное лучепреломление сильно мешает измерениям вращения плоскости поляризации, и рассматриваемый метод можно применять только в случае слабого двойного лучепреломления. При этом линейно поляризованный свет трансформируется в эллиптически поляризованный пучок. Когда эллиптичность не слишком [c.398]

Описание метода определения величины вращения в нанравлении, перпендикулярном оптической оси для одноосных кристаллов с малым двойным лучепреломлением дано Беккерелем [56—58[, использовавшим этот метод для исследования тпзоиита. В табл. 6 приводятся данные для отношения V a [c.399]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...