Апертура пучка

Из изложенного ясно, что при соблюдении условия синусов точки, лежащие вблизи оси, изображаются широкими пучками резко, т. е. у системы устранена аберрация комы ( 82). При этом следует подчеркнуть, что угол может принимать большие значения, т. е. апертура пучка не ограничена, но величина предполагается малой. [c.312]

Для некоторых участков видимого спектра и необыкновенный луч обнаруживает заметное поглощение, и поэтому турмалин при выбранной толщине оказывается окрашенным турмалин является не только поляризатором, но и светофильтром, практически пропускающим зелено-желтую область видимого спектра. Это обстоятельство является, конечно, крупным недостатком турмалина как поляризующего приспособления, но, с другой стороны, допустимая апертура пучка падающих на него лучей весьма значительна, что иногда играет важную роль. [c.387]

Следует отметить, что чем больше относительное отверстие, тем меньше относительное виньетирование, вызванное тем обстоятельством, что приемник изображения закрывает среднюю часть апертуры пучков, попадающих иа систему. [c.382]

Из ограниченности возможностей оптических систем вытекает существенное значение энергетического строения излучаемых источником пучков. Только такие пучки могут быть использованы, у которых на каком-то сечении освещенность близка к постоянной в противоположном случае приходится для восстановления равномерности прибегать к приемам, ведущим всегда к потере энергии (ограничение апертуры пучков, применение рассеивателей н т. д.). [c.462]

Для изогнутого волокна с радиусом кривизны R апертура пучков, проходящих через волокно без виньетирования, опреде- [c.571]

Если апертура падающего на волоконный узел пучка больше, чем предельная апертура пучка, пропускаемого узлом, происходит уменьшение светового потока, падающего на приемник, но разрешающая способность системы не изменяется. [c.573]

Крупный шаг в развитии изображающей рентгеновской оптики был сделан в 1952 г. Вольтером [86], который предложил использовать осесимметричные, глубоко асферические зеркала о поверхностями вращения второго порядка. Такие зеркала не имеют астигматизма и сферической аберрации, апертура пучка может быть значительно большей, чем в системах скрещенных зеркал. Вольтер показал, что кома первого порядка, препятствующая построению изображений с помощью одиночных осесимметричных зеркал скользящего падения, значительно снижается в системах с четным числом отражений. К ним относятся системы параболоид—гиперболоид , гиперболоид—эллипсоид , параболоид—эллипсоид и ряд других, которые будут подробно рассмотрены ниже. Системы, построенные на идеях Вольтера, в настоящее время находят широкое применение в различных рентгеновских приборах. [c.158]

В приведенных выше выражениях мы не учитывали аберрации решетки в сходящемся пучке, рассмотренные в предыдущем разделе. Соотношение между аберрациями собственно решетки и аберрациями, определяемыми разрешением оптики телескопа и детектора, зависит от апертуры пучка, освещающего решетку, углового разрешения телескопа и качества коррекции решетки. Оценки показывают, что при апертуре пучка А 1/10, угловом разрешении телескопа около В и использовании в сходящемся пучке решеток с коррекцией аберраций, описанных в предыдущем разделе, спектральное разрешение определяется характеристиками оптики телескопа. [c.281]

Образование области локализации интерференционной картины можно рассмотреть с помощью схемы интерференционного поля, изображенного на рис. 4.2, а. Предположим, что в точке А пересекаются два луча, образованные из одного луча при амплитудном делении первичного пучка, и что разность хода между ними равна нулю. Тогда вдоль линии пересечения фронтов, перпендикулярной к плоскости чертежа и проходящей через точку А, образуется полоса нулевого порядка интерференции, а плоскость р — р, являющаяся биссектрисой создаваемого волновыми фронтами двугранного угла е, будет плоскостью локализации интерференционной картины. В этой плоскости контраст картины максимален. По мере удаления от плоскости локализации и от линии пересечения фронтов, проходящей через точку А, происходит падение интерференционного контраста полос. Это происходит из-за увеличения порядка интерференции, поперечного смещения сечений пучков относительно друг друга и вследствие наложения интерференционных картин, образуемых параллельными лучами, распространяющимися по различным направлениям в пределах угловой апертуры пучков. [c.178]

Апертура пучка, мм Допустимая нестабильность, % 20...60 20...80 10...30 [c.396]

Здесь Ro — начальный радиус, F — фокусное расстояние передающей апертуры пучка. [c.62]

Площадь исследуемой зоны объекта 12 X 16 мм. Линейные размеры объекта — не более 30 X 30 мм. Предусмотрена возможность работы в режиме однократного внешнего отражения при переменных углах падения и числовой апертуре пучка 0,2. Пропускание приставки 50 %. [c.208]

Можно было бы предположить, что можно устранить геометрические аберрации, уменьшая сечение пучка. Однако этот подход невозможно реализовать практически, так как, заключая пучок в очень узкую область вокруг оси, мы также ограничивали бы ток пучка. Кроме того, уменьшение апертуры пучка вызывает увеличение ошибки, обусловленной дифракцией. Поскольку для большинства приложений необходим значительный ток пучка, нам придется разобраться в природе геометрических аберраций и научиться с ними бороться (причины, по которым мы говорим об аберрациях во множественном числе, будут объяснены ниже). [c.247]

Вообще говоря, различная ориентация центрального луча пучка не позволяет свести до нуля астигматическую разность пучка. Исключения возможны лишь для некоторых частных поверхностей, создаваемых полем предмета. При этом резкое изображение определенных точек можно получить путем ограничения апертуры пучка лучей. Однако в некоторых специальных системах существуют поверхности, идеальное изображение которых можно получить и с помощью широкоугольных лучей. Например, для однородной сферы радиусом г с показателем преломления я, помещенной в среду с показателем пре- [c.132]

В соответствии с выражением (7.7.5) чем уже перетяжка, тем больше апертура пучка это согласуется с представлением о том, что поле в дальней зоне является фурье-образом поля в перетяжке. Здесь можно провести аналогию с ситуацией, которая имеет место в случае щелевой антенны для главного лепестка ее диаграммы излучения. [c.502]

Объектив 2 создает изображение объекта 1 на матовом стекле 3. Стекло рассеивает свет, увеличивая апертуру пучка, попадающего в дополнительный объектив 4, который дает вторичное изображение в фокальной плоскости окуляра 5. [c.18]

Величина критического напряжения (IV.38) зависит от параметров конденсатора ячейки Керра и вещества, заполняющего конденсатор. Для уменьшения критического напряжения нужно уменьшать расстояние между пластинами конденсатора и увеличивать их длину. Однако это приводит к уменьшению апертуры пучка лучей, проходящих между пластинами. Поэтому наиболее целесообразно использовать вещество с большой постоянной Керра, например нитробензол. [c.238]

Основным принципом передачи изображений в радиационно-телевизионных установках является поэлементная передача значений интенсивности ионизирующего излучения, осуществляемая путем развертки пространственно-временного поля контролируемого объекта на передающей стороне и свертки изображения на приемной стороне. В рассматриваемых установках развертка изображения производится пучком ионизирующего излучения или электронным пучком. Пучок чаше всего имеет круглое сечение, его диаметр 5] называют апертурой пучка. На приемной стороне во вторичном преобразователе синтез изображения осуществляется электронным пучком, имеющим апертуру 62. Обычно 5г < 5ь так как значительное уменьшение 5] понижает чувствительность системы. [c.91]

Если апертура пучка так велика, что иараксиальносгь нарушается, тогда вместо теоремы Лагранжа — Гельмгольца пользуются условием синусов Аббе [c.177]

Сопряженные плоскости называются главными, если для них V = 1, т. е. изображение получается прямым и в натуральную величину объекта. Нетрудно видеть, что для с( )ерической поверхности главные плоскости совпадают между собой и представлены плоскостью, касательной к сфере в точке 5, т. е. Дх = Дз =-- О (см. упражнение 100). В соответствии с этим и ()юкусные расстояния сферической поверхности следует считать расстояниями от главных плоскостей до ( х)кусов. На рис. 12.13 изображены также углы Дх и Дз, определяющие максимальное раскрытие (апертуру) пучков, падающих на поверхность 5 (угол 2дх), и сопряженных им изображающих пучков (угол 2дз). Предельное значение этих углов определяется требованием соблюдения условий параксиальности. [c.286]

ДИАФРАГМА в электронной и ионной оптике — применяется для ограничения поперечного сечения и изменения угла раствора (апертуры) пучка заряж. частиц. Круглая Д. (обычно отверстие в проводящей пластинке), имеющая электрич. потенциал и помещённая во внеш. электрич. поле, представляет собой простейшую осесимметричную электростатич. линзу (см. Электронные линзы). Если напряжённости поля по разные стороны пластинки вдали от отверстия равны соответственно и "2, то фокусное расстояние такой линзы / приближённо равно /==4ф/(Ej—A j), где ф — потенциал в центре Д. В зависимости от знака / Д- играет роль собирающей или рассеивающей линзы. Комбинации Д., имеющих разл. потенциалы, также являются электростатич. линзами. См, также Электронная и ионная оптика. [c.615]

ЗЕРКАЛЬНОЕ ОТРАЖЕНИЕ —направленное (или ре-гу.иярное) отражение светового луча от гладкой плоской поверхности, при к-ром выполняются осн. законы отражения света. 3. о. происходит, если высота h ми-кpoпopoвiю тeй отражающей поверхности намного меньше длины световой волны Я,. Практически весь свет (>99%) отражается зеркально, если А,<0,01 Я. Поверхность, отражающая свет диффузно в видимой области спектра, в более длинноволновой ИК-области отражает зеркально. Спектральный состав, интенсивность и фаза эл.-магн. волны зеркально отражённого света зависят от условий освещения (угол падения, апертура пучка и др.), оптич. свойств вещества и состояния отражающей поверхности. [c.85]

На основании изучения хода лучей через большое число отечественных и зарубежных объективов легко прийти к заключению, что апертура пучков, попадающих иа систему склеенных компонентов, не превышает 0,2—0,3. Фронтальные или псевдофрон-тальиые лнизы увеличивают апертуру до необходимой величины. Отсюда следует, что объективы средних и больших увеличений могут быть разбиты на две части. Первая принимает иа себя пучки [c.399]

Образование изображений волоконными узлами происходит путем переноса малых участков картины объекта с помощью волоконных элементов. Качество изображений, оцениваемое разрешающей способностью или частотно-коитрастиой характеристикой (передаточной функцией), зависит от размеров и упаковки волокон апертура пучков, падающих на переднюю поверхность и выходящих из задней поверхности волокон, имеет лишь второстепенную роль. Теоретический расчет, подтверждаемый экспериментом, показывает, что разрешающая способность, одениЬае-мая в линиях на миллиметрах, определяется числом, равным половине числа волокон, уменьшающихся на длину в 1 мм. Од-иако при этом контраст далек от единицы по причине рассеянного света, вызываемого нерабочей частью узла (10—20%), диффрак-цией на торцах, технологическими дефектами, неполным внутренним отражением стенок,волокон и т. д. При диаметрах волокон, меньших нескольких длин волн основного (среднего) света, контраст приближается к нулю. [c.573]

Рис. 5.9. Системы для изменения угловой апертуры пучка и углового масштаба изобра акения (П — параболоид, Г — гиперболоид, Э — эллипсоид)

Вместо параметра А чаще используется х = РЛ 1 — /Рр1 — отношение физической длины системы к эффективному фокусному расстоянию (иногда в литературе х называют коэффициентом складываемости). Поскольку наиболее часто системы второго рода применяются совместно со спектрометрами, разрешение которых зависит от угловой апертуры пучка, в качестве одной из основных характеристик системы используется обратная числовая апертура N — [c.176]

Особенностью прохождения света через пластинку ортоферрита является резкая зависимость регистрируемого за анализатором оптического контраста от угловой апертуры пучка, обуслорлепная двулучепреломлением материала. Действительно, для произвольного направления распространения света формула пропускания света анализатором (2.20) содержит 0F=2f/A sin (Д /2), где Ап— двупреломление материала. Тогда при изменении направления считывающего светового пучка по отношению к оптической оси на 5° контраст падает от 350 почти до О (рис. 2.15). Это накладывает определенные требования на параллельность применяемых световых пучков. [c.81]

ГОДоМ па длине волны Х, = б328А Не — Ке-лазера. Спонтанное двупреломление кристаллов компенсировалось кварцевым клином. В противоположность предыдущим работам использовались относительно массивные образцы (3X3X3-J-4 и 7Х7ХЗ-5-4 мм ). Кристаллы не имели полос роста, градиенты показателей преломления По и Пе не превышали 1 10 ° и 5 10 ° см соответственно. Остаточный световой поток при поляризаторах, скрещенных под углом 45° к оптической оси кристалла, составлял 2 — 4%, если апертура пучка была пе более 4X4 мм . Грани кристаллических пластин были ориентированы перпендикулярно направлениям [100], [010], [001] с точностью 2 . Свет распространялся вдоль направлений [010] или [100], электрическое поле прикладывалось вдоль оси с. Модуляция производилась до частоты 2 10 Гц. В связи с тем, что в кристаллах НБС указанного состава при температуре 35 — 45 С доменная структура становится неустойчивой, полуволновое напряжение возрастало до 70 В. Однако приложение к кристаллу смещающего напряжения 500 В/см уменьшало полуволновое напряжение до 50 В. Глубина модуляции при апертуре пучка 4X4 мм составляла 98%. Полученные данные показывают, что для кристаллов приведенных выше размеров рабочая частота модуляции не превышает 2 10 Гц. [c.124]

Очевидно, что дифракция более важна для низкоэнергетич-ных электронов и особенно для очень маленьких апертур пучка. Для того чтобы увеличить ток зонда, обычно стараются использовать настолько большие апертуры, насколько это возможно. По мере увеличения апертуры дифракция становится все менее и менее значительной, но в то же время сферическая аберрация становится доминирующей. При малых энергиях и относительно малых апертурах обычно нельзя пренебрегать аксиальной хроматической аберрацией, таким образом, дифракция неотделима от этой аберрации. Конкуренция между различными типами аберраций будет рассмотрена в разд. 5.7. Тем не менее должно быть очевидным, что, так как дифракцию нельзя устранить или исправить, очень важно иметь линзы с минимально возможными коэффициентами геометрической и хроматической аберраций. Тщательно сконструированные линзы с незначительными аберрациями позволяют работать при больших апертурах, для которых дифракционный диск пренебрежимо мал. [c.334]

Д = 0,16 сосуществуют М. разных типов М. по схеме Линника (иногда с переменным увеличением) для исследования реплик, с помощью к-рых можно контролировать внутренние и другие трудно доступные участки иоверхности,одпо-объективныо упрощенные М., а также М. с использованием многолучевой интерференции. Для получения правильных результатов измерения глубины узких штрихов необходимо, чтобы разрешающая сила и увеличение прибора были достаточными для раздельного рассмотрения граней штрихов. При особо точных измерениях высоты сту пенек следует учитывать зависимость цены интерференционной полосы от апертуры пучка лучой, падающего на исследуемую поверхность. [c.230]

Погрешность определения Е ] данным методом составляет 15—20%. Ошибки появляются из-за неодинаковости оптических путей в обоих каналах, неточного определения температуры образцов и глобара, некоторого отличия в апертурах пучков. [c.127]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...