Угол падения луча

Полутень — умеренно освещенная часть поверхности. Переход от света к полутени на гранных поверхностях может быть резким, а на кривых — всегда постепенный. Последнее объясняется тем, что угол падения лучей света на соседние части изменяется также постепенно. [c.171]

Направим теперь на голограмму (синусоидальную дифракционную решетку) один из пучков, принимавших участие в ее образовании, например пучок /. Если угол падения луча на дифракционную решетку обозначить через J, а угол дифракции — через р, то, как известно, они связаны соотношением [c.207]

I — источник света 2 — конденсатор 3 — щель 4 — объектив коллиматора S — зеркало 6 — светоделительная призма 7, 8, II, 12 — объективы 9 — контролируемая поверхность 10 — зеркало 13 — светоделительная призма 14 — зеркало 75 — объектив трубы 16, 17 — цилиндрическая линза н окуляр объектива трубы (р — угол падения луча на объект [c.69]

Большой интерес представляют методы, не требующие снятия слоев. В этом случае для получения данных о структуре металла на разной глубине можно изменять длину волны рентгеновского излучения, меняя тем самым его проникающую способность, или изменять угол падения лучей. Эффективная глубина проникновения лучей в различные металлы при применений разных излучений зависит от коэффициента поглощения рентгеновских лучей в веществе, его плотности и длины волны излучения. [c.37]

Кювета с образцом устанавливается в специальном держателе гониометра. С включением аппарата образец и счетчик начинают поворачиваться с заданными скоростями в горизонтальной плоскости вокруг общей вертикальной оси гониометра угол падения лучей на плоскость образца постепенно возрастает. При повороте образца часть отражающих плоскостей кристаллитов вещества проходит через положение, при котором выполняется условие Вульфа — Брэгга. Интенсивность дифрагированных лучей последовательно под разными, все увеличивающимися углами измеряется детектором излучения (сцинтилляционным счетчиком). [c.52]

В том случае если угол падения лучей отличается от прямого, вводится поправочный коэффициент К, учитывающий увеличение потерь на отражение от стекла и поверхности, поглощающей солнечную радиацию. На рис. 9.8 приведены графики = = /(1 / os 0 - 1) для коллекторов с однослойным и двухслойным остеклением [38]. Оптический КПД с учетом угла падения лучей, отличного от прямого, [c.488]

Если глубина слоя с изменяющейся структурой материала (наклеп при поверхностной обработке, химико-термическая обработка и т. д.) существенно превосходит толщину отражающего слоя, то проводят послойный анализ, при этом удаление слоев не должно заметно нарушать структуру. Изменяя жесткость излучения (величины ц), а также угол падения лучей на образец (угол а), можно изменять [c.123]

Ограничение на диаметр пучка d сверху вытекает из самой геометрической оптики угол падения лучей на поверхность должен быть меньше критического угла ПВО [c.132]

Как уже отмечалось, асферические решетки и решетки о переменным шагом штрихов могут иметь значительно большую апертуру (до 1/10—-1/20), которая ограничивается ростом других типов аберраций — комы и кривизны поля. В п. 7.1.2 было показано, что эффективность эшелетта максимальна в положении блеска, т. е. при равенстве углов падения и дифракции по отношению к отражающей грани штриха. Нарезка вогнутых решеток обычно выполняется так, что угол наклона граней штрихов постоянен по отношению к хорде, стягивающей края решетки. При выполнении условия блеска для центра решетки оно нарушается для ее краев, поэтому эффективность дифракции от центра к краям заметно снижается (особенно для решеток о увеличенной апертурой) [24, 28, 77]. Для устранения этого дефекта и повышения полезной апертуры решетка по ширине разделяется на несколько участков, и в пределах каждого участка угол наклона граней при нарезке подстраивается под средний угол падения лучей. Такой прием широко используется, например, в УФ-области (Я < 250 нм), где среднюю эффективность сферической решетки в пределах апертуры около 1/16 удается увеличить в 1,1—1,7 раза [33]. Поскольку отражение от отдельных участков некогерентно, спектральное разрешение такой решетки определяется не полной шириной, а шириной отдельного участка. [c.269]

При контроле стыковых сварных соединений ультразвук вводят в металл с помощью наклонных преобразователей (искателей) (табл. 5.14). Различают прозвучивание прямым, однократно и многократно отраженным лучом (рис. 5.17). Тип преобразователя и гго параметры (угол наклона, размеры излучателя, частота, способ прозвучивания и перемещения преобразователя) определяются типом и размерами сварного соединения, а также характеристиками дефектов, подлежащих выявлению. Угол ввода должен быть таким, чтобы свести к минимуму расстояние от преобразователя до сварного шва. В то же время угол падения луча на плоскость дефекта (для обнаружения трещин, непроваров) должен быть близок к нормальному. Многократно отраженный луч используют при контроле сварных соединений трубных систем котлов с толщиной стенки 3—5 мм. При диаметре труб более 200 мм применяют преобразователи с плоской поверхностью. При этом радиус кривизны [c.181]

Излучение лазеров 1 и 2, проходя через спектральные призмы 5, выделяющие излучение необходимых для проекции длин волн, отклоняется поворотными зеркалами 4 и падает на линзы 6, направляющие восстанавливающие пучки света в кадровое окно кинопроектора, где расположен голографический кинокадр 7. Угол падения лучей света восстанавливающих пучков в центре кадра равен 56°. Перед линзами установлены прозрачные диски 5 со слегка матированной поверхностью, вращающиеся со скоростью 3000 об/мин, для разрушения спекл-структуры в воспроизводимом изображении. Вблизи плоскости кинокадра восстанавливается объемное изображение, которое переносится проекционным объективом 6 (соответствует позиции / на рис. 110 и 111) на голографический экран. [c.169]

Сопоставляя формулы (19.9) и (19.8) для случая, когда показатель преломления последующей среды больше показателя преломления предыдущей среды п > п — преломление из воздуха в стекло), и, следовательно, уголе меньше, чем угол падения луча е, найдем [c.353]

Ф — угол падения лучей на пластины интерферометра d — толщина слоя плазмы. [c.185]

N1 — нормаль к поверхности решетки N2 — нормаль к грани решетки а — угол падения лучей Ф—угол дифракции [c.41]

Длина большой оси рабочего участка отражающей плоскости, для которой определяется допуск N, равна 1 = Im os i, где i -—угол падения луча на эту плоскость. Длина малой оси рабочего участка равна 1м = d, поэтому отношение осей [c.412]

Материал Угол падения луча ф, град. Температура излучателя, °С Отражательная способность г [c.93]

Угол между направлением лучей различных длин волн (угловая дисперсия Аф/AJi) определяется числом призм, их материалом и величиной преломляющих углов. Некоторые из призм описаны в 86. Дисперсия в призме зависит также от ее положения в параллельном пучке лучей. Дисперсия сильно возрастает, если угол падения лучей становится меньше угла, соответствующего положению минимального отклонения (см. 86). Однако при таком положении ширина выходящего пучка становится значительно меньше ширины падающего, и призма действует как телескопическая система, дающая увеличение (см. упражнение 111). Это обстоятельство невыгодно отзывается на светосиле спектрального аппарата. Впрочем, благодаря значительному увеличению угловой дисперсии при такой установке призм можно применять более короткофокусные и, следовательно, более светосильные камерные объективы. Поэтому такие системы иногда применяются (В. М. Чула-новский), хотя в большинстве спектрографов призму располагают в минимуме отклонения. Расстояние на пластинке между линиями разной длины волны (линейная дисперсия XIIАХ) зависит от фокусного расстояния f объектива камеры [c.339]

Радиоволновыми толщиномерами можно контролировать толщину диэлектрического слоя на проводящем и диэлектрическом основании, а также толщину тонкой металлической фольги. С помощью ра-диоволновьгх толщиномеров реализуют различные способы контроля, наиболее распространенные из них амплитудный, лучевой, амплитудно-фазовый и др. Амплитудный способ контроля основан на измерении ослабления прошедшей через контролируемое изделие электромагнитной волны СВЧ-диапазо-на. Лучевой способ связан с определением расстояния между опорной точкой отсчета и точкой, соответствующей максимальной интенсивности луча, прошедшего через контролируемое изделие. Угол падения луча должен быть не более 35°. Этот способ контроля применен в радиоволновом толщиномере СТ-ПЛ, предназначенном для контроля диэлектрических изделий (например, бетона, кирпича) толщиной 70—250 мм с погрешностью 10%. [c.380]

Соединяя неравенства (45) и (53), приходим к следуюгцему окончательному результату регаение интегрального уравнения рассеяния света в случае закона Ломмеля-Зеелигера заключено между регаениями того же уравнения для от-эажаюгцей поверхности с коэффициентом яркости Rm = с se в", где в" — угол падения лучей, и для отражаюгцей поверхности с альбедо [c.438]

Рассмотрение, проведенное выше, предполагает, что периодическая слоистая среда является полу бесконечной. Для локализованного распространения без потерь необходимо, чтобы коэффициент отражения на границе между волноводным слоем и периодической средой был равен единице, что возможно только в бесконечной структуре. На практике число периодов всегда конечное. Поэтому коэффициент отражения меньше единицы. Таким образом, в волноводе имеет место небольшая утечка энергии. Коэффициент затухания а можно грубо Оценить следующим образом. Пусть R — коэффициент отражения света, обусловленный брэгговским отражением на границе х = О 1). Если — угол падения луча в волноводном слое, то луч перемещается на расстояние 2/tg0 при каждом возвращении назад к той же границе. Таким образом, на участке длиной L число обратных возвращений равно N - L/(2tig д ). При этом коэффициент затухания дается выражением [c.520]

Дифракционные решетки отразят фронт волны точно вдоль направления оптической оси и будут действовать как плоские зеркала, находящиеся на расстоянии /г—h. Разность хода между лучами будет Ао = 2(/2—h). До сих пор мы рассматривали лишь пучки, идущие вдоль оптической оси. Если же входная диафрагма имеет конечные размеры, то в приборе могут рас-, пространяться и пучки, идущие под некоторым углом к ней. Найдем разность хода этих пучков (рис. 58). Обозначим угол падения луча че рез г, тогда А(/)=2(/г—/i) iosi. Между осевым и наклонными пучками возникает дополнительная разность хода [c.67]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...