Полосы равного наклона

Конкретно свет от источника S, расположенного в фокусе линзы Л, направляется на поверхность полупрозрачной пластинки СС. Отраженный от этой пластинки световой пучок через линзу л направляется на поверхность воздушного зазора. Отраженные лучи, налагаясь, дают на экране F, расположенном в фокальной плоскости линзы, интерференционную картину. Если исследуемая поверхность такая же гладкая, как и поверхность эталона, то в зависимости от относительного положения этих пластин будет наблюдаться интерференция полос равного наклона [c.104]

Лучи 1 W 2 после отражении от зеркал 3i и 3.2 выходят из пластинки Пу и направляются в зрительную трубу 7. Как видно из рис. 5.19, луч 1 проходит через пластинку III один раз, в то время как луч 2 проходит через нее три раза. С целью создания идентичных условий для обоих лучей на пути луча / помещают пластинку Яа, имеющую такую же толщину, как и пластинка Я]. От воздушной прослойки, образованной зеркалом 3i и изображением 3i зеркала З. , в пластинке Я наблюдается интерференционная картина. В зависимости от относительного положения 3i и З.2 будет наблюдаться интерференция полос равного наклона или равной толщины. Если 3 строго перпендикулярно 3i, то 3 и З-2 будут строго параллельны. В этом случае будут наблюдаться [c.112]

Наибольший интерес представляют собой случаи локализации интерференционных полос на поверхности какой-либо пластинки, используемой для создания разности хода (полосы равной толщины), и локализация их в бесконечности (полосы равного наклона). Удобно начать изучение этих явлений с исследования интерференции в тонких пластинах при освещении протяженными источниками света, которую часто называют цветами тонких пластин. Все наблюдали чрезвычайно красивые цвета тонких пленок (например, пленок нефти на поверхности воды) при освещении их солнечным светом. Рассмотрим физику этих явлений, так как она окажется очень полезной для понимания более сложных процессов, происходящих в интерферометрах, интерференционных фильтрах и других оптических устройствах. [c.210]

Полосы равного наклона. Рассмотрим схему наблюдения интерференционных полос, локализованных в бесконечности. Линза, с помощью которой эти полосы проецируются на экран, должна быть установлена так, чтобы ее главная фокальная плоскость совпадала с плоскостью экрана. Можно также рассматривать интерференционную картину в подзорную трубу или глазом, аккомодированным на бесконечность. Схема возникновения полос равного наклона представлена на рис. 5.31. Все лучи, [c.216]

Полосы равного наклона [c.128]

На экран, расположенный главной фокальной плоскости линзы L, проектируются полосы равного наклона. [c.128]

Если полосы равного наклона рассматривать глазом, аккомодированным на бесконечность, то благодаря малому размеру зрачка (3—5 мм) в центре поля зрения будет видна система колец, обусловленная действием небольшого участка пластинки ЛОВ (рис. 6.7). При перемещении пластинки будет работать другой ее участок. сли пластинка строго плоскопараллельна, то толщина различных участков одинакова и размеры колец остаются неизменными при перемещении пластинки. В противном случае они меняются, увеличиваясь при переходе к более тонким участкам. Этот прием [c.130]

Наблюдаемая интерференционная картина будет, очевидно, соответствовать интерференции в воздушном слое, образованном зеркалом 8 и мнимым изображением зеркала 5х в пластинке Р . Если Ах и Аа расположены так, что упомянутый воздушный слой плоскопараллелен, то получающаяся интерференционная картина представится полосами равного наклона (круговыми кольцами), локализованными в бесконечности, и следовательно, наблюдение [c.134]

Однако в случае плоскопараллельной пластинки следует принять во внимание многократное отражение света от ее поверхности, ибо и все вторичные когерентные пучки окажутся параллельными друг другу и будут интерферировать, давая полосы равного наклона, локализованные в бесконечности. [c.136]

Так как dun — постоянные, то, очевидно, наблюдаемые полосы соответствуют заданному значению г, а следовательно, и i, т. е. являются полосами равного наклона. [c.136]

Следовательно, мы будем иметь дело со случаем интерференции, до известной степени аналогичным тому, при котором получаются полосы равного наклона. Интерференционную картину можно наблюдать в фокальной плоскости Р объектива Ь на расположенном в ней экране. [c.518]

Из формулы (92) следует, что, изменяя угол клина а, можно изменять ширину наблюдаемых интерференционных полос, которые при рассмотренном способе возникновения называют полосами равной толщины. Другой способ получения интерференционных полос, называемых полосами равного наклона, заключается в том, что параллельные световые пучки, падающие на плоскость под разными углами р , разделяют линзой и собирают в разных местах фокальной плоскости, причем каждой отдельной полосе соответствует определенная, зависящая от наклона разность хода А, а именно для воздушного промежутка [c.89]

На рис. 24, а показано распределение интенсивности освещенности при двухлучевой интерференции, а на рис. 24, б — при многолучевой интерференции. На рис. 24, в показаны при многолучевой интерференции полосы равного наклона (кольца Ньютона) в проходящем свете, а на рис. 24, г — в отраженном свете. [c.98]

Рис 6. Схема для наблюдения многолучевых интерференционных полос равного наклона [c.19]

Внутри пластины лучи света идут иод углом, близким к углу полного внутреннего отражения, но несколько меньшим его. После каждого отражения от наружной новерхности пластины большая часть света отразится обратно внутрь пластины, а небольшая доля выйдет наружу по обе ее стороны. Вышедшие из пластины лучи будут когерентными и образуют интерференционную картину, локализованную на бесконечности. Так же как и в интерферометре Фабри — Перо, здесь будут полосы равного наклона. [c.206]

В соответствии с формулой (5.11) светлые полосы расположены в местах, для которых 2иЛ os 6 Я.о/2 = тЯ,о, где т — целое число, называемое порядком интерференции. Полоса, соответствующая данному порядку интерференции, обусловлена светом, падающим на пластинку под вполне определенным углом 6. Поэтому такие полосы называют интерференционными полосами равного наклона. Если ось объектива расположена перпендикулярно пластинке, полосы имеют вид концентрических колец с центром в фокусе. В центре картины порядок интерференции максимален. Исходя из (5.11) легко показать, что угловой масштаб наблюдаемой картины пропорционален 1//й (чем тоньше пластинка, тем шире полосы), а радиусы последовательных светлых полос пропорциональны квадратному корню из целых чисел (при условии, что в центре максимум интенсивности). [c.213]

Не будем переходить от угла преломления ср2 к углу падения ф, чтобы не усложнять соотношение (5.45). Заметим, что полученная зависимость А = /(/.<Р2) имеет достаточно общий характер и в дальнейшем можно будет применить ее при описании возникновения как полос равной толидины, так и полос равного наклона. [c.212]

При освещении первой пластинки параллельным пучком лучей одной длины волны мы получим более или менее интенсивный свет в зависимости от разности хода А выходящих лучей. При освещении белым светом пластинка будет казаться нам равномерно окрашенной. При освещении же расходящимся пучком лучей мы увидим в фокальной плоскости объектива, помещенного на пути лучей 2 я 3, систему интерференционных полос, соответствующих данному г, т. е. полосы равного наклона. Лучи 1 я 4 т цопадают в оправу объектива. Мы получим максимум для лучей тех направлений, для которых А = йе sin i = m Ч К, где т — четные числа. Для направлений, соответствующих нечетным значениям т, будет наблюдаться минимум. Угловое расстояние между полосами определяется изменением угла i на величину Ai, при котором разность хода меняется на %, т. е. [c.132]

Если плёнка идеально одинаковой толщины, то в любом её месте разность хода ДL будет одна и та же, условия интерференции будут одинаковыми по всей плёнке, что приведёт к одинаковому по всей площади плёнки оптич. эффекту — ослаблению либо усилению света, а никакие интерференц, полосы не возникнут. На идеальной плоскопараллельной пластине интерференц. полосы возникают прп др. схеме наблюдения (см. Полосы равного наклона). Если Же толщина плёнки немного меняется от точки к точке, то ивтер-фереяц. полосы будут располагаться вдоль участков плёнки с одинаковыми разностями хода Д , т. е. с одинаковыми значениями толщины плёнки А (что и определило их назв.). [c.31]

Полосы равного наклона в монохроматическом свете. При освещении плоскопараллельной пластинки монохроматическим светом разность хода в ней может изменяться по двум причинам из-за изменения угла падения ф лучей па пластинку или из-за неравномерности оптической толишны nh пластинки. Если подобрать условия освещения таким образом, чтобы обеспечить постоянство оптической толщины nk, то разность хода будет обусловливаться только изменением угла падения. Образующиеся При этом полосы интерференции будут представлять собой гео- [c.19]

Схема для наблюдения полос равного наклона показана на рис. 6. Протяженный источник монохроматического света I при помощи линзы 2 освещает зеркала интерферометра S. Полосы равного наклона наблюдаются в фокальной плоскости линзы 4, где помещается экран 5. При этом форма, ширина и направление полос равного наклона не зависят от положения источника в пространстве Предметов, в то время как положение наблюдательного прибора играет существенную роль. Следует также отметить высокую степень параллельности зеркал интерферометра, необходимую для наблюдения интерферепционной картины полос равного наклона, так как в Противном случае будет наблюдаться взаимное смещение интерферирующих полос из-,эа некогерент-ности различных участков изображения. Величина такого смещения не должна превышать размеров дифракционного кружка, соответствующего апертуре светового пучка. [c.19]

Полосы равного тангенциального наклона. Полосы равного тангенциального наклона наблюдаются по схеме для получения полос равного наклона, еслу1 пластины интерферометра имеют изгиб. Для наблюдения многолучевых интерференционных полос равного тангенциального наклона за интерферометром устанавливается оптическая система (например, линза), проектирующая картину интерференции на экран. Интерференционные полосы локализуются на поверхности, совпадающей с плоскостью, проходящей через центр кривизны пластин интерферометра. [c.20]

Принципиальная схема многолучевого интерферометра для исследования неровностей поверхности приведена на рис. 132 [281. Основной частью интерференционной схемы являются пластина 4, Покрытая с нижней стороны полупрозрачным отражающим слоем, и испытуемая поверхность 5. Коэффициенты отражения пластины и испытуемой поверхности обычно подбирают близкими по значению. Между зеркальной пластиной и образцом возникает интерференция многократно отраженных лучей. Интерференционная картина, локализованная на поверхности пластины, рассматривается через микроскоп 1, 2, 3 с увеличением 100><. С помощью принципиальной схемы, изображенной на рис. 132, можно наблюдать интерференцию как в клинообразной, так и плоскоггараллельиой пластине в первом случае эго будут полосы равной толщины. Наряду с полосами равной толщины используются полосы равного наклона, которые позволяют исследовать не только форму плоской поверхности, но и контролировать плоскопараллельность, определяя при этом не только угол клина, но и знак изменения толщины. [c.221]

Полосы равного наклона — интерференционные полосы, локализованные в бмконечности н образующиеся в результате прохождения света через плоскопараллельный слой, причем одинаковому наклону лучей в слое соответствует определенное положение интерференционной [c.26]

Интерферометр З абри — Перо, обладающий осью симметрии, является прибором с двумерной дисперсией, так как в нем разделение излучений различных длин волн происходит вдоль радиуса окружности с центром на оптической оси прибора, и поэтому спектральные линии, представляющие собой интерференционные полосы равного наклоиа. имеют форму колец. Пластинка Лю.мме-ра — Герке в принципе также принадлежит к приборам с двумерной дисперсией, поскольку и она дает полосы равного наклона, хотя получаемый с ее помощью спектр напоминает спектр одномерной дисперсии. [c.17]

Из полученной формулы можно видеть, что разность хода может меняться вследствие трех причин неравномерности толщины пластинки к, изменений показателя преломления ц и изменения угла преломления г или (что то же) угла падения г. Совершенно очевидно, что угол падения г определяется условиями освещения пластинки. Можно построить такие схемы, которые будут обеспечивать постоянство угла падения ( = сопзЬ). При этом разность хода будет меняться только за счет /г. Можно использовать также и такие схемы, при которых разность хода будет обусловливаться только изменением угла падения г (/г = сопз1). Первый тип полос получил название полос равной толщины, а второй — полос равного наклона. Оба эти типа относятся к предельным случаям и наблюдаются только нри строго определенных условиях освещения. [c.173]

При освещении интерферометра расходящимся пучком лучей каждой паре лучей тппа 1 и 2 будет соответствовать своя разность хода, зависящая от угла падения г,. В результате образуется система интерференционных полос равного наклона. Распределение интерференционных полос б дет удовлетворять следующедгу соотношению [c.178]

Первая, наиболее распространенная схема требует наличия источника света с достаточно широкой равномерно излучающей поверхностью. Такой источник обеснечит наличие параллельных пучков, которые падают под различными углами на пластины интерферометра. Это позволяет получить достаточно полную систему колец (полос равного наклона) на значительном участке щели спектрографа. Изображение источника лежит при этом также в плоскости щели. Поэтому распределение интенсивности по кольцам будет отвечать теоретическому, если только отсутствуют какие-либо градиенты в яркости излучающей поверхности. Это обстоятельство является существенным недостатком такой установки. [c.201]

Для повышения точности метода пробных стекол при контроле плоскостей используют многолучевую интерференцию в виде полос равного наклона. И терференц 0 ная картина наблюдается от тонкого воздушного слоя между контролируемой и эталонной поверхностями, каждая из которых покрыта отражающим слоем. Метод пробных стекол удобно применять для небольших по размерам поверхностей. [c.701]

Смотреть страницы где упоминается термин Полосы равного наклона : [c.86] [c.101] [c.110] [c.113] [c.216] [c.217] [c.129] [c.129] [c.922] [c.69] [c.167] [c.170] [c.426] [c.26] [c.18] [c.25] [c.36] [c.36] [c.48] [c.176] [c.182]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...