Схемы многолучевых интерферометров

Рис, II. Схема многолучевого интерферометра [c.70]

Материал предлагаемой книги разделен на две части. В первой части рассматриваются различные схемы многолучевых интерферометров, типы многолучевых интерференционных полос, источники света, интерференционные монохроматоры, основанные на принципе многолучевой интерферометрии, регистрирующие устройства, конструкции многолучевых интерферометров и способы их юстировки. [c.4]

СХЕМЫ МНОГОЛУЧЕВЫХ ИНТЕРФЕРОМЕТРОВ [c.22]

Схема многолучевого интерферометра с четырьмя отражающими слоями показана на рис. 13. [c.33]

Результаты существенно улучшаются, если в качестве отражателей Применять дифракционные зеркала. Схема многолучевого интерферометра с дифракционными зеркалами, предложенная Ф. А. Королевым и В. И. Гридневым, показана на рис. 30. [c.53]

На рис. 57 показана конструктивная схема многолучевого интерферометра с системой точного перемещения одного из зеркал [186]. [c.97]

Рис. 57. Конструктивная схема многолучевого интерферометра с точным перемещением одного из зеркал термическим способом

Схема многолучевого интерферометра для определения показателя преломления газа показана на рис. И5. [c.189]

Конструктивная схема многолучевого интерферометра, предназначенного для изучения вибраций, изображена на рис. 127 1172]. В коллиматорной части / устанавливается источник света, объектив Ю и светофильтр 2. Параллельный пучок проходит через полупрозрачную пластину 3 и зеркало 5 интерферометра. Зеркало 6 связано с вибратором. Отраженный световой пучок направляется пластиной 3 в Зрительную трубу 7, состоящ,ую из 14 211 [c.211]

Схема многолучевого интерферометра с полосами наложения [c.142]

Многолучевая интерференционная картина может наблюдаться в проходящем и отраженном свете. На рис. 115 приведен пример схемы многолучевого интерферометра для наблюдения в отраженном свете. Пучок лучей от источника монохроматического света 1 (микролампа) проходит через конденсор 2, светофильтр 3 и щель 4, которая расположена в фокальной плоскости объектива 6. [c.172]

В зависимости от формы зеркальных поверхностей различают интерферометры с плоскопараллельными, сферическими и параболическими зеркалами в некоторых схемах многолучевых ин- [c.12]

При использовании многолучевого интерферометра для изучения различных объектов, помещенных между его зеркалами, задача измерений сводится к регистрации деформаций волнового фронта в интерферометре, возникающих под действием исследуемой неоднородности. Такого рода измерении можно реализовать при установке элементов интерферометра по схеме для наблюдения полос равной толщины (.391. [c.21]

Наибольшее распространение получили интерференционные светофильтры [5 591, представляющие собой многолучевые интерферометры, использующие, как правило, интерференцию низкого порядка. Схема интерференционного светофильтра показана на рис. 38. Он состоит из стеклянной или кварцевой подложки 1, на которую нанесен прозрачный зеркальный слой 2. Далее наносится прозрачный слой 3, а поверх него зеркальный слой 4. Для защиты поверхности от воздействия внешних условий фильтр закрывается стеклом 5. Многократно отражаясь от поверхностей зеркал и интерферируя между собой, лучи дают распределение 5 <57 [c.67]

На рис. 46 показана принципиальная схема установки. Предназначенная для получения узких монохроматических линий. Установка состоит из многолучевого интерферометра 5, системы для наблюдения интерференционной картины 6 и 7 и теплового фильтра, состоящего из ртутной лампы /, светофильтра 2, линзы 3 и поглощающей камеры 4. При нагревании камеры 4 с йодом t = [c.77]

Схема установки с многолучевым интерферометром при фотографической регистрации интерференционной картины показана на рис. 61. Источник I и объектив 2 с фокусным расстоянием /а. образующие коллиматор, освещают интерференционные зеркала 3. Регистрирующая часть состоит из объектива 4 (фокусное расстояние и объектива 6 фотоаппарата (фокусное расстояние f ), между которыми расположена диафрагма 5. Для получения на фотопленке 7 четкого и резкого изображения плоскости исследуемой неоднородности оптические элементы следует располагать таким образом, чтобы между объективами 4 м 6 проходил параллельный пучок света. В этом случае условия наиболее оптимальны [c.103]

Рис. 67, Схема установки для тарировки многолучевого интерферометра

В реальных условиях интерферометр подвержен воздействию ряда факторов, приводящих к снижению чувствительности. Эти факторы обусловлены физическими явлениями, связанными с распространением световых волн и особенностями многолучевой интерферометрии, а также особенностями схем и конструкций многолучевых Интерферометров. [c.118]

I. Схема экспериментальной установки с многолучевым интерферометром для оценки влияния дифракции на чувствительность измерений [c.119]

Книга посвящена описанию схем, конструкций и методик применения многолучевых интерферометров типа Фабри-Перо для изучения процессон и явлений r прозрачных средах, рас положенных между зеркалами интерферометра. Рассмотрены различные схемы многолучевых интерферометров, основные типы источников света, способы и устройства (монохроматоры) для получения узких спектральных линий, конструкции интерферометров, способы точной юстировки и устройства для их реализации, вопросы техники обработки интерферограмм и способы их расшифровки, методы регистрации инте[ ревциошюй кар- [c.2]

На рис. 59 показана схема многолучевого интерферометра с дистантоыиой регулировкой, основанной на принципе обратного пьезоэффекта [1111. [c.99]

Принципиальная схема многолучевого интерферометра для изучения вибрадий представлена на рис. 124. Схема применяется [c.209]

Рис. 124. Схема многолучевого интерферометра для изучения вибраций в прокодящем свете

Принципиальная схема многолучевого интерферометра для исследования неровностей поверхности приведена на рис. 132 [281. Основной частью интерференционной схемы являются пластина 4, Покрытая с нижней стороны полупрозрачным отражающим слоем, и испытуемая поверхность 5. Коэффициенты отражения пластины и испытуемой поверхности обычно подбирают близкими по значению. Между зеркальной пластиной и образцом возникает интерференция многократно отраженных лучей. Интерференционная картина, локализованная на поверхности пластины, рассматривается через микроскоп 1, 2, 3 с увеличением 100><. С помощью принципиальной схемы, изображенной на рис. 132, можно наблюдать интерференцию как в клинообразной, так и плоскоггараллельиой пластине в первом случае эго будут полосы равной толщины. Наряду с полосами равной толщины используются полосы равного наклона, которые позволяют исследовать не только форму плоской поверхности, но и контролировать плоскопараллельность, определяя при этом не только угол клина, но и знак изменения толщины. [c.221]

Для разделения спектров разных порядков применяют различные приемы (исполь. )уют стеклянные фильтры, селективные приемники излучения и т.д.). С равнительно легко отделить инфракрасное излучение от видимого или видимое от ультрафиолетового, но если разность длин волн, соответствующих соседним порядкам дифракции, невелика (а так будет всегда при использовании вькчлшх порядком), го приходится применять достаточно сложную схему монохроматнзации излучения. Поэтому (аналогично тому, как делалось в многолучевой интерферометрии) целесообразно ввести понятие области свободной дисперсии [c.322]

Однако целый ряд экспериментальных задач связан с необходимостью регистрации весьма малых изменений световой волны. Прошедшей через исследуемый объект (например, изучение свойств газов при низком давлении, определение толщины и сдвига фазы в тонких пленках и т. д.). Чувствительность измерений большинства иитерферометрических приборов оказывается недостаточной для обнаружения и измерения малых разностей хода луча, поэтому для развития интерференционной техники характерна тенденция к повышению точности и чувствительности измерений и поискам новых схем и методик исследования. Одним из наиболее эффективных и перспективных иитерферометрических методов является метод многолучевой интерферометрии. [c.3]

Цель Книги — систематизация и обобщение материала, опубликованного в отечественной и зарубежной научно-технической литературе в виде статей, кратких информаций, патентов, и анализ особенностей схем, конструкций, способов юстировки и методик расшифровки иктерферограмм при использовании многолучевого интерферометра как прибора для изучения свойств среды, размещенной между его зеркалами. [c.4]

Данную книгу следует рассматривать как попытку систематизировать работы по изучению оптических неоднородностей с помощью многолучевой интерферометрии, проанализировать особенности схем и методик и одновременно изложить некоторые новые способы и приемы для реализации многолучевого интерфе-рометрического метода диагностики прозрачных сред. [c.4]

Необходимо отметить, что при нсиользованни многолучевой интерферометрии для исследования оптических неоднородностей возникает целый ряд специфических вопросов, связанных с конструкцией, юстировкой и методиками применения интерферометров. Требования к некоторым элементам интерференционных рхем различны в случае применения многолучевого интерферометра как спектроскопа и как прибора для диагностики прозрачных сред. Учет этих особенностей в большой степени определяет, эффективность применения того или иного метода или схемы. [c.8]

Из общей теории зеркальных интерферометров, к которым относятся многолучевые интерферометры, известно, что построение такого рода интерферекииоиных схем подчинено определенным правилам геометрии. [c.16]

Наиболее распространенным типом многолучевого интерферометра является интерферометр с двумя отражающими iiOBepx-ностями. Схема расположения элементов такого интерферометра показана па рис. 8. [c.22]

Схема двухпластинчатого многолучевого интерферометра с клинообразным расположением зеркал показана на рис. И. Коллимированный Пучок монохроматического света, образованный ис- [c.30]

Схема четырехзеркального интерферометра представляет собой комбинацию двух многолучевых интерферометров (плоскопарал-пельных или клинообразных), расположенных последовательно т,руг за другом. Принцип действия такого интерферометра очевиден из рис 14. [c.33]

Рис. 15. Схема четырехпластинчатого многолучевого интерферометра для наблюдения полос наложения

Схемы сложных интерферометров успешно работают и при некратном отношении толщин интерферометров [55]. Этот вывод, полученный в применении многолучевого интерферометра к исследованию сверхтонкой структуры спектральных линий, полностью можно распространить и на методы использования. многолучевого интерферометра для диапюстики прозрачных сред и в общем случае для исследования волновых фронтов. Напри.мер. При настройке на равномерно освещенное поле (при параллельном положении зеркал) работа выполняется на одной интерференпион-ной полосе, причем, как будет показано в гл. V, для получения оптимальной чувствительности многолучевого интерферометра необходимо в неболыних пределах менять настройку интерферометра. Очевидно, что в таком случае некоторое несовпадение мак снмумов интерферометров может быть использовано для выбора рабочей точки результирующего интерференционного контура. [c.41]

Многолучевой интерферометр с тремя отражающими поверхностями представляет собой по существу предельный случай четырехпластинчатой интерференционной схемы, когда положения второго и третьего зеркала совпадают 189, 1791. [c.41]

На рис. 58 изображена схема перемещения одного из зеркал многолучевого интерферометра, основанная на принципе электромагнитной силы 1152]. Зеркало интерферометра I закреплено в бронзовом цилиндре 7. Цилиндр удерживается двумя пластинами треугольной формы 2, которые закрепляются на общей раме. В каждой пластине есть отверстие, предназначенное для крепления цилиндра. На краю цилиндра с противоположной стороны по отношению к зеркалу интерферометра устанавливается постоянный магнит 5, выполненный из ( рромагнитного сплава, обеспечивающего нечувствительность к вибрациям, внешним магнитным полям магнит имеет высокую магнитную проницаемость. За счет [c.98]

Рис. 63. Схема установки многолучевого интерферометра при фотоэлектрической регистрацин интерференционной картины

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...