Интерференция порядок

В псевдоожиженном слое взаимное расположение частиц, как правило, случайное. Определенный ближний порядок, возникающий вследствие высокой концентрации частиц, быстро нарушается из-за нестационарно-сти системы. В результате будет несущественным перераспределение энергии, вызванное интерференцией рассеянного соседними частицами излучения. [c.133]

Из формулы (4.24) следует, что с увеличением порядка интерференции (т) уменьшается ширина спектрального интервала, при котором еш,е возможно наблюдение интерференционной картины. Верно и обратное более низкий порядок интерференции позволяет наблюдать различимую интерференционную картину в менее монохрома-тичном свете. [c.77]

Порядок интерференции. Так как разность хода между двумя соседними интерферирующими лучами составляет Ad = 21 os г, то взаимное усиление произойдет при [c.115]

Следовательно, при неизменном расстоянии между пластинками порядок интерференции увеличивается с уменьшением угла преломления г. Наибольшее возможное значение т получается при os г = 1 (при г = 0), т. е. наибольший порядок интерференции будет наблюдаться в центре картины. Тогда для т имеем [c.115]

Конечно, принятое значение V> 2/3 в какой-то степени произвольно. В той же степени произвольно и окончательное условие хорошей видимости, позволяющее оценить порядок величины допустимых размеров источника света или апертуры интерференции. Но именно потому, что не требуется строгого выполнения этого условия, можно пользоваться им в самых различных случаях. Более того, весь проведенный вывод мы вправе считать [c.201]

Ho известно, что порядок интерференционного максимума прямо связан с разностью хода выражением Д = тк. Следовательно, чем больше разность хода (выше порядок интерференции), тем меньше должен быть разрешенный интервал длин волн АД, т.е. больше необходимая степень монохроматизации. [c.213]

Вся предварительная юстировка интерферометра проводится при холодной кювете, т.е. без введения дополнительной разности хода, обусловленной наличием паров исследуемого металла. В процессе юстировки добиваются, чтобы интерференционные полосы, отображаемые объективом L2 на вертикальную щель спектрографа Sp, были строго горизонтальны. Особо проверяется наличие в поле зрения нулевой полосы , для которой порядок интерференции m = О (рис. 5.41,а). [c.226]

Минимальная интенсивность будет наблюдаться при т = 1/2, 3/2.....Свяжем порядок интерференции т и введенную разность фаз между напряженностью поля в соседних пучках соотношением [c.240]

Следовательно, чем больше расстояние между отражающими слоями, тем выше порядок интерференции а центре интерференционной картины. Так, например, т - 20 ООО при I == 0,5 см (для видимого света 5 10" см) и т - 200 ООО при / = 5 см. [c.246]

Другими словами, чем выше порядок интерференции (т), который нужно наблюдать, тем уже должен быть спектральный интервал, еще допускающий наблюдение интерференции. Наоборот, чем [c.91]

Порядок интерференции т связан с разностью хода интерферирующих световых пучков и длиной волны к соотношением [c.92]

Измеряя разность хода с1 — йх, длину волны к и порядок интерференции ш, можно найти с помощью (22.6) фазу ф (т). Измерение разности хода удобно (с экспериментальной точки зрения) заменить [c.96]

В хороших приборах поверхность пластинок делают плоской с точностью до 1/200 длины волны. Внутренние поверхности пластинок (между которыми заключается слой воздуха) серебрят или покрывают каким-либо другим металлом с целью обеспечить достаточно высокий коэффициент отражения лучей. Интерференционная картина получается в виде колец равного наклона (рис. 7.5), ибо на эталон направляют расходящийся пучок света от широкого источника (на рис. 7.4 представлен ход одного из лучей этого пучка). Порядок интерференции определяется расстоянием между пластинками (от 1 до 100 мм, в специальных эталонах — значительно больше, до 1 м). В соответствии с этим наблюдаемые порядки интерференции очень высоки. При = 5 мм /и 20 000. [c.139]

Резкость максимумов, так же как и в решетке, определяется числом интерферирующих световых пучков, т. е. числом ступенек эшелона, которое не превосходит 30. Зато разность хода (порядок интерференции) между двумя соседними лучами весьма велика пренебрегая членом s p ввиду его малости, найдем для h = 1 см и ц = 1,5 [c.211]

Ответ 1) тХ = 2кУ п — соз е, где т — порядок интерференции, а е — угол, составляемый выходящим лучом с поверхностью пластинки таким образом, с увеличением порядка полосы удаляются от пластинки (е растет). [c.872]

Анализатор приводит колебания обыкновенного и необыкновенного лучей в одну плоскость и создает условия для их интерференции. При этом на экране видна система темных и светлых полос, соответствующих разности хода обыкновенного и необыкновенного лучей б = ink, где т — порядок полосы равен О, 1, 2... для светлых полос н т= 1/2, 3/2, 5/2... для темных полос. [c.110]

У вышеназванных металлов окисление вызывает тепловое окрашивание , которое создается интерференцией света в окисной пленке толщиной (150 -7- 300) 10 м. В соответствии с изменением толщины окисной пленки изменяется ее цвет. На этом основан метод оценки температуры отпуска стали. Порядок распределения цветов совпадает с окраской колец Ньютона. Для полированных образцов нелегированной стали в зависимости от температуры получены следующие цвета светло-желтый (220—230° С) темно-желтый (240) желто-коричневый (255) пурпурно-красный (265) красно-коричневый (275) фиолетовый (285) [c.18]

Основным достоинством изложенной методики является возможность определения коэффициентов концентрации напряжений при сложной геометрии внутреннего канала. На рис. 2. 25, а показана картина полос интерференции для модели с четырьмя вырезами (светлый фон, цифрами обозначен порядок полос т). [c.49]

ТО В средней по длине части каждого участка возникает однородное напряженное состояние. При принятом соотношении ширины участков напряжения в них относятся как 5 3 1. При изменении нагрузки порядок полос интерференции изменяется, причем порядки полос в средней части отдельных участков находятся в том же соотношении 5 3 1 (фиг. 3.7). Это свидетельствует [c.72]

Чтобы сравнить характер кривых для разных моментов времени, эти кривые были нормализованы умножением ординат каждой кривой на постоянный коэффициент, так чтобы кривые совпадали в точке, расположенной посредине между центром и краем диска. Эта точка была выбрана для совмещения кривых потому, что в ней влияние краевого эффекта и контактной площадки, возникающей на контуре диска в месте приложения нагрузки, должно быть, вероятно, наименьшим. Совпадение этих нормализованных кривых с теоретической кривой при одинаковом порядке полос в точке, расположенной посредине между центром и краем диска, было весьма хорошим. Это позволило сделать вывод, что порядок полос интерференции в этих материалах зависит только от времени. Эти порядки полос сравниваются в табл. 5.2—5.5, где указано относительное (%) отклонение экспериментальных результатов от теоретических. В этих таблицах расстояние выражено как его отношение к радиусу диска. Таким образом, картина полос в диске, полученная через 22 час после приложения нагрузки, все еще аналогична картине полос, полученной сразу же после нагружения, в том отношении, что обе картины по распределению порядков полос соответствуют решению но теории упругости. Исключение составляют области около краев, где временные эффекты становятся заметными уже через несколько часов. Эти опыты проводились на двух отливаемых фенолформальдегидных смолах. На фиг. 5.3 иллюстрируется характер изменения со временем оптической постоянной Каталина в условиях ползучести под постоянной нагрузкой. В гл. 7 показано, чтО порядки полос, найденные после разгрузки, эквивалентны порядкам, получаемым для замороженной картины полос. [c.126]

Оптимальная форма галтелей. Оптимальной формой галтели надо считать такую, при которой напряжения вдоль контура распределены равномерно. Оптимальный контур галтели можно подобрать с помощью поляризационно-оптического метода, измеряя порядок полос интерференции вдоль контура [14, 15]. В плохо спроектированной галтели существует хотя бы одна точка, в которой концентрируются полосы. С другой стороны, в хорошо спроектированной галтели (фиг. 9.23) вдоль большей части контура галтели порядок полос остается постоянным. Как выяснилось, проектирование галтелей в форме окружности не дает требуемых результатов. Были исследованы эллиптические галтели, галтели, [c.251]

На фиг. 11.12 приведен график изменения порядка полос интерференции в зависимости от температуры. Как видно из этого графика, порядок полос возрастает с падением температуры [c.333]

Для точек максимальной интенсивности А == пгк, а для точек минимальной интенсивности А = (2/п + 1) ./2, где т — порядок интерференции. [c.274]

При деформациях модели в пределах пропорциональности получаемый порядок т интерференции может быть также отнесен к разности ] лавных деформаций [c.519]

Порядок полосы интерференции при просвечивании элемента объемной модели толщиной t [c.520]

Порядок m интерференции связан с разностью (01 — Oq) главных напряжений [c.578]

Порядок интерференции т можно, например, определить при предварительных измерениях в холодной кювете (см. рис. 5.41), когда для некоторой полосы -= О и т =- ( ] — 1 )//>., . . Зная производную йп/йк, можно с хорошей точностью определить показатель пpeJroмлeния паров п непосредственной б.лизости к. пинии поглощения. [c.228]

При некоторых исследованиях необходима еще большая раз-решаюп(ая сила (порядка Ю и более). В этих целях обычно применяют различные интерферометры. Выражение (6.86) можно использовать для оценки разрешающей силы интерферометра. В отличие от дифракционной решетки здесь обычно высокие порядки интерференции при относительно небольшом числе интерферирующих пучков. Так, например, для интерферометра Майкельсона (см. 5.5) число интерферирующих пучков N =- 2, а порядок интерференции т определяется числом длин волн, укладывающихся на разности хода между интерферирующими лучами, и может быть очень большим (порядка 10 ). [c.323]

Пусть источник посылает волны длины К. Разность хода, выраженная в длинах волн, есть А = к21/0 = тХ, где т — любое число (целое или дробное), определяющее порядок интерференции. Согласно расчетам, приведенным в 13, изменение освещенности в зависимости от к (или т = 2М1ХВ) описывается формулой (при равных амплитудах а интерферирующих волн) [c.75]

Порядок полосы определяется на основании наблюдения за картиной интерференции в процессе возрастания нагрузки. В белом свете видны цветные полосы и процесс измерения заключается в оценке цвета поля после введения контролируемого объекта и ею сопоставления с цветом тарировоч-ной таблицы. [c.110]

Полезные данные о распределении напряжений в массивных шинах могут быть получены также при испытании плоских моделей шин, имеюших форму их поперечного сечения. Рассмотрим в качестве примера результаты испытания плоской модели шины из полиуретана СКУ-ПФЛ, имеющей следующие размеры наружный диаметр 0=80, внутренний — с =54 и толщину /=10 мм. Отношение наружного диаметра к внутреннему 0 й= 1,47 было взято таким же, как у натурной массивной шины с наружным диаметром 100 мм. Полиуретановое кольцо было отлито в соответствующей форме, а затем надето с небольшим натягом на ступицу из дюралюминия, чтобы исключить влияние остаточных напрялгений. Порядок полос начальной картины был менее 0,5. Модель нагружали радиальным усилием с помощью приспособления, аналогичного приспособлению, по казанному на рис. 2.14. Были сфотографированы картины полос интерференции при равных нагрузках Р=200 300 400 500 600 700 и 800 Н, показанные на рис. 2.17. Напряжения локализуются в небольшой зоне К01нтакта шины с опорой раз- [c.41]

Для определения константы Со, которая отраж.ает влияние всех параметров, существенных для метода стесненной усадки (оо, Д1 и бо), используют тарировочн ый образец, напряжения в котором вызваны стесненной усадкой и для которого имеется теоретическое рещение. В некоторой точке такого образца рассчитывают разность безразмерных главных напряжений 01—02 и измеряют порядок полос интерференции т, после чего вычисляют константу Со по формуле [c.97]

Между поляроидами на фиг. 2.7 помещена двоякопреломляю-щая пластина, представляющая собой плоский диск из эпоксидной смолы, для которого по рассмотренному далее методу замораживания получена картина полос интерференции при действии собственного веса диска. На одной и той же темной линии (полосе интерференции) располагаются точки, в которых относительная разность хода имеет одинаковый порядок п 2. [c.48]

Оптическая постоянная полосы модели по наибольвиим касательным напряжениям (для краткости называемая просто оптической постоянной модели по напряжениям) равна величине изменения максимального касательного напряжения, при котором порядок полосы интерференции в модели изменяется на единицу. Она зависит от материала, длины волны света и толщины модели. Необходимо отметить, что величина [c.76]

Иногда можно обойтись без предварительной тарировки материала на тарировочных образцах, если исследуемую модель можно использовать и для тарировки (самотарируемая модель). Это возможно в тех случаях, когда из расчета или другого эксперимента известно напряженное состояние в какой-нибудь точке модели и измерен в ней порядок полосы интерференции. Если для тарировки используются результаты измерения с помощью другого экспериментального метода, то точность соответствия между порядком полос и напряжениями или деформациями, разумеется, не может быть выше точности, которую дает используемый экспериментальный метод. [c.83]

Ф п г. 4.7. Метод Тарди для произвольных точек (дробный порядок полос интерференции определяется положением изохром на нанесенной изоклине цифрами обозначен угол поворота анализатора). [c.107]

Краевой эффект влияния времени проявляется в виде наблюдаемых при помощи полярископа у края пластинки полос интерференции, число и порядок которых возрастают со временем. Через 5—10 час. (или больше) на глубине 1—2 мм у свежеобработанного края модели из обычно применяемого материала возникают полосы до 1-го порядка, и при хранении в течение нескольких месяцев краевой эффект увеличивается у края до полосы 5— 7-го порядка и выше. [c.258]

Порядок т интерференции связан с разностью (aj — S2) главных напряжений и напряжением вдоль иеиагруженною контура зависимостями [c.519]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...