Спектр излучения вторичный

В зависимости от условий облучения (температуры, дозы, вида излучения, энергетического спектра излучения) в материалах возникают различные типы дефектов, изменяется их плотность и распределение по размерам. Особую роль в радиационном упрочнении кристаллов играют механизмы взаимодействия радиационных дефектов с имеющимися в объеме дислокациями. Под воздействием поля упругих напряжений, существуюш,их вокруг дислокаций, точечные дефекты диффундируют к ним и образуют атмосферы , ступеньки, вакансионные и газонаполненные поры и другие вторичные дефекты. Все они могут быть центрами закрепления дислокаций или стопорами для движуш,ихся дислокаций. [c.61]

Для увеличения чувствительности контроля используют также усиливающие экраны (металлические и флуоресцентные). Материалом металлических экранов служит фольга тяжелых металлов (свинца, олова, вольфрама), а флуоресцентных — сернистый цинк, сернистый кадмий и др. Физическая сущность действия усиливающих экранов заключается в эмиссии с них вторичных электронов, которая инициируется излучением от источника (для металлических экранов, толщиной 0,0.5...0,5 мм), или эмиссией фотонов видимой части спектра (для флуоресцентных экранов толщиной 0,002. .. 0,2 мм). Усиливающие экраны, помещаемые между пленкой и объектом, служат своеобразным фильтром рассеянного излучения. При этом рассеянное вторичное излучение от тяжелых металлов, подобных свинцу, невелико. [c.155]

Вместе с тем характер проводимых экспериментов часто не позволяет выполнить все эти условия. Тогда вторичное поглощение будет искажать истинную форму спектра люминесценции и его влияние должно быть учтено путем введения в полученный спектр соответствующих поправок. В общем случае такие поправки требуют трудоемких расчетов, предусматривающих знание спектра поглощения исследуемого вещества и распределение энергии в спектре возбуждающего люминесценцию источника. Расчеты сильно упрощаются, когда для возбуждения свечения используется монохроматическое излучение (выделяется одна монохроматическая линия из возбуждающего спектра). В этих условиях при полном поглощении возбуждающего света, истинная интенсивность люминесценции /ист в некоторой частоте v связана с интенсивностью люминесценции в этой же частоте /набл, наблюдаемой на опыте, соотношением [c.203]

Переход атома в невозбужденное состояние может сопровождаться испусканием не фотона, а электрона. Этот переход называют вторичным фотоэффектом или оже-эффектом, а соответствующие электроны — оже-электронами. Так как энергетический спектр этнх электронов определяется разностью энергий разных энергетических состояний атомов, он также является паспортом данного сорта атомов, как н характеристическое рентгеновское излучение. Вероятность испускания оже-электронов для атомов с Z<33 дах<е выше, чем вероятность излучательных переходов. [c.968]

Если вдувать через поверхность тела вместе с продуктами разрушения газообразные компоненты, обладающие высокими коэффициентами поглощения в вакуумном ультрафиолете, то они срежут излучение в этом диапазоне. При этом продукты вдува нагреются до температур в несколько тысяч градусов и сами смогут излучать энергию в направлении поверхности тела. Иными словами, в определенных спектральных интервалах возникнет вторичное излучение вдуваемых продуктов разрушения. Тем не менее это вторичное излучение будет менее опасным, ибо вследствие различия температуры торможения набегающего потока н температуры оттесненного пограничного слоя оно в соответствии с законом смещения Вина будет происходить в основном в видимом или даже в инфракрасном диапазоне спектра. Несмотря на схематичность и определенную приближенность подобных рассуждений, они помогают [c.297]

Бели эти изменения велики, так что к моменту забывается состояние, сформированное в момент т. е. рассеянный фотон статистически не связан с падающим, то такое Р. с. наз. некогерентным. Большие возмущения в промежуточных состояниях могут обусловить разного рода вторичные свечения, напр. фотолюминесценцию., к-рую традиционно не считают Р. с. Феноменологич. особенности этого свечения — инерционность, задержка или затягивание свечения (рассеяния), независимость спектра люминесценции от быстрых изменений характеристик падающего излучения. [c.277]

Сточки зрения применения решеток в спектральных приборах наибольший интерес представляют описанные выше области высокой концентрации излучения и поляризующее действие решетки в этих областях. Данные о величине и положении максимумов для ряда углов наклона граней приведены в табл. 2. Относительная доля энергии W вторичного поля, приходящаяся на л-й порядок спектра, для приведенных в таблице значений Я // при Я-поляризации всегда равна единице. Значения XJI вычисляются из условий существования геометрических резонансов I и II. Исключение составляет случай п = 1 для всех ijj, когда существование второго максимума обусловлено одновременным выполнением соотношений взаимности и закона сохранения энергии. Для неполяризованного излучения коэффициент отражения можно получить как среднее арифметическое из коэффи- [c.190]

От Национального бюро стандартов можно получить лампы с вольфрамовой лентой как вторичные эталоны спектрального излучения в области спектра от 0,2 до 2,6 мк. Усовершенствованная недавно процедура калибровки позволяет проводить поверку с точностью около 1 % в ближней ультрафиолетовой области и около 0,5% в видимой области [150 [c.136]

Тонкие прозрачные пленки (толщиной 0,3-Ь1 мкм) на поверхности кристалла влияют как на интенсивность, так и на форму спектра люминесценции вследствие интерференции как возбуждающего, так и вторичного излучения. Присутствие пленок не влияет, очевидно, лишь на время высвечивания люминесценции. Однако определять температуру кристалла по времени высвечивания люминесценции после импульсного возбуждения для прямозонных кристаллов трудно из-за малого радиационного времени жизни избыточных носителей ( 1 не). [c.192]

Газонаполненные детекторы (ионизационные камеры) — один из первых типов детекторов, появившихся для регистрации ядерных излучений. В них использован эффект ионизации газов. Подвижность ионов газов относительно невелика 1—10 см /(В-с), поэтому к детектору необходимо прикладывать сильное поле, чтобы собрать ионы у электродов. Чувствительность таких детекторов также невелика, хотя число пар ионов, созданных в результате первичной ионизации, может увеличиваться за счет вторичных процессов, связанных с возбуждением атомов газа (газовое усиление). К числу подобных процессов относятся образование дополнительных пар ионов за счет поглощения электромагнитного излучения возбужденных атомов, испускание слабосвязанных электронов без характеристического спектра при электронных переходах в воз- [c.236]

Все перечисленные методы имеют определенные недостатки. Так, отрыв галогена атомами лития приводит к некоторому возмущению колебательного спектра образовавшейся частицы СХ вследствие присутствия в матричной клетке молекулы галогенида лития. Фотолиз в свою очередь необходимо проводить с использованием излучения высокой энергии, чтобы добиться разрыва химических связей, однако в ряде случаев это вызывает дальнейший распад частиц и фотоионизацию. Поэтому в спектре наряду с полосами СХд появляются и другие, принадлежащие вторичным продуктам фотолиза, что существенно усложняет интерпретацию спектров. Тем не менее для каждой частицы СХ, по крайней мере два различных метода получения частиц дали сравнимые ИК-спектры и полученные радикалы можно считать надежно идентифицированными. В ИК-спектрах наблюдались две полосы валентных колебаний радикалов СХ , что указывает на их пирамидальную структуру. [c.130]

Активации импульсными разрядами подвергаются СОТС, находящиеся в газообразном и жидкофазном состоянии. В результате такой активации развивается комплекс физико-химических процессов [39] ионизация и диссоциация молекул СОТС, большое тепловыделение в зоне разряда, световое излучение, УЗ-поле с широким спектром частот, ударно-волновое воздействие. Каждый из этих факторов способствует интенсификации образования вторичных структур на границе раздела инструментального и обрабатываемого материалов. [c.75]

Рассмотрим теперь воздействие на решетку единичной монохроматической волны с периодом Т. Вторичные волны, выходящие в этом случае из щелей решетки, а потому и их суперпозиция будут монохроматическими с тем же периодом Т. Значит, монохроматическая волна после прохождения через спектральный аппарат остается монохроматической без изменения периода. Отсюда и из принципа суперпозиции следует, что в спектре решетки не могут появиться монохроматические составляющие с частотами, отсутствующими в спектре падающего излучения. Если спектральная область, занимаемая падающим излучением, не превосходит дисперсионную область, перекрытия спектров различных порядков совсем не будет. При этом в случае неограниченной решетки в спектре каждого порядка каждому направлению луча будет соответствовать строго определенная длина волны Я. Наложения волн различных частот не будет. Это значит, что разрешающая способность неограниченной решетки бесконечно велика. [c.328]

Более широкое расиространение получили в последние годы радиационные горелки с керамическими перфорированными плитками [Л. 130, 131]. Схема одной из таких горелок представлена на рис. 9-4. Газ поступает в горелку но газопроводу /. При истечении из сопла 2 газ подсасывает из атмосферы весь необходимый для горения воздух через приемную коробку 3. Смешение происходит в основном в инжекторе 4 и заканчивается в распределительной коробке 5. Газо воздуш-на я смесь проходит затем через сквозные каналы керамической плитки 6 и сгорает вблизи от ее наружной поверхности. При работе горелки пламя накаляет наружную часть плитки, которая становится источником теплового излучения (вторичным излучателем) преимущественно в инфракрасной области спектра. По этой причине даиные устройства часто называют горелками инфракрасного излучения. Прогреваясь на некоторую глубину, плитки отдают часть тепла газо-воз-душной смеси. По этой причине температура смеси при ее истечении [c.154]

В яоследнее время актуальной проблемой стала синхронизация нескольких лазеров (особенно полупроводниковых). Здесь также возможно успешное использование процессов четырехволнового смешения (рис. 6.6). На рис. 6.6а приведен вариант, когда для исключения нежелательной конкуренции между вторичными лазерами каждый из них имеет свой нелинейный элемент [20]. Если же с помощью дисперсионного резонатора сузить спектр излучения задающего лазера и уравнять оптические длины всех лазеров для снятия ограничений на длину когерентности излучения, то возможно использование только одного общего пассивного обращаю- [c.203]

Выще было показано, что спектр РВС, описываемый формулой второго порядка, содержит О Л и ГЛ. В этом спектре должен содержаться еще компонент типа релеевского и комбинационного рассеяния. Это ясно уже из общих соображений упругое рассеяние, дающее в спектре РВС примесного центра при монохроматическом возбуждении неуширенную б-образную линию, должно быть всегда. В соответствии с приведенной выше классификацией эта линия излучается при полном сохранении фазовой корреляции между поглощением первичного и излучением вторичного фотонов, поскольку, как легко видеть, она описывается асимптотическим значением корреляционной функции Л(ц, т, т ) при 1->-оо (предполагается, что строго б-образную форму в спектре РВС имеет только релеевская линия). В приближении Кондона для невырожденных основного и возбужденного состояний [c.336]

Такой процесс вторичного свечения можно рассматривать как рассеяние света, так как спектр вторичного излучения привязан к первичной частоте со, и сдвигается со сдвигом со,. С другой стороны, этот процесс имеет черты фотолюминесценции, так как его можно описывать в терминах двухступенчатого процесса поглощение (absorption) + излучение (emission), с реальным промежуточным состоянием. Таким образом, его можно интерпретировать одновременно и как резонансное рассеяние, и как резонансную фотолюминесценцию. По этой причине иногда в этом и аналогичных случаях используют термин резонансное вторичное свечение . Заметим, что при оптическом возбуждении немонохроматическим светом со спектральной интенсивностью /о(со I ), плавно зависящей от частоты со, в окрестности резонанса oq, для спектра излучения получаем [c.163]

Далее, в результате процессов взаимодействия космических излучений с биологической тканью в теле космонавта будет создаваться неравномерное пространственное распределение поглощенных доз. Степень неравномерности этого распределения зависит от проникающей способности излучения. Для излучения очень больщой проникающей способности (например, для высо-коэнергетичной части спектра галактического космического излучения) локальная поглощенная доза могла бы в принципе служить критерием радиационной опасности, поскольку в этом случае перепады значений доз в различных точках отсека и по поверхности и объему тела космонавта были бы невелики. Однако при увеличении энергии заряженных частиц значительно возрастает вклад в дозу вторичных частиц, образующихся при ядерном взаимодействии в биологической ткани. При этом эффект вторичных излучений существенно зависит от общей массы [c.272]

Активность О. с а. я. зависит от природы их центр, источников. Оптич. эмиссионные спектры, к-рые ещё в нач. 1970-х гг. доминировали в построении моделей, есть явление вторичное. Эмиссионные линии возникают довольно далеко от центра (10 —10 см), поэтому осн. информацию о центр, источниках О, с а. я. даёт исследование переменности их излучения в широком диапазоне эл.-магн. спектра. Естественно, что для большинства О. с а. я. исследована оптич. переменность. Наиб, подробные наблюдения переменности проведены для ядра сейфертовской галактики NG 4151. Этот объект считается классич. прототипом О. с а, я. [c.393]

Источники рентгеновского излучения. Наиб, распространённый источник Р. и.— рентг. трубка, в к-рой электроны, вырывающиеся из катода в результате термоэлектронной или автоалектронной эмиссии, ускоряются электрич. полем и бомбардируют металлич. анод. Атомы анода, возбуждаемые электронным ударом, и электроны, теряющие кинетич. энергию при торможении в веществе, испускают Р. и. Излучение рентг. трубки наз. первичным и состоит из двух частей линейчатой (характеристическое Р. и.)и непрерывной (тормозное Р. и. см. Рентгеновские спектры). При действии первичного Р. и. на вещество последнее испускает флуоресцентное (вторичное) Р. и., состоящее только из линейчатой части. Бели мишень бомбардировать протонами, а-частицами или более тяжёлыми нонами с энергией неск. МэВ на нуклон, то мишень будет испускать Р. и. линейчатого спектра с очень слабым непрерывным излучением (контрастность характеристич. линий такого Р. и. очень высокая). Для ускорения ионов используют электро-статич. генераторы или циклотроны, [c.375]

Линии X. с. возникают при переходе. электрона одной из внеш. электронных оболочек на вакантную, более близкую к атомному ядру внутр. оболочку. Чаще всего X. с. получают в рентг. трубке, исследуемое вещество при этом служит анодом вакансии на внутр. оболочках его атомов образуются при бомбардировке анода электронами, ускоренными электрич. полем такой спектр наз. первичным. Вторичный (флуоресцентный) X. с. возбуждается при облучении исследуемого вещества оптич., рентг. или гамма-излучением. [c.403]

Используя модельные расчёты продольного развития ядерного каскада в атмосфере и измеренное число электронов N , можно оценить энергию первичной частицы, вызвавшей ливень. В случае чистого электронно-фотонного каскада это возможно. Однако в электронно-ядерном ливне существуют значит, колебания числа частиц (при фик-сир. энергии), вызванные флуктуациями глубины первого акта взаимодействия и доли энергии, передаваемой вторичным частицам. С учётом этих флуктуаций можно установить связь между и ср. энергией первичной частицы. Это позволило Г. Б. Христиансену с сотрудниками сделать вывод об изменении спектра первичного космич, излучения для энергий ( о 410 ГэВ. [c.463]

ЭЛЕКТРбННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ—совокупность методов анализа свойств вещества по энергетич. спектрам, угл. распределениям, спиновой поляризации и др. характеристикам электронов, эмитируемых веществом под влиянием к.-л. внеш. воздействий (электронных, ионных и др. зондов). Методы Э. с. позволяют изучать элементный состав образца, структуру, электронное строение, тепловые колебания атомов и молекул веществ в твёрдой, жидкой и газовой фазе, а также получать др. информацию на микроскопич. уровне. Для твёрдого тела и жидкости информация может относиться как к поверхности и припо-верхностной области, так и к объёму. В зависимости от природы зонда различают фотоэлектронную спектроскопию, в к-рой для выбивания из вещества электронов используют излучение от красного до рентг. диапазона ионно-электронную спектроскопию, в к-рой изучаемый объект бомбардируют ионами разл. энергии вторично-электронную спектроскопию (ВЭС), основанную на изучении рассеяния в веществе потоков ускоренных электронов, и т. д. [I ]. [c.553]

Рентгеноспектральный анализ бокситов также вполне может заменить химический анализ. Методы получения и измерения рентгеновских спектров элементов давно известны, однако только в последние годы был разработан рентгеноспектрометр, который гарантирует безупречную воспроизводимость условий опытов и высокую точность измерений. Для возбуждения рентгеновского характеристичного излучения использованы быстрые электроны или рентгеновское излучение, волны которых короче, чем характеристичное излучение данного элемента. У спектрографов, которые имеются в продаже, предпочтительно возбуждение при помощи коротковолнового рентгеновского излучения, потому что при таком устройстве проба размещается за пределами вакуумного пространства рентгеновской трубки. Исследуемый препарат помещается вблизи окна запаянной трубки, из которой лучи падают на него под определенным углом. Исходящее от пробы вторичное излучение через диафрагму падает на монокристалл, на атомных плоскостях которого оно отклоняется по Брэгговскому уравнению [c.21]

Все методы основаны на взаимодействии первичного излучения (теплового, рентгеновского, электрического и магнитного поля, потока фотонов, электройов, ионов, нейтральных атомов и молекул и т. д.) с веществом и анализе рассеянного или (чаще) вторичного излучения [1]. Таких методов известно несколько десятков, однако наибольшее распространение получили четыре Оже-электронная спектро- [c.151]

Однако ситуация изменяется для твердого Li, когда в оже-пере-ход вовлекаются электроны проводимости. Для облегчения идентификации исследуемых веществ составлены каталоги оже-спектров большинства элементов и некоторых соединений. При обычно ис-пользуел1ых пучках электронов с энергией до 3 кэВ вероятность конкурирующего рентгеновского излучения пренебрежимо мала. Трудности регистрации небольшого количества оже-электронов на фоне большого тока вторичной электронной эмиссии были успешно преодолены путем дифференцирования сигнала и применения синхронного детектора. Вследствие неупругих столкновений на пути к поверхности тела практически регистрируются лишь оже-электроны, выходящие с небольшой глубины ( 10—30 А для металлов), поэтому наблюдае.мый сигнал очень сильно зависит от состояния поверхностного слоя. [c.28]

Параметрическая генерация света является одним из частных случаев плавного нелинейно-оптического преобразования спектра вынужденного излучения путем его вторичной генерации в резонаторе, содержащем соответствующую нелинейную среду [115—119]. К числу наиболее распространенных систем такого типа относятся комбинационные лазеры. Они генерируют излучение с частотами Vr = Vн + йvкoл, где v — частота излучения накачки Укол — частоты собственных колебаний среды, на которых происходит комбинационное рассеяние света k — целое число. [c.246]

Для повседневных спектральных измерений обычного типа (с точностью порядка 0,01 А) пользуются вторичными эталонами класса В. К эталонам класса В, измеренным интерферометриче-скими методами в двух, а лучше всего в трех лабораториях, относятся источники излучения многочисленных линий железа, тория и инертных газов. Благодаря высокой плотности линий в спектре тория излучением этого элемента весьма удобно пользоваться как эталоном класса В. [c.354]

При применении. ионизационных камер необходимо убедиться в том, что все ионы, образующиеся псгд действием излучения, достигают коллектора. Иными словами, необходимо снять вольт-амперную характеристику камеры и установить режим, соответствующий току насыщения. Вольт-амперная характеристика может не н.меть горизонтального участка, если энергия фотона, вызывающего фотоионизацию, превышает более чем в два раза энергию ионизации газа-наполнителя, так как при этом образовавшийся после ионизации свободный электрон, обладая достаточной энергией, может снова ионизовать газ. Поэтому считалось, что с данной ионизационной камерой можно производить измерения яркости излучения только в сравнительно узкой области спектра. Однако был предложен способ, который позволяет проводить измерения и в области вторичной ионизации, т. е. снимается ограничение со стороны коротких длин волн [160а]. Для введения поправки на вторичную ионизацию проводятся измерения нонного тока в зависимости от давления газа в ионизационной камере и дальше экстраполяцией до давления р = 0 находится ионизационный ток, соответствующий первичной ионизации. [c.215]

Вторичным стандартом излучения может служить и любой другой хорошо воспроизводимый, источиик монохро.матического излучения, если произвести его градуировку с помощью стандартного источника или регистрировать его излучение с помощью приборов и приемников с известной спектральной чувствительностью. Лучше всего при этом использовать неселективный детектор. Техника такого рода измерений хорошо разработана в видимой и близкой ультрафиолетовой областях спектра [100]. [c.253]

Вольфрамовые лампы накаливания, калиброванные но излучению абсолютно черного тела, являются хорошими вторичными световыми эталонами. Однако можно пользоваться и пекалибро-ваппыми лампами, если фотометрические спектральные измерения необходимо провести пе в абсолютных, а в относительных единицах. В этом случае относительное раснределение энергии по спектру вольфрамовой лампы рассчитывается по формуле Вина или Планка, если измерена цветовая температура нити накала. Последнее легко выполняется с помощью микропирометра, который снабжен проградуированной по абсолютно черному телу эталонной лампой. [c.230]

Существуют разновидности рентгеноспектрометрии, анализирующие одновременно только одну спектральную линию (одноканальные), две (двухканальные) или несколько линий (квантометры). Для регистрации рентгеновских спектров могут использоваться вторичные эффекты, сопровождающие процесс взаимодействия рентгеновского излучения с веществом, нанример флуоресцентный рентгеноспектральный анализ, основанный на регистрации вторичного спектра флуоресценции под действием рентгеновских лучей эмиссионный рентгеноспектральный анализ, при котором регистрируется рентгеновский спектр, возбужденный электронами абсорбционный рентгеноспектральный анализ радиоизотопы и др. Нашли применение дисперсионные методы анализа материалов. [c.183]

Появление характеристич. линий радиатора, или спектра флуоресценции, представляет вторичный процесс. Сначала квант первичного луча выбрасывает электрон из атома рассеивающего вещества (ф о т о э ф ф е к т), а затем на освободившееся место падают электроны с более высоких уровней, давая сериальные излучения. Исследование вторичного излучения годится для производства химич. анализа в том случае, если вещество столь летуче, что не м. б. помещено на антикатод рентгеновой трубки и подвергнуто там электронной бомбардировке. Для получения спектра флуоресценции необходимо, чтобы в спектре первичных лучей были длины волны, равные или меньшие Я, — границы серии. Рассеяние Р. л. связано с их поляризацией. Лучи, рассеянные под углом 90° к первичному пучку, вполне поляризованы. В них электрич. колебания происходят параллельно падающему пучку. Их поляризацию можно исследовать, снова рассеяв от другого тела и исследуя яркость третичных лучей по разным направлениям. Было показано, что лучи флуоресценции не поляризованы. Непрерывный спектр выходяп] их из трубки Р. л. поляризован отчасти.Сериальное излучение вовсе не поляризовано. [c.309]

Смещение водородных линий серии Бальмера (Нц, Нр, Н ) в фиолетовую сторону вследствие эффекта Доплера указывает на то, что возбуждение П. с., в частности, связано с протонами, приходящими от Солнца. Основная часть протонов имеет скорость 500,км/сек. Но, по-видимому, большая часть излучений П. с. возбуждается электронами. Очевидные до казательства наличия быстрых электроноп в зоне П. с. получены с помощью ракет. Быстрые электроны могут возникать вследствие электрич. разряда в атмосфере. В спектре имеются линии, возбуждаемые в результате реакций между электронами и положительными нонами, возникающими нри взаимодействии корпускулярных потоков с верхней атмосферой (вторичные процессы). [c.168]

Таким образом, в рассматриваемой модели спектр РВС действительно содержит узкие спектральные линии ОЛ, ГЛ и РРКР. Как это и должно быть, ОЛ соответствуют линии, обусловленные излучением после окончания колебательной релаксации, ГЛ — линии излучения в процессе колебательной релаксации, а РРКР —линии излучения до колебательной релаксации в возбужденном электронном состоянии. При этом один-един-ственный релаксационный переход (переход М- М—1) необходим и достаточен для нарушения фазовой корреляции между первичным и вторичным фотонами, что и приводит к ГЛ. Этот результат полностью подтверждает критерий фазовой релаксации для разделения рассеяния и ГЛ. [c.348]

Спектроскопия фотолюминесценции твердых тел методически основана на измерении спектра вторичного свечения при фиксированном спектральном составе возбуждающего света и на измерении спектра возбуждения фотолюминесценции, когда приемник регистрирует вторичное излучение в узком спектральном интервале и измеряется зависимость сигнала от частоты возбуждающего света. В первом методе измеряемый спектр определяется главным образом силой осциллятора и временем жизни излучающих состояний, энергетически расположенных вблизи края фундаментального поглощения, и косвенно процессами энергетической релаксации горячих возбужденных состояний. Во втором методе в первую очередь получается информация о спектре и силе осциллятора (но не о времени жизни) электронных возбуждений в энергетической области выше края поглощения. Вклад в фотолюминесценцию полупроводников могут вносить различные механизмы излучательной рекомбинации, такие как зона—зона , зона—примесь , донор—акцептор , с участием фонона, излучение свободных, связанных или локализованных экситонов, а также экситон-поляритонная и биэкситонная рекомбинации. Фотолюминесценция структур с квантовыми ямами имеет свои характерные особенности. В частности, низкотемпературная люминесценция нелегированных квантовых ям обычно связывается с излучательной рекомбинацией экситонов, локализованных на шероховатостях интерфейсов и флуктуациях состава. Дело в том, что в реальности интер- [c.134]

При взаимодействии с поверхностью пучка первичных быстрых электронов (с энергией в сотни кэВ в случае ПЭМ и десятки кэБ для РЭМ) возникает несколько видов ихтучения вторичные электроны, рентгеновское (тормозное и характеристическое) и оптическое излучения. Анализ пучка вторичных электронов позволяет не только повысить разрешающую способность РЭМ, но и получить ценные сведения о локальных электрических и магнитных полях на поверхности. Детектирование электромагнитного излучения дает возможность одновременно с получением изображения участка поверхности судить о кристаллографической структуре (микродифракция), дефектах (катодолюминесценция) и его составе (оже-спектры). В современных РЭМ эта информация может быть получена с площадок в несколько квадратных нанометров. Если поверхность полностью разупорядочена, дополнительную информацию дает анализ фазового контраста изображения, т.е. сдвига фаз электронных пучков при их взаимодействии с поверхностью. Использование импульсной техники позволяет получать не только статическую картину участков поверхности, но и изучать динамические процессы на ней — диффузию тяжелых атомов, их сефе-гацию, фазовые переходы и др. Временное разрешение может быть доведено до нескольких пикосекунд. [c.123]

Оже-спектроскопия. Для анализа самых верхнж слоев кристалла большое распространение получила электронная оже-спектроскопия (-9(90, в которой возбуждение электронов на внутренних оболочках атомов обычно осуществляется пучком быстрых электронов, рентгеновских фотонов или ионов. В ее основе лежит открытый в 1925 г. французским ученым Оже эффект рождения вторичных электронов в результате электронных переходов между внутренними оболочками атомов. Как видно из рис.4.12,д, под воздействием внешней ионизации на внутренней оболочке (К — на рис.4.12,а) образуется вакансия. Она может быть заполнена электроном, находящимся на более высоком энергетическом уровне, например, на уровне Е. Выделившаяся при этом переходе энергия затрачивается либо на испускание кванта характеристического рентгеновского излучения Лу (рентгеновская флуоресценция) — переход 1 на рис.4.12,6, либо может быть передана другому внутреннему электрону. Например, при переходе Е -К — электрону на уровне Е (переход 2), что сопровождается эмиссией его в вакуум (оже-процесс). Рентгеновский спектр и энергетическое распределение эмитированных оже-электронов (оже-спектр) несут информацию о природе практически всех атомов периодической таблицы. Интенсивность эмитированных оже-электронов для легких атомов превышает выход флуоресценции. При переходе к более тяжелым атомам это соотношение меняется на обратное. Например, для К-оболочки элементов с атомным номером Z > 33 (мышьяк) выход флуоресценции преобладает над оже-процессами. [c.138]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...