Излучение вторичное

Знание законов ослабления излучения в защитных средах подразумевает знание характеристик полей излучения (вторичного и рассеянного), инициированных взаимодействием первичных ускоренных частиц с мишенями, конструкционными материалами и защитой. [c.230]

Радиационные пирометры состоят из телескопа, приемника интегрального излучения, вторичного прибора и вспомогательных устройств. Оптическая система телескопа концентрирует энергию излучения тела на приемник интегрального излучения, степень нагрева которого (температура), а следовательно, и выходной сигнал пропорциональны падающей энергии излучения и определяют радиационную температуру тела. [c.192]

Следовательно, существование неоднородности Ае создает вектор поляризации АР. Отсюда можно найти источник излучения вторичных волн АП [c.136]

Возникновение вторичных электромагнитных волн в веществе приводит также к процессу рассеяния излучения материальной средой. При этом если молекулы среды равномерно распределены по объему, а расстояние между молекулами намного меньше длины волны, то излучение вторичных волн по различным направлениям должно полностью исчезать. Однако если среда является оптически неоднородной, то полного исчезновения вторичных волн вследствие их взаимной интерференции не происходит и возникает процесс рассеяния электромагнитной энергии проходящей волны по различным направлениям. Причины возникновения оптической неоднородности среды могут быть различными. В абсолютно чистой среде оптические неоднородности могут возникать за счет флюктуаций плотности вещества. В мутных средах (коллоидные растворы, суспензии, эмульсии и пр.) оптическая неоднородность нарушается за счет присутствия частиц с отличающимися оптическими свойствами. [c.33]

Замещение световой волны в среде. Входящая в диэлектрическую среду световая волна возбуждает колебание диполей, которые излучают вторичную волну. Вторичная волна распространяется в среде со скоростью, характерной для. среды, а первичная волна после входа в среду продолжает распространяться с начальной скоростью. Первичная и вторичная волны складываются между, со бой. В момент излучения вторичная волна имеет ту же фразу колебаний, что [c.93]

На примере зон Френеля для различных ситуаций излагается основная идея анализа излучения вторичных источников. [c.208]

Излучение вторичное 212, 331, 332 Изображение несфокусированное 247 [c.422]

В растровых электронных микроскопах образец сканируется тонким электронным пучком, обегающим за время развертки всю исследуемую поверхность образца. В каждой точке соприкосновения электронного луча с веществом возникает ряд излучений вторичные электроны, рассеянные электроны, рентгеновские лучи, световое излучение и т. д. Эти излучения используются для получения изображений на экранах электронно-лучевых [c.185]

Материалы для приборов излучения вторичных и тепловых электронов — материалы, которые используют для получения тепловых и вторичных электронов. [c.367]

Существенно, что переменным интегрирования т и х, фигурирующим в формуле (5), может быть придано наглядное физическое содержание, непосредственно связанное с процессами релаксации [15]. Переменные т и т описывают время, прошедшее от поглощения первичного фотона до излучения вторичного фотона в двух амплитудах вероятности, а время —разность времен в двух амплитудах после излучения вторичного фотона. Следовательно, среднее время двух амплитуд [c.329]

На первый взгляд могло бы казаться, чтр проникающая в помещение II мощность соответствует той части сферического фронта, которая ограничена отверстием (т. е. действительной площади вторичного источника). Однако, оказывается, что эта мощность такова, как если бы а) или площадь отверстия была в п раз больше истинной, б) или сопротивление излучения вторичного источника было в п раз больше нормального (для сферического [c.251]

Эффективность излучения вторичных волн заметно падает с уменьшением отношения >/Я, [в дипольном приближении (1)/Х,) ], поэтому наиб, отчётливо дифракция начинает проявляться лишь при В к. Напр., Д, в. на воде (Я, 1 м) или звука в воздухе (X 1 см) может наблюдаться практически всегда, дифракция света (Я=10- —10 см) требует выполнения особых условий (игольчатое отверстие, острый край бритвы и т. п.), а для дифракции рентгеновских лучей (X 10 —10- см) приходится использовать крист, решётки. [c.170]

Вводная глава книги содержит краткое обсуждение понятия температура , обзор истории термометрии и вскрывает важное различие между первичной и вторичной термометриями. В гл. 2 рассматриваются истоки известных международных соглашений о термометрии, обсуждаются развитие и современное состояние Международной практической температурной шкалы. В гл. 3 рассмотрены главные методы измерения термодинамических температур, к которым относится газовая термометрия, акустическая термометрия и шумовая термометрия. В гл. 4 описаны реперные точки температуры, тройные точки и точки кипения газов, точки затвердевания и сверхпроводящие точки металлов. Здесь же рассмотрены требования к однородности температуры при сравнении термометров. Три последующие главы посвящены основным методам практической термометрии, термометрам сопротивления, термопарам и термометрии по излучению. Во всех главах, в том числе и во вводной, даны не только физические основы методов высшей точности, применяемых в эталонных лабораториях, но и их подробное описание. Приведены также примеры измерений температуры в промышленных условиях. Книга завершается краткой главой о ртутной термометрии. Каждая глава дополнена обширной библиографией. [c.9]

Чтобы объяснить различие между первичной и вторичной термометрией, прежде всего укажем, в чем смысл первичной термометрии. Под первичной термометрией принято понимать термометрию, осуществляемую с помощью термометра, уравнение состояния для которого можно выписать в явном виде без привлечения неизвестных постоянных, зависящих от температуры. Выше было показано, каким образом постоянная Больцмана обеспечивает необходимое соответствие между численными значениями механических и тепловых величин и каким образом ее численное значение определяется фиксированием температуры 273,16 К для тройной точки воды. Таким же способом было найдено численное значение газовой постоянной. Таким образом, имеются три взаимосвязанные постоянные Т (тройная точка воды) или То (температура таяния льда), к и R. В принципе теперь можно записать уравнение состояния для любой системы и использовать ее в качестве термометра, смело полагая, что полученная таким способом температура окажется в термодинамическом и численном согласии с температурой, полученной при использовании любой другой системы и другого уравнения состояния. Примерами таких систем, пригодных для термометрии, могут служить упомянутые выше при обсуждении определения к н Я газовые, акустические, шумовые термометры и термометры полного излучения. Наличие не зависящих от температуры постоянных, таких, как геометрический фактор в термометре полного излучения, можно учесть, выполнив одно измерение при То Последующее измерение Е(Т) [c.33]

Для определения размеров дефектов производятся следующие операции. Сначала просвечивают источником излучения перпендикулярно поверхности сваренной детали (рис. 5.8, а). Устанавливают на детали положение дефекта, наносят реперные метки. Производят вторичное просвечивание под углом (рис. 5.8, б). Полученные снимки накладывают друг на друга, совмещая метки, и измеряют расстояние между обоими изображениями дефекта. Глубину его залегания определяют по формуле [c.118]

Для определения размеров дефектов производятся следующие операции. Сначала просвечивают источником излучения перпендикулярно поверхности сваренной детали. Устанавливают на детали положение дефекта, наносят реперные метки. Производят вторичное просвечивание под углом. Полученные снимки накладывают друг на друга, совмещая мет- [c.191]

Метод Линника. Перед точечным источником 5 (рис. 4.15) расположен полупрозрачный экран с небольшим отверстием в центре экрана. Полупрозрачная пластинка пропускает фронт падающей на нее волны, несколько ослабляя ее, без искажения. Отверстие 5 , согласно принципу Гюйгенса, играет роль вторичного излучения с центром в нем. Оба фронта волны от источников S и 5i, встречаясь, дают картину интерференции. В отличие от всех предыдущих случаев в последней схеме, предложенной в 1935 г. советским ученым В. П, Линником, когерентные источники не лежат на пря- [c.84]

Поглощение света с точки зрения классической теории. Под действием электрического поля световой волны с круговой частотой со отрицательно заряженные электроны атомов и молекул смещаются относительно положительно заряженных ядер, совершая гармоническое колебательное движение с частотой, равной частоте действующего поля. Колеблющийся электрон, превращаясь в источник, сам излучает вторичные волны. В результате интерференции /j падающей волны со вторичной в среде возникает волна с амплитудой, отличной от амплитуды вынуждающего поля. Поскольку интенсивность есть величина. Рис. 11.10 прямо пропорциональная квадрату амплитуды, то соответственно изменится и интенсивность излучения, распространяющегося в среде другими словами, не вся поглощенная атомами и молекулами среды энергия возвращается в виде излучения — произойдет поглощение. Поглощенная энергия может превратиться в другие виды энергии. В частности, в результате столкновения атомов и молекул поглощенная энергия может превратиться в энергию хаотического движения — тепловую. [c.279]

Принципиального изменения не произойдет, если первоначально падающий свет не является естественным, а линейно-поляризован. Единственное отличие в этом случае заключается в том, что если электрический вектор в падающем линейно-поляризованном свете колеблется в направлении наблюдения (вдоль оси у), то, поскольку оно вызывает колебание изотропной молекулы в том же направлении, а распространение вторичного излучения (рассеянный свет) вдоль оси у не станет возможным, в прибор наблюдателя вообще свет не попадает. [c.316]

В настоящей главе проводится анализ защиты активной зоны реактора. Она начинается с описания реакторов различных типов. Активная зона реактора характеризуется как источник излучения нейтронов, первичных и вторичных у-квантов. Основное внимание уделяется анализу излучения активной зоны при работе реактора . [c.7]

Знание пространственно-энергетического распределения нейтронов в активной зоне и защите дает возможность определить интенсивность источников вторичного у-излучения, а затем и распределение этого излучения в защите. [c.8]

При проведении расчетов поля у-квантов в защите реактора обычно рассчитывают отдельно две составляющие у-излучение из активной зоны и вторичное у-излучение из защиты. При расчете составляющей активной зоны как излучения гомогенного объемного источника можно пользоваться аналогично случаю быстрых нейтронов различными формулами, полученными для объемных источников. Например, для сферической активной зоны с равномерной плотностью источников интегрирование функции влияния точечного источника приводит к следующему выражению для плотности потока у-квантов [38] [c.59]

ОСЛАБЛЕНИЕ ВТОРИЧНОГО г ИЗЛУЧЕНИЯ [c.61]

При расчете распределений вторичного у-излучения в защите, т. е. захватного у-излучения, а также у-излучения, сопровождающего неупругое рассеяние быстрых нейтронов (см. 9.2), следует учитывать, что в большинстве случаев в его интенсивность основной вклад вносит захват тепловых нейтронов. [c.61]

Поле у-квантов в защите реактора, обусловленного вторичным у-излучением из материалов активной зоны, может быть рассчитано по формулам, приведенным в 9.4. Ниже рассматривается в основном задача расчета ослабления вторичного у-излучения из материалов защиты. [c.61]

Метод рентгенометрии (рентгеноструктурного анализа) основан на свойстве рентгеновских лучей проникать в тело исследуемого объекта и возбуждать излучение вторичных рентгеновских лучей, которые, интерферируя, в одних направлениях усиливают друг друга, а в других — ослабляют. Благодаря этому, если пучок лучей, пропущенных через вещество, принять на фотопластинку, то после надлежащей обработки на ней обна- [c.6]

Дело обстоит гораздо слоЖ1нее, когда излучение распространяется в материальной среде. С точки зрения электронной теории взаимодействие излучения и вещества заключается в воздействии электромагнитной волны на электрические заряды, входящие в состав атомов вещества. Это воздействие сводится к возбуждению колебаний электронов в такт с колебаниями проходящей через среду электромагнитной волны, в результате чего возбужденные колебания зарядов приводят к испусканию вторич нт.ьх электромагнитных волн. Для отдельного изолированного атома излучение вторичных волн той же частоты, что и падающая волна, описывается косинусоидальной диаграммой испускания по различным направлениям [Л. 15]. Вторичные волны, испускаемые соседними атомами, оказываются когерентными и интерферируют друг с другом. В результате такой интерференции излучение среды в стороны почти полностью нивелируется, а взаимная интерференция иер-вичной и вторичных волн, приводит к возникновению результирующей волны, которая распростраияется в первоначальном направлении, но с фазовой скоростью, мень-щей, чем скорость излучения в вакууме. Таким образом, следствием взаимодействия излучения е атомами и молекулами вещества является прежде всего уменьшение скорости распространения излучения в реальной среде по сравнению с вакуумом. Если при этом скорость распространения излучения в среде. меняется с частотой, то будет происходить так называемая дисперсия электромагнитных волн в данной среде. [c.32]

Согласно Г.— Ф. п., волновое возмущенно в точке Р (рис.), создаваемое источником Р , можно рассматривать как результат интерференции вторичных олементарных волн, излучаемых каждым элементом dS нек-pou волновой поверхности S с радиусом Гц. Амплитуда вторичных волн пропорциональна амплитуде первичной волны, приходящей в точку Q, площади элемента dS и убывает с во.зрастанием угла х между нормалью к поверхности S и направлением излучения вторичной волны на точку Р. Амплитуда Eq первичной волны в точке Q на поверхности S даётся выражением Eq= =—exp (шг—/сго), где Л — амплитуда волны на [c.547]

Рассеяние света в средах. Практически всегда наблюдается Р. с. объектами с большим числом атомных частиц. Картина рассеяния создаётся в результате интерференции излучений вторичных волн отдельными атомными частицами. Из-за большого их числа образуется мелкомасштабное нространственное распределение интенсивности рассеянного света. Практически эта тонкая структура рассеяния никогда не регистрируется, а усредняется, т. к. апертура регистрирующих устройств намного превосходит масштабы структуры. Поэтому Р. с. в средах описывается статистич, методами в форме усреднения по реализациям расположений рассеивающих атомных частиц. [c.280]

Более широкое расиространение получили в последние годы радиационные горелки с керамическими перфорированными плитками [Л. 130, 131]. Схема одной из таких горелок представлена на рис. 9-4. Газ поступает в горелку но газопроводу /. При истечении из сопла 2 газ подсасывает из атмосферы весь необходимый для горения воздух через приемную коробку 3. Смешение происходит в основном в инжекторе 4 и заканчивается в распределительной коробке 5. Газо воздуш-на я смесь проходит затем через сквозные каналы керамической плитки 6 и сгорает вблизи от ее наружной поверхности. При работе горелки пламя накаляет наружную часть плитки, которая становится источником теплового излучения (вторичным излучателем) преимущественно в инфракрасной области спектра. По этой причине даиные устройства часто называют горелками инфракрасного излучения. Прогреваясь на некоторую глубину, плитки отдают часть тепла газо-воз-душной смеси. По этой причине температура смеси при ее истечении [c.154]

Таким образом, в приближении Кирхгофа в рамках электромагнитной теории света удается преодолеть труд1 сти метода зон Френеля и ответить на вопросы, которые теория Френеля была не в состоянии разрешить (амплитуда вторичных источников, характд) зависимости амплитуды излучения вторичных источников от направления, фаза). [c.217]

Поскольку рассеянное поле является результатом излучения вторичных волн частицей, совершающей вынужденные колебания под действием падающей волны, то частота рассеянных волн остается той же. Неизвестные коэффициенты a j в разложенш (VII. 46) находятся из граничных условий, зависящих от физических свойств рассеивающей частицы. При этом, поскольку рассеянное поле обычно наблюдается на расстояниях г, значительно превышающих длину волны, т. е. ири fer I, то функцию (ikr), как видно из выражения (VII. 47), можно положить равной единице. [c.163]

Интенсивность излученных вторичных электронов зависит от пути, которым первичные электроны проникают в кристалл, и пути, по которому они рассеиваются обратно к поверхности. Для того чтобы добиться разумного согласия с экспериментальными наблюдениями, Хэмфри и др. [223] предложили и уточнили [224] приближенную теорию, использующую поведение отдельных блоховских волн. Особый интерес вызывает возможность определять дефекты на поверхностях массивных кристаллов, используя то возмущение, которое они вносят в процесс рассеяния. Меняя сочетания падающего и вторичного излучений, можно получить много ин- [c.331]

Признак длительности имеет большое практич. значение и дает возможность отличить Л. от других неравновесных процессов. В частности, он сыграл важную роль в истории открытия явления Вавилова — Черенкова, позволив установить, что наблюдавшееся свечениенельзяотнестик Л. Вопрос о теоретич. обосновании критерия Вавилова рассматривался В. И. Степановым и Б. А. Апанасевичем [3]. Согласно [3], для классификации вторичного свечения большое значенио имеет существование или отсутствие промежуточных процессов между поглощением энергии, возбуждающе Л., и излучением вторичного свечения (например, переходов между электронными уровнями, изменений колебательной энергии и т. п.). Такие промежуточные процессы характерны для Л. (в частности, они всегда имеют место нри неоптическом возбуждении Л.). [c.31]

Выще было показано, что спектр РВС, описываемый формулой второго порядка, содержит О Л и ГЛ. В этом спектре должен содержаться еще компонент типа релеевского и комбинационного рассеяния. Это ясно уже из общих соображений упругое рассеяние, дающее в спектре РВС примесного центра при монохроматическом возбуждении неуширенную б-образную линию, должно быть всегда. В соответствии с приведенной выше классификацией эта линия излучается при полном сохранении фазовой корреляции между поглощением первичного и излучением вторичного фотонов, поскольку, как легко видеть, она описывается асимптотическим значением корреляционной функции Л(ц, т, т ) при 1->-оо (предполагается, что строго б-образную форму в спектре РВС имеет только релеевская линия). В приближении Кондона для невырожденных основного и возбужденного состояний [c.336]

Рассмотрим рассеяние света при межподзонных переходах еу-> еу в структуре с квантовой ямой -типа, в которой состояния в валентной зоне заполнены полностью, а в зоне проводимости — частично. Равновесную функцию распределения электронов в подзонах еу обозначим в виде где к — двумерный волновой вектор. Как и в случае двухуровневых квантовых систем, рассеяние еу->еу представляет собой двухквантовый процесс. Он включает поглощение первичного фотона с переходом электрона из валентной подзоны Лу в подзону ev и последующее излучение вторичного фотона с переходом равновесного электрона еу в оказавшееся пустым состояние Лу. Аналогично (5.10) для спектральной интенсивности имеем [c.164]

Е2.4. Приншп Гюйгенса. Любая точка волновой поверхности является источником излучения вторичных сферических волн. Волновую поверхность в некоторый момент времени можно построить как касательную к волновым поверхностям вторичных волн, испущенных с волновой поверхности в нулевой момент времеви. [c.158]

Законы преломления и отражения, определяя направления отраженного и преломленного лучей, не дают никаких сведений об интенсивностях и фазах. Задачу определения интенсивностей и фаз отраженного и преломленного лучей можно решить, исходя из взаимодействия электромагнитной волны со средой. Согласно электронной теории, под действием электрического поля падающей волны электроны среды приводятся в колебания в такт с возбуждающим полем — световой волной. Колеблющийся электрон при этом излучает электромагнитные волны с частотой, равной частоте возбуждающего поля. Излученные таким образом волны называются вторичными. Вторичные Bojnibi оказываются когерентными как с первичной волной, так и мемаду собой. В результате взаимной интерференции происходит гашение световых волн во всех направлениях, кроме двух — в направлениях преломленного и отраженного лучей. В принципе можно, решая задачу интерференции, определить направления распространения, интенсивности и фазы обоих лучей. Однако решение ее, хотя и привело бы к результатам, согласующимся с опытными данными, представляется довольно сложным. Эту же задачу можно решить более простым путем,- используя систему уравнений Максвелла. [c.45]

К источникам вторичных у-кваитов в материалах активной зоны и защиты относятся 1) захватное у-излучение, образующееся в результате реакции (п, у) 2) у-излучение, возникающее при неупругом рассеянии быстрых нейтронов 3) у-излучение, сопровождающее нейтронные реакции с образованием заряженных частиц 4) активационное у-излучение 5) тормозное у-из-лучение 6) у-кванты, возникающие при аннигиляции позитронов. [c.27]

Суммарная интенсивность источников уквантов qy r) в активной зоне складывается из интенсивности источников первичного и вторичного у-излучения. При этом некоторая часть q (г), обусловливаемая мгновенным уизлучением деления и у-излу-чением, возникающим при захвате и неупругом рассеянии нейтронов, пропорциональна мощности реактора в рассматриваемый момент времени. Остальная часть ее, обусловливаемая запаздывающим у-излучением продуктов деления и активационным у-излучением, зависит от мощности и режима работы реактора в предыдущий период. [c.33]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...