Спектр вторичный

Спектр вторичных у-квантов [c.27]

Нетрудно показать, что описанная установка позволяет определить энергетический спектр вторичных нейтронов с помощью измерения энергетического спектра протонов отдачи (всевозможных направлений), зарегистрированных ионизационной камерой. [c.377]

И, следовательно, впервые доказана принципиальная возможность цепного ядерного процесса. Более точные сведения о спектре вторичных нейтронов и величине v были получены в последующих опытах, о которых будет рассказано в 44, п. 3 и 7. [c.378]

На рис. 169 приведены результаты измерения спектра вторичных нейтронов. Форма спектра с хорошей точностью передается формулой [c.395]

Из рис. 169 и формулы (44.8) видно, что в спектре вторичных нейтронов представлены нейтроны довольно высоких энергий (в настоящее время измерения доведены до 17 Мэе), однако-из-за чрезвычайно быстрого спада кривой в сторону больших энергий средняя энергия нейтронов деления составляет [c.396]

Эмиссия оже-электронов (ЭОЭ). В спектрах вторичных электронов имеются узкие линии, соответствующие вторичным электронам, возникшим в результате оже-процесса, протекающего при бомбардировке тела первичными электронами, которые вышли из тела без рассеяния (табл. 25.25 и рис. 25.44—25.46). Этот процесс состоит в следующем. При возбуждении атома первичными электронами происходит переход электрона с какого-либо внутреннего уровня (например, К) в свободное состояние выше уровня вакуума. Освободившийся [c.586]

Для приложений из всех существующих режимов дробления капель иногда удобно выделять три группы режимов I, II, III, существенно отличающихся друг от друга по размеру (спектру) вторичных фрагментов [c.169]

В максимуме ливня спектр вторичных частиц имеет вид [c.565]

Эта зависимость может быть с достаточной точностью использована для определения спектра вторичных капель после соударения первичной капли с твердой поверхностью. [c.71]

На интенсивность спектра вторичных ионов сильно влияет матрица даже незначительные загрязнения поверхности металла кислородом, хлором, фтором уменьшают интенсивность сигнала вторичных ионов на несколько порядков. Частично влияние матрицы ослабляют, предварительно насыщая поверхность кислородом или применяя ионы кислорода в качестве первичных, — это стабилизирует эмиссию вторичных ионов. [c.155]

ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ СПЕКТР ВТОРИЧНЫХ НЕЙТРОНОВ [c.345]

Связь спектра вторичных частиц по их кинетическим энергиям в Л-системе с угловым распределением в Ц-системе имеет в нерелятивистском случае вид ) [c.44]

Наконец, надо отметить особенно простое выражение связи спектра вторичных частиц в Л-системе с их угловым распределением в Ц-системе через параметры эллипса импульсов. В самом деле (8.40) можно переписать в виде [c.49]

Поэтому при этом значении, независимо от формы бесконечного спектра первичных частиц, будет наблюдаться максимум энергетического спектра вторичных частиц. Рассмотрим далее два значения энергии Ei и Е2, обладающих тем свойством. что N(Ei) = N(E2). Поскольку спектр вторичных частиц имеет максимум при любом распределении первичных, то всегда имеется бесконечное количество таких пар значений энергии, расположенных по обе стороны от максимума. Ясно, что El и Е2 должны совпадать с границами интервала, соответствующего какой-то определенной величине энергии [c.76]

Вначале мы остановимся на более простом случае построения спектра вторичных частиц. [c.78]

ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ СПЕКТР ВТОРИЧНЫХ ЧАСТИЦ 85 [c.85]

Энергетический спектр вторичных частиц [c.85]

Для строгого вычисления энергетического спектра вторичных частиц, образованных при распаде на три частицы, надо знать вид взаимодействия частиц с полем. Однако до сих пор ни в одном случае не удалось однозначно установить [c.85]

ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ СПЕКТР ВТОРИЧНЫХ ЧАСТИЦ 87 [c.87]

ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ СПЕКТР ВТОРИЧНЫХ ЧАСТИЦ 89 [c.89]

Спектр вторичных частиц зависит также от угла вылета частиц. Угловое распределение вторичных каскадных частиц отличается сильной анизотропией — вылетом большинства частиц в узкий конус по направлению движения первичной частицы. С повышением энергии первичнЬй частицы увеличивается и анизотропия. Экспериментально наблюдаемый факт большой ани- [c.250]

Коэффициент размножения определяется величиной v, вероятностями различных взаимодействий (приводящих и не приводящих к делению) нейтронов с ураном и примесями, а также конструкцией и размерами установки. Поэтому очень важно знать сечения для процессов деления, еупругого рассеяния и захвата нейтронов ураном при тех энергиях, с которыми они образуются, и, следовательно, энергетический спектр вторичных нейтронов. [c.374]

Кривая спектра вторичных нейтронов, полученная этим методом, изображена на рис. 155. Из рисунка видно, что спектр вторичных нейтронов имеет максимум в районе 1 ЬАэв и плавно спадает в обе стороны от максимума. [c.378]

Облучение поверхности электронами вызывает эмиссию всех четырех видов частиц, однако наиболее часто анализируются электроны, что обусловлено сравнительной простотой их регистрации. Для получения информации о поверхности регистрируют энергию и пространственное распределение упруго- и неупругоотраженных первичных электронов зонда или регистрируют вторичные электроны и оже-электроны, В энергетическом спектре вторичных электронов, испускаемых вследствие облучения поверхности пучком первичных электронов (рис, 6,3), условно можно выделить три основные зоны. [c.151]

Спектрометр ГЕЛИОС используется для научения взаимодействий ускоренных ядер О и S (с энергией порядка 200 ГэВ/пуклон) с тлжёлы.ми ядрами. Он позволяет измерять спектры вторичных частиц, исследовать их корреляции, идентифицировать электроны, мюоны, [c.425]

I MKMj. Кроме того, изучаются экергетич, спектры вторичных электронов, выбитых первичным электронным пучком с поверхности или из объема образца (см. Оже-спектро-скопия). [c.551]

Как и при анализе электронов, в этом случае можно измерять число, энергетическое и пространственное распределение эмитируемых ионов. Однако в случае эмиссии ионов появляется и новая аналитическая возможность — анализ вторичных ионов по массам. Этот метод и называют МСВИ. Масс-спектр вторичных ионов характеризует химический состав поверхностного слоя. Большое число вторичных ионов значительно усложняет спектр, однако делает его и более информативным. Кроме того, метод МСВИ обладает очень высокой чувствительностью (правда, меняющейся в широких пределах) и позволяет определять все элементы, включая водород, гелий, а также различные изотопы элементов и молекулярные осколки [7]. На рис. 7.10 показан МСВИ- [c.154]

Как и при анализе электронов, в этом случае можно измерять число, энергетическое и пространственное распределение эмитируемых ионов. Однако в случае эмиссии ионов появляется и новая аналитическая возможность — масс-анализ вторичных ионов. Этот метод и называют МСВИ. Масс-спектр вторичных ионов характеризует химический состав поверхностного слоя. Большое число вторичных ионов значительно усложняет спектр, однако делает его и более информативным. Кроме того, метод МСВИ обладает очень высокой чувствительностью (правда, ме- [c.123]

В последние годы выявились новые возможности метода локального рентгеноспектрального анализа, связанные с открытиями новых эффектов при взаимодействии электронов с кристаллическим веществом. Разработано много новых локальных физических методов исследования и анализа, в которых используют информацию, получаемую при исследованиях характеристических рентгеновских и электронных спектров, спектров вторичных и первично рассеянных ионов. В отличие от способа локального рентгеноспектрального анализа все эти методы имеют высокую локальность лишь в одном измерении (по глубине) это методы вторичной ион-ионной эмиссии, рентгенофотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии и др. Перечисленные методы позволяют проводить локальный анализ тонких слоев толщиной 0,2—4 нм с целью количественного элементного анализа, определения валентного состояния атомов на поверхностях соединений, сплавов, получения сведений о распределении электронных состояний по энергиям [1, 63]. [c.84]

Основной вопрос, сможем ли мы вообще осуществить цепную ядерную реакцию на бьютрых нейтронах, использовав для этого или 0235, или Ра-231 , упирается в точные значения величины Vgj и в области энергий нейтронов 1 MeV < Е < 3 MeV. Хотя из работы К.А. Петржака и моей следует, что при 0,4 MeVсм , но, по-видимому, спектр вторичных нейтронов начинается с 1 MeV, так что во всяком случае будет больше, чем 2 10 не превышая вместе с тем 3 10 (опыты с Ра ). Относительно V примем, что это число заключено между 2 и 3 (данные для U-235 — деление под [c.418]

Энергетический спектр вторичных нейтронов, по измерениям многих авторов, начинается примерно с 0,6MeV. Максимальная энергия равна 10 —И MeV, 90% нейтронов имеет энергию, меньшую 2 MeV. Однако не опубликовано никаких измерений для энергий, меньших 0,6 MeV. Количественные измерения, особенно в области малых энергий, очень трудны. Спектр нейтронов из источника Rn — Бе, с которым обычно сравнивается спектр вторичных нейтронов, не был хорошо измерен. Несмотря на это, результаты различных измерений [10], [18], [19] и [20] находятся в достаточно хорошем согласии друг с другом. [c.345]

Фиг. 93. Спектр вторичных нейтронов деления (по работе Цинна и Сциларда). Кривая I. Распределение импульсов, вызванных отдачей ядер гелия. Ионизационная камера наполнена 10 атм гелия и 10 атм аргона. Кривая П. Распределение импульсов, вызванных отдачей ядер водорода. Ионизацоонная камера наполнена 1.) атм гелия и 8 атм аргона. Кривая III. распределение импульсов, вызванных протонами, выделяющимися при реакции медленных нейтронов с небольшим количеством азота, находящегося в камере. Камера наполнена Ю атм гелпп и 10 атм аргона.

Проблема восстановления энергетического спектра первичных частиц, распадающихся по двухчастичной схеме, по спектру вторичных рассматривалась в работах [11—16]. Для достаточно больших энергий, а именно когда выполняется условие ar h ar h Як, решение было получено в виде ряда [11] [c.79]

Основной белый цвет образуется совместным действием всех длин во.тн если распределение интенсивности по спектру соответствует распределению интенсивности солнечного спектра, вторичный белый цвет получается при возбуждении глаза ограниченными участками спектра. Цветя, дающие в соединении ошущение белого цвета, называются дополнительными (красный-р зеленый, оранжевыйсиний, желтыйфиолетовый). [c.523]

Спектр вторичный 144, XV. Спектр резонансный 334, XII. Спектрограф 754, XIV. Спектрограф массовый 432, XIII. Спектроскопия молекулярная 428, [c.492]

Наличие рассеянных (в т о р и ч н ы х) Р. л. указывает на необходимость работающим с Р. л. защищать себя от действия не только прямого пучка Р. л., но и от вторичных лучей, рассеянных предметами, на к-рые падают пе рвйчныеР.л. (напр, стены). Спектральный состав вторичных Р. л. в основе совпадает с составом первичных, отличаясь однако рядом особенностей. В спектре вторичных лучей кроме линий, имеющихся в спектре первичных, заметны линии, несколько смещенные в сторону длинных волн (эффект Ком-пт о н а), а также линии, характерные для рассеивающего вещества (радиатора). Эффект Комптона объясняется с квантовой точки зрения след, образом. Столкновение кванта с электроном рассматривается как столкновение упругих шариков. Если электрон слабо связан, то по законам упругого удара он испытает явление отдачи и вылетит за пределы атома (электроны отдачи). Отразившийся от него квант потеряет при этом часть энергии, а так как энергия кванта е связана с частотой соотношением то длина волны Л должна при этом увеличиться. Изменение АЯ (в А) связано с углом рассеяния 6 соотношением [c.309]

РАССЕЯНИЕ СВЕТА — преобразование света веществом, сопровождающееся изменением напраиле-ппя его распространепии и проявляющееся как свечение вещества (т. н. несобственное свечение, нанр. свечение планет). Явление Г , с. весьма многообразно и играет важную роль в обыденной жизни, в технике II как мощное средство исследования строения вещества (строения молекул, жидкого состояния и т. п.), а также промышленного контроля. Р. с. родственно фотолюминесценции, от к-рой отличается отсутствием промежуточных квантовых переходов в веществе, т. е. с точки зрения классич. теории тем, что свечение вещества возникает в результате возбуждения светом вынужденных (а не собственных) колебаний заряда, диполей и мультиполей. Экспериментальным критерием для различения Р. с. от фотолюминесценции может служить зависимость (для F>. с.) илп независимость (для люминесценции) спектра вторичного свечения от спектрального состава возбуждают,его евета, а также критерий Вавилова, согласно к-рому фотолюминесценция отличается от Р. с. более длительным поел есвечением. [c.352]

Спектроскопия фотолюминесценции твердых тел методически основана на измерении спектра вторичного свечения при фиксированном спектральном составе возбуждающего света и на измерении спектра возбуждения фотолюминесценции, когда приемник регистрирует вторичное излучение в узком спектральном интервале и измеряется зависимость сигнала от частоты возбуждающего света. В первом методе измеряемый спектр определяется главным образом силой осциллятора и временем жизни излучающих состояний, энергетически расположенных вблизи края фундаментального поглощения, и косвенно процессами энергетической релаксации горячих возбужденных состояний. Во втором методе в первую очередь получается информация о спектре и силе осциллятора (но не о времени жизни) электронных возбуждений в энергетической области выше края поглощения. Вклад в фотолюминесценцию полупроводников могут вносить различные механизмы излучательной рекомбинации, такие как зона—зона , зона—примесь , донор—акцептор , с участием фонона, излучение свободных, связанных или локализованных экситонов, а также экситон-поляритонная и биэкситонная рекомбинации. Фотолюминесценция структур с квантовыми ямами имеет свои характерные особенности. В частности, низкотемпературная люминесценция нелегированных квантовых ям обычно связывается с излучательной рекомбинацией экситонов, локализованных на шероховатостях интерфейсов и флуктуациях состава. Дело в том, что в реальности интер- [c.134]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...