Спектр эмиссионный

Спектр эмиссионный 276 Спектрально-аналитический метод трех эталонов 281 [c.1652]

Данное пособие создано преподавателями кафедры оптики физического факультета МГУ и обобщает многолетний опыт работы специального оптического практикума и лаборатории по специальности. В нем описаны 19 задач в области эмиссионного спектрального анализа, атомной спектроскопии, колебательных спектров (комбинационного рассеяния, ИК-спектроскопии), люминесценции и электронных спектров поглощения, оптических методов диагностики плазмы и оптических квантовых генераторов. Все шесть глав содержат сведения, представляющие краткий обзор основных понятий и теоретических сведений по соответствующему разделу спектроскопии, необходимых студенту для выполнения задач практикума. Каждая задача в свою очередь состоит из теоретической части и описания нескольких упражнений, на выполнение которых требуется от 9 до 36 часов. Конкретная программа работы студента определяется преподавателем. Пособие завершается приложением, где приведены основные табличные данные, используемые при обработке полученных экспериментальных результатов. [c.4]

Спектральный анализ, основанный на использовании оптических спектров испускания атомов и ионов, называют эмиссионным спектральным анализом. Эмиссионные линейчатые спектры, излучаемые атомами и ионами, не зависят от вида химических соединений, из которых состоит исследуемое вещество. Поэтому эти спектры применяются для определения элементов, входящих в состав анализируемого образца, и их процентного содержания (атомный или элементный анализ). [c.5]

Возбуждение спектров испускания, или эмиссионных спектров, происходит при сжигании некоторого количества исследуемого вещества (пробы) в электрической дуге, искре или другим подходящим способом. При этом проба испаряется, молекулярные соединения обычно диссоциируют на атомы, которые возбуждаются и дают свечение. [c.5]

Применение того или иного источника возбуждения спектра (или, как его часто называют, источника света) определяется конкретными целями работы и возможностями источника образовывать интересующий нас спектр. Источники света в эмиссионном спектральном анализе, как правило, одновременно выполняют две функции переводят вещество пробы в парообразное состояние и возбуждают спектры излучения этих паров. Наибольшее распространение для аналитических целей получили следующие источники света. [c.6]

Большинство задач эмиссионного анализа решается при использовании спектральных линий, расположенных в видимом, ближнем ультрафиолетовом (УФ) и инфракрасном (ИК) участках спектра. В соответствии с этим чаще всего применяются спектрографы, работающие в интервале длин волн 200—1000 нм. Они строятся как с применением дифракционных решеток, так и призменных систем. В последнем случае приборы подразделяются на две группы 1) для УФ-области спектра и 2) для видимой и ближней ИК-области. В приборах первого типа призмы и другие оптические детали обычно изготовляются из кварца, в приборах второго типа — из стекла. [c.8]

Линии комбинационного рассеяния, в отличие от линий эмиссионных атомных спектров, имеют большую ширину от нескольких единиц до нескольких десятков см . Это дает возможность определить положение линий в спектре с точностью 1 см . [c.130]

Испытания эффективности и качества протекторов ограничиваются в основном аналитическим контролем химического состава сплава, проверкой качества и наличия покрытия на держателе, определением достаточности сцепления между держателем (креплением) и протекторным материалом и контролем соблюдения заданной массы и размеров протектора. Испытания магниевых и цинковых протекторов регламентируются нормативными документами [6, 7, 22, 28]. Аналогичных нормативов но алюминиевым протекторам не имеется. Кроме того, указываются и минимальные значения стационарного потенциала [il6]. Нормативы по химическому составу обычно представляют собой минимальные требования, которые обычно превышаются у всех сплавов, имеющихся на рынке. К тому же регламентированные в этих документах способы мокрого химического анализа в техническом отношении за прошедшее время устарели. Протекторные сплавы в настоящее время более целесообразно исследовать методами эмиссионного спектрального анализа или атомной абсорбционной спектрометрии (по спектрам поглощения). [c.196]

Возникающая в процессе деформации образца экзоэлектронная эмиссия регистрируется электронным умножителем, сигнал после усиления подается на интенсиметр с последующей автоматической записью изменения эмиссионной интенсивности. В установке применена оригинальная измерительная схема для регистрации энергетического спектра экзоэлектронов методом сканирующего запирающего потенциала с выводом информации на амплитудный анализатор. Акустические сигналы, сопровождающие процесс пластической деформации, детектируются пьезодатчиками и после соответствующего усиления регистрируются интенсиметром. [c.131]

Все три системы интегральных уравнений полного излучения (7-26), (7-27) (7-28), (7-29) и (7-30), (7-31) являются эквивалентными и обладают одинаковой сложностью. В зависимости от конкретной постановки задачи используется та или иная система. Наибольшее применение при этом находит система уравнений (7-28), (7-29), так как по условию обычно задается либо поле температур, либо поле полных плотностей результирующего излучения. Полученные системы уравнений так же, как и в случае спектрального излучения, являются формально точными и строгими. Однако все затруднения математического и физического плана, имеющие место при решении уравнений спектрального излучения, не снимаются, а еще более усугубляются для уравнений полного излучения в связи с необходимостью интегрирования по всему спектру частот. Поэтому все сказанное об уравнениях спектрального излучения остается в силе и для интегральных уравнений полного излучения, содержащих ряд неизвестных заранее функционалов (ядра Kvv, Kvf, Kfv, Kff и радиационные характеристики среды и поверхности а, р, а и г). Эти функционалы, помимо того что они зависят от температурных и эмиссионных полей в объеме и на поверхности (вследствие чего они заранее неизвестны), имеют более сложный характер по сравнению с аналогичными функционалами спектрального излучения из-за необходимости интегрирования по всем частотам. [c.201]

Эти эффекты могут вызвать уход основных параметров автокатодов за пределы величин, определяемых техническими условиями на конкретный электронный прибор (величина и стабильность эмиссионного тока, ширина спектра шумов и т. д.), что приводит к непригодности катода к эксплуатации. [c.5]

Акустические наблюдения импульсной генерации типа 3 (рис. 6.1), генерируемой единичным эмиссионным центром, показывают, что при увеличении тока происходит смещение усредненного спектра шумов в более высокочастотную область, т. е. среднее число импульсных переключений тока в единицу времени с ростом тока увеличивается. Укорочение на три порядка максимального интервала между импульсными переключениями при увеличении тока с 1 нА до 10 мкА подтверждает наблюдаемое явление. В то же время при наблюдении эмиттирующей поверхности в автоэмиссионном проекторе видно, что количество эмиссионных центров в терминах автоэмиссионной картины при увеличении тока с 1 нА до 10 мкА практически не меняется. Это позволяет заключить, что с увеличением тока скорость флуктуационных процессов на поверхности катода возрастает. Возрастание скорости процесса при измерениях а аналогично эффекту увеличения что при неизменности должно приводить к уменьшению зависимости а от времени. Таким образом, наблюдаемое уменьшение разброса является результатом сдвига флуктуаций эмиссионных областей и центров в область более коротких времен за счет возрастания скорости флуктуационных процессов на поверхности катода. Увеличение тока с 1 нА до 10 мкА приводит также к росту скорости импульсного переключения эмиссионных центров с временами фронтов от 1 мс для токов 1 —ЮнА до десятков наносекунд и менее для тока 10 мкА. Предельно короткие значения фронтов не разрешены. [c.222]

Измеренные таким образом частотно-временные характеристики флуктуаций эмиссионного тока можно условно называть спектрами нестабильности, хотя, строго говоря, методика их измерения отличается от традиционной методики спектрального анализа низкочастотных флуктуаций [2911. [c.224]

При сверхнизких темп-рах, когда все релаксац. процессы замедлены, неравновесной может оказаться заселённость магн. подуровней возбуждённого состояния ядра и эмиссионные спектры магн. СТС становятся асимметричными. В качестве примера на рис, 10 представлены спектры испускания у-квантов (с энергией 14,4 кэВ) ядрами Fe, образующимися при распаде [c.106]

М. Звезды типа Миры Кита. 3657. Долгопериодические гигаигы с периодами от 80 до 1000 дней. Амплитуды изменения блеска 2,5—5". Спектры эмиссионные поздних спектральных классов (Me, Se). [c.981]

И при других способах топливовоздушной подготовки в специальном устройстве — карбюраторе, получившем название вихревого [40, 116]. Качество смесеподготовки определяется однородностью концентрации топливных компонентов в объеме струи, покидающей карбюратор, степенью диспергирования, мелкостью и равномерностью капель в спектре. Присутствие крупноразмерных капель в спектре распыленного топлива обусловливает перерасход горючего и ухудшение эмиссионных характеристик. В процессе карбюрирования желательно добиться полного испарения горючего непосредственно в карбюраторе, что позволит обеспечить равномерность подачи смеси по цилиндрам, исключить попадание крупноразмерных капель на стенки цилиндров, а следовательно, исключить смывание смазки со стенок цилиндра и ее разжижение, снизить содержание СО в выхлопных газах. [c.30]

Звезды Вольфа — Райе — звезды высокой светимости (порядка 10 /, ) с очень яркими и широкими эмиссионными линиями, отличаются присутствием в спектрах одновременно линий высокоионизованных ионов (Г Ю К) и сравнительно низкотемпературного континуума [Ги (1-н2) 10 К]. Представляют собой массивные (около 10 Mq) звезды на конечных стадиях эволюции, интенсивно теряющие массу (10 —lO jVf0 в год) в виде мощного звездного ветра. Известно около 300 таких объектов в нашей и соседних галактиках. [c.1212]

Максимальная величина полного тока составляла 20 мкА. Без стабилизации флуктуации зондового тока достигали 100% от его величины, ток хорошо стабилизировался при включении сопротивлений 1—100 МОм в цепь высокого напряжения. Энергетическое распределение электронов в пучке с наименьшей шириной на полувы-соте A q,5 == 215 мэВ было получено при токе 1 нА (см. рис. 3.6). При возрастании эмиссионного напряжения в энергораспределении появлялся второй, низкоэнергетический пик, относительная высота которого возрастала с увеличением тока. При этом увеличивалась и его ширина. Так, при полном токе 1 = 10 нА ширина энергетического распределения на полувысоте составляла А о.5 = 375 мэВ, а при = 20 нА уже 5 = 680 мэВ. С приближением значения тока к максимальному оба пика сливались и получалась однопиковая широкая кривая энергетического распределения при = 2500 нА ширина спектра на полувысоте составила AEq = 970 мэБ. [c.110]

Т = 330 К до AEq = 1,22 эВ при Т = 1520 К. По результатам исследований был сделан вывод, что расширение энергетического спектра автоэлектронов, эмиттированных из холодного и подогретого катодов на основе углеродного волокна, имеет одну и ту же причину и наиболее вероятной причиной названо кулоновское взаимодействие электронов в эмиссионном пучке. [c.111]

Увеличение эмиссионного тока приводит к усилению ионной бомбардировки поверхности катода и нагреву и, как следствие, испарению материала анода. Последний фактор ведет к загрязнению материала катода, особенно его поверхности, что в свою очередь изменяет эмиссионный ток, как правило, в худшую сторону. Т. к. величина прикладываемого между анодом и катодом электрического поля достаточно велика (несколько кВ), то загрязнение приповерхностной зоны образцов графита материалом анода может происходить до глубин, превышающих 1000 А, причем наибольшее содержание примесей наблюдается в поверхностных слоях от 50 до 500 А. На рис. 4.15 приведены оже-спектры поверхности автокатода из графита типа МПГ-6 в присутствии анода из нержавеющей стали X18HI0T (рис. 4.15л) и на глубине около 500 А. При этом эмиссионный ток со- [c.192]

Для определения д.тин волн линий рядо.м со спектром исследуемого астр, объекта обычно впечатывается эмиссионный лииейчатьп спектр к.-л. элемента, длины волн линий к-рого хороню известны. Стандартные д-чнны волн определяются по лаб. измерениям спектров >келе-за, ртути, неона, аргона и криптона, В свою очередь, эти стандарты опираются на первичные реперные лаб. измерения длин воли криптона (напр., Я=6057, 802105 А), ртути и кад.чия. [c.128]

Для Д. п. по спектрам поглощения наиболее типичны метод поглощения тонким слоем и метод обращения. Если слой оитически тонкой однородной плазмы толщиной I просвечивать излучением вспомогат. источника со сплошным спектром (v) с яркостной темп рой превышающей темп-ру плазмы Г, то иа фоне этого спектра можно наблюдать линии поглощения. Если Гр<7 , то вместо линий поглощения будут наблюдаться эмиссионные линии. При линии в спектре исчезают ( обращение линий ). Следовательно, варьируя Гр известным образом, можно по моменту обращения линий определить Т (см. также Пирометрия оптическая). [c.606]

В разных спектральных диапазонах уровень формирования непрерывного спектра (т 1) находится на разных геом. глубинах. Для коротковолновой области спектра (где относительно велико поглощение на ионах металлов) и для длинноволновой (где велико тормозное поглощение) уровень формирования непрерывного спектра может лежать в хромосфере (рис. 2), в к-рой градиент темп-ры направлен наружу, что приводит к увеличению яркости к краю диска и возникновению эмиссионных линий. Для звёзд с наиб, развитыми хромосферами (напр., звёзд типа Т Таи) это имеет место и в видимом диапазоне — вблизи максимума спектра излучения. Эмиссионные линии возникают также в звёздах с протяжёнными околозвёзд-ными оболочками, эффективно рассеивающими в спектральных линиях излучение фотосферы. [c.62]

Дуговые л а б. II с т о ч н и к и и сери й-ные лампы высокого и сверхвысокого давлений позволяют вводить значит, уд. мощность (Уи>100 Л/см ) и дают излучение высокой яркости с широко варьируемым спектром. Свободно горящая дуга, используемая в эмиссионном спектральном анализе, имеет неустойчивый канал, в к-рый поступают испускающие линейчатый спектр пары материала электродов или спец. вставки в нём. В лаб. источниках, применяемых в спектроскопии плазмы, дуга стабилизируется устраняющей загрязнения вытяжкой газа через электроды или охлаждаемыми водой медными игайбами (при наблюдении канала длиной неск, см и S3 0,2—1 см вдоль оси). Такая стабилизированная- каскадная дуга используется и как эталонный источник (в континууме Аг при р = 0,1—1 МПа, Гд до 1,2-40 К в вакуумных УФ-ляниях Н Тц до 2,2-10 К). Мощная дуга с вихревой стабилизацией канала 0 0,2—1 см и длиной неск. см, обычно в Аг при до 7 МПа и Р до 150 кВт, даёт сплошное излучение с Тв 6000 К и применяется для имитации солнечного излучения, в фотохимии и установках радпац. нагрева. [c.223]

Эмиссионная М. с. В эмиссионной М. с. объектом исследования являются вещества, в к-рые введены радиоакт, ядра, образующие в результате ядерных превращений и последующего каскада у-переходов возбужденное ядро, испускающее резонансные у-кванты (рис. 9), Анализ энергетич. спектра испускаемых у-квантов проводится с помощью мёссбауэровского спектрометра, в к-ром ноглотитель содержит резонансные ядра в осп. состоянии и имеющие единичную линию поглощения (либо с помощью детектора конверсионных электронов). [c.106]

Эмиссионная М. с. расширяет класс исследуемых объектов и физ. явлений. Метод обладает высокой чувствительностью. Можно исследовать образцы с чрезвычайно малой концентрацией радиоакт. ядер (порядка 10 %). В процессе ядерных превращений и каскада у-переходов электронная оболочка иона или его электронное окружение оказываются в неравновесном зарядовом состоянии. Если время жизни неравновесного состояния меньше времени жизни возбуждённого состояния ядра, то в спектрах испускания наблюдаются дополнит, линии с хим. сдвигом и квадрупольным сцеплением, соответствзтощими неравновесному зарядовому состоянию. [c.106]

В эмиссионной М. с. можно производить дифференцированные по времени измерения мёссбауэровских спектров. Регистрируй один из у-квантов (напр., у-квант с энергией 122 кэВ в распаде ядра Со, рис. 9), можно зафиксировать момент образования возбунсдён-вого состояния ядра, испускающего резонансные у-кванты, а затем при помощи совпадений схемы С временной задержкой измерить спектры испускания в заданный момент времени относительно момента образования возбуждённого состояния. Таким методом обнаруживаются неравновесные зарядовые состояния ионов с временами жизни, значительно меньшими, и можно проследить кинетику распада этих состояний. [c.106]

Отрывающаяся от звезды гл. оболочка, вначале непрозрачная для излучения, но мере расширения уменьшает свою оптич. толпщну т, и к моменту максимума блеска величина т 1, вследствие чего её внутр. слои становятся доступными для наблюдения. В это время спектр Н. 3., вначале соответствовавший классам А или Р, сильно изменяется. В оболочке при т < 1 формируются широкие эмиссионные линии на фоне [c.359]

Активность О. с а. я. зависит от природы их центр, источников. Оптич. эмиссионные спектры, к-рые ещё в нач. 1970-х гг. доминировали в построении моделей, есть явление вторичное. Эмиссионные линии возникают довольно далеко от центра (10 —10 см), поэтому осн. информацию о центр, источниках О, с а. я. даёт исследование переменности их излучения в широком диапазоне эл.-магн. спектра. Естественно, что для большинства О. с а. я. исследована оптич. переменность. Наиб, подробные наблюдения переменности проведены для ядра сейфертовской галактики NG 4151. Этот объект считается классич. прототипом О. с а, я. [c.393]

Смотреть страницы где упоминается термин Спектр эмиссионный : [c.210] [c.350] [c.112] [c.113] [c.234] [c.87] [c.407] [c.222] [c.250] [c.250] [c.251] [c.485] [c.616] [c.192] [c.358] [c.393] [c.478] [c.619] [c.620] [c.82] [c.167]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...