Порядок спектра

Световой пучок, соответствующий каждому максимуму, проходя через вторую решетку, распадается на новую совокупность световых пучков, дающих максимумы вдоль вертикальной линии. Полная картина спектра подобна изображенной на рис. 10.1. Цифры 0,0 0,1 1,1 1,2 и т. д. около пятнышек показывают порядок спектра в первой и второй решетках интенсивность их убывает по закону распределения интенсивности в дифракционных спектрах решетки. Нетрудно дать элементарную теорию дифракции на такой решетке. [c.225]

Сточки зрения применения решеток в спектральных приборах наибольший интерес представляют описанные выше области высокой концентрации излучения и поляризующее действие решетки в этих областях. Данные о величине и положении максимумов для ряда углов наклона граней приведены в табл. 2. Относительная доля энергии W вторичного поля, приходящаяся на л-й порядок спектра, для приведенных в таблице значений Я // при Я-поляризации всегда равна единице. Значения XJI вычисляются из условий существования геометрических резонансов I и II. Исключение составляет случай п = 1 для всех ijj, когда существование второго максимума обусловлено одновременным выполнением соотношений взаимности и закона сохранения энергии. Для неполяризованного излучения коэффициент отражения можно получить как среднее арифметическое из коэффи- [c.190]

При заказе решеток указываются следующие характеристики тип решетки (плоская или вогнутая) для вогнутых решеток указывается радиус кривизны количество штрихов на 1 мм размер нарезаемой поверхности (первое число — ширина нарезаемой поверхности, второе — длина штриха в мм) рабочий порядок спектра область высокой концентрации света для какого прибора предназначается решетка (указываются фокусное расстояние объектива камеры спектрографа и угол между падающим и дифрагированным пучками), и другие свойства решетки, интересующие заказчика. [c.46]

Рабочий порядок спектра I. [c.256]

С точки зрения повышения дисперсии прибора выгодно работать в высшем порядке спектра. Однако порядок спектра [c.44]

Такой эшелон может применяться в качестве прибора высокой разрешающей способности для вакуумной области спектра. Очевидно, что, как и для решетки, разрешающая способность эшелона Ш=кК, где N — число ступеней эшелона, k—порядок спектра. [c.136]

Главные максимумы получатся при = где т —порядок спектра. [c.351]

В формуле (7.1.17) т — порядок спектра. [c.435]

Если порядок спектра заменить через углы if и ф и длину волны А, по формуле (7.1.17), то [c.436]

Теоретическая разрешающая способность дифракционной решетки определяется общей формулой для щелевой спектральной системы (7.1.5). Эта характеристика может быть выражена через порядок спектра и общее число интерферирую.щих лучей [c.436]

MOB m+1 и m — 1 практически совпадает с минимумами дифракционного распределения. В этом случае почти вся энергия направляется в один выбранный порядок спектра т (см. рис. 41.3) и эффективность решетки приближается к 100 % (реально достигается 80— 90 %). С увеличением угла i эффективность решетки падает — энергия распределяется между несколькими порядками. [c.299]

В 1902 г., исследуя отражение от решетки различных s-волн, Вуд обнаружил быстрое изменение эффективности в различных интерференционных порядках в некоторых узких частотных областях. Они наблюдаются в виде ранее неизвестных узких темных и светлых полос в спектре отражения решетки при ее освещении источником света, спектр излучения которого медленно изменяется. В 1907 г. Рэлей объяснил это аномальное поведение тем, что рассеянное поле становится сингулярным при длинах волн, на которых один из интерференционных порядков направлен под скользящим углом. Он обнаружил, что аномалиям Вуда соответствуют определенные длины волн Х , которые были названы рэлеевскими длинами волн для этих волн существует порядок спектра т, такой, что выполняется равенство /8 = 0. Возможные значения Х можно найти из выражения (6.10.9), а именно [c.450]

Doii порядок спектра, где нет спектрального разложения, 1П1тс1[сивность же спектров других и даже первого порядков мала. [c.659]

Для М. э. с А = 30, I = 1 см, п = 1,5, к = 500 нм рабочий порядок спектра т яа 10, т. е. очень большой, разрешающая сила велика R 3 10 , но область дисперсии очень мала ДЯ 5-10 нм, что является существенным недостатком М, э, и требует предварительной высокой степени монохроматнзацин исследуемого спектра. [c.28]

В рентг. области наиб, часто используют ОДР с треугольным, синусоидальным или прямоуг. штрихом в последних может быть получена концентрация излучения в определ. порядок спектра за счёт интерференции [c.349]

В дифракционном рентгеновском микроскопе осн. элементом является зонная пластинка Френеля, к-рая для монохроматич. излучения представляет собой линзу с фокусным расстоянием f = г /Ят, где — радиус первой зоны Френеля, Я — длина волны, т — порядок спектра. Дифракц. разрешение зонной пластинки Френеля определяется шириной крайней зоны = [c.368]

Угловая дисперсия дифракционного прибора с увеличением числа т, определяющего порядок спектра, увеличивается приблизи- [c.338]

Проанализируем выражение ((х22). Как мы видим. л1еньп1ел1у радиусу кольца соответствует больший порядок спектра т (рпс. 6.10.я) и, следовательно, в центре пптepфepeнциoннoii картины ( / = 0) порядок спектра -максимален (для данного интер )е-ролгетра). [c.434]

Следует подчеркнуть, что профилированная решетка, эшелле и эшелон — приборы, основанные на одном и том же принципе. В случае решетки число штрихов NxlO —10 , порядок спектра k l—10 для эшелле N 10 —10" и 10—100, для эшелона Л/ 10—50 и k-xW—10 . Эшелле и эшелон позволяют получить большую разрешающую способность при относительно малых габаритах прибора. Решетка же дает большую область спектра, свободную от наложений. Пока эшелон Майкельсона — Вильямса применялся в очень ограниченном числе работ. [c.136]

В монохроматоре Вилесова [173] соединены два полуметровых монохроматора Сейа — Намиока для уменьшения астигматизма употребляются тороидальные дифракционные решетки (/ т=500,1 мм, / = 335,7 мм), решетки имеют 1200 штрих/мм, угол падения а = 35°. Свет проходит через обе половины монохроматора ири условии л= (2й /т)соз а-з1п 6,где — постоянная решетки, т — порядок спектра, а — угол падения б=(а-ЬР)/2, где 3 — угол дифракции. [c.176]

Следовательно, с точки зрения повышения дисперсии прибора выгодно работать в высшем порядке спектра. Однако порядок спектра, вообще говоря, ограничен тем, что вшфтах =1 и поэтому [c.89]

Призменные системы, в особенности сложные, все больше и больше заменяются отра кательныдп1 решетками. Угловую дисперсию дифракционных решеток можно варьировать в широких пределах, изменяя постоянную решетки и рабочий порядок спектра. Поэтому одинарные дифракционные монохроматоры строят обычно, в отличие от призменных монохроматоров, с одной решеткой, снабжая прибор, если это необходимо, набором решеток. [c.128]

Каким условием определяется наибольший порядок спектра тщах [c.312]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...