Дисперсионная область

Диспергирующая среда 28 Дисперсионная область 196, 197 Дисперсия аномальная 265 [c.426]

Таким образом, дисперсионная область прибора зависит от порядка интерференции, наблюдаемой в данном приборе (ср. 21). [c.217]

Для дифракционной решетки обычно наблюдают спектры второго или третьего порядков, т. е. т = 2 или 3. В соответствии с этим дисперсионная область ДА, = Х/2 или А./3 очень велика. В этом — огромное преимущество дифракционной решетки, которая позволяет анализировать даже белый свет, т. е. очень обширный спектральный интервал (в тысячи ангстремов), тогда как пластинка Люммера—Герке, например, не дает уже отчетливых максимумов, если падающий на нее свет представляет спектральный интервал, превышающий один ангстрем. Поэтому интерференционные спектроскопы пригодны только для анализа очень однородного света, например для спектральных линий, испускаемых разреженными газами. Они оказывают неоценимые услуги при анализе таких линий, позволяя устанавливать наличие нескольких компонент в этой линии (тонкая структура), оценивать ширину линии, наличие изменений (расщеплений) под действием внешних причин (например, эффект Зеемана) и т. д. [c.218]

Следующий простой опыт делает очень наглядным значение дисперсионной области. Ртутная лампа в момент зажигания содержит ртутные пары при низком давлении и испускает сравнительно узкие линии, дающие в спектроскопе с эталоном Фабри—Перо (расстояние между зеркалами около 1 см) резкие максимумы и минимумы. Через некоторое время лампа разогревается, плотность пара возрастает и линии становятся настолько широкими, что ДА, превышает О прибора максимумы сливаются и интерференционная картина исчезает. Если, однако, начать энергично обдувать лампу вентилятором, то она охлаждается и максимумы вновь разделяются. [c.218]

Несколько особое место среди оптических инструментов занимают спектральные аппараты, предназначенные не для получения изображения светящегося объекта, а для исследования спектрального состава посылаемого им света. В соответствии с этим существенную часть спектрального аппарата составляет приспособление для разложения света по длинам волн. Такую роль исполняет призма, выполненная из материала со значительней дисперсией, дифракционная решетка или какой-либо интерференционный прибор. Последние служат для детального анализа света, довольно близкого к монохроматическому, ибо дисперсионная область этих приборов весьма ограничена. Поэтому их нередко употребляют в соединении с призматическим или дифракционными спектральными аппаратами, которые являются наиболее распространенными инструментами этого рода. [c.337]

Дисперсионная область интерферометра Фабри—Перо определяется как [c.333]

Дисперсионная область дифракционного монохроматора довольно ограничена, так как прибор обычно работает при высоких порядках 10<т<30. Это необходимо для того, чтобы использовать угол блеска при максимальной эффективной площади решетки (для достижения максимально возможного разрешения). Дисперсионная область монохроматора определяется выражением [c.342]

Для интерферометра Фабри—Перо гп. поэтому дисперсионная область [c.177]

Почему дисперсионная область интерферометра Фабри — Перо невелика Что происходит с разрешающей способностью интерферометра Фабри — Перо при увеличении дисперсионной области [c.178]

Лучи, выходящие из пластинки Люммера— Герке, можно считать практически скользящими вдоль поверхности. Определить дисперсионную область пластинки с учетом дисперсии света. Показатель преломления вещества пластинки п, толщина пластинки к, длина волны света X. [c.205]

Поэтому у дифракционной решетки с малым d угловая дисперсия выше Это означает, что заданная угловая дисперсия на ней достигается при меньших порядках т интерференции, что очень важно, поскольку на меньших порядках интерференции интенсивности максимумов больше. Кроме того, при малых т больше дисперсионная область. Поэтому практическое значение имеют решетки лишь с достаточно большим числом N периодов и большой общей шириной. Лучшие решетки имеют до 15 см ширины и содержат около 100 000 периодов. [c.227]

О При каких условиях дифракция Фраунгофера наблюдается на малых расстояниях Чем объясняется большая дисперсионная область дифракционной решетки Можете ли Вы описать возникновение дифракции на решетке с помощью представлений о дифракции на непрерывно изменяющихся структурах [c.228]

Что такое дисперсионная область интерферометра Как она зависит от его толщины Почему в спектроскопических исследованиях интерферометр используют совместно с более грубым спектральным прибором [c.266]

Важными характеристиками дифракционной решетки и других спектральных аппаратов являются угловая дисперсия, дисперсионная область и разрешающая способность. [c.312]

Дисперсионная область. Если спектры соседних порядков перекрываются, то спектральный аппарат становится непригодным для исследования соответствующего участка спектра. Максимальная ширина спектрального интервала АЯ, при которой еще нет перекрытия, называется дисперсионной областью спектрального аппарата. Найдем дисперсионную область для дифракционной решетки. Пусть длины волн падающего излучения лежат в спектральном интервале от Я, до Я = Я + Пусть правый конец спектра т + 1)-го порядка для длины волны Я совпадает по своему положению с левым концом спектра т-то порядка для длины волны X (см. рис. 182). Тогда [c.313]

Это и есть дисперсионная область дифракционной решетки в рассматриваемом участке спектра. При заданной длине волны она определяется только порядком спектра т. Чем больше т, тем уже дисперсионная область. В дифракционных решетках используются спектры низких порядков (обычно второго или третьего). Поэтому дифракционные решетки характеризуются широкими областями дисперсии и пригодны для исследования широких участков спектра. В этом основное преимущество дифракционных решеток перед интерференционными спектральными аппаратами, у которых из-за высоких порядков т дисперсионные области очень узкие. [c.313]

В интерференционных спектральных приборах число интерференционных пучков N относительно невелико (несколько десятков, в интерферометре Майкельсона N = 2), тогда как порядки спектров т очень высоки (около 10 ООО и больше). Поэтому интерференционные спектральные приборы имеют малые дисперсионные области. Они могут применяться для исследования только очень узких участков спектра, например для изучения структуры отдельных спектральных линий, выделенных каким-либо другим спектральным аппаратом с большей дисперсионной областью, но с недостаточной разрешающей способностью. Однако эти приборы более просты в обращении и имеют большую светосилу, чем дифракционные решетки. [c.315]

Дисперсионная область эшелона определяется выражением [c.318]

Рассуждая аналогично, легко получить следующие выражения для дисперсионной области и угловой дисперсии эшелона [c.318]

Дисперсия показателя преломления увеличивает угловую дисперсию эшелона, но уменьшает его дисперсионную область. [c.319]

Аналогично, для дисперсионной области [c.321]

Как следует из определения, спектральный прибор дает различимые максимумы и минимумы при ширине интервала ДХ G. В качестве примера определим дисперсионную область дифракционнон решетки. [c.197]

Для интерференционных спектроскопов и для эшелона Майкель-сона наблюдаемые максимумы всегда соответствуют огромной разности хода, т. е. суть максимумы высокого порядка (т — несколько тысяч и десятков тысяч), так что АХ Я,/10000, т. е. для этих приборов характерна очень малая дисперсионная область, измеряемая долями ангстрема. [c.218]

В табл. 47 не включены сведения о работах Юриса, Венцеля [5.60] и Г. И. Фирсова [5.20]. В первой работе измерен интегральный эффект Джоуля-Томсона системы Ср4 — СНРз, но статья опубликована в труднодоступном журнале, а во второй получены данные о скорости звука при Т= =-202—600 К, р=0,005—2 МПа, но они относятся к дисперсионной области. [c.198]

Такое значение ширины контура 26v меньше дисперсионной области интерферометра, которая для интерферометра h = 40 мм и р 0,95 равна 125-10 м . Это исключает переналожение в порядках иитерференцин. Таким образом, вторым условием. [c.199]

Например, можно подумать, что в случае большой дифракционной решетки с разрешением 10 и эмульсии с пределом разрешения 100 лииий1мм для достижения максимальной разрешающей силы всего прибора в целом необходима обратная линейная дисперсия при к = 5000 А, равная 0,5 А/мм. Практически же оказывается, что в случае больших решеток обратная линейная дисперсия должна быть вдвое больше той, которую дает соотношение (6.15). Лишь в этом случае можно полностью использовать возможности прибора. При работе с фазочувствительными приборами очень важное практическое значение имеет дисперсионная область Fg, или диапазон длин волн, в котором можно получать с тектры без перекрытия высших порядков. Поэтому приборы с дифракционными решетками не очень пригодны для дальней инфракрасной области. В самом деле, рассмотрим уравнение для дифракционной решетки [c.332]

Трудности, возникающие в связи с ограниченной дисперсионной областью решетки (особеннно если она изготовлена с селективностью в инфракрасной области), можно обойти, пользуясь системой со скрещенной дисперсией. Такая система может состоять из призменного спектроскопа, работающего при угле минимального отклонения, узкополосного фильтра, специально выбранного приемника, а также фильтра, отсекающего короткие длины волн (например, из кремния, германия, арсенида индия или антимонида индия). [c.340]

Поскольку порядок интерференции эшелона чрезвычайно велик, дисперсионная область соответственно ограничена. При почти нормальном падении (0 0) для набора пластин толш,и-ной 1 см каждая на длине волны 5000 А порядок интерференции составляет [c.343]

Эшелле представляет собой решетку с глубоко прочерченными штрихами пилообразной формы, лежащими на большом расстоянии друг от друга. Эшелле используется при больших порядках интерференции (т — 500) и соответственно имеет малую дисперсионную область. Чтобы разделить различные порядки, необходима вспомогательная система с поперечной дисперсией. При этом можно получить двумерное распределение по длинам волн, У такого устройства имеется то важное [c.343]

При скользящем падении света sin0 I и дисперсионная область имеет вид [c.345]

Излагается общий метод исследования многолучевой интерфе )енции и его реализации для конкретных интерферометров. Определяются разрешающая способность и дисперсионная область спектральных аппаратов. [c.171]

Дисперсионная область. При увеличении разности длин волн А>. интерференционные полосы от волн с различной длиной волны разделяются (рис. 129, а). При дальнейшем увеличении АХ разделение увеличивается (рис. 129, б) и при достаточно больших Ак наступает перекрытие интерференционных полос соседних порядков (рис. 129, в). При этом интерпретация интерфе-рен11ионной картит становится затруднительной. Разность длин волн АХ,, при которой наступает перекрытие полос Соседних порядков интерференции, называется дисперсионной обла- [c.176]

Разрешающая способность интерфероиетро Фабри —Перо возрастает при увеличении расстояния нежду пластинами, о дисперсионная область при этом уменьшается. [c.176]

Сигнал зависит от X vi d. При изменении d изменяется длина волны, которая дает на приемнике фотоумножителя максимум интенсивности. Поэтому величина наблюдаемого сигнала при каждом значении d позволяет непосредственно сделать заключение об интенсивности волны соответствующей длины в падающем на интерферометр излучении. Одна из пластин интерферометра монтируется на кольцо из пьезоэлектрического материала. Напряжение, подаваемое на пьезоэлектрическое кольцо, подбирается так, чтббы соответствующее изменение d обеспечивало прохождение всей дисперсионной области около длины волны Я, при которой-возникает максимум интенсивности в центре интерференционной картины, регистрируемой приемником фотоумножителя. Сигнал, с фотоумножителя подается на осциллограф, а развертка осциллографа синхронизируется с частотой колебаний пьезоэлектрического кольца. В результате на экране осциллографа можно визуально наблюдать картину распределения интенсивности по длинам волн в некотором масштабе. Наблюдаемые величины затем пересчитываются на длины волн, и определяется искомый спектр излучения. [c.178]

Дисперсиош1ая область. Для дифракционной решетки она определяется так же, как в-случае интерферометра Фабри Перо (см. 28), и находится ш формуле (28.34). У дифракционной решетки обычно наблюдаются спектры низких порядков (т = , 2, 3,. ..), поэтому дисперсионная область оказывается очень большей (ДХ =Х, АХ = X/Z АХ = Х/3). В частносп в первом порядке дисперсионная область решетки совпадает со всем видимым спектром. [c.226]

Высокая разрешающая способность достигается как в интерферометрах Фабри—Перо и Майкельсона (порядка 10 ), так и в дифракционных решетках (порядка 10 ) й в других интерферометрах. Однако такая высокая разрешающая способность в них достигается за счет различных факторор. В интерферометре Фабри—Перо и Майкельсона она достигается за счет высоких порядков интерференции (порядка 10 ) при сравнительно небольшом числе интерферирующих лучей (несколько десятков в интерферометре Фабри—Перо и два луча в интерферометре Майкельсона), а в дифракционной решетке — за счет большого числа интерферирующих лучей (порядка 10 ) при малом порядке интерференции (несколько единиц). Благодаря этому дисперсионная область очень мала у интерферометра Фабри —Перо (порядка 10" нм) и интерферометра Майкельсона (порядка 10 нм) и очень велика у дифракционной решетки (порядка 10 нм). Поэтому если исследуемое излучение имеет большую дисперсионную область, а его необходимо исследовать с помощью приборов высокого разрешения с малой дисперсионной областью, то приходится комбинировать Между qoбoй различные спектральные аппараты. При этом пб лучаются одновременно и широкая дисперсионная область и большое разрешение. [c.231]

Для малых углов падения os0 l и SK= / 2h). Спектральный интервал, занимаемый исследуемым излучением, не должен превышать этой величины, чтобы максимумы соседних порядков от отдельных монохроматических компонент излучения не перекрывались. По этой причине интервал АЯ. называют свободной областью дисперсии или постоянной интерферометра. В 6.6 показано, что с увеличением расстояния h между пластинами возрастает разрешающая сила прибора, характеризующая способность разделять две близкие по длине волны монохроматические спектральные линии. Однако из (5.81) видно, что увеличение h сопровождается уменьшением области дисперсии SK = l / 2h). При типичных значениях (ft = 5 мм Я. = 0,5 мкм) ДЯ. составляет менее 0,03 нм. Это значит, что при работе с интерферометром Фабри—Перо требуется (за очень редким исключением) дополнительный более грубый спектральный прибор для выделения в излучении источника спектрального интервала, не превосходящего дисперсионной области интерферометра. В простейшем случае может быть применен фильтр, но чаще интерферометр скрещивают с призменным или дифракционным (см. 6.6) спектральным прибором. Можно, например, спроецировать интерференционные кольца на плоскость щели спектрографа так, чтобы центр картины совпал с серединой щели. Когда исследуемый спектр состоит из отдельных линий, изображения щели в свете этих линий, получающиеся в соответствующих местах фокальной плоскости спектрографа, оказываются пересеченными поперечными дугами, представляющими участки колец (рис. 5.31). Таким образом можно изучать структуру спектральных линий, состоящих из нескольких близко расположенных компонент, так как каждая из компонент образует свою систему интерференционных колец. Измеряя на спектрограмме, какую долю от расстояния ДЯ. между дугами колец соседних порядков составляет расстояние между дугами расщепившихся колец, можно определить спектральные интервалы между компонентами линии, структура которой не разрешается спектрографом. Измерения обычно производят на втором или третьем от центра кольце, где дисперсия еще достаточно велика, но изменяется не столь быстро, как в центре интерференционной картины. [c.263]

Таким образом, общее число штрихов доходит приблизительно до 200 ООО, а разрешакщая способность во втором порядке — до 400 ООО. Важным достоинством дифракционной решетки является малый порядок спектра т. Благодаря этому дифракционные решетки обладают широкими дисперсионными областями АХ = klm и пригодны для исследования широких [c.315]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...