Сдвиги фаз в методе

На использовании нейтронно-оптич. явлений основано большинство методов прецизионного измерения длины (амплитуды) когерентного рассеяния нейтронов Ь. В их числе измерение сдвига фаз в нейтронном интерферометре, когда в одно из его плеч помещён исследуемый образец сравнение показателя преломления ис- [c.275]

ИЗМЕРЕНИЕ МАЛЫХ ВРЕМЕН ЖИЗНИ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ В ПОЛУПРОВОДНИКАХ МЕТОДОМ СДВИГА ФАЗ В ИНТЕРФЕРОМЕТРЕ [c.292]

Методом оптических импульсов можно измерять лишь времена затухания люминесценции порядка 10 сек. В работе [7S применен метод сдвига фаз в интерферометре, который позволяет измерять времена жизни от 10" до сек. Измерения проводились на арсениде галлия, для которого было получено время люминесценции т, равное 3,0 10 сек. [c.292]

Пользуясь газовым лазером как источником света в двухлучевом интерферометре и фотоумножителем как приемником, можно получить нулевой разностный сигнал, если один из лучей проходит дополнительное расстояние, равное точно половине длины волны, соответствующей разностной частоте. Тщательный анализ комбинации оптических пучков, падающих на фотокатод, показывает, что здесь происходит оптическая интерференция и интерференция разностной частоты между модами, с которой модулируется фототок, причем оптическая интерференция возможна только в случае совпадения пучков. Таким образом, при нулевом методе можно обнаруживать фазовый сдвиг сигналов с разностной частотой, обусловленный тем, что люминесценция среды происходит с постоянной времени т. Чтобы измерить сдвиг фаз, в один из лучей помещают люминесцентный образец и регистрируют изменение положения нуля. [c.293]

Трудно дать исчерпывающее объяснение разноречивости результатов, приводимых разными исследователями. Помимо рассмотренных выше факторов, касающихся поправки на сдвиг фаз в оптических данных и использования варианта с элементом закрытого типа в электрометрическом методе, нужно еще учитывать, по-видимому, и ряд других факторов, в том числе влияние способа подготовки поверхности, неоднородность пленки по толщине, количество окисла в виде частиц под удаленной пленкой или фактическое его количество, участвующее в создании интерференционных цветов. Проанализировав этот вопрос, Эванс [634] приходит к выводу о том, что наблюдения за цветом сами по себе не дают оснований делать заключения о толщине окисной пленки. [c.263]

Для определения погрешности измерения сдвига фазы по методу сельсина или по какому-либо другому методу, связанному с преобразованием вращения в электрический сигнал, также необходим образцовый вибростенд. [c.107]

Не зависимая от частоты составляющая погрешности зависит в данном случае от углового положения статора генератора опорного напряжения, его ротора относительно эксцентрика вибростенда, статора фазорегулятора и направления разметки его шкалы, нулевого деления шкалы, постоянных составляющих сдвига фаз в усилителях и других блоках прибора. Перечисленные факторы усложняют использование метода для определения постоянной составляющей погрешности измеряемого сдвига фаз. Эта составляющая проще всего определяется с помощью стробоскопа. Рассмотренные схемы позволяют наряду с определением - фазовых характеристик балансировочных комплектов производить их предварительную фазировку . Однако не всегда и не все погрешности измерений сдвига фазы колебаний нужно учитывать. Например, при балансировке с использованием только пробных корректирующих масс частотно-независимая и частотно-зависимая составляющие погрешности при измерениях сдвига фазы не влияют на результаты расчетов требуемых корректирующих масс, так как балансировка производится при одной частоте вращения. При балансировке с использованием чувствительностей, как показано в гл. 4, при измерениях сдвига фазы необходимо учитывать обе составляющие фазовой погрешности. [c.99]

Применение такого варианта метода медленно меняющихся амплитуд иногда упрощает нахождение стационарных решений, особенно в задачах, где отсутствует опорное колебание (вызванное, например, внешней силой, модуляцией параметра, синхронизирующим сигналом), фазовый сдвиг (фаза) которого относительно искомого колебания естественно вошел бы в решение. К подобным системам относятся, в частности, пассивные линейные и нелинейные колебательные системы, автоколебательные системы и др. Некоторое облегчение решения задач этот вариант метода ММА дает также в тех случаях, когда нелинейные характеристики каких-либо параметров колебательной системы аппроксимируются высокими степенями разложения в ряд. [c.75]

Повышение точности измерения всегда связано с необходимостью учета факторов, которыми можно пренебречь при менее ответственных измерениях. Таким фактором прежде всего является сдвиг фазы, возникающий при каждом отражении сигнала от границы пьезопреобразователь — образец. Рассмотрим процесс измерения скорости упругих волн с учетом сдвига фазы методом импульсной интерференции (рис. 9.5). На двух плоскопараллельных гранях образца 4 устанавливают пьезопреобразователи колебаний, частоту следования которых можно менять. На приемный пьезоэлемент попадают импульсы /, прошедшие через образец однократно, а также многократно отраженные импульсы //. Можно подобрать частоту следования так, что некоторый импульс, например двукратно отраженный, и следующий за ним импульс, прошедший образец один раз, одновременно попадут на приемный пьезопреобразователь. В результате интерференции может произойти либо их гашение, либо усиление. Плавно меняя частоту заполнения импульсов, можно получить последовательный ряд [c.416]

С целью применения методов теории колебаний в исследованиях движения ротора обычно его вращательное движение заменяют двумя колебательными движениями, происходящими в двух взаимно перпендикулярных плоскостях с постоянным сдвигом фаз. Исследуют отдельно каждую компоненту и далее для получения общей физической картины производят суммирование обеих составляющих. Этот метод удобен и точен для линейных систем. Однако этого нельзя сказать о нелинейных системах. [c.74]

Эпициклоиды позволяют определять целочисленные отношения частот примерно до 100 1 и дробно-рациональные вида 60 7 50 9 40 11. Недостаток метода циклоид—наличие связи между генераторами сравниваемых частот уменьшается включением последних на сетки катодного повторителя на двойном триоде [40]. Другой недостаток эпициклоид заключается в необходимости иметь полосу частот обоих усилителей осциллографа, обеспечивающую прохождение высшей частоты и регулировки схемы для получения сдвига фаз 90° как на низшей, так и на высшей частотах. [c.439]

Экспериментальная установка. Экспериментальная установка, применявшаяся в описанных ранее экспериментах с постоянным электрическим полем, была использована и для первых опытов с переменным электрическим полем, хотя, разумеется, подводимое напряжение было переменным. Подводимая электрическая мощность определялась путем численного интегрирования наложенных графиков тока и напряжения по одному периоду. Сравнение, аналогичное тому, которое было сделано для опытов с постоянным электрическим полем, между подводимой электрической мощностью и увеличением степени подогрева газа, позволило бы количественно определить увеличение коэффициента теплоотдачи. Однако измерение электрической мощности оказалось сложной проблемой, так как сдвиг фазы между током и напряжением зависит не только от частоты, но п от амплитуды. Поэтому решено было использовать эти измерения лишь в качественном плане, т. е. чтобы определить, может ли вообще быть достигнуто заметное изменение теплоотдачи. Считалось, что интенсивная разработка методов измерения электрической мощности была бы оправдана, если бы результаты указывали на то, что значительное изменение теплоотдачи действительно имеет место. [c.445]

Поскольку разрешающая способность электронного микроскопа зависит не только от аберраций объективной линзы, но и от длины волны электронов к, корректное определение этого параметра возможно только на основе законов волновой оптики. Методом фурье-преобразова-ний наблюдаемый в микроскопе объект представляют набором структурных составляющих с разл. пространственными частотами R, воздействующими на амплитуду и фазу проходящих сквозь него волн. Обычно амплитудная компонента реальных объектов мала. Поэтому ниже рассмотрим только фазовые объекты. Волны, дифрагирующие на структурных фурье-компонентах, отклоняются на разл. углы и поэтому проходят через разл. зоны объектива, в к-рых происходит сдвиг фаз, зависящий от радиуса зоны. Изображённые на рис. 1 лучи совпадают с направлением волновых векторов дифрагированных волн (сами волны—не показаны), причём 0 = й .—углы дифракции этих волн. В отсутствие аберраций линза преобразует [c.547]

Известен метод измерения динамического модуля при растяжении, Сущность метода заключается в определении упруго-вяз-ких свойств по отношению амплитуд напряжения, деформации и сдвига фаз. Для этого образец в форме тонкой полоски, моноволокна или пряжи подвергают гармонической деформации растяжения, при этом одновременно определяют напряжение. [c.56]

В случае малого сопротивления (т) < 1) достаточно точные результаты дает приближенный метод, основанный на предположении постоянства угла сдвига фазы. Точное решение показывает, что угол сдвига фазы [c.34]

Если число фаз в гетерогенной композиции больше двух, характеристика ее морфологии и выбор метода расчета упругих и вязкоупругих свойств значительно усложняется. В качестве примера рассмотрена тройная композиция, представляющая собой смесь двух типов гомогенных частиц наполнителя с различными упругими константами матрицы. Расчеты верхнего и нижнего пределов по уравнениям (3.4) и (3.5) можно производить прямым путем, однако при использовании уравнений (3,11) и (3.12) возникает некоторая неопределенность. Эти уравнения, в принципе, можно использовать непосредственно для расчета модулей многокомпонентных систем, однако лучшие результаты дает двухступенчатое применение уравнений [17]—сначала для расчета модуля композиции с одним типом частиц, а затем для расчета модуля композиции в целом на основе полученных данных о модуле матрицы с учетом свойств другого типа частиц дисперсной фазы. По-видимому, не существует теоретического обоснования порядка такого двухступенчатого расчета. Было показано [46], что результаты, полученные для модуля упругости при сдвиге при ступенчатом использовании уравнения (3.14), зависят от порядка чередования типа частиц наполнителя при расчете и не эквивалентны результатам расчета при использовании трехкомпонентной формы уравнения (3.12). Определенную роль при этом играет относительный размер частиц наполнителей разных типов. Кажется естественным, что если размер частиц наполнителя одного типа в среднем значительно больше второго, то меньшие частицы и матрица совместно образуют более эффективную матрицу для более крупных частиц. Экспериментальные данные по [c.168]

Из строгого решения задачи дифракции плоской волны на решетке из бесконечно тонких полуплоскостей, получаемого методом Винера — Хопфа, следует, что в длинноволновой области arg Оо = 4и 1п 2 + л + О (я)- В отличие от кривой 6 все другие кривые на рис. 78 соответствуют конечной глубине канавок гребенки 8 =hll = 0,434. Для решетки с такими же, как и у полуплоскостей, бесконечно тонкими элементами (0 = 1) перенесение дна канавки из бесконечности в точку S = 0,434 сказывается уже при X 0,1. При и > 0,1 поле проникает в глубь решетки из полуплоскостей на величину б > 0,4, и волна чувствует дно канавки, что эквивалентно увеличению количества металла на периоде и обусловливает при конечном б меньший сдвиг фазы отраженного сигнала относительно 180° по сравнению с решеткой из полуплоскостей. [c.137]

Однако целый ряд экспериментальных задач связан с необходимостью регистрации весьма малых изменений световой волны. Прошедшей через исследуемый объект (например, изучение свойств газов при низком давлении, определение толщины и сдвига фазы в тонких пленках и т. д.). Чувствительность измерений большинства иитерферометрических приборов оказывается недостаточной для обнаружения и измерения малых разностей хода луча, поэтому для развития интерференционной техники характерна тенденция к повышению точности и чувствительности измерений и поискам новых схем и методик исследования. Одним из наиболее эффективных и перспективных иитерферометрических методов является метод многолучевой интерферометрии. [c.3]

На практике в большинстве случаев модуляция света осуществляется за счет сдвига фаз в электрооптическом модуляторе, находящемся вне резонатора. За счет относительного сдвига фаз волн, поляризованных вдоль двух главных осей электрооп-тического кристалла, свет (в зависимости от его поляризации на входе) можно модулировать по поляризации, по интенсивности или по фазе. В большинстве случаев достаточно знать электрооптический сдвиг фаз, чтобы определить коэффициент модуляции любого типа. Здесь мы изложим способ определения СВЧ-сдвига фаз путем измерений на постоянном токе. Метод сводится к определению характеристик модулятора, а не к измерению параметров модуляции пучка света при данных условиях работы и при данном виде модуляции. [c.488]

Исследования распространения волн конечной амплитуды в релаксирующих средах немногочисленны. В одной из первых работ [27] наблюдалось искажение и дисперсия в уксусной кислоте при сот = 1 2 3 (т 3-10 сев). Из-за большого поглощения в концентрированной згксус-ной кислоте удалось получить только малые числа Be 10 . Несколько большие Be, но все-таки остающиеся много меньшими единицы, были получены в водных растворах уксусной кислоты. При таких числах Рейнольдса в области релаксации гармоника была порядка одного процента несколько ббльшимй лскажения (так же как и Be) были при сот = 3. Наблюдение дисперсии осуществлялось по сдвигу фазы второй гармоники при изменении расстояния излучатель — приемник относительно опорной фазы первой гармоники. При этом было установлено, что при целом числе длин волн по первой гармонике (возвращении фазы к исходному положению) по второй гармонике из-за дисперсии возвращения фазы к исходному положению не было. По порядку величины дисперсия, измеренная в интервале частот а)Т = 1 4- 8, согласуется с полученной ранее другими линейными методами. Этот результат экспериментально подтвержден также в [8] для водного раствора MnS04, где измеренный аналогичным методом при сот 0,3- -l,0 сдвиг фазы второй гармоники относительно первой оказался в два раза меньшим, чем сдвиг фазы в гипотетическом случае невзаимодействующих первой и второй гармоник. [c.158]

Годом позже Друде предложил более совершенный метод определения оптических параметров металла. Согласно методу Друде, для определения и и х достаточно измерить сдвиг фаз Аф = ср ( — ср между параллельными и перпендикулярными компонентами отраженного поля и коэффициент отражения R при некотором значении угла падения. Далее п и х можно связать с параметрами среды е ИОВ уравнениях Максвелла. Как показывают расчеты, результаты подобного вычисления не дают удовлетворительного согласия с экспериментально вычисленными значениями я и х в видимой области. Расхождение усиливается с увеличением частоты падающего света. Такое расхождение между теорией и экспериментом можно обьяс-iHiTb влиянием связанных электронов на п и х. Действительно, при развитии вышеупомянутой теории мы исходили из представления о металле как о системе, состоящей из полностью свободных электронов. При увеличении частоты света (для видимой и ультрафиолетовой областей) в оптических явлениях участвуют также связанные электроны, отсюда и вытекает расхождение теории с экспе-рпмеьггом. В инфракрасной области, где оптические свойства металлов Б основном обусловлены наличием свободных электронов, согласие можно считать удовлетворительным. Вообще мы не вправе [c.65]

Следуюн(ий метод регулирования основан на использовании индукционного регулятора (рис. 5-8, г). Простейшим индукционным регулятором может служить заторможенЕ1ый асинхронный двигатель с фазным ротором, устроенный таким образом, чтобы ротор можно было плавно поворачивать на 180°. К тре хфазной сети присоединяются три фазные обмотки либо ротора, либо статора, создающие вращающееся магнитное поле. Если к сети присоединен ротор, то в каждой фазной обмотке статора благодаря вращающемуся магнитному полю индуктируется переменное напряжение. При повороте ротора амплитуда этого напряжения остается одной и той же, а фаза будет изменяться. Первичная обмотка испытательного трансформатора присоединяется к сети последовательно с одной из указанных выше фазных обмоток. Вследствие этого к трансформатору прикладывается геометрическая сумма напряжения сети П] и напряжения фазной обмотки В зависимости от положения ротора сдвиг фаз между напряжениями П, и Пз имеет различное значение. Таким образом, напряжение на первичной обмотке трансформатора Пт при повороте ротора будет плавно и.зменяться от минимума (О1 — С/. ) до максимума (и214 >) Индукционные регуляторы обеспечивают плавное регулирование напряжения, по вызывают искажение кривой напряжения. [c.106]

В ряде процессов (релаксация полимеров, процессы диффузии и т. п.) необходимо оценить изменение подвижности и средний размер частей, составляющих среду, в различные моменты времени. Если эти процессы протекают медленно (1 — 10 с), то единственным способом контроля является метод голографической коррелометрии (МГК), который основан на получении с помощью двулучевой схемы голограммы рассеивающей среды в отраженном свете (при одностороннем доступе). Направление освещения между экспозициями меняется на угол 0, что вызывает регулярный фазовый сдвиг Дфо на элементах рассеивателя и появление в изображении системы эквидистантных интерференционных полос. Так как состояние среды за время т между экспозициями изменится, уменьшится контраст полос. Случайный сдвиг фазы отдельной частицы Дф (G, т) = к Дг (т), где О — угол между направлениями падающей и рассеянной волн Дг — вектор сме-, 2я [c.114]

Велосиметрический метод. В этом методе используется влияние дефектов на скорость распространения упругих волн в изделии и длину пути волн между излучателем и приемником упругих колебаний. В контролируемом изделии возбуждают непрерывные или импульсные низкочастотные УЗК (20— 70 кГц). Дефекты регистрируются по изменению сдвига фазы принятого сигнала или времени распространения волны на участке между излучающим и приемным вибраторами дефектоскопа. Эти параметры не зависят от силы прижатия преобразователя к изделию, состояния акустического контакта и других факторов, поэтому [c.300]

Преобразователи импульсов состоят из дисков А к Б, устанавливаемых на валы контролируемого механизма КМ, на наружной цилиндрической поверхности которых нанесен магнитный (никелево-кобальтовый) слой. На дисках записываются магнитные риски или же синусоидальные сигналы с определенным целым числом волн по окружности. В корпусах преобразователей укреплены магнитные головки МГ-А и МГ-Б, служащие для записи и считывания импульсов на дисках. Электронно-измерительное устройство (ЭИУ) представляет собой электронный фазометр, измеряющий сдвиг фаз между импульсами, поступающими с преобразователей. Чувствительность фазометра зависит от количества магнитных импульсов на диске А или Б и передаточного числа контролируемого механизма. Магнитоэлектрический кинема-тометр модели МЭК-1СО может работать, производя измерение абсолютным или разностным методом, [c.273]

МЕТОД <фазового контраста используют для получения изображений микроскопических объектов, основан на регистрации различий в сдвиге фаз разных участков световой волны нри ее прохождении через эти объекты Юнга служит Ц1Я осуществления интерференции света с помощью двух 3KpaffOB, в первом из которых расположена ярко освещенная узкая щель, а во втором две одинаковые узкие щели, [c.248]

Для увеличения точности В.-о. г. используется ряд методов. Так, напр., флуктуации интерференционных полос из за рэлеевского рассеяния и невзаимные сдвиги фаз за счёт разности интенсивностей встречных волн могут быть уменьшены при использовании источников излучения с широким спектром — полупроводниковых лазеров или суперлюминесцентных диодов. Влияние невзаимных эффектов из-за изменения двойного лучепреломления в волокне при разл. внеш. воздействиях (механич., тепловых, акустических и пр.) может быть ослаблено при использовании одномодовых световодов (см. Волоконная оптика). Т.к. прямое измерение сдвига интерференционной полосы сильно ограничивает точность и динамич. диапазон, в реальных В.-о. г. применяются более сложные методы регистрации, использующие фазовую модуляцию, фазовую компенсацию, гетеродинные методы и т. д. [c.336]

Диапазон частот, используемых для интерферомет-рич. измерений, ограничен, с одной стороны, условием распространения волн (в> й а с другой — мин. измеряемым сдвигом фаз. При плотностях плазмы <10 смиспользуют СВЧ-диапазон. В этом диапазоне суш ествует неск. иптерферометрич. схем локация в свободном пространстве, волноводный, резонаторный методы (по изменению сдвига резонансной частоты). [c.608]

ФАЗОВЫЙ КОНТРАСТ — метод получения изображений микроскопич. объектов, основанный на регистрации различий в сдвигах фазы разных участков световой волны, проходящей через эти объекты, Ф, к, применяется в тех случаях, когда погмигательная способность и показатель преломления разл. элементов рассматриваемой структуры настолько близки, что при обычных методах наблюдения и получения изображений по поглощениго и рассеянию эти элементы оказываются неразличимыми. Вместе с тем сдвиги фаз, вносимые такими элементами, могут заметно отличаться, образуя фазовый рельеф проходящей световой волны. Для визуализации или регистрации с помощью фотоприёмников фазовый рельеф сначала преобразуется вспомогательными оптич. устройствами в изменение интенсивностей (амплитуд) разл. участков световой волны, т. н. амплитудный рельеф. [c.271]

Курсовой радиомаяк с опорным напряжением работает по методу минимума глубины амплитудной модуляции. Антенная система маяка одновременно формирует в пространстве две диаграммы направленности. Одна диаграмма создается на несущей частоте, промодулированной по амплитуде колебаниями поднесущей частоты 10 кгц. Поднесущая, в свою очередь, имеет частотную модуляцию низкочастотным напряжением частоты 60 гг( (сигнал постоянной фазы). Другая диаграмма создается на боковых частотах спектра высокочастотных колебаний, балансно-модулированных напряжением с частотой 60 гц и имеет в горизонтальной плоскости два главных лепестка с нулевым излучением вдоль линии курса и сдвигом фазы поля в одном лепсстке на 180° относительно фазы в другом. [c.253]

Модель этой структуры показана на рис. 2.1. Она показывает, каким образом орторомбическая слоистая структура типа N24 становится искаженной моноклинной структурой. Моноклинные искажения решетки в этом случае отличаются от искажений кристаллической структуры мартенситной фазы в сплавах Си—Еп. Направление однородного сдвига, в результате которого орторомбическая решетка деформируется в моноклинную, не является параллельным направлению перетасовки базисных плоскостей, а ортогонально ему. С помощью этой модели можно достаточно хорошо объяснить результаты исследований методом электронной микродифракции. Недостаток модели состоит в том, что с ее помощью невозможно объяснить существование отражения 001, четко обнаруживаемого на рентгенограммах. Ооцука [1] принял, что период решетки 0,4622 нм соответствует оси с мартенситной фазы. Основанием для этого явилось обнаружение интенсивного рефлекса в направлении оси с на картине микродифракции электронов. Кроме того, и на изображении, полученном с помощью ПЭМ, наблюдается большое число тяжей в направлении, перпендикулярном оси с, что подтверждает сделанный вывод. В этом случае наблюдаемая картина объясняется существованием дефектов упаковки в базисной плоскости. [c.59]

Одним из методов сшшеиня вибраций, передаваемых на корпусные детали планетарных редукторов, является формирование определенного вида движения Дета1ей под действием приложенных к ним во" мущающих сил, возможность которого обусловлена тем, что на зубчатые колеса планетарных редукторов действует более одной возмущающей силы. Это обстоятельство, с учетом симметричного расположения в пространстве возмущающих сил, позволяет добиваться нужного вида движения детали соответствующим вы ором сдвига фаз между этими силами. [c.114]

Область значений амплитуд виброперемещепнд в которой сдвиг фазы световой волны при отра,кс НИИ от поверхности колеблющегося объекТ( я Дф 5л, характерна тем, что методы прямого гомодинного детектирования (работа на скате интерференционной полосы), дающие информацию [c.128]

Метод двух пусков с перестановкой пробной массы под углом 180° состоит в определении углов сдвига фаз ttj и а, по сравнению о начальным пуском. Первое положение пробной массы расположено под углом а к положению бьющей точки. На окружности G центром О (риа, 21, а) отмечают положения пробной массы и /п 2, бьющих точек Ад, Ai и еоответствующих колебаниям при начальном и пробных пусках, и проводят прямые ОАд, OAi, ОА . Затем подбирают секущую гак, чтобы она разделилааь прямой ОАд пополам. Отрезки OgOi и UgOj, соответствуют векторам пробных масс, а Oug — вектору, дисбаланса. Угол oj определяет место установки корректирующей массы гпц= m. Oag/a(fii. [c.59]

В заключение отметим работы Панина с сотр. [137, 420] по созданию материалов с демпфирующими структурами методами порошковой металлургии. По своей функциональной роли демпфирующие структуры подобны сдвиго-неустойчивым фазам в аморфных сплавах. Их роль сводится к следующему. Кристаллографическая анизотропия нагруженных поликристаллических сплавов приводит к тому, что поликристаллы испытывают различную упругую деформацию. Вследствие этого на границе раздела возникает невязка, а в местах стыка зерен появляются пиковые контактные напряжения, превосходящие уровень средних напряжений. Это обусловливает преждевременное зарождение трещин в этих областях. [c.260]

Наиболее точные данные по емкости двойного электрического слоя можно получить методом импедансного моста, впервые использованным Долиным и Эршлером [77], который позволяет учесть сопротивление раствора, а также сдвиг фаз между емкостью и сопротивлением. Принципиальная схема импедансного моста для электрохимических измерений представлена на рис. 4,9. Баланс моста, т. е. равенство потенциалов в точках а и с, имеет место при 21-2 3=22-2 4. Поскольку плечи моста z и Zz выбираются одинаковыми, баланс моста наблюдается при 23 = 24. Когда мост сбалансирован, измеряемая емкость С и сопротивление R в точности равны емкости и сопротивлению магазинов, включенных последовательно в цепь. [c.140]

Толщины пленок можно определять, когда они создают интерференцию в видимой части спектра. Точность этого способа ограничивается разными факторами. Например, существует сдвиг по фазе в ре льтате отражения света от поверхности металла, ц может изменяться в зависи1мости от толщины пленки и др. Для уточнения оценок используются цветовые компараторы, производится измерения в проходящем свете через отделенную от металла пленку и др. С помощью метода интерференции было успешно проведено много работ по определению толщины пленок. В табл. 5 пред- [c.55]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...