Метод интерференции

Особо точные доведенные плоскости инструмента и контрольных приспособлений проверяют на плоскостность методом интерференции с помощью плоских стеклянных пластин. Об отклонении от плоскостности судят по кривизне интерференционных полос. [c.452]

Рис. 70. Проверка плоскостности поверхности техническим методом интерференции

Технический метод интерференции. Плоскостность небольших поверхностей после доводки или полировки можно проверить техническим методом интерференции — с помощью плоских стеклянных пластин, изготовленных по ГОСТ 2923—59. [c.161]

Технический метод интерференции основан на оптическом явлении — интерференции света. Если на хорошо обработанную металлическую плоскость детали I наложить плоскую стеклянную пластинку 2 (рис. 70, а) таким образом, чтобы между плоскостью пластинки и контролируемой поверхностью образовался небольшой воздушный клин, то на контролируемой поверхности появятся цветные радужные полосы, называемые интерференционными. Интерференционные полосы располагаются на равных друг от друга расстояниях. Расстояние между полосами одного и того же цвета принято называть шириной полосы. Интерференционные полосы располагаются только в тех местах, в которых толщина воздушного клина равна вполне определенной величине. Эта величина зависит от источника света, при котором наблюдают интерференционную картину. Если наблюдение интерференционных [c.161]

К этой же сессии Консультативного комитета необходимо было получить данные о числовом значении эталонной линии световой волны. Казалось, можно предположить, что для сохранения преемственности в определении эталона единицы длины необходимо значение новой первичной длины световой волны сравнить с длиной Международного прототипа метра. Однако такая работа чрезвычайно громоздка и не имеет практического смысла, так как штрихи прототипа не позволяют получить столь высокой точности измерения, какая достигается методом интерференции света. Было решено, как это уже упоминалось, провести сличения со старой первичной эталонной длиной световой волны — красной линией естественного d, излучаемой лампой Майкельсона, работающей в строгом соответствии со спецификацией, принятой на VII Генеральной конференции (1927 г.). Только в этом случае длине волны красной линии d можно было приписать ее значение Х=6438, 4696 10 м в воздухе. [c.49]

Метод интерференции световых волн, как уже упоминалось, позволяет осуществить эту передачу. Пользуясь методом совпадения дробных частей порядков интерференции, если известно точно значение длин волн и приближенно разность хода, можно уточнить значение порядка интерференции, получить точно размер эталона Фабри и Перо, концевой или штриховой меры и, таким образом, передать значение естественного эталона искусственным и, далее — до изделий заводов и фабрик. [c.73]

Наиболее точным способом проверки плоскостности является метод интерференции световых лучей через оптическую пластинку при наличии монохроматического источника света. Плоскостность контактирующих поверхностей, измеренная таким способом, должна находиться в пределах трех световых лучей или 0,0009 жл , 39 [c.611]

Для измерения по методу интерференции применяют наборы специальных плоскопараллельных стекол. [c.96]

Приемы проверки обработанных деталей. Проверку и измерение обработанных притиркой плоскостей производят лекальной линейкой на просвет, а также методом интерференции света. При притирке и доводке, выполненной с точностью 0,001 мм, лекальная линейка должна ложиться на обработанную плоскость без всякого просвета. Методом интерференции света можно измерять небольшие плоскости, например, у плоско-параллельных концевых мер длины с точностью до 0,1 Mfe. [c.347]

Относительный технический интерференционный метод измерения. Наибольшее распространение на машиностроительных заводах для измерения концевых мер длины получил технический относительный метод интерференции. В основе его лежит разделение пучка света с помощью воздушного клина, образованного поверхностями плоскопараллельной стеклянной пластинки и концевой меры, как это было рассмотрено выше (см. рис. П.39). [c.366]

Для новых штангенциркулей, а также выпускаемых -после ремонта, с а = = 0,02 и 0,05 мм — технический метод интерференции (стеклянные пластинки по ГОСТ 2923—59) [c.256]

При техническом методе интерференции получаемые полосы любой формы должны наблюдаться вдоль всей поверхности губки. При проверке лекальной линейкой просвет между рабочим ребром линейки и из- [c.256]

Подготовка прибора к измерению резьбы методом интерференции такая же, как и при измерении ножами. При этом диафрагма должна иметь минимальное отверстие, а револьверный конденсор устанавливаться в положение, обозначенное словом Интерференция . [c.242]

Плоские стеклянные пластины. Их применяют при измерениях методом интерференции при контроле плоскостности и притираемости измерительных поверхностей плоскопараллельных концевых мер длины, калибров, измерительных приборов и инструментов. [c.106]

К группе оптических приборов относятся оптиметры, измерительные машины, микроскопы, проекционные аппараты и приборы для измерения методом интерференции света. [c.55]

Приборы для измерения методом интерференции СВ ет а. Бели наложить прозрачную стеклянную пластинку (рис. 47, а) толщиной от 12 до 20 мм, нижняя поверхность которой хорошо отшлифована и представляет собой плоскость с отклонениями в пределах +0,1 мк, на поверхность калибра так, чтобы они соприкасались вдоль ребра, то между нижней рабочей поверхностью пластинки и верхней поверхностью калибра будет находиться тонкий воздушный клин, образующийся вследствие того, что пластинка не по всей плоскости соприкасается с калибром. [c.64]

По характеру этих полос можно судить о плоскостности калибров, а также об их размерах, т. е. методом интерференции света можно измерять калибры. [c.64]

Рис. 47. Измерение методом интерференции света

Рис. 48. Расположение калибра, эталона и стеклянной пластинки при измерении методом интерференции света

Проверку и измерение доведенных плоскостей производят лекальной линейкой на просвет, а также методом интерференции света. [c.118]

При точности в 0,001 мм лекальная линейка должна ложиться на обработанную плоскость без всякого просвета. Методом интерференции света можно измерять небольшие плоскости, например у плоско-параллельных концевых мер длины с точностью до 0,1 мк. [c.118]

С помощью электронных пучков и рентгеновских лучей удается, можно сказать, непосредственным методом определить расстояния между атомами в молекуле, а также углы между связями. Точность определения этих расстояний методом интерференции электронов нри рассеянии в газах достигает 0,01—0,05 А, что составляет ошибку в среднем 1—5% от измеряемой величины. [c.772]

Температурный пограничный слой на поверхности тела можно сделать видимым путем фотографирования картины течения методом интерференции. На рис. 12.19 изображена такая фотография течения около лопаток турбины. Смещение интерференционных полос является мерой изменения плотности [c.297]

Масштаб турбулентности 502 Матрица напряжений 57, 61 Метод интерференции 297 [c.709]

Используя спираль Корню, о которой идёт речь в приложении 3 и которая показана на рис. 3.1, обсудить геометрическим способом влияние окрестности 5х точки Хс на значение каждой из амплитуд вероятности. Видно, что приближение к стационарным значениям (7.10) довольно медленное. Однако эта медленность является счастливым свойством метода интерференции в фазовом пространстве . Из него следует, что окончательная вероятность перехода мало зависит от того, как закручены внутрь последние петли спирали, то есть мало зависит от того, как [c.233]

Для определения плотности газа можно также использовать зависимость коэффициента преломления от плотности газа, применяя метод интерференции [Л. 31] или теневой метод [Л. 32]. [c.30]

Фиг. 24-42. Контроль ошибок формы цилиндрического отверстия методом интерференции а — схема оптические пути одинаковы, если контролируемая деталь имеет точную цилиндрическую форму б — интерференционная картина, наблюдаемая при контроле отверстия с большими ошибками формы в — интерференционная картина при контроле отверстия без ошибок формы.

Основные понятия. Ошибка формы поверхности — отклонение от идеальной формы рабочих оптических поверхностей. Ошибка формы определяется при помощи пробного стекла (методом интерференции) или без него. [c.770]

Измерение методом интерференции. Основы см разд. 142. 51. Применение см. фиг. 75-10. [c.776]

Плоскостность контролируется с помощью стеклянных плиток методом интерференции, параллельность — на вертикальном оптиметре. [c.276]

Метод интерференции микроволн. Развтие техники сверхвысоких частот в военные и послевоенные годы пoзвoлиJЮ значительно расширить возможности эксперимента и сделать резкий рывок в увеличении точности измерений скорости распространения электромагнитных волн. Именно в СВЧ-диапазоне (длины волн порядка i см) возможны очень точные и, главное, независимые измерения частоты излучения v и его длины волны А. Скорость распространения излучения =Xv, таким образом, также определяется с высокой точностью. [c.125]

Специфическая помеха, возникающая при контроле зеркальнотеневым методом, — интерференция донного и эхо-сигналов от дефекта. Если дефект расположен посредине изделия, т. е. xilx = = 0,5, сигнал, двукратно прошедший расстояние между поверхностью ввода и дефектом, складывается с донным сигналом и изменяет его амплитуду. Для практики контроля эта помеха не очень существенна, поскольку зеркально-теневой метод предназначен для выявления таких дефектов, эхо-сигнал от которых к преобразователю не приходит. [c.123]

Толщины пленок можно определять, когда они создают интерференцию в видимой части спектра. Точность этого способа ограничивается разными факторами. Например, существует сдвиг по фазе в ре льтате отражения света от поверхности металла, ц может изменяться в зависи1мости от толщины пленки и др. Для уточнения оценок используются цветовые компараторы, производится измерения в проходящем свете через отделенную от металла пленку и др. С помощью метода интерференции было успешно проведено много работ по определению толщины пленок. В табл. 5 пред- [c.55]

Этот образец имел оптические дефекты, так что нельзя было применить метода интерференции и можно было наблюдать только разностный оптический коэффициент напряжения, как и указано в таблице 3.172. Он оказался отрицательным, но чрезвычайно малым и вполне соответствующим (как зто видно из диаграммы 3.17) эмпирической кривой, подтверждая замечательным образом предсказание Покельса. [c.191]

Для исследования поверхностей трения чрезвычайно большой интерес представляют исследования микрорельефа с помощью светового микроскопа. Интерферометрия — наиболее чувствительный и точный оптический метод анализа микротопографии поверхности. Известны два основных метода интерференции двух-и многолучевой [75]. В методе двухлучевой интерференции оба пучка света взаимно усиливаются или интерферируют между собой. В результате процессов усиления или интерференции лучей возникают контурные линии каждая линия соединяет точки, соответствующие одному уровню исследуемой поверхности. Раз- [c.60]

Методом интерференции были изучены колебания биплана и профиля в потоке с различными (жесткими и свободными) границами (Д. Н. Горелов, 1964, 1965), а также поступательные и вращательные колебания пластин в решетке — впервые в широком диапазоне изменения всех геометрических и кинематических параметров. (В последнем случае вместО решетки фактически бралась система из достаточно большого конечного числа профилей.) В связи с этим методом оказалось естественным находить коэффициенты влияния, определяющие нестационарные силы на одном профиле при малом движении (колебании) по заданному закону только одного другого тела (В. Б. Курзин, 1964 Д. Н. Горелов, 1964, 1965). В случае решетки коэффициенты влияния можно определять как коэффициенты Фурье в разложении безразмерных аэродинамических сил по углу сдвига фаз колебаний соседних профилей (В. Б. Курзин, 1964 Г. С. Самойлович и Б. Э. Капелович, 1967) и в любом случае — непосредственно по методу интерференции (Д. Н. Горелов, 1964, 1965). После того как найдены коэффициенты влияния, путем суперпозиции просто определяются нагрузки на профили, колеблющиеся с разными амплитудами и фазами но с одинаковыми частотами и формами колебаний (ограничение одинаковых форм несущественно). [c.140]

РАДИОИНТЕРФЕРОМЕТР — прибор для измерения различных физ. величин методом интерференции радиоволн-, по наблюдению результата интерференции двух или более когерентных колебаний или его изменению определяют искомую величину, к-рая к.-л. способом связана с характеристиками этих колебаний. Для измерения расстояний, скорости распространения радиоволн и исследования условий их распространения служат радиодальномер с неподвижной интерференционной картиной, радиозонд, интерференционный радиодальномер, дисперсионный Р. и др. Для измерения малых времен возбуждения (10 сек — 10 сек) флуоресцирующих веществ применяется флуорометр. В радиоастрономии Р. применяют для измерения угловых координат источников радиоизлучения и разделения излучения от различных источников, а также для исследования пространственного распределения излучения и его природы. [c.288]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...