Метод измерений энергий электронов

Данная глава посвящена вопросам измерения параметров, характеризующих некоторые менее очевидные свойства лазерных резонаторов и активных сред, применяемых в квантовой электронике, от которых зависят рабочие характеристики лазеров. Здесь излагается ряд способов измерения усиления за один проход. В одном из параграфов главы даются дополнительные сведения о тех методах измерения усиления, о которых говорится в гл. 7, 3 и 4. Рассматриваются методы согласования мод, а в параграфе, посвященном измерениям времени жизни, указываются некоторые способы определения подобных характеристик в газах, жидкостях и твердых телах. Излагаются также методы измерения энергии электронов и плотности энергии в плазме газовых лазеров. Рассматриваются способы измерения прозрачности зеркал в предельном случае большой отражательной способности, а также экспериментальные методы определения значений коэффициента отражения, при которых выходная мощность лазера максимальна. Дается также способ определения степени инверсной заселенности в лазерах с модулированной добротностью. В заключительной части рассматриваются потери в резонаторах и методы их определения. Глава начинается с обзора соответствующих параметров лазера. [c.225]

Метод измерений энергий электронов. Экспериментальные данные о кинетических энергиях электронов, образующихся при многофотонной ионизации атомов и атомарных ионов, являются весьма важной информацией о конкретной схеме перехода электрона из связанного в свободное состояние. [c.205]

Наиболее точный метод измерения энергии связи электронов во внутренних оболочках атомов (погрешность 0,1 эВ) основан на рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии газообразных веществ. Кроме того, искомые энергии определяют методами фотопоглощения, рентгеновской эмиссии, оже-спектроскопии и т. д. 19]. [c.420]

ИЗМЕРЕНИЕ ЭНЕРГИИ ЭЛЕКТРОНОВ И ПЛОТНОСТИ ЭНЕРГИИ В ГАЗОРАЗРЯДНОЙ ЛАЗЕРНОЙ ТРУБКЕ МЕТОДОМ СВЧ-ВОЗМУЩЕНИЙ [c.273]

Вывести выражение для энергии Ферми для модели свободных электронов металла при абсолютном нуле температуры. Используя данные табл. 11.1.1 и другие константы, вычислить энергию Ферми для щелочных металлов. Предложить методы измерения энергии Ферми для этих металлов. [c.68]

Действительно, опыт подтвердил, что при испускании рентгеновских волн наблюдается максимальная частота (коротковолновая граница), определяемая из написанного условия, где У — ускоряющая разность потенциалов, е — заряд электрона, V — частота границы и /г — постоянная Планка. Волны более короткие (большие V) никогда не наблюдаются, волны же более длинные соответствуют превращению лишь части кинетической энергии электрона в излучение. Определение коротковолновой границы рентгеновского спектра может быть выполнено весьма надежно. Поэтому такого рода опыты используются как один из наиболее совершенных методов определения значения постоянной Планка с помощью соотношения hv — еУ. Наилучшие измерения, выполненные этим методом, дали /г = 6,624-10 Дж-с. [c.641]

При облучении потоком электронов структуру молибденовых тонких фолы изучали методами измерения электросопротивления и внутреннего трения. Эти исследования проводили при температуре жидкого азота или гелия, так как дефектность структуры, вызываемая электронным облучением, термически нестабильна. В работе [187] было установлено, что уже при температуре 31 и 40 К в молибдене, подвергнутом облучению электронами, наблюдаются пики внутреннего трения. При измерении остаточного сопротивления образцов, подвергнутых облучению при температуре жидкого гелия (4,2 К), было установлено [166], что при увеличении температуры до 40 К электросопротивление образцов резко снижается. При дальнейшем росте температуры оно меняется мало. Однако по мере увеличения энергии электронов с 1,05 до 1,45 и 1,85 МэБ электросопротивление растет соответственно с 0,34 до 2,91 и 4,9 мкОм-см. [c.72]

К фотоэлектрическим методам измерения оптической энергии и мощности относятся все методы, основанные на применении приемников излучения, в которых поглощение фотона сопровождается электрически регистрируемым процессом, например испусканием электрона или образованием электронно-дырочной пары. Такие приемники можно назвать счетчиками квантов в том смысле, что взаимодействие связано с одиночным фотоном энергии излучения и выходной сигнал пропорционален не средней мощности, а числу фотонов (при постоянном квантовом выходе). [c.118]

В работе [51] с целью получения данных об электронной плотности было проведено исследование гелий-неонового разряда в цилиндрической трубке малого диаметра (2а < 6 мм) методом возмущений. Измерения в положительном столбе разряда [51а дают возможность определить электронную плотность и среднюю энергию электронов в газоразрядной лазерной трубке как функцию тока разряда, диаметра трубки и давления газа. [c.273]

Излучение синхротрона. Как уже отмечалось выше ( 5), распределение энергии в спектре излучения синхротрона может быть точно рассчитано, если известна энергия электронов. Экспериментальная проверка показала, что теоретические формулы хорошо согласуются с опытом [88]. Однако практическое использование синхротрона в качестве стандартного источника сопряжено с рядом трудностей так, например, происходит пространственное перемещение луча, наложение спектров высоких порядков [88а]. Применяя синхротрон в качестве стандартного источника излучения, следует иметь в виду, что излучение синхротрона поляризовано [89] и поэтому с его помощью определяется эффективность всей установки в целом для света определенной поляризации. Для того чтобы найти эффективность установки для естественного света, необходимо знать степень поляризации излучения синхротрона и поляризационные свойства спектральной установки. В настоящее время уже имеется ряд методов для определения степени поляризации излучения в вакуумном ультрафиолете (см. 22), и поэтому эти измерения могут быть проведены. [c.250]

В СВЯЗИ С исследованиями высокотемпературной плазмы приходится сталкиваться с понятием электронной температуры, характеризующей поток электронов в плазме. Энергию такого потока обычно выражают в электрон-вольтах тогда температура частиц с энергией в 1 эВ будет равна 1 эВ/к — 11 606 К. Все сказанное относилось к установившимся процессам в системах. При интенсивных химических, атомных и ядерных реакциях, сопровождающихся быстрым выделением тепловой энергии, нарушается равномерное распределение энергии между отдельными видами движения. Наступает термодинамическая неравновесность. Поэтому в термодинамически неравновесном газе (например, при горении, взрывах, при электрических разрядах в газах и т. п.) существует одновременно много разных температур температуры частиц (молекулярная, атомная, ионная, электронная), температуры различных степеней свободы движения частиц (поступательная, вращательная, вибрационная), а также температуры возбуждения и ионизации. При измерении температуры неравновесных газов или плазмы результаты измерения будут зависеть от того, к какому виду движения и каких именно частиц чувствителен используемый метод измерения. [c.196]

Метод измерения электрич. сопротивления в зависимости от темп-ры (или обработки) весьма эффективен при исследовании фазовых превращений, определении критич. точек. Магнитный структурный анализ применяют к изучению диаграмм состояния (в связи с магнитными превращениями), для количественного фазового анализа, исследования превращений в С., распада пересыщенных твердых растворов. Фазовые превращения исследуют также методами термич. и дилатометрии, анализа. Методом внутреннего трения исследуют диффузионные процессы, энергию активации выделения второй фазы, места ее выделения (вблизи границ или в толще образца). Распределение атонов в С., диффузионные процессы и т. д. исследуют также методом радиоактивных изотопов. Электронную струк- [c.54]

Сравнительно недавно появились результаты измерений работы выхода отдельных кристаллических плоскостей вольфрама, полученные методом холодной эмиссии, столь же многочисленные, как и полученные с помощью термоэлектронной эмиссии. К сожалению, этот метод сталкивается, по-видимому, с большими трудностями, чем любой другой, и поэтому результаты нескольких ранних экспериментов должны игнорироваться, поскольку не все трудности в свое время были правильно оценены авторами. Под эту категорию подпадают работы Бекера [50], Уилкинсона [51] и Дайка и др. [52]. Все эти исследователи применяли разновидности простого по существу метода, состоящего в измерении яркости различных областей фосфоресцирующего экрана, соответствующих различным кристаллографическим направлениям острия эмиттера. Световая отдача фосфора калибровалась в единицах тока, падающего на единицу площади, для соответствующей области энергий электронов согласно теории Ноттингема [53]. В то время как правильность самой калибровки не вызывает сомнений, трудно быть уверенным в том, что свет, испускаемый некоторой областью экрана, целиком обусловлен возбуждением электронов с эмиттера, а не имеет какое-нибудь другое происхождение. Фактически во всех трех упомянутых выше экспериментах имелась возможность свечения экрана не только под действием вторичных электронов и мягких рентгеновских лучей, испускаемых различными областями трубки, но и под действием света, испущенного яркими облас- [c.226]

Уточнили также и значение времени жизни я -мезонов, которое было измерено методом сравнения количества медленных я—мезонов на разных расстояниях от мишени, а также прямым методом определения промежутка времени между остановкой я+-мезона и его распадом. В этом методе момент остановки я+-мезона и момент его распада обнаруживались по возникновению импульса в сцинтилляционном кристаллическом счетчике. Импульсы образуются за счет энергии, которая выделяется в процессе быстрого (IO-12 сек) торможения медленного я+-ме-зона и за счет энергии (я—ц)-распада, и регистрируются осциллографом. Так как скорость развертки электронного луча осциллографа известна, то по расстоянию между импульсами можно было определить время жизни я+-мезона. Одновременно в этом опыте измерялось время жизни 1 +-мезона по расстоянию на экране осциллографа между импульсами, образовавшимися в счетчике в момент (я— j,)-распада и ( j,—е)-распада. Из этих и других, более поздних измерений были получены следующие значения времени жизни п-- и ц -мезонов [c.140]

Информация о потенциале ионизации молекул включена в табл. 19.4. В этом случае минимальная энергия отвечает переходу между нулевыми колебательными уровнями основных электронных состояний молекулы и молекулярного иона и может быть названа адиабатическим потенциалом ионизации молекулы. Основными методами экспериментального определения потенциалов ионизации молекул служат методы электронного удара, фотоионизации и спектроскопического определения предела ридберговских серий в полосатых спектрах молекул. Чтобы дать представление о точности измерения значений /Р для молекул, мы сгруппировали числовые данные по четырем классам точности А — погрешность 1% В— 3% С— 10% и, наконец, D— 30%, в соответствии с оценкой использованного метода их получения. Представленные в табл. 19.4 данные основаны на материале монографий [7,8] и многочисленных журнальных публикациях последнего десятилетия. [c.411]

Важнейшей эмиссионной характеристикой твердых тел является работа выхода еср (е — заряд электрона, Ф — потенциал), равная минимальной энергии, которая необходима для перемещения электрона с поверхности Ферми в теле в вакуум, в точку пространства, где напряженность электрического поля практически равна нулю [1]. Если отсчитывать потенциал от уровня, соответствующего покоящемуся электрону в вакууме, то ф— потенциал внутри кристалла, отвечающий уровню Ферми. Согласно современным представлениям в поверхностный потенциальный барьер, при преодолении которого и совершается работа выхода, основной вклад вносят обменные и корреляционные эффекты, а также — в меньшей степени — электрический двойной слой у поверхности тела. Наиболее распространенные методы экспериментального определения работы выхода — эмиссионные по температурной, спектральной или полевой зависимости соответственно термо- фото- или полевой эмиссии, а также по измерению контактной разности потенциалов между исследуемым телом и другим телом (анодом), работа выхода которого известна [I, 2]. В табл. 25.1, 25.3 и 25.4 приведены значения работы выхода простых веществ и некоторых соединений. Внешнее электрическое поле уменьшает работу выхода (эффект Шоттки). Если поверхность эмиттера однородна, то уменьшение работы выхода. эВ, при наложении электрического поля напряженностью В/см, равно [c.567]

Развиваются экспрессные методы активационного анализа без разрушения, опирающиеся на измерение короткоживущих активностей и даже просто продуктов ядерных реакций. Эти методы используются, в частности, для непрерывного автоматического контроля за ходом различных технологических процессов. Идентификация проводится по Р-распадным электронам, по у-квантам радиационного захвата (п, у), по нейтронам и другим частицам, вылетающим в результате ядерных реакций. Используются и у-кванты, возникающие при возвращении ядра в основное состояние после неупругого столкновения с нейтроном. Для повышения селективности анализа обычно измеряется энергия у-квантов, а для каскадных процессов часто используется регистрация на совпадения. Примером экспрессного анализа по короткоживущей активности может служить определение содержания кислорода посредством активации быстрыми нейтронами, вызывающими реакцию вО (п, p)7N . Период полураспада изотопа составляет всего лишь 7,3 с. Регистрируются обычно не 3-электроны, а жесткие у-кванты с энергиями 6,1, 6,9 и 7,1 МэВ, возникающие при переходе продукта распада — изотопа — в основное состояние. Примером использования ядерных реакций для элементного анализа может служить использование ракции 4Ве (у, п)4Ве для анализа на бериллий. Эта реакция имеет на редкость низкий порог 1,66 МэВ (обычно порог реакции (у, п) лежит в области 10 МэВ). Регистрируются вылетающие нейтроны. Малость порога, во-первых, делает метод исключительно селективным, а во-вторых, дает возможность использовать для активации дешевые и простые в обращении изотопные источники у-излучения. [c.688]

Теплота образования как мера химической энергии может быть определена калориметрическими методами, т. е. путем прямого измерения теплоты реакции, а также косвенными способами, например в результате изучения электронного спектра атомов и молекул. [c.161]

Поскольку при нахождении величины электропроводности имеется некоторая неопределенность, в настоящей работе принята ориентация па теоретические методы, получившие удовлетворительное экспериментальное подтверждение. Заслуживает пристального внимания методика, изложенная в работе Фроста [98] и неоднократно подтвержденная в результате тщательно выполненных измерений (см., например, [107]). Согласно модифицированной методике [98] при расчете электропроводности однокомпонентной присадки (калий) учитываются степень ионизации атомов калия (уравнение Саха) уменьшение концентрации атомов калия при образовании КОН в равновесных условиях прилипание электронов к ионам ОН стабилизирующее влияние на ионы калия со стороны окружающих электронов при расчете диффузионного сечения рассеяния электронов — соударения как с нейтральными атомами и молекулами, так и с ионами калия энергия частиц, зависящая от распределения по скоростям при расчете диффузионного сечения рассеяния электронов. [c.112]

В качестве примеров, иллюстрирующих этот вывод, можно привести результаты ряда экспериментов, выполненных различными методами. Как уже упоминалось в разделе 8.2.3, использование метода измерения энергий электронов позволило в ряде экспериментов по наблюдению двухзарядных ионов щелочноземельных атомов обнаружить атомы в возбужденных двухэлектронных и автоионизационных состояниях. Однако этот факт не позволяет сам по себе утверждать, что, помимо каскадного процесса, идет и прямой двухэлектронный процесс ионизации. В качестве конкретного примера можно привести результаты работы [8.12], в которой факт наблюдения электронов с энергией 0,74 эВ указывает на возбуждение двухэлектронного состояния 8 в спектре атома магния. Однако возбуждение этого состояния не позволяет утверждать, что, помимо каскадного процесса образование иона Mg +, идет и прямой процесс двухэлектронной ионизации (рис. 8.11). [c.216]

Другие эксперименты, в которых использовался метод измерения энергий образующихся электронов, проведенные с другими щелочноземельными атомами, кальцием [8.11] и магнием [8.12], дали результаты, полностью подтверждающие описанные выше для атома стронция. Дополнительно они показали, что эффективность различных каналов, приводящих к обра- [c.207]

В самом деле, если возможна реакция (8.25), то возрастает уверенность, что нейтрино имеет массу покоя майорановского типа. Наилучшим способом детектирования такого процесса является, очевидно, измерение энергий электронов е и Согласно формуле (8.24), энергетический спектр образующихся электронов должен быть непрерывным с ярко выраженным максимумом при значении энергии, равном половине полной энергии распада. В случае же реакции (8.25) сумма кинетических энергий электронов и должна равняться постоянной величине. Однако двойной р-распад, если даже и существует, является слишком редким процессом, чтобы можно было провести такие измерения. При современной технике измерений прямые методы позволяют установить лишь нижний предел для среднего времени жизни (табл. 8.3). [c.219]

В табл. 19.6 представлены значения энергии сродства атомов к электрону. Наиболее точные современные методы измерения этой величины основаны на анализе порогового поведения сечения лазерного фотоотрыва и лазерной фотоэлектронной спектроскопии [17—20]. В отдельных графах табл. 19.6 приведены электронная конфигурация валентной оболочки иона и соответствующий терм отрицательного иона. [c.420]

На рис. 21 ириведена функциональная схема батареи конденсаторов с элек1ромагнитиым устройством для калибровки ударных акселерометров. Это устройство может работать как по методу изменения скорости, так и по методу измерения силы. Принцип действия устройства основан на преобразовании накопленной электрической энергии в механическую при разряде батареи конденсаторов на выталкивающую катушку, которая возбуждает магнитное поле, взаимодействующее с расположенными вблизи выталкивающей катушки проводпиком-спа-рядом, сообщая ему мощный импульс ускорения. В исходном состоянии проводник-снаряд / устанавливают на. электромагнит батареи кондепсаторов2. При зарядке от источника постоянного тока 5 электронный выключатель 4 замкнут, через ограничивающий блок сопротивлений 5 заряжаются конденсаторы ё. Напряжение на конденсаторах контролируют при помощи специального измерительного контура. По достижении требуемого напряже- [c.368]

Методов измерения ЕА существует много. Наиб, информация получена методо.ч фотоэлектронной спектроскопии — измерение порога фотораспада О. и.или энергии электронов, оторванных от О. и. при облучении лазерным излучением. ЁА для атомов галогенов определяются по спектру излучения плазмы, к-рый даёт порог фотоприлипания электрона к атому галогена. Др. методы метод поверхностной ионизации, анализ диссоциативного прилипания электрона к молекуле — обеспечивают точность, на два порядка худшую, чем метод фотоэлектронной спектроскопии. [c.514]

Определение элементного состава методом ионизационной спектроскопии основано на измерении энергий связи электронов остова [6]. Одно из новых направлений иони-зац. спектроскопии—анализ протяжённой тонкой структуры спектра, проявляющейся в виде осцилляций за порогом ионизации и охватывающей область энергий до сотен эВ. Природа этих осцилляций подобна природе осцилляций EXAFS (см. Рентгеновские спектры) и связана с интерференцией волны де Бройля выбитого из атома электрона и волн, рассеянных атомами ближайших координац. сфер данного атома в направлении назад . Фурье-анализ образующейся тонкой структуры энергетич. спектра электронов позволяет с высокой точностью определять радиусы координац. сфер [7 ]. Тонкая структура в спектре, прилегающая к порогу ионизации остовных уровней, служит ис- [c.553]

После рассмотрения различных методов измерения шероховатости сверхгладких поверхностей возникает вопрос о том, какой же метод следует предпочесть для оценки качества поверхности рентгеновских зеркал. Каждый из рассмотренных методов и приборов имеет свои недостатки и достоинства. Совокупность таких требований, как предельная чувствительность, простота реализации, возможность неразрушающего контроля, минимизация времени измерения и т. п., оказывается противоречивой. Понятно, что самую полную информацию о поверхности рентгеновского зеркала дает метод измерения индикатрисы рассеяния той энергии, где предполагается использование зеркала. Однако отсутствие выпускаемых промышленностью приборов такого типа и их достаточно высокая сложность практически исключают возможность использования их как средства контроля технологии изготовления зеркальной рентгеновской оптики. Проведенный обзор и анализ методов показывает, что в качестве приборов для контроля готовых образцов рентгеновских зеркал можно рекомендовать щуповой профилометр, прибор для измерения TIS и метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии. Вторая группа приборов, имеющих самостоятельное значение, — приборы для контроля качества рентгеновской оптики в процессе ее изготовления. Наиболее удобен для этой цели дифференциальный интерференционный микроскоп Номарского при условии его достаточной калибровки (в некоторых случаях можно использовать щуповой профилометр). [c.244]

Масс-спектрографы — это чаще всего уникальные, сложные приборы с фокусировкой ионных пучков по энергиям в электрическом поле и по направлению в магнитном поле, обладающие разрешающей способностью MJts.ni от 10 000 до 500 000. Высокая разрешающая способность у этих приборов достигается с помощью ионнооптических систем с двойной фокусировкой, позволяющих получить минимальные хроматические и сферические аберрации, а также благодаря применению высокостабильных электронных схем, питающих ионный источник, отклоняющие электростатические системы и катушки диспергирующего электромагнита. Точность определения относительных атомных масс методом измерения дефекта массы изотопных дублетов на лучших [c.6]

NaBr) 0,87, 0,68 (KBr). Отметим, что полученные нами численные значения энергии активации находятся в хорошем согласии с аналогичными величинами, полученными также методом термического высвечивания И. А. Парфиановичем [212] и Ч. Б. Лущи-ком [1581 для активированных щелочно-галоидных кристалло-фосфоров, но они ниже величин энергии тепловой диссоциации F-центров, которые получены Смакулой [2131 из измерений подвижностей электронов в неактивированных аддитивно окрашенных щелочно-галоидных кристаллах. Из сравнения полученных величин с данными таблиц 2 и 24 видно, что они более чем в два раза меньше соответствующих значений энергии оптической ионизации F- и М-центров. Де-Бур и Гиль [214] впервые указали на то, что энергия термической активации должна быть всегда меньше энергии оптической активации. [c.121]

Общие вопросы постановки эксперимента кратко обсуждались выше в гл. III, а применительно к измерению многофотонных сечений прямого процесса ионизации в [5.1-5.2] и наиболее детально в [5.3]. В основе экспериментов по изучению прямого процесса ионизации лежит традиционный метод пересекающихся пучков (лазерного и атомного), вытягивание образованных ионов и (или) электронов из области пересечения пучков, времяпролетный анализ ионов, регистрация ионов и (или) электронов, измерение энергии и углов вылета последних. [c.113]

Однако данный метод не позволил выяснить все конкретные переходы, приводящие к ионизации атома и его однозарядного иона, и дать количественное объяснение экстремально низкому порогу образованш двухзарядных ионов по сравнению с порогом образования однозарядных ионов. Ответы на эти вопросы были получены в ряде экспериментов, выполненных другим методом, путем измерения энергий образующихся электронов. [c.205]

Электрические регуляторы обладают практически неограниченным радиусом действия и не требуют специальных источников энергии. Электрические схемы могут быть набраны из стандартных легко заменяемых деталей (реле, электронные лампы, емкости, сопротивления и т. д.). Электрические методы измерения (особенно температуры, концентрации) обладают рядом общеизвестных преимуществ в электрических контурах легко выполнимы операции, суммирования, умножения, интегрирования и дифференцирования электронные усилители практически безынерционны и позволяют получать значительные коэффициенгь усиления. В то же время электрические регуляторы более сложны, чем гидравлически и пневматические для обслуживания их требуется значительно более квалифицированный персонал. Надежность их пока также ниже контактные устройства часто выходят иэ строя, срок службы электронных ламп отно сительно невелик, электрические исполнительные механизмы более громоздки и более сложны, чем пневматические и гидравлические механизмы. Вследствие тяжелых условий ра> боты (частые включения и выключения) электродвигатели исполнительных механизмов быстро выходят из строя. [c.533]

Для оценок шероховатости атомарно-чистой поверхности и выявления на ней макроскопических дефектов часто используют дифракцию быстрых электронов ДБЭ), сочетая эти измерения с измерением спектра ДМЭ. В этом методе пучок моноэнергетических электронов с энергий 10—100 кэВ падает под очень малым углом к поверхности (< Г) и регистрируется рассеянное излучение. Для большей однозначности эти данные дополняются наблюдениями на сканирующем электронном микроскопе (4.2.1) декорированной поверхности. Заметим, что электронные пучки уже давно используются в промышленных электронографах при структурном анализе поли- и монокристаллических материалов, как в методе "на просвет" (тонкие пленки =10—50 нм), так и "на отражение". [c.134]

В этом разделе будут обсуждаться методы рентгеновской фотоэлектронной (РФС) и электронной Оже-спектроскопии (ЭОС). Такие эксперименты выполняются в системах сверхвысокого вакуума при облучении образца рентгеновским или электронным пучками. Возбужденные вследствие одно электронных процессов (метод РФС) и многоэлектронных Оже-про-цессов электроны эмиттируются с поверхности образца и анализируются по энергиям. Измеренные распределения электронов по энергиям затем используются для идентификации состава образца. Кроме того, энергетические распределения чувствительны к электрическому потенциалу вблизи каждого атома, и поэтому с помощью рассматриваемых методов можно измерять и изменения в химических связях. Оба метода связаны с процессами, происходящими вблизи поверхности, и обладают естественным разрешением по глубине от 5 до 30 А в зависимости от энергии наблюдаемых переходов. Для исследования элементного состава по глубине образца методы РФС и ЭОС следует дополнить распылением или другими методами удаления слоев (химическое травление и т. п.). Поскольку в большинстве приложений используется распьшение, то в дальнейшем будет обсуждаться метод исследований элементного состава с помощью распыления. [c.191]

ОЖЁ-СПЕКТРОСКОНЙЯ, раздел электронной спектроскопии, методы к-рого основаны на измерении энергии и интенсивности токов оже-элек-тронов, эмиттированных из атомов, молекул и ТВ. тел при оже-эффекте. Энергия оже-электронов определяется природой испускающих пх атомов и их хим. окружением, что позволяет определять атомы в соединениях и получать информацию об их хим. состоянии. О.-с. применяют как для фундам. исследований, так и для элементного анализа. В зависимости от способа воЗ буждения атомов — электронным, фотонным, ионным пучками — различают электронную, фотоэлектронную и ионную О.-с. (соотв. ЭОС, ФОС и ИОС). [c.483]

Высокая степень точности измерения изменения энергии методом резонансного поглощения -у-лучей без отдачи позволяет использовать этот метод для обнаружения и изучения весьма тонких эффектов, апример для определения магнитных диполь-ных и электрических квадрупольных моментов возбужденных состояний ядер, для исследования влияния электронных оболочек на энергию ядерных уровней. В 1960 г. Паунд и Ребка использовали резонансное поглощение у-лучей без отдачи в Fe для измерения в лабораторных условиях гравитационного смещения частоты фотонов, предсказываемого в общей теории относительности Эйнштейна. Эффект удалось обнаружить при удалении источника от поглотителя (по высоте) всего на 21 м. [c.179]

Найденные значения средних энергий активации миграции дефектов к комплексам позволяют, используя данные об энергии активации различного типа дефектов из работы [220, р. 565], предположить, что Основными подвижными дефектами в графите при облучении являются молекулы С2, имеющие два неспаренных спина, которые могут быть зарегистрированы методом электронного парамагнитного резонанса. Действительно, проведенные на образцах, облученных при различной температуре, измерения (59, с. 77] показали наличие таких спинов с концентрацией 10 в расчете на один повреждающий нейтрон. Энергия активации дефектов при рекомбинации оказалась выше, чем при росте комплексов. Но она примерно в два-три раза ниже энергии активации при термическом отжиге дефектов, т. е. рекомбинация при Ьблучении для той же температуры, что и при термическом отл<иге, протекает легче. [c.106]

Надежность и высокое качество проектов радиационной защиты ядерно-технических установок прямо зависят от качества моделей расчетов их адекватности реальным условиям и надежности константного обеспечения. Эти свойства расчетных моделей могут быть проверены только в результате измерений наиболее общей характеристики поля излучения за макетом радиационной защиты — спектра излучения в необходимом энергетическом интервале, обработанном по методике, дающей возможность вычислить погрешности восстановления спектра, а также погрешность определения любого линейного функционала от спектра. Для измерений спектра в области энергий нейтронов от 0,4—1 до 10— 5 МэВ в настоящее время применяют сцинтилляционный спектрометр быстрых нейтронов с кристаллом стильбена различных размеров и электронной схемой дискриминации импульсов от Y-фона по фронту нарастания импульсов. При измерении и обработке (восстановлении) спектра из измеренных амплитудных распределений возникают погрешности, обусловленные методикой эксперимента (неправильный учет фона, различных поправок и т. п.), применяемым методом обработки, а также статистические погрешности. Здесь описываются алгоритмы и программа восстановления спектров быстрых нейтронов и вычисления статистических погрешностей, вызванных статистикой отсчетов в каналах анализатора и нестабильностью регистрирующей аппаратуры спектрометра, приводящей к нестабильности энергетической шкалы анализатора импульсов. Проверку использованных алгоритмов и программы обработки проводили при измерении спектра быстрых нейтронов, образующихся при спонтанном распаде f. Этот спектр хорошо известен по результатам многочисленных экспериментов с использованием различных методик и является своеобразным международным стандартом . Измерения и обработки результатов проводили на измерительно-вычислительном комплексе (мини-ЭВМ 328 [c.328]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...