Луч электронный сканирующий

Сформированное в миллиметровом диапазоне изображение сканируется по спирали с большой скоростью датчиком, сигнал с которого после усиления модулирует по интенсивности электронный луч электронно-лучевой трубки, вращающейся синхронно с датчиком. [c.242]

По источникам нагрева существующие способы пайки разделяют на пайку паяльником, газопламенную, дуговую, электросопротивлением, экзотермическую (использующую теплоту, образующуюся при экзотермических реакциях специальных смесей), электронным лучом (чаще сканирующим), лазерную, световым излучением (с помощью кварцевых ламп и ксеноновых ламп высокого давления), печную, погружением в расплавленные соли или припои, волной припоя, нагретыми штампами, матами, блоками. [c.249]

С помощью электронного микроскопа наблюдают на просвет металлические образцы или снятые с их тщательно отполированной поверхности отпечатки (реплики) толщиной меньше тысячной доли миллиметра. В растровом (сканирующем) электронном микроскопе узкий электронный луч обегает (сканирует) всю поверхность исследуемого образца. При этом возникает поток отраженных или рассеянных от поверхности электронов, создающих соответствующее изображение на экране. [c.42]

Модулятор электрически управляемый [8.67—8.69], в нем пространственный заряд создается на поверхности кристалла сфокусированным электронным лучом, который сканирует его поверхность, образуя растр, как в обычной приемной телевизионной трубке. Управляющий электрический сигнал изменяет ток электронного луча. В результате после сканирования на поверхности кристалла создается пространственно неоднородный заряд, соответствующий управляющему электрическому сигналу. [c.188]

Изображение формируется тонким пучком электронов, который сканирует по поверхности образца, вызывая вторичную эмиссию. Вторичные электроны улавливаются специальными датчиками, сигнал от которых подается после усиления на модулятор электронно-.лучевой трубки. Величина сигнала зависит прежде всего от особенностей рельефа поверхности, которую обегает электронный луч. Изменение силы сигнала обусловливает изменение яркости свечения экрана и формирования изображения изучаемой поверхности. Расшифровка полученных микроснимков обычно не вызывает затруднений, так как изображения выглядят как трехмерные, весьма приближенные к действительности. [c.179]

Дуэт-Ь равна 3,2 МГц. Характерной особенностью установок Дуэт является пространственно-временное сканирование, когда ПЭП неподвижны листы, движущиеся по роликовому конвейеру, сканируют так называемыми бегущими лучами. Такой способ по сравнению с обычным многоканальным позволяет значительно сократить число электронных каналов и тем самым существенно повысить надежность установки. Благодаря этому в установках Дуэт при общем числе пар датчиков от 256 до 400 число электронных каналов колеблется от 10 до 40. [c.379]

Процесс пайки на электронно-лучевых установках характеризуется высоким КПД процесса. Концентрация энергии в луче позволяет предельно сократить продолжительность взаимодействия расплавленного припоя с паяемыми материалами и тем самым сохранить их свойства. Для изготовления высокоточных изделий, собранных из тонкостенных и разно-толщинных элементов, используют установки с местным нагревом (сфокусированный электронный луч) и общим нагревом (сканирующий поток электронов). [c.180]

Сканирующим электронным лучом [c.172]

Электронно-лучевая пайка. Электронно-лучевой нагрев применяется для локальной пайки, в том числе импульсной, пайки изделий электронной и радиотехнической промышленности, пайки деталей из тугоплавких металлов. Высокая концентрация электронного пучка существенно сокращает время нагрева и плавления припоя, что особенно важно при пайке чувствительных к нагреву тугоплавких металлов. Пайка может производиться как неподвижным сфокусированным лучом, так и сканирующим (совершающим, например, поперечные колебания). В качестве примера можно 536 [c.536]

Формируемые в результате электронно-лучевой обработки поверхности определяются траекторией взаимного перемещения луча и детали. Устанавливаемый в рабочей камере манипулятор позволяет придавать заготовке поступательное и вращательное движение, а установленная в электронной пушке электромагнитная система развертки позволяет сканировать (перемещать) электронный пучок по заданному контуру. [c.614]

К первой группе оборудования с общим нагревом относятся электротермические установки, установки со сканирующим электронным лучом, оптического нагрева и для пайки волной припоя. Во вторую группу оборудования с локальным нагревом входят паяльники, газопламенные горелки, паяльные лампы, плазменные горелки, установки с нагревом электросопротивлением и посты индукционной пайки. [c.250]

Развитие аналитических методов в электронной микроскопии. Современный электронный микроскоп все более становится аналитическим прибором благодаря разработке и применению различных приставок и прежде всего приставок для локального химического анализа. Наиболее распространена приставка для анализа характеристического спектра рентгеновских лучей, возникающих при взаимодействии быстрых электронов с исследуемым образцом. Трудности количественного определения содержания того или иного элемента связаны с необходимостью эталонирования экспериментальных спектров (для эталонирования необходимо точно знать толщину фольги, объемную долю исследуемой фазы и т. д.). В приборах новейших конструкций локальность определения химического состава, ограниченная размерами падающего на образец электронного пучка, достигает десятков ангстремов. Поэтому весьма перспективны растровые (сканирующие) электронные микроскопы просвечивающего типа, снабженные такой приставкой наличие интенсивного электронного зонда малого [c.61]

Сигналы с детекторов излучения через усилители подаются на амплитудные анализаторы импульсов и регистрируются интенсиметра-ми, пересчетными схемами или печатающим устройством типа телетайп (анализ по точкам). Выходной сигнал с интенсиметра может быть подан на самопишущий потенциометр, и при непрерывном перемещении образца под электронным зондом на диаграммной ленте самописца получают кривые распределения определяемых элементов вдоль выбранной прямой, В приборах также имеется возможность сканировать электронный луч в двух взаимно [c.144]

Наплавка электронным лучом. Сущность наплавки электронным лучом [61 рабочей части катода можно рассмотреть на примере получения катода с титановым основанием и на плавленной рабочей частью из циркония. Такой катод получаю в рабочей камере установки (давление порядка 2 -10 Па), что позволяет предотвратить окисление металла и насыщение его азотом и кислородом. Первой операцией является очистка от растворимых газов и примесей металлов с большой упругостью паров. Отсутствие перемешивания расплава способствует лучшей очистке от неметаллических включений. Формирование рабочей поверхности катода происходит в медном водоохлаждаемом кокиле. Наплавляемый металл в виде прутка диаметром 10 мм подается в зону электронного луча с помощью специального механизма из шлюзовой камеры. Сканирующий электронный луч одновременно с расплавлением наплавляемого материала расплавляет и некоторый участок верхней части катода. Капли наплавляемого металла, взаимодействуя с расплавом металла основания, образуют монолит переходной зоны (от основания к рабочей части). Вращение кокиля обеспечивало последовательную и равномерную наплавку всей рабочей поверхности катода. [c.139]

Сканирующая микроскопия (или эмиссионный микроанализ) осуществляется с помощью электронного микрозонда. В этом случае рентгеновские лучи возбуждаются электронным лучом, двигающимся через регулярные интервалы но образцу, а наблюдение ведется с помощью телевизионной техники на экране катодной трубки. [c.385]

В первоначальных приборах различные участки подводили под электронный зонд с помощью механического перемещения образца, а выбор участка производился с помощью оптического микроскопа, встроенного в систему. Теперь наиболее употребительна методика сканирования электронного пучка. Рентгеновские лучи генерируются серией точек во время каждой строчки или кадра, а рентгеновский сигнал фиксируется счетчиком, усиливается и преобразуется в луч, который попадает на экран синхронно со сканированием зонда. При использовании пропорционального счетчика регистрирующая система может быть настроена (с помощью амплитудного анализатора) только на регистрацию интересующего нас характеристического излучения тогда экран электронно-лучевой трубки покажет распределение одного элемента по поверхности, как на фиг. 27 [29]. Длр получения количе -ственных данных сканирующий луч может быть остановлен в любой точке, после чего измеряется интенсивность некоторых выбранных линий. Другой путь — зонд можно сканировать по образцу вдоль определенной линии, а сигнал отклоняет второй луч двухлучевой электронно-лучевой трубки. Чаще всего тем не менее для облегчения предварительного исследования оптический микроскоп сохраняют и в сканирующих приборах. [c.392]

Ипользование в радиоскопическом контроле рентген-видиконов (рис. 79) основано на следующем. Электронный луч рентгенвидикона сканирует последовательно поверхность фотокатода, на котором под влиянием прошедшего излучения устанавливается определенное распределение электрического потенциала. Полученный в результате электрический сигнал передается по телевизионному каналу, модулирует луч телевизионного при- [c.135]

ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫЕ ПРИБОРЫ, электровакуумные приборы, в к-рых для световой индикации, коммутации и др. целей используется узкий электронный пучок. В осциллографич. трубках и кинескопах электронный луч создаёт на люминес-цирующем экране светящееся пятно. Спец. отклоняющая система и модулирующий электрод могут перемещать луч, а следовательно, и пятно по экрану и изменять его яркость. В результате на экране возникает изображение. В накопительных и передающих телевизионных Э. п. электронный луч обегает (сканирует) мишень. В знаковых Э. п. электронное пятно на экране формируется в виде знаков, в электронных коммутаторах электронный луч переключает разл. цепи. [c.883]

Растровое сканирование. Технология дисплея с электронной лучевой трубкой, при которой электронный луч быстро сканирует всю поверхность экрана, покрытую люминоформом с коротким послесвечением. Поскольку вся поверхность обычно сканируется 30—60 раз в секунду, изменения на экране могут производиться почти мгновенно. См. также Запоминающая трубка и Векторный ди плeй . [c.314]

Для достижения чувствительности в области больших длин воли создают охлаждаемые мишени из PbS—РЬО, а также из Si и Ge, легированных примесями. Разработаны видиконы с мишенью на основе р—п-перехода из InAs, у которых п-область облучается, а р-область сканируется электронным лучом. Максимум чувствительности такого видикона — в области 3,25 мкм. [c.141]

Кляйн и Меткалф [15], использовавшие для получения композитов различной прочности подход Штурке, в отличие от этого автора исследовали поверхность раздела с помощью ряда методик — оптической микроскопии поперечных и косых срезов, сканирующей электронной микроскопии поперечных срезов, дифракции электронов и рентгеновских лучей и трансмиссионной электронной микроскопии топких срезов, полученных катодным травлением. Большие возможности представляет методика экстракции имеющейся на поверхности раздела пленки продуктов реакции, основанная на растворении алюминия и бора в соответствующих реактивах. Эта методика обеспечивает свободное всплывание пленки в растворе. Она обсуждается более де тально в гл. 3 там же приведены примеры типичных поверхностей раздела. [c.171]

Не каждый способ нагрева пригоден для пайки изделия сложной формы. Так, нагревы в экзотермических реактивных флюсах, индукционный, электролитный пригодны главным образом для небольших изделий, имеющих форму тел вращения нагрев блоками и экзотермическими твердыми смесями —для изделий, состоящих из двух или нескольких деталей простой геометрической формы и небольших размеров нагрев световым лучом, газопламенный, плазменный, электродуговой — для относительно простых изделий с возможностью локального нагрева паяемых деталей по месту пайки, инфракрасный нагрев (ИКН) и наГрев матами — преимущественно для изделий малой толщины и простой формы электронио-лучевой иагрев сканирующим лучом —для одновременной пайки большого числа мест соединения, находящихся в одной плоскости, размеры которой ограничены размерами вакуумной камеры и площадью сечения сканирующего луча дуговым разрядом — для пайки в вакууме плоских и криволинейных деталей, размер которых ограничен размерами вакуумной камеры. [c.232]

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп (рис. 1.422). Зондирование образца производится с помощью острофо-кусированного электронного луча (диаметр 10 мм). Контрастность образуется за счет различия во вторичной электронной эмиссии. Большая глубина резкости (см. 1.11.4.6). [c.159]

Главные элементы этих приборов следующие электронная оптика для получения остросфокусированного электронного луча сканирующая система для зондирования образца столик для закрепления образца, обеспечивающий возможность его передвижения в направлениях х, у, z, вращения и снятия. [c.160]

Электронный луч, модулированный видеосигналом, сканируя масляную пленку, заряжает ее поверхность пропорционально сигналу. Электростатическое взаимодействие поверхностных локализованных зарядов с постоянным зарядом прозрачного электрода приводит к образованию пространственного рельефа. В этом случае получается фазовая голограмма, с которой можно во<хтаиовить изображение. [c.284]

Нагрев под пайку электронным лучом осуществляют в специальных вакуумных камерах (10 —10 мм рт. ст.). Электронный пучок образуется за счет эмиссии электронов с нагретого катода. Для пайки обычно применяют сканирующий или расфокусированный пучок электронов. [c.215]

Принципы оптической голографии могут быть распространены и на ультразвуковые колебания. На рис- 38 приведена схема установки акустической голографии. Объект в виде буквы прозвучивается ультразвуковыми колебаниями. В плоскости звукового изображения перемещается сканирующий приемник, из меряющий диафрагированную звуковую волну. Поскольку звуковой приемник измеряет непосредственно амплитуду звуковой волны (в противоположность оптическим приемникам, измеряющим интенсивность), опорная волна непосредственно снимается со звукового генератора и в виде электрических сигналов пересылается в приемник. Таким образом, отдельный опорный луч не нужен. Голограмма состоит из электрического сигнала, характеризующего интенсивность интерферирующего акустического распределения в зависимости от положения. Сигнал может воспроизводиться с помощью только электронных устройств. [c.117]

Оборудование для пайки электронным лучом. Процесс нагрева электронным лучом основан на использовании кинетической энергии электронов, быстро движущихся в глубоком вакууме. Сжатый в магнитных и электростатических фокусирующих линзах, поток электронов перемещается с большой скоростью от катода к аноду в сильном электрическом поле. Кинетическая энергия электронов при соударении с поверхностью детали-анода превращается в тепловую, что приводит к ее нагреву. Нагрев под пайку электронным лучом осуществляется в специальных вакуумных камерах (1,33-10 . .. 1,33-10 " Па). Для пайки, как правило, применяют сканирующий или расфокусированный пучок электронов [9]. [c.458]

Сканирующим электронным лучом паяют также трубки теплообменников с трубной доской из коррозионно-стойкой стали никелевыми припоями или припоем ВПр2 на установке ЭЛН-И. Так можно нагревать лишь поверхность трубной доски и концы трубок, что предотвращает стекание припоя в межтруб-ную полость. [c.459]

Таким образом, решена задача о восстановлении распределения нелинейного параметра вдоль направления распространения зондирующего сигнала. Сканируя зонщ1рующий луч и накачку механическим или электронным способом в поперечном направлении у, можно восстановить двумерное распределение Ф(д , у). [c.143]

В сканирующей электронной микроскопии исследуемую поверхность сканируют фокусированным пучком электронов, а контролируют интенсивность потока вторичных электронов. Сигнал детектора вторичных электронов моделирует растр электроннолучевой трубки, луч которой развертывается синхронно с фокусированным пучком электронов. Каждая точка растра (т. е. поверх-ностл, формирующей изображение) электронно-лучевой трубки (фактически телевизионной трубки) соответствует некоторой точке на поверхности образца. [c.63]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...