Измерения электронные

Линейная зависимость С от температуры подтверждается экспериментально. Такие измерения позволяют определять плотность состояний вблизи уровня Ферми Ер, причем именно измерения электронной теплоемкости являются одним из прямых методов определения зонной структуры твердых тел. [c.126]

При помощи фотоэлектрического спектрофотометра СФ-4 (см. задачу 10) проведите измерение электронного спектра поглощения прилагаемого водного раствора родамина 6Ж в видимой области спектра (400—600 нм). При измерении используйте цилиндрические стеклянные кюветы СФ-4 толщиной 10 мм. [c.207]

Впервые установлена закономерная связь между электронной структурой дефектов и характеристиками усталости материалов. Разработана методика измерения электронно-позитронной аннигиляции (ЭПА) в циклически деформированных материалах. [c.425]

Следуя логике данных рассуждений, можно сказать, что и в случае химической реакции также должна выделяться энергия, вызванная разницей между суммарной массой молекул углерода и кислорода и массой молекулы углекислого газа. Это действительно так, однако в данном случае дефект массы составляет всего лишь а. е. м., тогда как эта же величина для дейтрона равна 0,00234 а. е. м. Данный пример еще раз иллюстрирует, что ядерные силы в миллион раз превосходят химические, как это и следует из соответствующей разницы в энергиях, выделяемых за счет дефекта массы. Конечно, выделяемая ядерная энергия, выраженная в атомных единицах массы, кажется также незначительной, поскольку, как мы помним, значение переводного множителя в формуле Эйнштейна чрезвычайно велико. Однако все меняется, если использовать в качестве единиц измерения электрон-вольты Одна атомная единица массы равна 931 МэВ, следовательно, энергия, освобождающаяся при образовании ядра дейтерия и соответствующая дефекту массы 0,00234 а. е. м., равна [c.36]

Расширение диапазона измерений электронного измерителя для измерения пластических деформаций достигается с [c.492]

Измерения электронные 596 Измерители вибрации 600 -- выхода 596 [c.712]

Расширение диапазона измерений электронного измерителя (для измерения пластических деформаций) достигается подключением сопротивлений,— см. [42]. [c.547]

Наиб, важные методы определения Э. м. электронов проводимости и дырок в металлах и полупроводниках— циклотронный резонанс, измерение электронной теплоёмкости и др. [c.645]

Средства измерений электронные.......................................................... 66 8000 [c.38]

Рис. 17. Сосуды для измерения электронных потенциалов образец армирован в держатель (а), в стенку сосуда (б) и в дно сосуда (в)

По другим металлам сделано меньше заключений. Возможно, более точные измерения электронных свойств покажут, что модель свободных электронов ни в коем случае не адекватна металлам, расположенным в группах выше группы IA в Периодической системе элементов и что она становится еще менее адекватной, когда номер группы увеличивается, а номер периода уменьшается. Очевидное совпадение с элементарной теорией свободных электронов иногда вводит в заблуждение, как это было показано при анализе оптических измерений [444]. Небольшие отклонения от поведения в модели свободных электронов в настоящее время нельзя никак уловить измерениями, проводимыми с доступной в настоящее время точностью. [c.144]

Измерение электронных спектров поглощения. Устройство и оптическая схема спектрофотометров для ультрафиолетовой, видимой и близкой ИК-области. [c.267]

Особенности спектра потока событий. Следует особо подчеркнуть, что в ядерной физике нередко степень приближения экспериментальной кривой спектра к вероятностному закону распределения практически не зависит от количества зарегистрированных индивидуальных событий, например частиц. Это справедливо, когда исследуемые частицы воспринимаются датчиком или другим прибором не индивидуально, а как непрерывный поток. Основной его характеристикой будет уже не абсолютное количество или средняя частота регистрации частиц, а их интенсивность или ток (по существу ток также представляет среднюю частоту, но измерена она не в количестве индивидуальных частиц, а в количестве наполнений этими частицами некоторой условной мензурки, в которую входят обычно астрономические количества таких частиц). Следовательно, при любой минимальной величине такого потока он состоит практически из бесконечного количества исследуемых событий (фотонов — при классических оптических измерениях, электронов — при обычных электрических измерениях напряжения и тока и т. п.). В этих случаях статистическая погрешность в любой точке кривой распределения практически отсутствует и все отличие этой кривой от идеальной функции распределения вызывается только погрешностями, связанными с ограниченностью разрешающей способности и разрешающего времени спектрометрического устройства (определение этих понятий будет приведено ниже). [c.11]

И нуждается в проверке, например, путем измерения электронной теплоемкости. [c.8]

Использовать для измерения электронные осциллографы удобно в тех случаях, когда требуется одновременно исследовать не более двух точек (лучше одну точку). Если же требуется исследовать одновременно несколько точек системы, то лучше пользоваться шлейфными осциллографами, позволяющими записывать одновременно до 12 сигналов. [c.156]

Рис. 3.17. Схема опыта по измерению электронного усиления (затухания) рэлеевских волн

Картину развития ионизированных областей при высотных ЯВ дополнили измерения электронных концентраций, проведенные на ракетах Р-5В (в операции К-3 ) и МР-12 (в операциях К-3 и К-4 ), [c.134]

Повторное измерение электронной рулеткой не требует полного поднятия рулетки достаточно поднять зонд на 10-15 см от измеренного уровня (при выходе зонда из жидкости прекращается звуковой сигнал) после чего повторить замер. [c.99]

В 70-80-х годах были сделаны попытки прямого определения радиусов ионов путем измерения электронной плотности методами рентгеновского структурного анализа при условии, что минимум электронной плотности на линии, соединяющей ядра, принимается за границу ионов. Оказалось, что этот прямой метод приводит к завышенным значениям ионных радиусов катионов и к заниженным значениям ионных радиусов анионов. Кроме того, оказалось, что значения ионных радиусов, определенные прямым способом, нельзя переносить от одного соединения к другому, а отклонения от аддитивности слишком велики. Поэтому такие ионные радиусы, не используются для предсказания межъядерных расстояний. [c.54]

Важным методом изучения верхних слоев атмосферы является наблюдение за распространением вертикально направленных и наклонных радиоволн, осуществляемое на станциях вертикального, наклонного и возвратно-наклонного зондирований ионосферы. В самые последние годы для измерения электронной концентрации начали применяться мощные радиолокационные станции, регистрирующие рассеянное некогерентное излучение, создаваемое входящими в состав ионосферы электронами. [c.184]

Измерения электронной концентрации при помощи приборов, установленных на советских геофизических ракетах и. ИСЗ, в частности, при помощи дисперсионного интерферометра [56, 61], показали, что прежние представления о существовании в ионосфере четко выраженных слоев неправильны. Можно говорить только об одном явно выраженном максимуме — в области и о трех дру- [c.205]

Стенд КСД-2500 [120] (ЗИМ, г. Армавир] предназначен для статических и циклических испытаний иа кручение муфт сцепления нли образцов материалов до разрушения. Силовозбуждение механическое, от электропривода. Измерение электронное с записью днаграм м крутящий момент —время и изгибающий момент —время. [c.225]

Харьковским заводом Эталон изготовляются автоматический радиопирометр АРП-13 для измерения электронной температуры плазмы по ее микроволновому излучению (прибор имеет два диапазона температур — до 10 000 и до 1000 000 С, погрешность 5%, инерция 5 с, интервал электронной концентрации 10 —10> см , рабочие длины волн 3,2 см, 8,3 мм и 4,1 мм) и автоматический радиопирометр АРП-73 для измерения электронной температуры до 1 ООО ООО К (10 —10 К) (диапазон электронной концентрации 10"—10 постоянная времени 0,1 мкс). [c.249]

Входной сигнал определяют путем многократного измерения электронным вольтметром действующего илн амплнт>дного выходного напряжения преобразователя. Коэффициент преобразования находят по одному из двух соо1нон ений. [c.305]

Однолучевой нерегистрирующий (неавтоматический) спектрофотометр СФ-16 (его предшествующая модель СФ-4А, а последующая СФ-26) предназначен для измерения коэффициента пропускания или оптической плотности жидких, твердых и газообразных веществ в ультрафиолетовой, видимой и близкой инфракрасной области спектра. Спектрофотометры этой серии являются основными лабораторными приборами для качественных и количественных измерений электронных спектров поглощения. [c.148]

Электрическая схема прибора (фиг. 96) содержит следующие элементы электропривод (электродвигатель АОЛБ 011 30 вт, 1390 об1мин), который предназначен для вращения детали в процессе измерения электронный блок, преобразующий измеряемые величины в световые сигналы и управляющий процессом промера сигнальное табло, предназначенное для визуального наблюдения за измеряемыми параметрами. Схема подключается к цеховой сети напряжением 220 в. [c.167]

Аппаратура для динамических измерений (электронные усилители и осциллографы) может быть одноканальной и многоканальной. В отличие от статических измерений при измерений динамических деформаций необходимо производить одновременное намерение во всех исследуемых точках детали или выполнять повторные измерения с переключением датчиков, так как число каналов аппаратуры, как правило, бывает ограниченным (доЛО--12). [c.38]

С. а. позволяют производить измерения и исследования различных скоростных процессов па расстоянии и с более высокой точностью, чем другие из-мери г. ириборы (наир., Т0ЧН0СТ1, измерения электронным С. а. 0,001%). [c.93]

Значения микрохарактеристик для ряда металлов, полученные оптич. методами [6], приведены в табл. 2. Эти величины совпадают с характеристиками тех же металлов, полученными методами измерения электронной части теплоемкости и поверхностного импеданса иа радиочастотах. [c.194]

Но остается еще одна возможность, которая и приводит к эффекту Соколова. Если коллапсирование электронов происходит с малой асимметрией, то вклады во второе слагаемое в (409) не уничтожаются "индивидуальными измерениями" электронов, а суммируются, и [c.378]

Исключая случай очень низких температур, когда решеточная теплоемкость пропорциональна Р, электронную часть теплоемкости твердого тела не удается измерить обычными калориметрическими методами. При низких же температурах линейный член доминирует и ошибка при вычитании вклада решетки оказывается не слишком большой. При более высоких температурах решеточная часть теплоемкости быстро возрастает до значения Л/х, где N равно числу степеней свободы решетки, в то время как электронная часть по-прежнему возрастает почти линейно вплоть до температур, намного превышающих комнатные (хТгоош/ о—1/80). Другой метод измерения электронной теплоемкости, применимый к сверхпроводникам, состоит в измерении величины порогового поля, т. е. напряженности магнитного поля, как раз необходимой для разрушения сверхпроводимости. Это поле можно связать теоретически с величиной электронной теплоемкости. [c.87]

В то время как первое из перечисленных отличий относится как к антиферромагнитным, так и к ферромагнитным состояниям, второе характеризует только антиферромагнитную систему. Какой-либо ядерный спин, вообш е говоря, будет находиться заметно ближе к электронным спинам одной подрешетки, скажем / 1, чем к спинам другой подрешетки К2, поэтому сдвиг частоты ядерного резонанса будет по суш еству пропорционален электронной намагниченности подрешетки / 1. В противоположность этому при обычных измерениях электронной восприимчивости можно получить только алгебраическую сумму М1 + М2 намагниченностей двух подрешеток, значительно меньшую, чем М1 или М2. [c.200]

К настоящему времени разработаны методы непосредственного измерения электронной концентрации на различных высотах над поверхностью Земли с помощью аппаратуры, устанавливаемой на борту геофизических ракет и ИСЗ. Один из таких методов основан на принципе когерентного излучения двух частот 167]. Сущность его заключается в следующем. На борту ракеты или ИСЗ помещаются два передатчика, работающие в режиме когерентного излучения, т. е. излучающие частоты, которые получаются путем умножения частоты основного генератора в п и т раз, где п, в частности, может быть равно двум, а т — трем. Траектории волн, излучаемых этими передатчиками, определяются уравнением д-5Шф=соп51 [ур-ние (4.55)], где п—коэффициент преломления ионизироова1н1ного газа. Заметим, что в окрестностях излучателя величина п определяется существующим значением электронной концентрации. Благодаря движению ракеты или ИСЗ возникает допплеровское изменение частоты. Теоретическое рассмотрение вопроса показывает, что измеряемая в пункте приема на поверхности Земли разность допплеровских частот двух сигналов зависит не только от среднего значения электронной концентрации по всей траектории, но и от электронной концетрации в месте расположения источника радиоволн. Во вполне определенной точке орбиты ИСЗ составляющая указанной разности, зависящая от среднего значения электронной концентрации по всему пути распространения, обращается в нуль, а разность допплеровских частот определяется только значением п в окрестности спутника. Если траектория спутника и скорость его движения известны, то можно по величине допплеровского смещения определить электронные концентрации на тех высотах, по которым проходит траектория спутника. [c.242]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...