Отражение от параллельных поверхностей

О При отражении от проводящей поверхности между параллельными и перпендикулярными компонентами векторов поля волны возникает разность фаз. [c.114]

Отражение ог параллельных поверхностей. Обозначим т и пг показатели преломления среды и плёнки толщиной d (рис. 132). Рассчитаем разность оптических путей лучей, отразившихся от нижней "tr верхней поверхностей пленки. Из рис. 132 заключаем, что [c.180]

Принцип действия интерферометра представлен на фиг. 15. Две пластины I и II, плоские поверхности которых Аш А параллельны и расположены на расстоянии d одна от другой. Эти поверхности покрыты полупрозрачной зеркальной пленкой металла. Пучок света 00, падающий на интерферометр, испытывает многократное отражение от зеркальных поверхностей и образует по выходе систему параллельных лучей 1, 2, 3 ж т. д., которые вследствие их когерентности интерферируют и создают кольца равного наклона. Порядок [c.49]

Переходим теперь к отражению и преломлению волн искажения, падающих на плоскость раздела. Предположим, что падающая волна с амплитудой распространяется параллельно плоскости ху и встречает под углом плоскость раздела, совпадающую с плоскостью Как и в случае отражения от свободной поверхности, надо уточнить направление колебаний в падающей волне искажения, причем следует рассмотреть два различных случая, именно, когда колебания параллельны оси Z и когда они перпендикулярны ей, т. е. происходят в плоскости лг . [c.41]

Приведем конкретную схему образования полос равной толщины для того, чтобы пояснить общий принцип происхождения интерферирующих лучей. На рис. 3.3.2, а изображена клиновидная пластинка, освещаемая наклонным параллельным фронтом волны. После деления пучка на первой поверхности пластинки-клина по амплитуде и отражения от второй поверхности образуются два когерентных пучка. На первой поверхности луч от- [c.123]

Лазерный пучок света 1 после линзовой системы 2—3 формирует расширенный параллельный пучок на полупрозрачную пластинку 4. После пластины часть потока падает на предмет 7, а другая часть, отражаясь от зеркала 5, падает на регистрирующую среду 6. В среде зафиксируется результат интерференции двух пучков — опорного и предметного. На второй стадии — восстановления (рис. 6.2.5, б) —обработанная и помещенная на то же место голограмма 3 может быть освещена источником монохроматического или белого света (лампа накаливания 1). Объектив 2 дает параллельный пучок, падающий на голограмму. Впрочем объектив может и отсутствовать наблюдая глазом получим восстановленное объемное изображение 4. Структура световых волн, отраженных от синфазных поверхностей, будет идентична структуре света, рассеянного объектом. Глаз воспримет предмет точно таким, каков он есть в действительности. Голограмму иногда определяют как оптический эквивалент объекта, так как она формирует полное его изображение. [c.394]

Кроме такого способа осуществления когерентных колебаний можно получить интерферирующие лучи путем деления падающего на интерферометр параллельного пучка по амплитуде (рис. 1.3). В этом случае, как видно из рисунка, имеет место частичное отражение падающего луча 8А (отраженный луч Л5 ) и частичное прохождение этого луча во вторую среду, что и означает деление первичного луча по амплитуде. Луч АА, отраженный от второй поверхности пластины и вышедший вновь в первую среду (08") когерентен с первым лучом А8, отраженным от первой поверхности (ВО — фронт плоской волны). Такой вид интерференции принято называть интерференцией Ньютона. Интерференция может наблюдаться в фокальной плоскости объектива, если его расположить на пути распространения когерентных лучей. [c.20]

В простейшем виде интерферометр Фабри — Перо состоит из двух параллельных оптических поверхностей, между которыми возникает множество отражений. Интерферометры могут состоять из пары полупрозрачных зеркал, разнесенных на малое расстояние (1, при этом зеркальные поверхности должны быть обращены друг к другу и быть параллельными с весьма хорошей точностью (рис. 7.43, а). Обратные поверхности зеркал обычно делаются наклонными (типичные значения угла наклона 10—30 ) по отношению к рабочим поверхностям. Это делается для того, чтобы избежать интерференции между лучами, отраженными от этих поверхностей, и теми, которые испытывают многократное отражение. Эти вторичные отражения не могут быть устранены простым нанесением просветляющего покрытия, поскольку даже лучшие просветляющие покрытия имеют отражательную способность 0,1—0,2%. [c.561]

При исследовании изгиба сложных пластин наряду с теоретическими методами широко применяют экспериментальные методы исследования. К числу наиболее эффективных экспериментальных методов следует отнести метод муаровых полос, получивший развитие за последние годы. Сущность метода в том, что сетку параллельных линий, отраженную от зеркальной поверхности пластины, фотографируют дважды на одну и ту же пластинку, один раз до и второй раз после деформации. [c.270]

Особый случай отражения от гладкой поверхности диэлектрика имеет место при условии, что сумма углов ф1 + + Фз = 90°, т. е. что отраженный луч перпендикулярен к лучу преломленному. Отметим значения углов ф и фз для этого случая буквами ф д и фзд. Из формул Френеля видим, что в этом случае коэффициент отражения луча, поляризованного в плоскости, перпендикулярной плоскости падения, р = 0. Поэтому, каково бы ни было состояние поляризации падающего луча, луч отраженный будет полностью поляризован в плоскости, параллельной плоскости падения. Этим обстоятельством пользуются для того, чтобы создать поляризованный пучок широкого сечения, что, трудно осуществить иными средствами. Легко видеть, что угол падения ф б, который называется углом Брюстера (по имени ученого, открывшего описанное явление) зави- [c.76]

Большие неровности, перекосы, завалы по краям полированных пластин, а также поверхностные дефекты типа трещин, раковин, сколов и т. д. можно контролировать с помощью параллельного или расходящегося пучка лазера по анализу отраженного от контролируемой поверхности света. При контроле качества полированных поверхностей обычными микроскопами возникают трудности обнаружения таких дефектов, как плавные и протяженные неровности, изгибы пластин и т. п., так как поле зрения микроскопа сравнительно мало. [c.192]

Регистрация изменения интенсивности упругих колебаний осуществляется после их отражения от противоположной поверхности, которую называют донной поверхностью, а отраженный от нее импульс-донным импульсом. Чем крупнее дефект, тем большее ослабление донного импульса. Схема прозвучи-вания двумя искательными головками, из которых одна - излучающая, а вторая - приемная, называется раздельной. При совмещенной схеме прозвучивания одна искательная головка выполняет поочередно функции излучателя и приемника. Если две совмещенные головки соединены параллельно, то такая схема называется раздельно-совмещенной. [c.287]

Свет от электролампочки через конденсор освещает матированное окно сетки. В пластинке-сетке он подвергается полному внутреннему отражению от параллельных торцов к отражению от цилиндрической поверхности. Поэтому свет не может рассеиваться в окружающее пространство, за исключением лучей, рассеиваемых штрихами. [c.14]

Расстояние от края среды, на котором фокусируются крайние лучи пучка, легко оценить из следующих соображений. В пучке угловое расхождение лучей из-за дифракции равно 2 б диф. При критической мощности в результате отражения от боковой поверхности пучка крайние лучи делаются параллельными. Это произойдет на расстоянии [c.735]

Миндлин использовал способ определения корней уравнений (2.32) и (2.33), который позволяет приближенно, но довольно подробно построить спектр нормальных волн, не прибегая к сложным численным расчетам. На фиг. 17 показан такой спектр для изгибных и продольных нормальных волн при СТ = 0,31. На фиг. 17 тонкие линии представляют невзаимодействующие сдвиговые волны (8У) и волны сжатия (В). Отдельные волновые движения аналогичны волнам 8Н в пластинке, которые мы рассматривали выше. Граничные условия на свободных поверхностях пластинки -связывают эти два типа упругого движения, за исключением случаев, соответствующих некоторым особым значениям уЬ и (оЬ/Г . Связь этих двух типов волнового движения на свободной поверхности, вдоль которой распространяется волна, выражается также в частичном превращении одного типа волнового движения в другой при отражении от свободной поверхности. Тот факт, что сдвиговые волны, поляризованные в плоскости, параллельной этой поверхности, при любых углах падения отражаются от нее в виде волн того же типа, является одним из способов выражения независимости волн 8Н от продольных и изгибных волн. Дисперсионные уравнения для невзаимодействующих [c.154]

Если интерференция создается параллельным пучком света в тонком зазоре, то максимумы и минимумы интенсивности отслеживают вариации толщины этого зазора, в результате создается в общем случае довольно сложная картина полос равной толщины. Форма каждой такой полосы всегда соответствует геометрическому месту точек с одинаковой толщиной зазора или пленки. Например, для плоского клина эти полосы эквидистантны и параллельны ребру клина (рис. 6.1). Когерентными источниками в этой оптической схеме являются два мнимых изображения источника света, образующихся при отражении от двух поверхностей зазора. [c.101]

Однако в случае плоскопараллельной пластинки следует принять во внимание многократное отражение света от ее поверхности, ибо и все вторичные когерентные пучки окажутся параллельными друг другу и будут интерферировать, давая полосы равного наклона, локализованные в бесконечности. [c.136]

Жения, которые достаточно высоки, дЛя того чтобы вызвать откол тонких шайб, т. е. разрушение, параллельное их поверхности, под действием отраженной волны растяжения, порожденной отражением прямой волны сжатия от свободной поверхности шайбы. Полученные результаты правильны, если волна имеет ударный фронт, за которым следует монотонное убывание интенсивности напряжений. Продолжительность действия напряжений порядка 10 мкс, максимальное напряжение о = 7,5 10 дин/см , что в 5—6 раз превышает предел прочности материала. Измерение скоростей частиц на тыльной поверхности плиты можно проводить с помощью отпечатка (вдавливания) по схеме, приведенной на рис. 12. Пусть 5 — площадь контакта шайбы и плиты, Н — толщина шайбы, I — время, от- [c.23]

Через узлы пространственной кристаллической решетки можно провести много плоскостей (рис. 26), и каждая из них будет отражать волну в таком направлении, чтобы угол отражения был равен углу падения, причем это условие не зависит от длины волны волны всевозможных длин отражаются одинаково. Однако в действительности отражение в данном направлении происходит не только от одной плоскости, но и от всех других плоскостей, параллельных данной. Все эти волны, отраженные от различных плоскостей, когерентны между собой, поскольку порождаются одной и той же первичной волной. Другими словами, при отражении волны от семейства параллельных поверхностей происходит деление амплитуды между вторичными отраженными волнами, распространяющимися под углом отражения, равным углу падения. Если разность фаз между вторичными волнами кратна 2тс, то они усилят друг друга и под углом отражения будет действительно распространяться отраженная волна. Если же эта кратность отсутствует, то никакой отраженной волны не будет. Условие, при котором происходит отражение от системы параллельных поверхностей, называется условием Брэгга- Вульфа. Выведем это условие. [c.49]

Если на систему параллельных поверхностей падает немонохроматическая волна, то отразится лишь ее составляющая, длина которой удовлетворяет условию (6.3). Если в падающей немонохроматической волне такая составляющая отсутствует, то отраженная волна не возникает. Монохроматическая волна отразится от системы поверхностей лишь при углах 0, удовлетворяющих уравнению [c.50]

Если наблюдение ведется в монохроматическом свете, то интерференционная картина п[1едстаБЛяет собой чередование светлых и темных полос. При наблюдении в белом свете илеика оказывается окрашенной в разные цвета. Подобная окрашенность пленок, обусловленная интерференцией отраженных от поверхностей лучей, носит название цветов тонких пленок. Следует заметить, что при наблюдении в белом свете отклонение от параллельности поверхности пластинки должно быть незначительным. Заметное отклонение от параллельности приводит к значительному сближению полос [c.89]

Подобные полосы в-первые наблюдались Г уком. Однако вследствие того, что онн были подробгю исследованы Ньютоном, их называют кольцами Ньютона. Схема, с помощью которой наблюдаются кольца Ньютона, представлена на рис. 5.1. Роль пластинки переменной толщины играет воздуи/пая прослойка между линзой и плоскопараллельной пластинкой. Границы этой пластинки определяются снизу верхней поверхностью плоскопараллельной пластинки, сверху—нижней поверхностью линзы. Параллельный пучок света, выделенный из точечного источника, расположешюго в фокусе линзы (линза и источник на рисунке не изображены), направляется на систему линза — плоскопараллельная пластинка. Некоторый луч 1 этого пучка после отражения от нижней поверхности воздушной прослойки выходит из точки D. В эту же точку падает другой луч 2, который частично отражается. Лучи / п 2 являются когерентными и при наложении интерферируют между собой. Так как подобная интерференционная картина наблюдается с помощью отраженных лучей, то ее называют интерференционной картиной в отраженном свете. Аналогичную картину можно наблю-дат з в прошедшем свете. [c.93]

Дальнейгаее развитие метода последовательных приближений по кратности эассеяния для плоской геометрии с интегрированием но характеристикам и квадратурами на единичной сфере и создание комплекса программ АН (атмосфера плоская) [57-59] позволяет осуществлять численный расчет поляризационных характеристик излучения в неоднородных плоскостратифицированных слоях. Нри этом матрицы рассеяния частицами и матрицы отражения от подстилающей поверхности могут быть произвольными и состояния поляризации источников излучения (внеганего параллельного потока или диффузного источника на границе и внутри слоя) — любыми [60-62. [c.776]

В 1.29 мы видели, что стеклянная стопа является слабым анализатором, и увеличение числа пластин не намного увеличивает ее эффективность, в виду того, что хотя при этом заметно возрастает поляризующее действие, но одновременно значительно падает интенсивность света, благодаря поглощающему действию даже самого прозрачного стекла и благодаря связанному с рассеянием отражению от. различных поверхностей. На практике найдено, что 8 и 10 пластинок производят достаточное для экспериментальной работы поляризующее действие при употреблении ряда мощных ламп накаливания. Однако гораздо лучше применять, как анализатор, николеву призму, устанавливая ее на значительном расстоянии от предмета, если последний больших размеров, так чтобы его можно было видеть в приблизительно параллельных лучах. Такая призма имеет обычно небольшой размер. Необходимо держать стеклянные пластинки свободными от пыли, которая ухудшает их поляризующие свойства, поэтому поддерживающие их рамы должны либо закрывать их очень плотно, либо устраиваться так, чтобы они могли легко выниматься для очистки. Однако, даже при самых благоприятных условиях, поляризация света через стеклянные пластинки значительно ниже, чем поляризация, получаемая через николеву призму, и получающийся луч является смесью, в которой содержится значительное количество неполяризованного света. Очень большие полярископы для исследований целых сооружений до настоящего времени строятся по принципам, изложенным выше, и описаны далее в главе VIII. [c.74]

Важным требованием к системам с синхронизацией мод является полное устранение отражений, которые могут иметь место от оптических компонентов как внутри, так и вне резонатора. Отражение от оптических поверхностей, параллельных плоскостям зеркал резонатора, является причиной образования вторичных резонаторов, которые существенно нарушают процесс синхронизации мод, удлиняют основной импульс и являются причиной появления множества стохастически распределенных импульсов. Такие резонансы могут исключаться скашиванием граней лазерного стержня, расположением граней кюветы с красителем под углом Брюстера к лучу или нанесением просветляющих диэлектрических покрытий. [c.257]

Интерферометрический метод является в настоящее время наиболее точным. Этот метод заключается в следующем. Если две поверхности поместить параллельно на небольшом расстоянии друг от друга и осветить их, то возникают интерференционные полосы вследствие отражения от двух поверхностей, совпадающие или несовпадающие по фазе. Если одну из поверхностей перемещать относительно другой, то будут перемещаться и интерференционные полосы. Эти перемещения связаны между собой расчетными формулами. Важным преимуществом интерферометри-ческого метода является возможность измерений весьма малых по толщине объектов (менее 3—5 мм), что позволяет использовать метод для исследований эмалей, глазурей, а также различных кристаллов и других образцов, которые вследствие малых размеров нельзя исследовать другими методами. Во многих случаях метод является недостаточно точным, особенно при фотографической записи показаний. Основное неудобство метода заключается в том, что измерения на интерферометре требуют высокой квалификации исследователя и не свободны от случайных ошибок, связанных с вибрацией, изменением положения образца и т. д. При использовании кварцевых дисков температурные возможности методики ограничены (до 1000° С). При более высоких температурах можно применять диски из других материалов, например из сапфира. [c.43]

Идея метода реализована в приборе следующим образом. Излучение одночастотного лазера фокусируется на поверхности образца. Отраженный от контролируемой поверхности свет собирается линзой в квазипараллельный пучок и направляется в интерфер9метр. После сужения во входном телескопе пучок отраженного света расщепляется светоделителем на два луча равной интенсивности, которые направляются в оптически симметричные плечи интерферометра. Одно из плеч содержит стеклянную линию задержки, вследствие чего время двукратного прохождения света в этом плече больше, чем в противоположном, на некоторую величину At. После отражения от концевых зеркал оба луча возвращаются на светоделитель, где и происходит их интерференция. Для выполнения требования параллельности волновых фронтов рекомбинирующих лучей геометрические пути света в двух плечах интерферометра должны различаться на строго определенную величину [c.68]

Преобразование ультразвукового пучка в параллельный при помощи линзы ЛО2 является нецелесообразным, так как, кроме потери ультразвуковой энергии за счет отражения от границ поверхностей линзы и поглощения в ней, ничего не дает вместо линзы и на ее место можно лросто установить приемную пьезоэлектрическую пластинку большого размера, так ка падающая на нее энергия при любых условиях все равно интегрируется. При узком сконцентрированном пучке по. размеру, равному размеру выявляемого дефекта, вся энергия отразится от него м не попадет а приемную пластинку независимо от ее размеров. Прим. автора.) [c.111]

Продольные и сдвиговые колебания по толщине рассматриваются как одномерный случай в предположении, что пьезоэлектрическая пластина имеет бесконечно большие боковые размеры н что все точки в некоторой плоскости, параллельной плоскостям пластины, движутся с одинаковыми амплитудами и в одной и той же фазе. Очевидно, это не наблюдается в действительности, так как поверхность реальных колеблющихся пластин разбиваетсяна ангармонические моды, которые обычно связаны с наложением обертонов, отраженных от боковых поверхностей пластины, имеющей конечные размеры. Эти эффекты обычно рассматриваются как искажения, накладывающиеся на основную моду колебаний по толщине. Однако одномерное приближение дает неожиданно хорошие результаты в случае сильно нагруженного преобразователя, так как при этом ангармонические моды в значительной мере подавляются это приближение может использоваться для точного расчета ультразвуковых измерительных преобразователей и таких устройств, как ультразвуковые линии задержки. Следует заметить, что чистые колебания по толщине (без искажений) могут быть получены также при возбуждении пластин с небольшими электродами спещ4альной формы. [c.278]

У поперечных волн, возникших в результате преломления звука (волн 51 ), направление поляризации параллельно плоскости падения, т. е. плоскости чертежа (рнс, 2. 5). Поперечные волны с движением частиц перпендикулярно к плоскости падения (волны ЗН) не могут быть получены в ре-вультате преломления, однако их можно получить электромагнитным путем (см. разделы 2.4 и 8.4). Кроме того, они могут быть полезным средством контроля, потому что они не отщепляются как другие волны, в том числе и поверхностные, а ввиду отсутствия скачка фазы при отражении от свободной поверхности пластины они могут распространяться в пластине еще проще, чем волны 5К, описанные выше (рис, 2.21, а). Об их возможных применениях сообщается в литературе [248, 292, 462, 463, 464, 466, 786, 1366, 1673]. [c.362]

Интересно рассмотреть случай, когда источник находится в бесконечности, т. е. отраженные от поверхности лучи идут параллельно и наблюдение производится глазом, адаптированным на бесконечность или же в фокальной плоскости объектива телескопа. В этом случае оба интерферирующих луча, идущих от 5 к А, происходят от одного падающего луча SM (рис. 4,17). В зависимости от разности хода лучей в точке А будут наблюдаться максимум и минимум. Так как интерференционная картина определяется оптической разностью хода между интерферирующими лучами, то необходимо найти эту разность. Вследствие того что оптические длины (произведение геометрической длины пути луча на показатель преломления среды, в которой распространяется луч) всех прощедших [c.85]

Опыт Винера со стоячими световыми волнами. Первый опыт со стоячими световыми волнами был выполнен в 1890 г. Винером. Схема установки Винера представлена иа рис. 5.4. Плоское металлическое (покрытое серебряным слоем) зеркало освещалось нормально падающим параллельным пучком монохроматического света. Плоская тонкая стеклянная пластинка П, поверхность которой покрыта тонким слоем (толщиной, меньшей V20 полуволны падающего света) прозрачной фотографической эмульсии, расположена на металлическом зеркале под небольшим углом ф к его поверхности. Отраженный от зеркала 3 лучок интерферирует с падаюидим в результате получается система стоячих световых волн. Согласно теории отражения света от металлической поверхности, первый ближайший к зеркалу узел электрического вектора расположится на поверхности зеркала, так как при таком отражении именно электрический вектор меняет свою фазу на противоположную. Следовательно, первый узел магнитного вектора расположится на расстоянии в четверть длины световой волны от зеркала. Таким образом, перед зеркалом будет наблюдаться система узлов (и пуч- [c.97]

Более совершенный гальванометр (например, гальванометр типа H.S. фирмы Лидс и Нортроп ) имеет чувствительность, равную - 3-10 в мм, и время установления 5 сек. В нашем случае он обеспечит точность измерения сопротивления порядка 5%. Очевидно, что в задачах рассматриваемого типа ток, протекающий через гальванометр при практически достижимом приближенном равновесии ( 10 а), не может оказывать прямого влияния па разность потенциалов между концами образца. Чувствительность можно улучшить путем увеличения длины светового указателя. Действительно, в таком гальванометре легко использовать световой указатель длиной 3 м (вместо обычного метрового). Другим путем увеличения чувствительности является применение остроумного и простого оптического умножителя, предложенного недавно Дофини [57] (фиг. 14). Вместо простого однократного отражения светового луча зеркалом гальванометра, которое отбрасывает луч на отсчетную шкалу, в умножителе применено многократное отражение от дополнительного неподвижного зеркала, расположенного вблизи поверхности зеркала гальванометра и примерно параллельного ей. Световой луч испытывает в умножителе ряд последовательных отражений от зеркала гальванометра прежде чем попадает на шкалу, и благодаря этому угловое отклонение зайчика соответственно увеличивается. Дофини получил удовлетворительные результаты, пользуясь гальванометром, который давал с его приспособлением шестикратное увеличение yrjroBoro отклонения. Количество отражений, естественно, зависит от размера зеркала гальванометра. При малых зеркалах обычно используется трех- или четырехкратное увеличение углового отклонения. [c.173]

Возникает вопрос о том, как учесть влияние 1 раницы. Если рассеяние на поверхности полностью хаотично, то электроны, покидающие поверхность, в среднем не будут нести импульса, параллельного поверхности. Эквивалентное распределение может быть получено в бесконечной среде, если положить Е равным нулю везде за границей. Этот вывод приводит к интегрированию уравнения (17.7) по физическому объему. В случае зеркального отражения от границы картина более сложная. Плоская поверхность может быть рассмотрена методом зеркального изображения. Если среда занимает полупространство. г > О, то можно считать, что Е(—х, у, z) = E x, у, z), и вести интегрирование по всему объему. В модели, рассматривавшейся Рейтером и Зондгеймером, предполагалось, что зеркально рассеивается некоторая часть р электронов, а часть 1 — /> рассеивается диффузно. Экспериментальные данные свидетельствуют о том, что р = 0. [c.706]

Способ Лауэ. Монокристалл облучается рентгеновским излучением с непрерывным спектром. Каждая из систем параллельных поверхностей, проведенных через узлы монокристалла, отражает в соответствующем направлении определенную длину волны. Интенсивность отраженного луча будет заметной лишь в том случае, когда атомы в отражающих плоскостях расположены достаточно плотно. Поэтому практически будет наблюдаться отражение лишь от небольшого числа систем плоскостей. Если на пути лучей, отраженных от различных систем плоскостей, поставить фотопластинку, то на ней получается система пятен - лау-эграмма (рис. 28). Зная геометрию опыта, можно установить соотношение между лауэграммой, -Структурой кристалла и длинами волн. [c.51]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...