Полупрозрачная пластинка

Если зеркало З2 удалить так, что в момент попадания на приемник цуга Л], цуг Ла будет находиться между полупрозрачной пластинкой и зеркалом 3 , то интерференция не будет иметь места. Конечно, в момент, попадания на приемник происходит наложение цугов, но интерференция при этом не наблюдается, так как эти цуги испущены в разные моменты времени t п t + 4- Время 4 зависит от разности расстояний между плечами интерферометра. Оно равно пулю, если длины плеч равны. С увеличением разности расстояний между плечами /о увеличивается. Продолжительность цуга Л (также А и А ) обозначим через т. При t <т цуги Ai и А частично перекрываются. В результате наблюдается более или менее четкая интерференционная картина, т. е. имеет место так называемая частичная когерентность. Четкость (видимость) картины будет зависеть от степени частичной когерентности двух цугов, полученных из одного начального. [c.78]

Метод Линника. Перед точечным источником 5 (рис. 4.15) расположен полупрозрачный экран с небольшим отверстием в центре экрана. Полупрозрачная пластинка пропускает фронт падающей на нее волны, несколько ослабляя ее, без искажения. Отверстие 5 , согласно принципу Гюйгенса, играет роль вторичного излучения с центром в нем. Оба фронта волны от источников S и 5i, встречаясь, дают картину интерференции. В отличие от всех предыдущих случаев в последней схеме, предложенной в 1935 г. советским ученым В. П, Линником, когерентные источники не лежат на пря- [c.84]

Конкретно свет от источника S, расположенного в фокусе линзы Л, направляется на поверхность полупрозрачной пластинки СС. Отраженный от этой пластинки световой пучок через линзу л направляется на поверхность воздушного зазора. Отраженные лучи, налагаясь, дают на экране F, расположенном в фокальной плоскости линзы, интерференционную картину. Если исследуемая поверхность такая же гладкая, как и поверхность эталона, то в зависимости от относительного положения этих пластин будет наблюдаться интерференция полос равного наклона [c.104]

Сначала рассмотрим более простой эксперимент Физо. Принципиальная схема опыта представлена на рис. 7.2. Луч света от источника S раздваивается на полупрозрачной пластинке Р. В результате внутри прибора свет распространяется как против течения воды (луч 1), так и по ее течению (луч 2). После вторич- [c.366]

Диск с закрепленными на нем тремя зеркалами и полупрозрачной пластинкой (делитель пучков света) [c.373]

Схема установки Фуко приведена на рис. 30.5. Свет от источника 5 проходит через полупрозрачную пластинку Р, линзу Е и падает на плоское зеркало которое [c.200]

С целью выяснения вопроса о том, увлекается ли эфир движущимися телами, Физо осуществил следующий опыт. Свет от источника 5 (рис. 31.2) разделяется полупрозрачной пластинкой Р на два луча 7 и 2. В результате отражений от зеркал Ми Л/г и Мз лучи, пройдя в общей сложности одинаковый путь 21, вновь попадали на пластинку Р. Луч 1 частично проходил через Р, а луч 2 частично отражался, в результате чего возникало два когерентных луча I и 2, которые давали в фокальной [c.206]

Луч света с интенсивностью Iq от источника S делится полупрозрачной пластиной А на два луча равной интенсивности IJ2, которые направляются к зеркалам и Bj- После отражения от зеркал лучи идут к полупрозрачной пластинке D, которая в результате отражения и преломления каждый из лучей делит на два. Образуются две пары взаимно когерентных волн 1, 2 н 3, 4. Интерферометр [c.410]

Полупрозрачная пластинка 10, установленная под углом 45° к оси осветителя, отражает часть света и направляет его в объектив. Пройдя объектив, лучи падают на плоскость предмета, отражаются от нее и снова проходят через объектив и полупрозрачную пластинку 10. Параллельные лучи, выходящие из объектива, сводятся ахроматической линзой 11 в фокальную плоскость окуляров 12, 13 или 14, где образуется изображение образца. Для направления лучей света в окуляр служит призма /5. Заполнение выходного зрачка объектива изображением нити лампы 1 проверяется включением в ход лучей линзы Бертрана 16. эа [c.93]

В светлом поле при косом освещении наблюдение осуществляется смещением апертурной диафрагмы 4 при включении в ход лучей объектива 8 или 9, полупрозрачной пластинки 10, ахроматической линзы 11 и окуляра 12, [c.95]

Полупрозрачная пластинка 9, установленная под углом 45° к оси осветителя, отражает часть света и направляет его в объектив. Пройдя объектив, лучи падают на исследуемый образец, отражаются от него и снова проходят через объектив и полупрозрачную пластинку 9. [c.99]

Наблюдение в светлом поле при прямом освещении осуществляется с помощью объектива 7 или 8, полупрозрачной пластинки 9, ахроматической линзы 10 и окуляра 11. При использовании косого освещения смещают апертурную диафрагму 3 и в ход лучей включают объектив 7 или 8, полупрозрачную пластинку 9, ахроматическую линзу 10 и окуляр 11. Наблюдение с фазовым контрастом ведут при включенных линзах 25, 26, световом кольце 27 и фазовом кольце 28 ахроматическая линза 10 должна быть выведена из хода лучей. Для проверки совмещения фазового и светового колец в ход лучей включается линза 29. Контрастность изображения при всех видах работ повышают включением в ход лучей сменных светофильтров 80. [c.101]

Автоколлимационный метод контроля. Для проверки прямолинейности направляющих длиной до 30 м применяются автоколлиматоры (рис. 74, а), серийно выпускаемые промышленностью . Оптическая схема автоколлиматора представлена на рис. 74, б. Свет от источника 3 попадает на полупрозрачную пластинку 4, установленную под углом 45 [c.173]

В тот памятный день младший научный сотрудник академического Института кристаллографии Дмитрий Александрович Тамбовцев волновался больше обычного. Перед самым началом ученого совета он решил еще раз проверить прибор. Так и есть Тока не было. Он только успел заменить кристалл, как заседание началось. На этот раз все обошлось благополучно. Стоило Дмитрию поднести полупрозрачную пластинку, покрытую тончайшей серебряной пылью, к источнику тепла — обычному электрическому рефлектору, как несколько ослепительных вспышек ярко осветили зал. Аудитория аплодировала и требовала от изобретателя повторения опыта. [c.124]

Метод светлого поля в отражённом свете применяют для наблюдения непрозрачных объектов, напр. шлифов металлов, сплавов, рудных минералов. Структура препарата видна вследствие различия отражательной способности его элементов. Препарат i (рис. 2) освещается через объектив 2 (выполняющий одновременно роль конденсора) с помощью опак-иллюминатора, в к-ром устанавливается полупрозрачная пластинка 3 или призма 4. [c.144]

Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Для изучения микроструктуры металлов используют металлографические микроскопы (рис. 1.4). Подготовленный соответствующим образом шлиф 1 помещают перпендикулярно оптической оси микроскопа в плоскости, совпадающей с передней главной фокальной плоскостью объектива 2. Шлиф освещается проходящим через объектив почти параллельным оптической оси пучком света, который формируется посредством осветительной системы, состоящей из источника (лампы) 3, коллекторной линзы 4, апертурной 5 и полевой 7 диафрагм, вспомогательных линз 6, 8 и полупрозрачной пластинки 9. Световые лучи, отражающиеся от участков поверхности шлифа, приблизительно нормальных оптической оси микроскопа, попадают в объектив. а те лучи, которые отражаются от неровностей поверхности, не попадают в его поле. На конечном, изображении поверхности [c.22]

Метод косого освещения. При этом методе в создании изображения участвуют преимущественно косые лучи, не параллельные оптической оси системы. Повышение контраста при косом освещении связано, во-первых, с увеличением роли дифрагированных на разных элементах структуры объекта лучей в формировании изображения и, во-вторых, с образованием теней от рельефа поверхности объекта. Поэтому косое освещение целесообразно применять при достаточно резком рельефе поверхности шлифа, так как только при этом условии выступающие участки будут отбрасывать тень на остальную поверхность, которая дает меньшее отражение луней. Косое освещение достигается обычно включением между объективом и полупрозрачной пластинкой призмы косого освещения или смещением, по отношению к оптической оси системы апертурной диафрагмы, вращением которой изменяется плоскость падения света на объект. [c.26]

Метод интерференционного контраста. Небольшие изменения микрорельефа поверхности можно обнаружить с помощью интерференционного микроскопа или, микроинтерферометра. Последний прибор позволяет, кроме того, количественно оценивать изучаемый рельеф, что особенно важно для исследования структурного механизма пластической деформации. Используют методы двухлучевой и многолучевой интерферометрии. В первом случае (интерферометр Линника) свет от источника Ь расщепляется полупрозрачной пластинкой Т на два пучка (рис. 1.7). Один пучок, отраженный от [c.27]

Оптическая схема микроскопа приведена на фиг. 33. Свет от источника 1 проходит через коллектор 2, линзу 3, диафрагму 4 и, отразившись от полупрозрачной пластинки 5, направляется через объектив 6 на препарат 7. Изображение препарата проектируется [c.75]

Интерферометр — измеритель (упрощенная схема на рис. 220) позволяет измерять перемещения с точностью до десятых долей длины волны света (до сотых и тысячных долей микрона) в широком диапазоне. Монохроматический свет от источника 5, проходя через щель диафрагмы Л, находящуюся в фокусе объектива В, преобразуется последним в параллельный пучок. Этот пучок частично проходит через, полупрозрачную пластинку С (пучок а), наклоненную под углом 45 [c.335]

Метод Физо. Впервые скорость света в лабораторных условиях была измерена французским физиком Физо в 1849 г. Физо несколько модернизировал схему эксперимента, предложенного еще 250 лет назад Га.тилесм. Он механизировал процесс прерывания светового луча и вместо одного из наблюдателей установил зеркало, мгновенно отражающее свет. С этой целью он использовал зубчатое колесо (рис. 1.3). Свет от точечного источника S, пройдя через линзы, попадает на полупрозрачную пластинку П. Отраженный от этой пластинки свет напранляется на зубчатое колесо К, способное вращаться вокруг оси 00, далее, пройдя сквозь колесо и систему лина, попадает на зеркало М и, отразившись от этого зеркала, направляется к наблюдателю //. Вид зубчатого колеса показан на рис. 1.4. [c.416]

Луч, нсходящи из источника S, падая на полупрозрачную пластинку /7, разбивается на два луча / н 2. Лучи / и 2 проходят через трубы, наполненные водон, направление течения которой указано стрелкой. Лучи / и 2 после отражений от зеркал Sj, 3j и 3., распространяются по направлению к приемнику. Будучи когерентными, они могут интерферировать, образуя соответствующую интерференционную картину. [c.420]

Метод прерываний (метод Физо). Первый экспериментальный метод определения скорости света земных источников был разработан в 1849 г. Физо. Схема опыта Физо изображена на рис. 30.4, а. Свет, распространяющийся от источника 5, частично отражается от полупрозрачной пластинки Р и направляется к зеркалу М. На пути луча располагается прерыватель света — быстро вращающееся зубчатое колесо К, ось которого 00 па-ра,ялелы1а лучу. Лучи света проходят через промежутки между зубьями, отражаются зеркалом М и направляются обратно через зубчатое колесо и пластинку Р к наблюдателю. [c.199]

Опыт Саньяка. На горизонтальном диске диаметром 50 см по углам квадрата располагаются зеркала М, AU, Мз и полупрозрачная пластинка Р (рис. 31.9). Пластинка Р раздваивает пучок и направляет лучи по направлению вращения прибора и против направления враще- [c.221]

Напольный проектор П-40 (конструкции СКВ, изготовленный на 1МЧЗ, предназначен для контроля правильности взаимодействия палеты с зубьями анкерного колеса, а также может быть применен для контроля вставки палет. Проектор имеет увеличение около 100 , работает в проходящем и отраженном свете. Конструкция проектора значительно отличается от ранее перечисленных. Он дает слегка сведенные изображения на зеркале или полупрозрачной пластинке. [c.383]

САНЬЯКА ОПЫТ, доказал возможность эксперим. определения угп. скорости вращения системы для расположенного в ней наблюдателя, т. е. возможность определения неинерциальности движения системы для покоящегося в ней наблюдателя (эффект Саньяка). Проведён Ж. Саньяком (С. Зайпас) в 1913. В С. о. (рис.) на круглом диске О располагались зеркала 8, источник света Ь и фотогр. пластинка Рк. Полупрозрачная пластинка Н делила луч света от источника на два луч [c.417]

Схема фазового флуорометра I — источник возбуждения 2—модулятор J—полупрозрачная пластинка 4 — флуоресцирующий образец 5, 6—ФЭУ 7—прибор, измеряющий ф S—фазовый детектор (или электронно-лучевая трубка). [c.329]

Для четкого наблюдения микроструктуры важно создать определенные условия освещения шлифа. Контрастность изображения возрастает с увеличением интенсивности освещения. Поэтому с учетом сложного пути луча в микроскопе и значительных потерь света применяемые источники света должны обладать достаточной мощностью при сравнительно малых габаритах. Для этих целей в современных металломикроскопах обычно используют кварцевые лампы с йодным циклом (галогенные лампы), а для получения наибольшей интенсивности — ксеноновые лампы высокого давления. Для уменьшения потерь интенсивности падающего света а некоторых микроскопах вместо полупрозрачной пластинки в ход лучей вводят призму. [c.26]

Метод темпопольного освещения. При темнопольном освещении в отличие от светлопольного свет не проходит через объектив. Пройдя через кольцевую диафрагму 1 (рис. 1.5), свет отражается от кольцевого зеркала 2, установленного на месте полупрозрачной пластинки, и попадает на зеркальную отражающую параболическую поверхность специального конденсора темного поля 3, который устанавливается на объектив или монтируется в одной оправе с ним (эпиобъектив). Такая система создает косое освещение объекта, при котором освещающий пучок имеет большую апертуру, чем в случае светлолольного освещения. Темнопольное изображение является обратным по отношению к светлопольному [c.26]

Оптическая схема. микроскопа показана на рис. 1.8, а. Свет от источника 1 (лампы накаливания с йодным цик.том типа КИМ9-75) проходит через коллектор 2 и призмой 3 проецируется в плоскость апертурной диафрагмы 4 далее линзой 5, зеркалом 6, линзой 7 и полупрозрачной пластинкой 8. изображение источника 1 и апертурной диафрагмы проецир) -ется в плоскость опорного торца под объектив. Полевая диафрагма 9 помещается. в фокальной плоскости второй осветительной линзы 7 и проецируется сю в бесконечность, а после объектива — в плоскость предмета. Лучи, пройдя объектив и отразившись от шлифа, вновь проходят через объектив, пластинку 8 и телеобъективом 10 собираются в промежуточной плоскости, являющейся плоскостью предмета для панкратической системы 11. Затем лучи отражаются от зеркал 13 и 14, проходят через линзы оборачивающей системы 12 и призму 15 и поступают в бинокулярную насадку 1в. [c.29]

У — источник света (лампа К-30, 170 Вт) 2 — коллектор 3—теплопоглотитель (для предохранекня поляризатора) 4 — откидная линза (для работы в темном поле) 5 — кольцевая диафрагма 6 — светофильтры 7 — поляризатор 8 — гомаль или окуляр 9 — апертурная диафрагма 10, II — линза осветительного тубуса 12 — полевая диафрагма 13 — линза осветительного тубуса 14 — призма косого освещения 15 — полупрозрачная пластинка 16 — кольцевое зеркало /7 — объектив 18 — анализатор 19—ахроматическая линза 20—призма визуального тубуса 21 — призма фототубуса 22—ахроматическая линза 23 — неподвижная призма визуального тубуса 24 — конденсор темного поля [c.30]

Оптическая схема микроскопа показана на фиг. 22, где обозначены 1 — источник света 2 — коллектор 3 — полевая диафрагма для проходящего света 4 — апертурная диафрагма для проходящего света 5 — конденсор 6 — выключающееся зеркало для перехода от проходящего к отраженному свету 7 — апертурная диафрагма для отраженного света 8 — полевая диафрагма для отраженного света 9 — диафрагма темного поля 10 — полупрозрачная пластинка 11 —кольцевое зеркало для темного поля 12 — препарат 13 — объектив 14 — тубусная линза 15 — сменные линзы для изменения окулярного увеличения 16 — бинокулярный тубус (условно развернут на 9СР в плоскость чертежа) /7 —окуляр. [c.50]

В микроскопе применены объективы для длины тубуса 160 мм и эпиобъективы для тубуса 190 мм. Поэтому при работе с эпиобъективами тубусная линза 14 выключается. Линзы 15 дают возможность изменять увеличение микроскопа при одном и том же объективе и окуляре. Вместо зеркала 6 может быть установлена полупрозрачная пластинка, позволяющая производить одновременное (комбинированное) освещение сверху и снизу. [c.50]

Во время фотографирования бинокулярный тубус заменяется микрофотонасадкой. Тубусная линза 13 выключается при работе с объективами, рассчитанными на длину тубуса 190 мм. Пластинка 9 почти полностью отражает лучи с длинами волн 360— 440 ммк и пропускает лучи с длинами волн 440—700 лжк. Зеркало 4 может быть заменено полупрозрачной пластинкой для комбинированного освещения. [c.71]

Конструкция микроскопа показана на фиг. 34. В основании 1 установлена стойка 2, на которой винтом 3 закреплен корпус 4 с оптической головкой 5. Снизу головки на салазках вставлен эпиобъектив 6. Центрирующийся патрон 7 с лампой помещен в патрубке 8 осветительной системы. В передвижной колодке 9 смонтированы сменные диафрагмы для светлого и темного поля. Рукоятка 10 служит для выключения полупрозрачной пластинки при переходе к освещению по методу темного поля. [c.76]

Оптическая схема микроскопа, приведенная на фиг. 42, в основной своей части аналогична схеме микроскопа МИМ-8м. На схеме обозначены следующие основные элементы 1 — источник света 2 — коллекторная линза < —диск со светофильтрами 4 — ирисовая апертурная диафрагма 5 — поляризатор 6 — ирисовая полевая диафрагма 7 — диафрагма темного поля 8 — кольцевое зеркало темного поля 9 — полупрозрачная пластинка 10 — призма для косого освещения И— эпиконденсор 12 — объектив /3 — анализатор 14 — поворотная призма 15 — гомаль 16 — фотопластинка 17-—окуляр. [c.89]

С лампой 8 в 9 вт, имеющий наклоны для центрирования нити лампы относительно выходного зрачка объектива. Призма-ноляризатор может поворачиваться в пределах угла 90°, для чего служит рукоятка 2. Диаметр апертурной и полевой диафрагмы изменяется рукоятками 3 я 4. С помощью рукоятки 5 передвигается оправа с полупрозрачной пластинкой и призмой, которые могут попеременно вводиться в ход лучей. Кроме того, рукоятка 5 позволяет в небольших пределах изменять наклон пластинки при настройке освещения. Снизу на осветителе имеется щипцовое устройство обычного типа для крепления и центрирования объективов. [c.176]

Другой метод был предложен Арнюльфом и Дюпюи (А. Arnulf, О. Dtbpuy, 1958). Вместо того чтобы наблюдать изображение объекта наводки, они исследуют зрачок, применяя метод Фуко. Пусть S—точечный источник объектив микроскопа О] (с помощью которого производится наведение) дает его изображение, совпадающее с А (фиг. 105). С помощью наклоненной на 45° полупрозрачной пластинки G в точке S получают изображение источника S. Поблизости от этого изображения находится [c.222]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...