Метод муаровых полос

Метод муаровых полос [c.522]

МЕТОД МУАРОВЫХ ПОЛОС [c.523]

Переходя на язык анализа, можно сказать, что деформация определяется первыми производными от перемещений по координатам Л" и у. Муаровый метод, следовательно, неизбежно требует дифференцирования наблюдаемых функций перемещений. Это и производится в неявной форме, когда измеряется шаг полос, т. е. определяется разность перемещений. Такая операция связана, естественно, с потерей точности и накладывает ограничения на применение метода муаровых полос. Если деформации малы, полосы расположены редко. В пределах рассматриваемой области их будет [c.523]

Обладая наглядностью поляризационно-оптического метода, метод муаровых полос вследствие своего чисто геометрического характера позволяет исследовать деформации независимо от их физической природы. [c.338]

Измерения можно выполнять в деталях объемной формы (модели конструктивных элементов аппарата) с неплоскими поверхностями и рассеивающим отражением, тогда как классическая интерферометрия применима лишь при зеркальных плоских поверхностях. Для определения относительных деформаций аналогично методу муаровых полос проводят диф- [c.339]

Существует метод муаровых полос, при использовании которого на исследуемую поверхность наносят каким-либо способом систему периодически повторяющихся линий, точек или иных элементов, расположенных в одной плоскости (такие структуры называют растрами). Растр, нанесенный на исследуемую поверхность детали или образца, деформируется вместе с поверхностью в процессе нагружения. При наложении деформированного и эталонного растров светлые промежутки одного растра перекрываются темными линиями другого, что приводит к изменениям интенсивности отраженного или проходящего через совмещенные растры света и образованию черных и белых [c.142]

На основе метода муаровых полос было установлено распределение линейных и угловых деформаций и ) по различным сечениям испытываемых образцов. В качестве примера на рис. 2.8 показано деформированное состояние соединений с мягким стыковым швом при расположении дефекта в его центре. Локализация деформаций е при этом наблюдается в окрестности вершины дефекта и в угловых точках шва. Угловые деформации максимальны в сечении 2y/h=l в окрестности угловых точек. При этом ме- [c.47]

Для соединений с F-образной прослойкой (см. рис. 3.7,6), как показали полученные методом муаровых полос экспериментальные данные, местоположение линии разветвления пластического течения (которое определяет область максимальных растягивающих напряжений в прослойках) не совпадает с осью симметрии прослойки и смещено в сторону ее меньшей толщины (рис. 3.25). В данной области наблюдается наибольший уровень интенсивности деформаций е . [c.134]

Рис. 4,9. Распределение касательных напряжений т по различным сечениям мягкой прослойки в направлении толщины стенки оболочки (а) и толщины прослойки (б), полученные на основании обработки данны.х метода муаровых полос

Для замера деформаций применяют различные методы. Ниже мы остановимся на определении деформаций при помощи приборов (тензометров) с механическим и электрическим принципами замера рассмотрим оптический и рентгенографический методы, метод муаровых полос и метод лаковых покрытий. [c.543]

S 97. МЕТОД МУАРОВЫХ ПОЛОС [c.483]

Наиболее целесообразно применять метод муаровых полос там, где ожидается возникновение относительно больших деформаций. Сюда относятся задачи, связанные с анализом пластически деформируемых сред или с поведением конструкции в условиях ползучести. [c.484]

Техника эксперимента. Так как при исследовании методом муаровых полос на поверхность образца наносится тонкая сетка, к поверхности образцов предъявляются высокие требования. Наиболее существенные из них — плоскостность и чистота поверхности (V8—V9). Нанесение системы параллельных полос на поверхность образца осуществляется переносом ее с эталона (изготовленного из неорганического стекла) с помощью контактной фотопечати. [c.145]

Для циклически разупрочняющихся металлов эффективны методы, обладающие достаточно большой разрешающей способностью — метод сеток и метод муаровых полос. Для измерения амплитудных деформаций, соответствующих нижней части кривой усталости, нужны более чувствительные методы (метод оптически чувствительных покрытий и тензометрирование в отдельных полуциклах). [c.239]

Метод фотоупругости особенно полезно сочетать с методом муаровых полос при исследовании динамических задач, когда трудно получать полное семейство изоклин в течение одного эксперимента. Для получения двух линейных деформаций необходимы два семейства муаровых полос, сетка поэтому должна содержать два семейства параллельных линий одна система линий параллельна оси х, другая—оси у. [c.34]

Метод исследования и проведение экспериментов. Распределение напряжений около подкрепленного отверстия в растянутой пластине было исследовано поляризационно-оптическим методом в сочетании с методом муаровых полос. Эскиз модели показан на фиг. 9.45. [c.270]

Во всех случаях модели были изготовлены из низкомодульных материалов. Определение деформаций в приведенном здесь примере производилось методами муаровых полос и сеток. [c.386]

Если деформации на контуре включения определены с достаточной точностью, то по данным поляризационно-оптического метода и метода муаровых полос можно определить радиальные и касательные напряжения и Хгв подобно тому, как это делалось для пластины без отверстия. Однако в рассматриваемом случае напряжения на контуре включения, за исключением ограниченного числа точек, оказались слишком малыми для того, чтобы вызванные ими деформации можно было точно измерить. Для точного определения деформаций на контуре включения нужно иметь гораздо больше муаровых полос, чем для определения деформаций в пластине без отверстия. Это объясняется тем, что деформации на контуре включения определяются по тангенсу угла наклона касательной к экстраполированному графику перемещения, тогда как деформации в пластине без отверстия определяются по наклону графика в промежуточных точках. Кроме того, определение деформаций на контуре включения осложняется еще и тем, что перемещения при приближении к контуру изме няются очень резко. [c.413]

К настоящему времени создано несколько модцфикаци] метода. муаровых полос II разработан ряд приемов, повышающих его точность и эф фектив-пость. В руках исследователя этот метод является хорошим дополнением к арсеналу средств анализа напряженного состояния. [c.527]

Современное развитие техники измерений позволяет существенно повысить чувствительность метода муаровых полос, обеспечить дистанционность измерений, необходимую при исследованиях нагреваемых и охлаждаемых дет злей, и проводить измерения при циклически меняющихся и динамических нагрузках. [c.338]

Испытания образцов проводили с использованием метода муаровых полос с фиксацией картин полос на различных стадиях деформирования. При расшифровке картин му аровых полос выявляли особенности деформирования механически неоднородных сварных соединений [c.133]

В качестве примера на рис 4Л,а,б приведены картины nep Afe-щений. полученные методом муаровых полос при испытании моделирующих кольцевых образцов, ослабленных мягкими прослойками, кото- [c.215]

Рентгеновский метод определения напряжений основан на измерении расстояния между атомами кристаллической решетки с помощью монохроматического излучения. О величине напряжений судят но диаметру круга на фотографической иластинке, образованной отраженным лучом. Находят применение также метод лаковых покрытий, метод муаровых полос, оитический метод, с помощью которого изучают возникновение и перемещение системы полос на прозрачной модели. [c.129]

Метод муаровых полос позволяет найти деформации и напряжения на поверхности контакта элементов композитной модели без использования поляризационно-оптического метода 70, 72]. Однако, если линейные деформации е и Ву можно найти этим методом довольно точно, то на деформацию сдвига уху сильно влияют угловые погрешности в установке эталонной сетки. Это отражается и на точности определения главных напряжений. Деформацию сдвига более точно можно вычислить по данным поляризационно-оцтиче-ских измерений [c.34]

Направление главных напряжений и деформаций на поверх1НО-сти контакта также можно определить на основе результатов измерений поляризацио1нно-оптически1м методом и методом муаровых полос (в тех случаях, когда на поверхности контакта трудно установить параметр изоклины) [c.34]

Кривая изменения во времени порядков полос, полученных экспериментально для симметричной точки без отверстия, показана на фиг. 12.25, тогда как на фиг. 12.26 воспроизведены графики изменения во времени деформаций и г у. Эти графики деформаций соответствуют поверхности модели, так как они построены по данным картин муаровых полос. Деформации в центральной плоскости пластины, полученные с помош,ью помещенной внутри пластины сетки, оказались несколько иными, чем деформации па поверхности. Это свидетельствует о неравномерности деформаций по толш ине пластины. Деформации, возникаюш ие при взрывной нагрузке на стороне пластины без отверстия в симметричной отверстию точке, чрезвычайно малы, чтобы их можно было измерить без труда с помош,ью сетки. Вместе с тем деформации на поверхности были измерены по методу муаровых полос со значительно большей точностью. Поскольку деформации в серединной плоскости пластины нельзя было определить столь же точно, при анализе полученных результатов деформации в серединной плоскости приближенно принимались равными деформациям на поверхности пластины. [c.391]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...