Оптическая ось компоненты

На рис. 496 приведен пример для случая двух компонентов. Здесь кривые А и О представляют собой спектры логарифмов оптических плотностей компонентов, кривая С — спектр логарифма оптической плотности смеси растворов указанных двух компонентов, которые содержатся в ней в той же концентрации, что и в отдельных растворах. [c.661]

Линзовые телеобъективы имеют широко расставленные переднюю положительную и заднюю отрицательную компоненты. Принципиальная схема такого объектива приведена на рис. 22, в. По рисунку можно проследить принцип действия телеобъектива. Луч света, пройдя переднюю положительную компоненту, в случае обычной оптической системы должен был бы пересечь главную оптическую плоскость в точке Р. Благодаря отрицательной задней компоненте, этот луч отклоняется и пересекает оптическую ось под значительно меньшим углом. С помощью отклоненного в точку Р луча можно определить, какую длину должен был бы иметь объектив обычной конструкции без отрицательной компоненты. Продолжив этот луч в сторону предметного пространства до пересечения с входящим в переднюю линзу лучом, получим положение задней главной плоскости Н. Именно в этой области должны были бы находиться оптические компоненты обычного объектива с фокусным расстоянием и до этой плоскости необходимо было бы продлить оправу обычного объектива или растянуть мех складной камеры. [c.28]

Если опережающая оптическая ось четвертьволновой пластинки помещается вдоль ОР, то установлено, что компонента эллиптического колебания ОР, запаздывающая на п/2 по отношению к компоненте, нормальной к ней, после прохождения через четвертьволновую пластинку получит опережение на я/2. Тогда колебания, распространяющиеся вдоль ОР и ОА, находятся в фазе, и их результирующее колебание ОР линейно-поляризовано и образует угол 3 с ОР. Тогда можно добиться гашения, устанавливая анализатор сначала на ОА и затем на ОА, т. е. поворачивая его на угол Р в сторону, противоположную направлению эллиптического вращения. [c.145]

Временное изменение оптических неоднородностей, вызванных флуктуациями концентрации, подчиняется уравнению, формально совпадающему с уравнением температуропроводности, но с заменой X на коэффициент диффузии О. Поэтому спектральная линия излучения, рассеянного вследствие флуктуаций концентрации, по положению совпадает с центральной компонентой, но имеет иную ширину, равную [c.596]

Общий случай объемного напряженного состояния аз 0. Внутренняя точка С, для которой должны быть определены все компоненты напряжений, соединяется с выбранной точкой О внешней поверхности прямой, принимаемой за ось X. Используются срезы в плоскостях ху и хг, просвечиваемые по нормали, соответственно по оси х и у (два отдельных среза в двух моделях, или, при больших размерах модели, второй срез берется из первого возможно использование одной пластинки с ее просвечиванием по нескольким направлениям — см. [36], [79]). При этом с помощью оптических измерений получаются эпюры т ц.у и х , для точек, лежащих от оси Ох на расстояниях соответ-Дг Ду [c.591]

Поляризационно-оптический метод исследования напряжений позволяет непосредственно получить лишь разность главных нормальных напряжений — Ог и их направления в плоскости модели. Для определения каждого из главных напряжений и сгг в отдельности применяются специальные методы, позволяющие определить сумму главных напряжений сг Ог, величину одного из них или величины компонент напряжений и Оу. [c.51]

Неопределенность в использованных оптических характеристиках Н2О и СО2 [5] — основных излучающих компонент продуктов сгорания, по-видимому, незначительна. Существенный вклад в излучательную способность плазмы вносит резонансный дублет калия. Использованные экспериментальные данные [9] для коэффициента поглощения в далеких крыльях линий получены в ограниченной области спектра и при давлении продуктов сгорания, равном атмосферному. Проверка сделанных предположений для большей спектральной области и большего диапазона давления настоятельно необходима. Кроме того, крайне желательны более точные сведения о спектральных оптических свойствах стенок, полученные в условиях, максимально близких к натурным. [c.235]

Недостатком обработки при когерентных условиях является то, что здесь мы имеем дело с комплексными амплитудами, не позволяющими использовать в качестве входных устройств систем обработки телевизионные дисплеи или дисплеи на светодиодах. Более того, когерентная обработка имеет тенденцию к помехам из-за шума , создаваемого пылью, царапинами и другими дефектами оптических компонентов. К тому же выходной сигнал таких систем представляется обьино в форме интенсивностей, так что данные о фазе теряются. [c.119]

Таким образом, для большой категории оптических систем, состоящих из не очень толстых компонентов, приходится решать задачу о подборе желательно простой тонкой системы, обладаю- [c.578]

Регистрация производилась двумя фотоэлементами — один контролировал излучение до призмы, второй — после. Сигналы с фотоэлементов поступали на вход двухлучевого осциллографа. Излучение в случае ориентации стержней под углами 60 и 90"" оказалось полностью плоскополяризованным с электрическим вектором, перпендикулярным плоскости, содержаш,ей оптическую ось. Для всех пичков поляризация оказалась одной и той же. Этого можно было ожидать, так как при изучении флуоресценции R компонента с электрическим вектором, перпендикулярным оси С, была самой сильной. Исследование излучения стержней с ориентацией 0° показало отсутствие поляризации как плоской, так и круговой, в интервале температур от 100° до 300° К и при уровнях мош,ности, лежапхих вблизи порога и значительно выше. То же самое наблюдалось для каждого отдельного пичка. Полученные результаты противоречат теории мод, изложенной в гл. 3, 2, где было сказано, что двухлепестковая картина излучения рубинового лазера с ориентацией 0°, рабо-таюш,его вблизи порога, плоскополяризована. [c.91]

I — источник света (излучает одноволновый неполяризованный свет) II — поляризатор (отфильтровывает плоскую волну в горизонтальной плоскости а = 0° изображается вектором амплитуд) /// — модель-шайба (не происходит разложения, так как нет компоненты в направлении Сг) после прохождения модели волна не изменяется) IV — анализатор (нет компонент в направлении поляризации анализатора полная абсорбция темные линии независимо от величины напряжений, геометрического места для постоянного угла а = О между направлениями главных напряжений и поляризации устройства для оптических напряжений —изоклины) V— оптическая ось [c.258]

Призма Волластона (рис. 4.2.6, в и рис. 4.2.5) отличается от призм Рошона и Сенармона тем, что оптическая ось ее первого элемента параллельна входной грани и лежит в плоскости рисунка. Призма отклоняет оба ортогонально поляризованных луча почти симметрично падающему пучку на угол в два раза больший, чем у призм Рошона и Сенармона. Можно показать, что некоторая асимметрия расхождения лучей пропорциональна двулучепреломлению (Пе — По) и квадрату угла а. Расхождение лучей хроматично, поэтому эта призма чаще всего используется для определения отношения интенсивностей ортогональных компонент света, а не в качестве поляризационной призмы. В наклонных пучках призма обладает значительной [c.260]

НОМ направлении. Действительно, уравнение (5.167) показывает, что -компонента смещения пропорциональна -координате точки предмета и наоборот. Таким образом, само смещение перпендикулярно линии, соединяющей гауссову точку с осью. Как результат, будет иметь место скрученная дисторсия (рис. 72) отдельные линии прямоугольного предмета будут отображаться как 5-об-разные кривые. Направление скручивания определяется знаком коэффициента Ат. Его величина пропорциональна кубу расстояния от оптической оси до точки объекта. Таким образом, изображением лрямой линии, пересекающей оптическую ось в перпендикулярном направлении, будет кубическая парабола. [c.292]

Уменьщипге оптической силы компонентов (особенно втс го) может быть достигнуто за счет введения перемещения по пейному закону второго ко.мпонента ( г О). [c.102]

Сферическая аберрация пучков в осесимметричном поле, лишечном разрывов (поверхностные заряды на пленках, пересекающих оптическую ось, объемные заряды на оси), всегда отрицательна (т. е. при изображении осевой точки периферийные траектории в пространстве изображения пересекают оптич. ось ближе к линзе, чем крайние). Кояфф. В всегда отрицателен, а С(.ф всегда положительна. Согласно этому, возможность компенсации сферич. аберрации осесимметричными элемента.чи исключена (не существует осесимметричных корректирующих компонентов с положительной сферич. аберрацией). [c.476]

Мы видим, что отношение тангенсов углов со и отношепие оптических СИД компонент долншы быть противоположных знаков. Решения возможны в любой из областей среди обращенных телеобъективов (срц/ф1 < О, oI/tg(oгr О, срц > ф), дублетов (фп/ф > О, tg (i)lltg соц < О, ,< фи < ф) и телеобъективов (фп/ф1<0, со Л соц > О, фп. О). При этом, так как для дублетов ф1,< ф и фп. < 1,то они не требуют сильных ливз и большой кривизны жх ловерхностей, а это выгодно с точки зрения сферохроматической аберрации и аберраций высших порядков. Но подобрать пары стекол с tg, со < О трудно н разность Дг для них неизбежно невелика. Даже при малой оптической силе. чина это требует значительных прогибов их, а значит, и большой кривизны. Одним из первых объективов типа дублет был знаменитый портретный объектив Пецеаля, составленный из обычных стекол. Объектив Пецваля получил широкое распространение как в фотографии, так и в астрономии. В пем несколько уменьшены вторичный спектр и остаточная сферическая аберрация и существенно снижена сферохроматическая аберрация. Полезное поле ограничивается кривизной и астигматизмом. Объектив Пецваля может иметь относительное отверстие до 1 2 лри полезном поле 2и> що 20°. [c.194]

В процессе своего развития С. естественно выдвинула целый ряд динамических проблем первостепенной важности. Эти проблемы насквозь проникают все учение о пространственном расположении атомов. Молекула как динамическое целое не может быть рассматриваема вне движения, как неподвижная модель. Динамика в процессе образования стереоизомеров и во всем взаимовлиянии атомов друг на друга ярко выступает во всем развитии С., начиная с Ле-Веля с его динамич. представлениями об асимметрии и Пастера, к-рый открыл явление рацемизации и методы расщепления рацематов на оптически деятельные компоненты. Главнейшие из динамических проблем С.—это рацемизация и ауторацемизация, перегруппировки геометрич. изомеров (этиленовых, поли-метиленовых и комплексных соединений), оптич. инверсия (т. н. Валъдена обращение, см.), изомеризация циклов, стерич. препятствия, асимметрич. синтез и др. Рацемизация состоит в том, что правый или левый изомер обыкновенно под влиянием нагревания, действия щелочей, к-т и других химич. и физич. агентов переходит в свой антипод при этом оптич. деятельность становится равной нулю. При из- [c.54]

Напомним, что после призмы Воластона должна быть поставлена пластинка К/А для трансформации линейно поляризованного света в круговой, чтобы создать одинаковые условия распространения в оптической аппаратуре для х- и 2- компонент рассеянного света. В противном случае результаты измерений будут грубо искажены. Если исследуется достаточно широкий участок спектра, то вместо пластинки Х/4 следует поставить слегка клинообразную пластинку исландского шпата с оптической осью, направленной по диагонали пластинки. Такая пластинка наклеивается канадским бальзамом прямо на приему Воластона такиг образом, чтобы оптическая ось ее была направлена под углом 45° к направлениям главных плоскостей призмы Воластона ). При поляризационных измерениях должно быть также обращено особое внимание на устранение возможного несимметричного [c.176]

Выясним теперь вопрос о достижении нужной коррекции хроматизма увеличения. Из условия получения хроматизма увеличения, равного 2%, используя ( 1.19), находим значение хроматического параметра С = 0,02. Для реализации такого значения С ребуется сложный, склеенный по крайней мере из двух марок оптического стекла, компонент. [c.289]

Годом позже Друде предложил более совершенный метод определения оптических параметров металла. Согласно методу Друде, для определения и и х достаточно измерить сдвиг фаз Аф = ср ( — ср между параллельными и перпендикулярными компонентами отраженного поля и коэффициент отражения R при некотором значении угла падения. Далее п и х можно связать с параметрами среды е ИОВ уравнениях Максвелла. Как показывают расчеты, результаты подобного вычисления не дают удовлетворительного согласия с экспериментально вычисленными значениями я и х в видимой области. Расхождение усиливается с увеличением частоты падающего света. Такое расхождение между теорией и экспериментом можно обьяс-iHiTb влиянием связанных электронов на п и х. Действительно, при развитии вышеупомянутой теории мы исходили из представления о металле как о системе, состоящей из полностью свободных электронов. При увеличении частоты света (для видимой и ультрафиолетовой областей) в оптических явлениях участвуют также связанные электроны, отсюда и вытекает расхождение теории с экспе-рпмеьггом. В инфракрасной области, где оптические свойства металлов Б основном обусловлены наличием свободных электронов, согласие можно считать удовлетворительным. Вообще мы не вправе [c.65]

Нельзя не упомянуть о том, что эволюционный механизм происхождения жизни на Земле принимался далеко не всеми. Еще Дж. Бернал считал очень маловероятным возникновение жизни от одной — единствевБой молекулы ДНК. Эта же мысль красочно выразил астроном Ч. Викрамасингхе Скорее ураган, проносящийся по кладбигцу старых самолетов, соберет новехонький супер лайнер из кусков лома, чем в результате случайных процессов возникнет из своих компонентов жизнь . Усиленное внимание привлекли к себе идеи о внеземном происхождении жизни, тем более что исследования оптического состава изомеров ами- [c.227]

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О. Первая поверхность линзы I выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран. [c.95]

Пусть оси X, у, г совмещены с направлениями главных напряжений Ti, 02 и (рис. 5.30, а). Перейти от главной площадки к произвольно ориентированной (с нормалью v) можно при помощи двух определенным образом произведенных поворотов. Первый поворот — относительно оси г на угол ф, второй поворот — на угол в плоскости напряжений и ад. В процессе первого поворота изменение Оа и %аь происходит, кзк В двумсрном напряжснном состоянии, и характеризуется кругом Мора, построенным на главных напряжениях 01 и 02 (рис. 5.30, б). В процессе второго поворота компоненты 0V и Xyt могут быть найдены из круга Мора, построенного, как для двумерного напряженного состояния, на напряжениях 03 и а как на главных (рис. 5.30, б). После отыскания и Ту (последнее находится, как это показано в разделе 9 настоящего параграфа) не составляет труда найти х ь и угол ov/. Построение показано на рис. 5.30, б. Заметим, что понятие псевдоглавных напряжений используется при анализе пространственного напряженного состояния тела оптическим методом. [c.431]

В некоторых случаях, когда требуется быстрая модуляция интенсивности излучения, используются ячейки Поккельса. Основным элементом ячейки является одноосный кристалл (КДР, АДР и др.). Луч света направляется по оптической оси кристалла при этом оба луча — обыкновенный и необыкновенный — распространяются в кристалле с одной и той же скоростью. При приложении к кристаллу электрического поля вдоль оптической оси кристалл становится двуосным с главными осями ох и оу, составляющими угол 45° с кристаллографическими осями ох и оу (рис. 45). Скорость распространения в нем двух волн, поляризованных во взаимно перпендикулярных плоскостях, проходящих через ох и ог/, оказывается различной. Когда на кристалл падает линейно-поляризованный свет, плоскость поляризации которого совпадает с ох, то в кристалле распространяются две взаимно перпендикулярно поляризованные компоненты с различными скоростями v-y и Uj. Пройдя некоторый путь, они приобретают разность фаз, зависящую от приложенного к кристаллу напряжения, вследствие чего на выходе из кристалла свет становится эллипти-чески-поляризованным, причем эксцентриситет эллипса поляризации зависит от разности фаз, т. е. от приложенного напряжения. Пропуская затем модулированный таким образом свет через поляризационную призму, получают лазерный луч, модулированный по амплитуде, т. е. по интенсивности. [c.73]

ОПТИЧЕСКАЯ ПЛОТНОСТЬ (В) — мера непрозрачности слоя вещества толщиной I для световых лучей характеризует ослабление оптич, излучения в слоях разл. веществ (красителях, светофильтрах, растворах, газах и т, п.). Для неотражающего слоя В — gIJI — к 1, где I — интенсивность излучения, прошедшего поглощающую среду — интенсивность излучения, падающего на поглощающую среду — поглощения показатель среды для излучения с длиной волны Я,, связанный с уд. показателем поглощения Хх в Бугера — Ламберта — Бера законе соотношением = 2,303х . О. п. может быть определена и как логарифм величины, обратной пропускания коэффициенту т слоя вещества Г) — lg (1/т). Введение О. п. удобно при вычислениях, т, к. она меняется на неск. единиц, тогда как величина /о// может для разл. образцов и на разл. участках спектра изменяться на неск. порядков, О. п, смеси нереагирующих друг с другом веществ равна сумме О. п. отд. компонентов. л. н. Напорский. [c.441]

ПОЛНОЕ ВНУТРЕННЕЕ ОТРАЖЕНИЕ — отражение эл.-магн. излучения (в частности, света) при его падении на границу двух прозрачных сред с показателями преломления и щ из среды с большим показателем преломления ( i > rtj) под углом > (p pi К рого sin i p = ftj/ai = Наим, угол падения qp p-при к-рои происходит П. в. о., наз. предельным (критическим) или углом полного отражения. Впервые П. а. о, описано И. Кеплером (J. Kepler) в 1800. Поток излучения, падающий при углах ф Фкр< испытывает полное отражение от границ раздела, целиком возвращается в среду с iij, т. о. коэф. отражения Л = 1, В оптически менее плотной среде в области вблизи границы существует конечное значение ал.-магн. поля, однако поток энергии через границу отсутствует, т. к. перпендикулярная поверхности компонента Пойнтин-га вектора, усреднённая по времени, равна нулю. Это означает, что энергия проходит через границу дважды (входит и выходит обратно) и распространяется лишь вдоль поверхности среды в плоскости падения. Глубина проникновения излучения в среду Ид определяется как расстояние, на к-ром амплитуда эл.-магн, поля в оптически менее плотной среде убывает в е раз,Эта глубина зависит от относит, показателя преломления Kjj, длины волны X и угла ф. Вблизи ф р глубина проникновения наибольшая, с ростом угла вплоть до 90° плавно спадает до пост, значения. [c.27]

Кксиальная сп.мметрия взаимодействия света со средой может нарушаться вследствие оптической анизотро геми самой среды. При этом в области полос поглощения света оптически анизотропные среды неодинаково поглощают обыкновенный и необыкновенный лучи (линейный дихроизм). При достаточной величине разности соответствующих оптич. плотностей одна из поляри-зац. компонент светового пучка может поглотиться практически полностью, и прошедший через среду свет приобретает высокую степень лпнейной поляризации. Такие П. наз. д и х р о и ч в ы м и. Наиб, эффективными и практически единственными применяемыми в наст, время дихроичныМи П. являются поляроиды. Достоинствами поляроидов являются компактность, большая угл. апертура и высокая поляризующая способность, недостатками — низкая лучевая прочность и сильный хроматизм. [c.60]

ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ СВЕТОФИЛЬТР — светофильтр, действие к-рого основано на явлении интерференции поляризов, лучей. Простейший П. с, представляет собой хроматин, фазовую пластинку (см. Компея-сатпр оптический), расположенную между Двумя поляризаторами, поляризующие направления к-рых параллельны (перпендикулярны) друг другу и составляют угол 45° с оптич. осью пластинки. Т. к. фазовый сдвиг 6 между обыкновенным ( о) и необыкновенным (п ) лучами, прошедшими через пластинку длиной I, зависит от длины волны Я, (6 = 2п1(пд — n )lX), то состояние поляризации, а следовательно и интенсивность выходящего света (см. Интерференция поляризованных лучей), также имеет спектральную зависимость. При достаточно большой разности показателей преломления фазовой пластинки ( о— п состояние но.ляриаации выходящего из неё света может меняться в зависимости от X от линейной, совпадающей с падающей, через все фазы эллиптической, до линейной, ортогональной исходной. Если поляризация света, прошедшего фазовую пластинку, совпадает с поляризующим направлением поляризатора на выходе, то наблюдается максимум в интенсивности выходящих интерферирующих поляризов. лучей если соответствующие поляризации ортогональны, то наблюдается минимум. Таким образом, П. с. в зависимости от 1 или полностью пропускает свет, или почти полностью поглощает. Это свойство П. с. используется для решения ряда спец, задач спектроскопии, напр, для подавления одной или неск. спектральных линий излучения на фоне др. компонент спектра или для изменения спектрального распределения анергии в источниках сплошного спект-ра. [c.64]

Поскольку величина компоненты зависит от направления магн. поля относительно кристаллографич. осей кристалла, Ф. э. может быть анизотропным даже в оптически изотропных кристаллах. Напр., в кубич. полупроводниках с анизотропными изоэнергетич. поверхностями (n-Ge. й-Si) S является анизотропной величиной, зависящей от ориентации магн. поля в кристалле, В то же время в кубич. полупроводниках со сферич. изоэнергетич. поверхностями (n-tnSb, л-InAs) Ф. э. изотропен. Т, о., исследование Ф. э. даёт информацию о форме изоэнергетич. поверхностей в кубич. полупроводниках. Ф. э, используется также для определения эфф. массы носителей заряда. [c.330]

Сведения о формировании диффузионной пористости при фазовых превращениях, сопровождающихся перераспределением компонентов между фазами, ограничены. Недостаток в убедительных экспериментальных данных объясняется отсутствием надежных методов выявления пористости. Обнаружение пористости сопряжено с определенными экспериментальными трудностями и пока является уделом микроскопии. Вследствие заполировывания и растравливания металла возможности оптической микроскопии невелики. Более надежную информацию, по-видимому, можно получить с помощью рентгеновской теневой микроскопии. Авторы работы [162] применили ее для исследования порообразования в сплаве АЛ27 в процессе кристаллизации и термической обработки. Они обнаружили, что во время термической обработки, при которой происходит растворение кристаллов AlgZr, вблизи растворившихся включений возникали сферические поры диаметром, равным примерно [c.97]

Влияние на аберрации призмы как компонента оптических систем. Как правило, призмы действуют благоприятно на все аберрации оптических систем благодари тому, что им свойственны аберрации противоположного знака по сравнению с аберрациями объективов, после которых оии обычно стоят. Призмы обладают положительными продольными сферическими н хроматическими аберрациями, положительным астигматизмом, в то время как у простых положительных линз они отрицательные. Сумма Пец-валя Siv у призм равна нулю дисторсия их имеет бочкообразный характер н компенсирует до некоторой степени подушкообразную днсторсию всех существующих типов окуляров хроматическая разность уваднчения призмы такова, что она исправляет одноименную аберрацию у окуляров. Благоприятное влияние призмы тем больше, чем больше отношение [c.181]

В гл. VIII наложена возможная методика классификации оптических систем (в частности, зеркально-лиизовых объективов), которая почти без изменений может бьггь нспользована для поисков фотографических объективов. В качестве признаков, по которым ведутся поиски, можно назвать следующие фокусное расстояние апертурное число в пространстве изображений спектральная область линейное увеличение угол поля зрения диаметр кружков рассеяния в угловой мере для точки иа о сн и для точки на краю поля число компонентов и число поверхностей число асферических поверхностей (разбитое на число поверхностей [c.259]

Суш,еству.ет эмпирическое правило, подтверждаемое практикой и некоторыми простыми соображениями, а именно, что методика М. О. Берека дает тем лучшие результаты, чем меньше длина системы. Действительно, если оптическая система состоит нз далеко расставленных компонентов, среди которых некоторые обладают большими аберрациями 3-го порядка, то должен возникать ряд перекрестных аберраций высших порядков, вызываемых тем, что лучн, нсходящ,не из определенного компонента, пересекают следующ,ий на высотах, отличных от параксиальных, из чего вытекают н серьезные изменения аберраций даже 3-го порядка, хотя формально этим изменениям приписывается 5-й порядок, [c.267]

Условие уменьшения вторичного спектра требует применения специальных марок стекла, о которых подробно см. гл. 1 и V111. Однако из-за малой разности коэффициентов дисперсии v этих марок оптические силы линз, входящих в состав первого компонента, велики, и поэтому возникают большие аберрации высших порядков, если не и н на увеличение числа линз. [c.290]

Эти формулы представляют интерес ие только для расчета микроскопов, но и для других оптических систем, в которые входят аналогичные комбииааии компонентов. Оии приведены ниже [c.403]

Первый компонент (рис. VH.12) телескопических очков — положительная лииза, простая неахроматизоваиная, благодаря этому вес ее значительно уменьшен второй компонент — отрицательная линза, иногда простая, иногда склеенная. Расстояние между линзами приблизительно 25—30 мм диаметр первой линзы 30—Й мм диаметр второй — около 15 мм. Оптическая система [c.543]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...