Отражение от параллельных

Свет от электролампочки через конденсор освещает матированное окно сетки. В пластинке-сетке он подвергается полному внутреннему отражению от параллельных торцов к отражению от цилиндрической поверхности. Поэтому свет не может рассеиваться в окружающее пространство, за исключением лучей, рассеиваемых штрихами. [c.14]

В 1913 г. Ю. В. Вульф (1863—1925 гг.), а затем не-сколько позже В. Брэгг и В. Брэгг показали, что эту интерференционную картину — рентгенограмму (рис. 17) — можно истолковать как результат интерференции лучей, отраженных от отдельных параллельных атомных плоско--стей. [c.36]

Лучи 1 W 2 после отражении от зеркал 3i и 3.2 выходят из пластинки Пу и направляются в зрительную трубу 7. Как видно из рис. 5.19, луч 1 проходит через пластинку III один раз, в то время как луч 2 проходит через нее три раза. С целью создания идентичных условий для обоих лучей на пути луча / помещают пластинку Яа, имеющую такую же толщину, как и пластинка Я]. От воздушной прослойки, образованной зеркалом 3i и изображением 3i зеркала З. , в пластинке Я наблюдается интерференционная картина. В зависимости от относительного положения 3i и З.2 будет наблюдаться интерференция полос равного наклона или равной толщины. Если 3 строго перпендикулярно 3i, то 3 и З-2 будут строго параллельны. В этом случае будут наблюдаться [c.112]

Если же электрический вектор лежит в плоскости падения, то при отражении он поворачивается вместе с фронтом волны на 90°. Таким образом, электрические векторы в падающей и отраженной волнах составляют между собой прямой угол (рис. 16.4, в), так что интерференция между ними невозможна. Результирующая электрического вектора во всей толще эмульсии сохраняет неизменное значение, и слоистого отложения серебра не наблюдается. Таким образом, можно решить, как ориентирован электрический вектор в направленном на зеркало М поляризованном свете, и, следовательно, установить направление электрического вектора для различных конкретных случаев поляризации. Эти опыты показали, что в случае поляризации турмалином электрический вектор имеет направление, параллельное оси турмалина в случае поляризации при отражении от диэлектрика он лежит в плоскости, перпендикулярной к плоскости отражения (падения) в случае преломления диэлектриком — в плоскости преломления (падения) и т. д. [c.378]

Если параллельный пучок рентгеновского излучения падает на кристалл, то на каждой атомной плоскости будет происходить дифракция. Максимум интенсивности дифрагировавших рентгеновских волн соответствует направлению, определяемому законами правильного отражения. Условие же взаимного усиления волн, отраженных от разных плоскостей, запишется, очевидно, в виде [c.409]

Вывод этих уравнений достаточно прост и основывается на следующих соображениях если твердое тело находится в кристаллическом состоянии, то обязательно имеется направление, вдоль которого все идентичные по свойствам узлы располагаются параллельными рядами и в каждом таком ряду они связаны трансляцией а. Если на такой ряд направить под произвольным к нему углом ао параллельный пучок монохроматического излучения с длиной волны % (рис. 1.37),. то отражение будет происходить только в тех направлениях, для которых все взаимно складывающиеся отражения от узлов, связанных между собой трансляцией а, находятся в одной фазе. Этс возможно лишь в том случае, если разность хода между волнами рассеянными от двух соседних узлов А=ЛС—5D (рис. 1.37), равна целому числу Длин волн, т. е. [c.39]

Через узлы пространственной кристаллической решетки можно провести много плоскостей (рис. 26), и каждая из них будет отражать волну в таком направлении, чтобы угол отражения был равен углу падения, причем это условие не зависит от длины волны волны всевозможных длин отражаются одинаково. Однако в действительности отражение в данном направлении происходит не только от одной плоскости, но и от всех других плоскостей, параллельных данной. Все эти волны, отраженные от различных плоскостей, когерентны между собой, поскольку порождаются одной и той же первичной волной. Другими словами, при отражении волны от семейства параллельных поверхностей происходит деление амплитуды между вторичными отраженными волнами, распространяющимися под углом отражения, равным углу падения. Если разность фаз между вторичными волнами кратна 2тс, то они усилят друг друга и под углом отражения будет действительно распространяться отраженная волна. Если же эта кратность отсутствует, то никакой отраженной волны не будет. Условие, при котором происходит отражение от системы параллельных поверхностей, называется условием Брэгга- Вульфа. Выведем это условие. [c.49]

Способ Брэгга. В этом случае кристалл облучается монохроматическим рентгеновским излучением. Исследуется отражение от определенной системы параллельных атомных плоскостей при вращении монокристалла. В соответствии с формулой [c.51]

Нить лампы накаливания / проектируется коллектором 2 в плоскость апертурной диафрагмы 4. В фокальной плоскости проекционного объектива 6 помещена полевая диафрагма 5, которая изображается объективом в бесконечности. Параллельный пучок лучей попадает на разделительную пластинку 7, которая одну половину лучей отражает, а другую — пропускает. Отраженный от пластинки 7 пучок лучей собирается в фокусе объектива ]0 на поверяемой поверхности детали 8, установлен- [c.349]

Если пучок рентгеновых лучей падает rie на изолированный атом, а на совокупность атомов кристаллической решетки, то лучи, рассеянные разными атомами, закономерно интерферируют. Результаты интерференции при соблюдении определенных условий бывают таковы, как если бы первичный пучок лучей испытывал отражение от параллельных атомных плоскостей кристалла. [c.131]

Закон Брэгга ). Брэгг [4] дал простое объяснение наблюдаемому в кристалле изменению наиравлеиия лучей, испытавших дифракцию 2). Предположим, что падающие волны зеркально отражаются от параллельных атомных плоскостей, причем от каждой плоскости отражается лишь очень малая доля падающего излучения, как при отражении от слегка посеребренного зеркала. Наблюдение дифрагированных пучков возмолаю лишь тогда, когда отраженные от параллельных атомных плоскостей пучки интерферируют с взаимным усилением, как это показано на рис. 2.2. Мы рассматриваем только упругое рассеяние, при котором длины волн фотонов или нейтронов не изменяются при отражении. Неупругое рассеяние (рассеяние, сопровождающееся возбуждением упругих волн в кристалле) рассмотрено в гл. 5. [c.63]

Интересно рассмотреть случай, когда источник находится в бесконечности, т. е. отраженные от поверхности лучи идут параллельно и наблюдение производится глазом, адаптированным на бесконечность или же в фокальной плоскости объектива телескопа. В этом случае оба интерферирующих луча, идущих от 5 к А, происходят от одного падающего луча SM (рис. 4,17). В зависимости от разности хода лучей в точке А будут наблюдаться максимум и минимум. Так как интерференционная картина определяется оптической разностью хода между интерферирующими лучами, то необходимо найти эту разность. Вследствие того что оптические длины (произведение геометрической длины пути луча на показатель преломления среды, в которой распространяется луч) всех прощедших [c.85]

Если наблюдение ведется в монохроматическом свете, то интерференционная картина п[1едстаБЛяет собой чередование светлых и темных полос. При наблюдении в белом свете илеика оказывается окрашенной в разные цвета. Подобная окрашенность пленок, обусловленная интерференцией отраженных от поверхностей лучей, носит название цветов тонких пленок. Следует заметить, что при наблюдении в белом свете отклонение от параллельности поверхности пластинки должно быть незначительным. Заметное отклонение от параллельности приводит к значительному сближению полос [c.89]

Подобные полосы в-первые наблюдались Г уком. Однако вследствие того, что онн были подробгю исследованы Ньютоном, их называют кольцами Ньютона. Схема, с помощью которой наблюдаются кольца Ньютона, представлена на рис. 5.1. Роль пластинки переменной толщины играет воздуи/пая прослойка между линзой и плоскопараллельной пластинкой. Границы этой пластинки определяются снизу верхней поверхностью плоскопараллельной пластинки, сверху—нижней поверхностью линзы. Параллельный пучок света, выделенный из точечного источника, расположешюго в фокусе линзы (линза и источник на рисунке не изображены), направляется на систему линза — плоскопараллельная пластинка. Некоторый луч 1 этого пучка после отражения от нижней поверхности воздушной прослойки выходит из точки D. В эту же точку падает другой луч 2, который частично отражается. Лучи / п 2 являются когерентными и при наложении интерферируют между собой. Так как подобная интерференционная картина наблюдается с помощью отраженных лучей, то ее называют интерференционной картиной в отраженном свете. Аналогичную картину можно наблю-дат з в прошедшем свете. [c.93]

Опыт Винера со стоячими световыми волнами. Первый опыт со стоячими световыми волнами был выполнен в 1890 г. Винером. Схема установки Винера представлена иа рис. 5.4. Плоское металлическое (покрытое серебряным слоем) зеркало освещалось нормально падающим параллельным пучком монохроматического света. Плоская тонкая стеклянная пластинка П, поверхность которой покрыта тонким слоем (толщиной, меньшей V20 полуволны падающего света) прозрачной фотографической эмульсии, расположена на металлическом зеркале под небольшим углом ф к его поверхности. Отраженный от зеркала 3 лучок интерферирует с падаюидим в результате получается система стоячих световых волн. Согласно теории отражения света от металлической поверхности, первый ближайший к зеркалу узел электрического вектора расположится на поверхности зеркала, так как при таком отражении именно электрический вектор меняет свою фазу на противоположную. Следовательно, первый узел магнитного вектора расположится на расстоянии в четверть длины световой волны от зеркала. Таким образом, перед зеркалом будет наблюдаться система узлов (и пуч- [c.97]

Параллельные черные линии представляют собой результат интерференции световых пучков, отраженных от двух зеркал они пересекают дифракционное изображение звезды в объективе телескопа, прикрытом экраном О (см. рис. 9.13). При соответствующем раздвшке-нии зеркал 1 и интерференционные полосы исчезают, и остается дифракционное изображение звезды. [c.197]

Указание. В случае воздушной прослойки кольца получаются при наложении волны, отраженной от 1 (параллельный пучок), и волны, отраженной от 2 (рас.ходящийся пучок, исходящий из мнимого фокуса Р выпуклого зеркала 2). Линза 2 дает два мнимых изображения источника (параллельный пучок, отраженный от 1, собран в фокусе линзы Р ) и 82 (изображение Р). Размер колец определяется расстоянием При заполнении пространства 1—2 водой лучи, отраженные от 2, преломляясь в слое воды (рассеивающая линза), станут более расходящимися, и линза 2 соберет их в точке так что следовательно, кольца [c.870]

Более совершенный гальванометр (например, гальванометр типа H.S. фирмы Лидс и Нортроп ) имеет чувствительность, равную - 3-10 в мм, и время установления 5 сек. В нашем случае он обеспечит точность измерения сопротивления порядка 5%. Очевидно, что в задачах рассматриваемого типа ток, протекающий через гальванометр при практически достижимом приближенном равновесии ( 10 а), не может оказывать прямого влияния па разность потенциалов между концами образца. Чувствительность можно улучшить путем увеличения длины светового указателя. Действительно, в таком гальванометре легко использовать световой указатель длиной 3 м (вместо обычного метрового). Другим путем увеличения чувствительности является применение остроумного и простого оптического умножителя, предложенного недавно Дофини [57] (фиг. 14). Вместо простого однократного отражения светового луча зеркалом гальванометра, которое отбрасывает луч на отсчетную шкалу, в умножителе применено многократное отражение от дополнительного неподвижного зеркала, расположенного вблизи поверхности зеркала гальванометра и примерно параллельного ей. Световой луч испытывает в умножителе ряд последовательных отражений от зеркала гальванометра прежде чем попадает на шкалу, и благодаря этому угловое отклонение зайчика соответственно увеличивается. Дофини получил удовлетворительные результаты, пользуясь гальванометром, который давал с его приспособлением шестикратное увеличение yrjroBoro отклонения. Количество отражений, естественно, зависит от размера зеркала гальванометра. При малых зеркалах обычно используется трех- или четырехкратное увеличение углового отклонения. [c.173]

Возникает вопрос о том, как учесть влияние 1 раницы. Если рассеяние на поверхности полностью хаотично, то электроны, покидающие поверхность, в среднем не будут нести импульса, параллельного поверхности. Эквивалентное распределение может быть получено в бесконечной среде, если положить Е равным нулю везде за границей. Этот вывод приводит к интегрированию уравнения (17.7) по физическому объему. В случае зеркального отражения от границы картина более сложная. Плоская поверхность может быть рассмотрена методом зеркального изображения. Если среда занимает полупространство. г > О, то можно считать, что Е(—х, у, z) = E x, у, z), и вести интегрирование по всему объему. В модели, рассматривавшейся Рейтером и Зондгеймером, предполагалось, что зеркально рассеивается некоторая часть р электронов, а часть 1 — /> рассеивается диффузно. Экспериментальные данные свидетельствуют о том, что р = 0. [c.706]

Приводят луч лазера в горизонтальное положение и направляют его на зеркало 6, параллельное опорной пластине 3. Для этого зеркало б поднимают или опускают на уровень оптической оси. Отраженный от <еркала б луч попадает на экран 2 и дает на нем световую точку. Измерив координаты I л h этой точки (расстояния от О до световой точки соответственно по горизонтали и вертикали), вычисляют по формуле (89) перекос колеса

горизонтальной плоскости и угол q>, отклонения его от вертикальной плоскости, подставляя в формулу (89) координаты / или Л, в которой Л - расстояние от зеркала б до экрана 2 (измеряют рулеткой). [c.114]

Способ Лауэ. Монокристалл облучается рентгеновским излучением с непрерывным спектром. Каждая из систем параллельных поверхностей, проведенных через узлы монокристалла, отражает в соответствующем направлении определенную длину волны. Интенсивность отраженного луча будет заметной лишь в том случае, когда атомы в отражающих плоскостях расположены достаточно плотно. Поэтому практически будет наблюдаться отражение лишь от небольшого числа систем плоскостей. Если на пути лучей, отраженных от различных систем плоскостей, поставить фотопластинку, то на ней получается система пятен - лау-эграмма (рис. 28). Зная геометрию опыта, можно установить соотношение между лауэграммой, -Структурой кристалла и длинами волн. [c.51]

Схема дефектоскопа на рис. 28, 6 лишена указанных недостатков. Она отличается от предыдущей тем, что в ней опорное плечо из управляемых аттенюаторов и короткозамыкателя заменено второй антенной. Симметричные плечи двойного волноводного тройника повернуты в одну сторону так, что антенны параллельны и направлены в сторону контролируемого объекта. Оба плеча тройника являются рабочими. Выявление неоднородностей производится за счет сравнения коэффициентов отражения от двух участков объекта, находящихся под антеннами. Если электрическая длина рабочих плеч одинаковая, то схема является самобалансирующейся и не реагирует на изменения зазора, толщины и диэлектрических свойств контролируемого слоя, когда эти изменения происходят одновременно и одинаково под обеими антеннами. Любое изменение параметров слоя под одной из антенн по сравнению с параметрами слоя, находящегося под другой антенной, приводит к нарушению баланса моста и появлению сигнала на выходе детекторной секции. Недостатком такой схемы является то, что она фиксирует только границы протяженных неоднородностей и не дает информации об изменении свойств изделия в целом, а результат зависит от перекоса да1чика, приводящего к разнице в величине зазора между обеими антеннами. Однако основное достоинство схемы состоит в возможности проведения контроля (без перестройки схемы) изделий с различными свойствами, толщиной и при переменном зазоре. На этом принципе основана работа дефектоскопа СД-12Д. [c.232]

Аналогичные измерения проведены при раздельных излучении и приеме УЗ-волн. Рассмотрены два наиболее важных для практики варианта реализации схемы прозвучивания Дуэт (рис. 6.28) нормаль к поверхности дефекта в точке отражения параллельна (случай /) образующей трубы — оси У и перпендикулярна ей (случай II). Первый случай соответствует такой ситуации при контроле, когда источник и приемник расположены с одной стороны от стыкового шва труб, а второй — когда преобразователи находятся по разные стороны от стыка. Отметим, что согласно [6 ] для однородного изотропного материала амплитуда сигнала, отраженного от рассматриваемой модели дефекта, должна возрастать при увеличении угла разворота преобразователей Л. Углом разворота мы называем проекцию угла между направлениями излучения и приема на горизонтальную плоскость. В случае II неоднородность структуры проката приводит к прямо противополол<ному эффекту амплитуда сигнала, отраженного от полости, снижается с ростом угла Д. На рис. 6.28 приведены результаты для случая а = 60°. Аналогичные зависимости получаются при а = 50, 70°, а также при озвучивании однажды отраженным лучом пересечения вертикального отверстия с наружной поверхностью трубы, при озвучивании других полостей углового отрал<ателя, пазов (при а = 50, 60, 70°). Часть результатов прозвучивания также приведена на рис. 6.28, а. Аналогичные зависимости получаются при контроле средней части сечения. На рис. 6.28, б приведены результаты измерения амплитуд сигналов, отраженных от плоскодонного и средней части вертикального отверстий. [c.328]

На поверхности очень хрупких изломов могут наблюдаться линии Валь-нера, представляющие собой системы пересекающихся искривленных параллельных ступенек (рис. 22). Линии Вальне-ра образуются вследствие взаимодействия фронта трещины н фронта упругой волны, отраженной от какого-либо дефекта или препятствия для развития разрушения. Макроскопические линии Вальнера практически наблюдаются лишь в хрупких немс таллических материалах — органических и неорганических стеклах и т. п. Вместе с тем неровности в форме одной или нескольких окружностей, возникающие на изломе вследствие упругой ударной волны, наблюдаются не только на изломах хрупких аморфных тел, но и в металлах (рис. 23). [c.43]

Оптическая схема микропрофилометра МИИ-12 представлена на рис. 27, а. Пучок лучей от осветителя 1 проходит через коллектор 2, апертурную диафрагму 3, линзы и 7 и полевую диафрагму 6, отражаясь от пластин 5 и 3, и поступает на отражательную пластину И, на которой нанесен светоделительный слой. Параллельный пучок лучей, отраженный от пластины 11, собирается линзами интер ренционного объектива 10 в точку на исследуемой поверхности 9, затем, отразившись от нее, снова проходит через интерференционный объектив и пластину И. [c.100]

Измерительная головка 7 представляет собой подвижный интерферометр. Параллельный пучок монохроматического света от осветителя 5 падает на плоскопараллельную светоделительную пластину Р и разделяется на два когерентных луча. Первый луч проходит на зеркало 10, а второй, отражаясь от пластиныР,— на зеркальную поверхность 6. После отражения от зеркал лучи снова соединяются у пластины 9 и выходят в направлении фотоэлектронного умножителя (ФЭУ) 11. При приближении измерительной головки к поверхности 6 в плоскости диафрагмы 12 ФЭУ возникает интерференционная картина и будут перемещаться интерференционные полосы. В момент, когда фокальная плоскость объектива головки совпадает с зеркальной поверхностью 6, черная полоса интерференционной картины перекроет диафрагму 12 и на выходе ФЭУ будет импульс максимальной амплитуды. [c.90]

Если мы имеем один монокристалл (см. стр. 156), то для получения отражения от какой-либо плоскости (кк1) этот кристалл надо облучать белым" рентгеновским излучением, в составе которого всегда найдётся такая длина волны X, которая будет удовлетворять уравнению (19). В методе порошков (Дебая-Шеррера) применяется не белое, а монохроматическое (характеристическое, см. стр. 154) излучение и в качестве образца не один монокристалл, а порошок (или другой агрегат), состоящий из множества мельчайших монокристалликов величиной не более 10 см, беспорядочно ориентированных в пространстве. В виде образца для исследования в случае пластичных металлов или сплавов может служить проволочка диаметром 0,2-0,5 мм и длиной около 5— 7 мм. Если пропускать параллельный пучок рентгеновых лучей через такой порошковый образец О (фиг. 56), то в нём всегда найдётся большое число монокристальных крупинок, в которых данная плоскость (кк1) будет ориентирована по отношению к направлению луча под брэгговским углом 6. В то же время все эти попадающие под условие отражения плоскости (Нк11 не будут параллельны между собой в различных крупинках, поэтому в сумме все отражённые лучи дадут конус отражения с характерным для данной плоскости кк1) [c.166]

В рассматриваемый период бурное развитие получают оптические системы связи. В 1870 г, был изобретен светосигнальный прибор Манжена, который долго применялся в XIX в. в различных армиях. Он состоял из керосиновой лампы, расположенной в металлическом яш,ике. Пламя лампы, находившееся в фокусе линзы диаметром около 100 мм, давало параллельный световой пучок, прерыванием которого и подавались телеграфные сигналы по азбуке Морзе. Примерно в это же время (середина XIX в.), когда не только не существовало фотоприемников, необходимейшей части всякого оптико-электронного прибора, но и сам фотоэлектрический эффект ещ е не был открыт, делались попытки создать прибор для передачи и приема оптических сигналов, модулированных звуковой частотой. В качестве индикаторов приходящих сигналов применялись довольно грубые устройства, действие которых основывалось на тепловом нагревании световыми лучами. Понятно, что такого рода устройства не могли работать удовлетворительно они были мало чувствительны и обладали большой инерционностью. Только после развития техники изготовления фотоэлементов оптическая телефония получила основу для своего развития. В 1880 г. А. Г. Белл построил так называемый фотофон, состоящий из передатчика, модулированного звуковой частотой пучка лучей, и приемника с селеновым фотоэлементом. Вышедший из передающей станции параллельной пучок лучей падал на зеркальную мембрану микрофона и после отражения от нее направлялся к приемной станции. При колебаниях мембраны поверхность ее деформировалась и в зависимости от степени отклонения от плоскости пучок отраженных ею лучей становился более или менее расходящимся. В приемную часть, следовательно, поступало большее или меньшее количество света. 1880 г. можно считать годом рождения оптических систем связи. На протяжении последующих лет было разработано и описано различными авторами несколько систем оптических телефонов, различающихся между собой по преимуществу способами получения модулированного пучка световых лучей. Наибольший интерес представляет способ модуляции светового потока, предложенный в 1897 г. Г. Симоном. Он использовал в качестве источника излучения дуговую лампу, предложенную русским изобретателем П. Н. Яблочковым, установленную в фокусе передающего параболического зеркала. Излучение лампы модулировалось системой, состоящей из микрофона, трансформатора и источников питания. Дальность работы телефона Симона была в десять раз больше дальности работы фотофона Белла и достигала примерно 2,5 км. [c.379]

ТИ, определив направление отраженного луча МК. Очевидно, что угол между лучами ОК и КМ будет равен 2Q. Поскольку известно, что лучи проходят центр объектива без преломления, проведем луч, параллельный КМ, через точку И. Этот луч явится продолжением луча 0L после прелом-пения его в объективе и отражения от плоскости зеркала в точке Р. При пересечении фокальной плоскости объектива JTOT луч определит положение изображения точки О в точке Оз. [c.113]

Одну половину расхождений по высоте изображений автоколлимационного перекрестия, отраженного от противоположных граней призмы, устраняют, регулируя установочными винтами столика, другую — установочными винтами автоколлиматора. Аналогично выверяют призму относительно двух других ее параллельных граней. Выверяют до тех пор, пока изображение автоколлимационного перекрестия, получаемое отражением от любой грани, не будет по высоте совмещено с одним и тем же штрихом минутной шкалы. Изменение положения автоколлимационного перекрестия по высоте допускается в пределах допуска на пирамидальнос1ъ призмы. [c.390]

Рис. 14-7. Ко9ффициент облученности при теплообмене между двумя плоскими параллельными телами с учетом отражения от иет плопроводной оболочки, соединяющей тела I и 2. Обозначения см- p i . 14-6

ВОЛНОВОД МЕТАЛЛИЧЕСКИЙ — цилиндрич. или изогнутая труба, внутри к-рой могут распространяться эл.-магн. волны. Чаще всего используют В. м. прямоугольных и круговых сечений прямоугольные и круглые волноводы). Возможность существования волн внутри металлич. трубы была теоретически установлена Рэлеем (Дж. У. Стреттом) (Rayleigh, ]. W. Strutt) ещё в кон. 19 в. Широкое развитие волноводной техники связано с освоением сантиметрового диапазона волн в кон. 30-х гг. 20 в. В настоящее время В. м, применяют также и для волн дециметрового и миллиметрового диапазонов. Механизм распространения волн в В. м, обусловлен их многократным отражением от стенок. Пусть плоская волна падает в вакууме на идеальную отражающую металлическую плоскость =0 (рис, l)j причём электрическое поле Е волны параллельно этой плоскости. Суперпозиция падающей и отражённой [c.308]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...