Светлое поле

При исследовании поверхности металла под микроскопом непосредственно после полировки можно обнаружить на общем светлом поле отдельные темные или серые точки и линии, которые могут представлять собой как неметаллические включения (оксиды, сульфиды, шлаки, силикаты, фа-фит, нитриды), так и неустраненные полировкой дефекты поверхности образца (раковины, микротрещины, следы обработки). [c.311]

Протравленная поверхность шлифа обычно исследуется при вертикальном освещении (светлое поле) (рис. 3). Только в особых случаях применяют другое освещение, например темное поле, косое освещение, поляризованный свет или фазовый контраст . [c.11]

При переходе от светлого поля к темному создается разница в соотношении освещения. Метод темнопольного освещения используют для проверки полированной поверхности шлифа на [c.11]

Целесообразность применения поляризованного света для исследования травленых образцов меди и ее сплавов подтверждена Шварцем [24]. В работе [45] предложено использовать поляризованный свет для исследования травления поверхности зерен большинства металлов и сплавов ( оптическое окрашивание ). При повороте объектного столика меняется окраска в каждом азимуте. Самая интенсивная окраска наблюдается при положении, перпендикулярном к плоскости колебания света. При повороте объекта на 90° поверхность зерна окрашивается иначе. Поверхности зерен изменяют свою обычную окраску в светлом поле от светло-коричневой до темно-коричневой, если анализатор поворачивают на 90°, т. е. НИКОЛИ расположены параллельно. [c.14]

Вследствие этого штриховое травление применяют для определения ориентации зерен, так как штриховка зерна представляет вектор направления роста кристалла, в то время как при выявлении поверхности зерен каждое зерно в светлом поле приобретает определенную освещенность. На октаэдрической поверхности штрихи не имеют предпочтительной ориентаций, на додекаэдрической поверхности они лежат параллельно грани куба. [c.30]

Фотопластинки пригодны для проецирования и увеличения в микроскопах проходящего света, поскольку сульфид серебра практически не имеет зеренной структуры. На рис. 20 показан увеличенный участок одного такого отпечатка, сфотографированный в проходящих лучах в светлом поле. [c.59]

Название оптическое выявление структуры не вполне уместно для данного метода. Понятие интерференционные цвета уже давно принято в практике металлографических выявлений структуры (методы горячего травления на воздухе, травление реактивами, образующими поверхностные слои). Для всех этих видов выявления структуры достаточно уже обычного света (отраженные лучи, светлое поле), в то время как эффект оптического цветового травления возникает только при использовании поляризованного отраженного света и гипса красного. [c.97]

Включения исследуют при больших увеличениях (1000— 1500 раз) в светлом поле и поляризованном свете (+N). Чтобы создать рассеянный белый свет, применяют матовое стекло. [c.179]

В табл. 10 приведена окраска различных включений при применении светлого поля и поляризованного света (+Л )- [c.179]

Ри 6. Картины изохром, обусловленные усадочными напряжениями в моделях волокнистого композита Вверху — светлое поле, внизу — темное поле. [c.505]

Рис. 7. Картины изохром в моделях композита с квадратной укладкой включений при параллельной нормальной нагрузке (расстояние между включениями Д// = 1). Вверху — светлое поле, внизу—темное поле нагрузки указаны в фунт/дюйм (1 фунт/дюйм 0,07 Кг/см ).

С помощью данного микроскопа можно наблюдать и фотографировать микроструктуру металлических образцов в отраженном свете, в светлом поле при прямом и косом освещении. [c.92]

Как уже отмечалось, микроскоп позволяет наблюдать микроструктуру образца в светлом поле, при прямом и косом освещении. В светлом поле при прямом освещении нить лампы источника света 1 проектируется коллектором 2 и осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 4. Диафрагма 5 коллектора 2 проектируется осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 6. Апертурная диафрагма 4 проектируется осветительной линзой 7 в плоскость выходного зрачка объективов 8 или 9. Полевая диафрагма проектируется осветительной линзой 7 в бесконечность. Так как объективы 8 и 9 рассчитаны на длину тубуса бесконечность , то изображение полевой диафрагмы проектируется объективами в плоскость предмета. [c.93]

В светлом поле при косом освещении наблюдение осуществляется смещением апертурной диафрагмы 4 при включении в ход лучей объектива 8 или 9, полупрозрачной пластинки 10, ахроматической линзы 11 и окуляра 12, [c.95]

Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.99]

Наблюдение в светлом поле при прямом освещении осуществляется с помощью объектива 7 или 8, полупрозрачной пластинки 9, ахроматической линзы 10 и окуляра 11. При использовании косого освещения смещают апертурную диафрагму 3 и в ход лучей включают объектив 7 или 8, полупрозрачную пластинку 9, ахроматическую линзу 10 и окуляр 11. Наблюдение с фазовым контрастом ведут при включенных линзах 25, 26, световом кольце 27 и фазовом кольце 28 ахроматическая линза 10 должна быть выведена из хода лучей. Для проверки совмещения фазового и светового колец в ход лучей включается линза 29. Контрастность изображения при всех видах работ повышают включением в ход лучей сменных светофильтров 80. [c.101]

Для усиления контрастности деталей микрорельефа, образующегося на поверхности исследуемого образца, может быть использовано темнопольное освещение, при котором элементы структуры, имеющие в светлом поле слабую контрастность, становятся резко контрастными в темном поле. При темнопольном освещении пучок света проходит мимо объектива и направляется на образец вогнутым отражателем. [c.101]

Оптическая система установок ВМС-1 и ВМД-1 обеспечивает возможность наблюдения образца в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.136]

Осветительная система микроскопа состоит из источника света 1 — ртутной лампы сверхвысокого давления типа ДРШ-100-2, коллектора 2, проектирующего светящуюся плазму лампы в плоскость апертурной диафрагмы 3. Последующий путь светового потока зеркало 4, осветительная линза 5 и светоделительное зеркало 6. Последнее обладает соотношением коэффициентов отражения и пропускания Г = 1 2 и установлено под углом 45° к оптическим осям светового потока осветителя и микроскопа при этом исследуемый образец 7 освещается и изучается в прямом светлом поле. [c.138]

При съемке в светлом поле получались контрастные отпечатки, хорошо выявлявшие зерна и их контуры границы зерен были белого, а поры — черного цвета. Фотографический отпечаток, сделанный на бумаге однородной толщины, и вырезанные по контуру места зерен взвешивались на аналитических весах отношение веса последних к весу всего отпечатка давало число сплошности к. Определяя значения числа к за разные периоды испытания и нанеся их на график, можно было определить графически общую площадь зерен по соотношению [c.70]

Светлое поле полярископа. Если анализатор устанавливается так, что его плоскость колебаний располагается вертикально (параллельно плоскости колебаний поляризатора), то вектор выходящего света выражается следующим образом [c.43]

Ф и г. 2.5. Круговой полярископ со светлым полем. [c.44]

Первый элемент состоит из обычного плоского поляроида, к которому приклеена четвертьволновая пластинка, оси которой наклонены под углом 45° к плоскости колебаний плоского поляроида. Последний помещают снаружи всей установки, и он служит поляризатором. Второй элемент представляет собой точно такой же склеенный круговой поляроид. Плоский поляроид, являющийся анализатором, также помещают снаружи, а оси четвертьволновой пластинки устанавливают иод углом 90° к осям первой пластинки. Получается полярископ со светлым полем. [c.48]

Проверьте аналитически, что другие возможные способы получения темного и светлого поля (фиг. 2.4 и 2.5) в круговом полярископе эквивалентны способам, рассмотренным в настоящей книге. [c.60]

При темпом поле (слева) темные полосы имеют порядки О, 1, 2 и т. д., а при светлом поле (справа) — 0,5 1,5 2,5 и т. д. [c.71]

Фиг. 3.7. Ступенчатый растягиваемый по оси стержень (порядки полос, как и напряжения, относятся как 5 3 1). а темное поле б —. светлое поле.

Принцип осуществления опытов понятен из фиг. 5.4, где воспроизведены полученные при светлом поле полярископа фотографии картин полос, соответствующие третьему этапу испытания. Балку, которая распределяет нагрузку на нижние диски, необходимо было поддерживать для того, чтобы вся конструкция не потеряла устойчивости. Результаты этого опыта приведены в табл. 5.6, где указаны порядки полос в центре наименее нагруженного диска и коэффициенты, на которые их нужно умножить, чтобы получить экспериментально измеренные порядки полос в других дисках. За первые 48 час испытания эти коэффициенты постоянны в пределах 2%, обнаруживая затем тенденции к небольшому уменьшению. Такое снижение можно, вероятно, объяснить продолжающейся полимеризацией, которая в таких [c.129]

Результаты. Для каждого испытания фотографировали картину полос в темном и светлом поле (фиг. 9.4). Основная серия опытов [c.238]

Обнаружение дислокаций и включений в монокристаллах кремния методом визуального наблюдения на экране ЭОП или фоторегистрации на инфрахрома-тической пленке. Контроль в проходящем и отраженном свете, в темном и светлом поле в видимых и ИК-лучах [c.107]

Визуальный контроль полупроводников бескислородных стекол и других материалов. Наблюдение в отраженном и проходящем свете — темном и светлом поле, а также в поляризованных лучах (ортоскопия и коноскопия) [c.107]

Рис. 3. Принципиальная схема освещения для создания светлого поля. Сплошная линия — падающие лучи, пунктирная — отраженные луян

Рис. 5. Нетравленый стальной образец в светлом поле и в темном поле, Х200

Оптическая схема высокотемпературного микроскопа с зеркальнолинзовыми объективами приведена на рис. 48. При наблюдении объекта в светлом поле нить лампы источника света J проектируется коллектором 2 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 3, а диафрагма коллектора — линзой 4 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 5. Линза 6 проектирует полевую диафрагму в бесконечность. [c.99]

При просвечиванни модели в круговом полярископе с темным и светлым полем получаются два семейства полос. При томном поле возникают полосы целого порядка, а при светлом поле полосы половинного порядка, располагающиеся между полосами пер- [c.70]

Порядок полос (изохром) в точке определяют двумя основными методами. При первом из них фотографируют картину полос, вычерчивают график изменения порядка полос вдоль некоторой линии, а порядок полос в рассматриваемой точке определяют с помощью этого графика путем интерполяции или экстраполяции. Этот способ особенно удобен при достаточном числе полос. Другой метод состоит в непосредственном оптическом измерении порядка полос в данной точке. В круговом полярископе можно определить точки, в которых относительное запаздывание равно целому числу, полуволн порядок полос равен О, 1, 2, 3. . ., если полярископ настроен на темное поле, и V2, IV2, 2 /г. . ., если полярископ настроен на светлое поле. В произвольной точке модели, где дробная часть порядка полос отличается от Va, можно, добавляя или Бычитая дополнительную разность хода, сделать общий порядок [c.98]

Фиг. 7.1. Зафиксированная картина полос интерференции вращающегося диска из марблет-та, полученная по методу ползучести при светлом поле полярископа.

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...