Метод темно

Рис. 15.9. Разрез специального конденсора для осуществления метода темного поля.

Микроскоп 329 —. метод темного поля 362 —, — фазового контраста 362 —, разрешающая способность 330, 348—357 [c.923]

На рис. 6.13 приведено сопоставление экспериментальных значений в циклах с односторонней (треугольники) и двусторонней (кружки) выдержкой при температурах 650 и 750 °С (последние отмечены крестиками) и результатов расчета Nj, по предлагаемому методу (темные точки) и методу разделения размаха (светлые точки) [95 . Константы, необходимые для расчета, были определены по данным одних и тех же испытаний. Как видно, предлагаемый метод обеспечивает несколько лучшее (вполне удовлетворительное, учитывая естественный разброс данных) соответствие с экспериментом, чем метод разделения размаха. Рис. 6.14 представляет результаты сопоставления расчетных (6.20) и экспериментальных значений долговечности того же материала при неизотермическом нагрул ении 1 — испытания без выдержек, 2 — выдержка при 750 °С, 3 — выдержка при 650 °С, 4 — двусторонняя выдержка при 650 и 750 °С). Для простоты было принято Dp(T) == О, т 1,67 это позволило ис- [c.137]

Фиг. 7. Ход лучей при методе темного поля в проходящем свете.

Ввиду того, что при методе темного поля изображение образуется только рассеянными лучами, имеющими слабую интенсивность, для уверенной работы необходимо применять наиболее яркие источники света. [c.15]

Бинокулярный тубус снабжен сменными оптическими системами для получения трех ступеней увеличения при одном и том же объективе и окуляре. Это создает большое удобство в работе, быстроту перехода от одного увеличения к другому и позволяет значительно уменьшить комплект окуляров. Кроме того, в тубусе имеется система, позволяющая наблюдать выходной зрачок объектива. Последнее необходимо при настройке освещения для работы по методу темного поля или фазового контраста. [c.46]

Микроскоп позволяет проводить исследования методом темного поля в отраженном свете и методом фазового контраста. [c.72]

Поляризатор 5 и анализатор 13 включаются в систему одновременно. При переходе от метода светлого поля к методу темного поля полевая диафрагма 6 заменяется диафрагмой 7. В зависимости от метода наблюдения в систему включается один из следующих элементов зеркало 8 для темного поля, полупрозрачная [c.89]

Освещение по методу темного поля подробно описано в разд. I. Следует сказать, что при работе с конденсором ОИ-10 в темном поле апертура объектива не должна превышать величину 0,7. [c.168]

Конденсор (фиг. 90) состоит из корпуса 1, в нижней части которого находятся ирисовая апертурная диафрагма для работы методом светлого поля и кольцевая откидная диафрагма 2 для работы методом темного поля. При работе в темном поле апертурная диафрагма полностью открывается. Сверху в корпус вворачивается оправа 3 с оптической системой конденсора. [c.168]

Детально разработанная фурье-оптика дифрагирующих световых пучков базируется на простых и наглядных идеях, сформулированных, по существу, еще в прошлом веке. Теория дифракции Фраунгофера основывается на интегральном соотношении, показывающем, что угловой спектр поля, регистрируемый в дальнем поле или в фокальной плоскости линзы, определяется преобразованием Фурье от распределения комплексной амплитуды поля на входной апертуре. Многие практические успехи фурье-оптики основаны на продемонстрированных Аббе возможностях влиять на изображение, изменяя амплитуды и фазы спектральных компонент в фокальной плоскости. Классические примеры этой техники — метод темного поля и метод фазового контраста. [c.33]

Предположим, что мы записали голограмму наилучшего качества, обработали ее и с нее восстановили изображение. Рассмотрим теперь, каким образом можно исследовать действительное восстановление изображения с помощью стандартных методов микроскопии. Если линза, применявшаяся в процессе регистрации голограммы, при восстановлении изображения снова помещается на то же самое место, что и при записи, то весь свет, не дифрагировавший на объекте, собирается в фокус (рис. 4). Помещая в фокус линзы непрозрачную заслонку, можно получить освещение по методу темного поля. А помещая в фокус линзы фазосдвигающий элемент, можно получить освещение по методу фазового контраста. [c.630]

Следовательно, поглощающий предмет будет виден теперь ярким на темном фоне, как в методе темного поля . В то время как в обычном методе светлого поля интенсивность приблизительно равна [c.244]

Восстановление по методу темного поля [c.298]

Один из менее благоприятных случаев, который часто встречается, это восстановление более или менее прямого и резкого края протяженного предмета. Для простоты мы обсудим лишь случай поглощающей полуплоскости, ограниченной прямым краем. Восстановление дает одно резкое изображение, но за ним на расстоянии 2zo появляется изображение- двойник в виде сопряженной плоскости с протяженной системой полос Френеля, которые могут быть настолько контрастными, что маскируют даже изображения немного отступающих от края малых предметов, которые сами по себе могли бы быть весьма подходящими предметами для дифракционной микроскопии. Покажем теперь, что в этом весьма неблагоприятном случае результат может быть значительно улучшен с помощью метода темного поля. Как уже говорилось, в этом методе прямая, или освещающая, волна устраняется после того, как она пройдет голограмму, с помощью малого, предпочтительно размытого черного пятна, наложенного на действительное изображение отверстия источника. Размытие , т. е. распределенное пропускание пятна, приводит к тому, что дифракционные полосы, которые могут возникнуть в случае резко ограниченного пятна, здесь отсутствуют. [c.298]

Но если подавлен фон, картина полностью изменяется. Усиления полос не происходит, интенсивность, как показано на рис. 13, определяется суперпозицией двух краевых волн, причем одна из них сфокусирована, а вторая нет. Обе волны несут равную полную интенсивность, т. е. площади под кривыми равны. Но если предел разрешения мал по сравнению с (A,гo) интенсивность в резком изображении может быть намного больше, чем в побочном изображении. Таким образом, становится видимым правильный контур предметов, причем с очень большим контрастом, и при подходящих условиях изображение может не сильно отличаться от изображения, полученного по методу темного поля, в котором двойник полностью отсутствует. Таким образом, комбинируя методы светлого и темного полей и вообще наблюдения по методу фазового контраста, можно получить больше правильных деталей даже в случае неподходящих предметов. Это хорошо подтверждается предварительными наблюдениями в оптических экспериментах. [c.301]

Метод темного поля [c.244]

Метод темного поля. Детали предметов, меньших значений е, определяемых формулой (36.25), в оптическом диапазоне различать нельзя, но детектировать наличие частичек такого или меньшего размера можно. Это делается методом темного поля (рис. 190). [c.245]

I лазом в виде светящихся точек, форма которых не имеет ничего общего с формой частицы. Имеются и другие схемы наблюдения, в которых прямые лучи устраняются из поля зрения специальными конденсорами, но физическая суть метода темного поля остается, конечно, неизменной. [c.245]

Контроль диффузно-отражающих изделий, обнаружение включений по методу темного поля, измерение блеска, цвета и яркости поверхности [c.55]

При дальнейшем смещении апертурной диафрагмы конденсора относительно оси объектива до тех пор, пока световой пучок, направляемый конденсором на препарат, совсем не попадает в объектив, метод косого освещения превращается в метод темного поля в проходящем свете (рис. 2.26). В поле зрения микроскопа на темном фоне получаются светлые изображения частиц препарата за счет рассеянного им света. Метод применим для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле объектов. [c.36]

Рис, 2.3. Построение изображения и ход лучей в оптической системе микроскопа при освещении объекта отраженным светом а — по методу светлого поля I — объект 2 — конденсор 3 — выходной зрачок объектива 4 — пластинка Бека 5 — изображение объекта б — по методу темного поля 1 — объект 2 — объектив 3 — зеркало с асферической повер-х-ностью 4 — плоское кольцевое зеркало 5 — изображение объекта 6 — диафрагма. [c.37]

Для исследования препаратов методом темного поля применяется конденсор темного поля ОИ-13. Оптическая часть этого конденсора состоит из сферического выпуклого зеркала и линзы-кардиоида. С помощью двух регулировочных винтов и пружинного устройства оптическая часть может перемещаться в плоскости, перпендикулярной оптической оси, что обеспечивает центровку конденсора относительно оси микроскопа. Конденсор ОИ-13 применяется для работы с любыми системами объективов, при естественном или искусственном освещении. Апертура конденсора ОИ-13 составляет 1,2. С помощью такого конденсора можно установить наличие частиц, размеры которых лежат за пределами разрешающей способности микроскопа. В темном поле такие частицы имеют вид светящихся точек. [c.56]

Метод темного поля в проходящем свете (фиг. 7) применяется в биологии, коллоидной химии, минералогии и других областях, главным образом для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле, объектов. Пучок лучей, освещающих препарат, выходит из конденсора специальной конструкции (так называемый конденсор темного поля) в виде полого конуса и непосредственно в объектив не попадает. Изображение создается только светом, который рассеивается мелкоструктурными элементами препарата. В поле зрения микроскопа на темном фоне видны светлые изображения мелких деталей, тогда как у крупных деталей видны только светлые края, которые рассеивают освещающие лучи. По такому изображению нельзя с полной определенностью делать заключения об истинном виде и форме элементов структуры. При этом методе нельзя также по виду изображения определить — прозрачны частицы или непрозрачны, больший или меньший показатель преломления они имеют по сравнению с окружающей средой. Так как конус света, освещающего препарат в методе темного поля, должен иметь большой угол, чтобы даже при высокоапертурных объективах прямой свет не попадал в поле зрения, то между фрон- [c.14]

Метод темного поля в отраженном свете (фиг. 8) осуществляется путем освещения препарата, например, шлифа металла или биологической ткани, сверху с помощью специальной кольцевой зеркальной системы, расположенной вокруг объектива и называемой эпиконденсором. Так же как и при проходящем свете, изображение создается только лучами, рассеянными объектом, тогда как лучи света, вышедшие из эпиконденсора и зеркально отразившиеся от поверхности объекта, в объектив не попадают. [c.15]

ЧИНЫ 1,4. Конденсор темного поля — более сложная оптическая система, обеспечивающая освещение препарата полым конусом света с большим углом. Конденсор для освещения препарата при работе методом темного поля в отраженном свете представляет собой кольцеобразную зеркальную или зеркально-линзовую систему, в середину которой помещается объектив. Такой конденсор называется эппконденсором. В особую группу можно выделить зеркально-линзовые и линзовые конденсоры, прозрачные для ультрафиолетовых лучей и применяющиеся в ультрафиолетовых микроскопах. [c.22]

При наблюдении по методу темного поля после настройки освещения по Кёлеру следует нанести на конденсор каплю иммерсионной жидкости и установить его по высоте так, чтобы освещенное пятно на препарате было наименьшим. Наблюдая без окуляра выходной зрачок объектива, центрируют темный диск относительно выходного зрачка. Затем вставляют окуляр и проводят наблюдения. [c.27]

Конструкция микроскопа показана на фиг. 34. В основании 1 установлена стойка 2, на которой винтом 3 закреплен корпус 4 с оптической головкой 5. Снизу головки на салазках вставлен эпиобъектив 6. Центрирующийся патрон 7 с лампой помещен в патрубке 8 осветительной системы. В передвижной колодке 9 смонтированы сменные диафрагмы для светлого и темного поля. Рукоятка 10 служит для выключения полупрозрачной пластинки при переходе к освещению по методу темного поля. [c.76]

Конденсор ОИ-13 предназначен для освещения препаратов при их исследовании методом темного поля. Применяется конденсор для увеличения контраста при наблюдении слабоконтрастных объектов. [c.167]

Конденсор применяется с масляной иммерсией апертура конденсора 1,2. Конденсор рассчитан на предметное стекло толщиной не более 1,2 мм. При работе с высокоапертурными объективами необходимо уменьшить их апертуру до размера 0,85. В противном случае в объектив будут попадать прямые, не рассеянные, лучи, выходящие из конденсора, а это нарушит принцип освещения по методу темного поля. Для того, чтобы избежать этого при работе с высокоапертурным объективом, в выходной зрачок объектива помещают диафрагму, входящую в комплект конденсора. [c.167]

Конденсор ОИ-Ю — универсальный конденсор с увеличенным рабочим расстоянием, предназначенный для освещения препаратов как по методу светлого поля, так и по методу темного поля. Однако, он рассчитан для работы с объективами, апертура которых не больше 0,7. Конденсор применяется при работе, главным образом, с рабочими биологическими микроскопами. Расстояние от конденсора до препарата равно 10 мм, благодаря чему можно вести не только наблюдения, но и препарировальные работы с живыми объектами, находящимися в камерах и микрокюветах. Конденсор ОИ-10 устанавливается на микроскопе вместо обычного конденсора. [c.168]

Полезные сведения о динамике кавитационного процесса можно получить при одновременном, перекрестном наблюдении различных характеристик кавитации. В [37] одновремеяно наблюдалась оптическая неоднородность жидкости, вызываемая кавитацией, и переменное давление, создаваемое источником звука. На рис. 68 показана схема этой установки. Оптическая неоднородность наблюдалась методом темного поля. Дуговой источник [c.278]

Матрицы определитель 198 Ма гричный метод пасчета 188 Маха — Цендера интерферометр 159 Метод темно о пс 1я 245 [c.349]

Метод темного поля (см. рис. 2.36) в отраженном срете основан на том, что препарат освещается светом, передан йым от источника с помощью кольцевой зеркальной системы, расположенной вокруг объектива и состоящей из двух зеркал плоского кольцевого и с а [c.37]

При фотографировании непрозрачных частиц, обладающих хорошей отражательной способностью, а также полупрозрачных частиц (особенно при исследовании препаратов в виде шлифов) с использованием слабых и средних объективов лучше всего освещать препарать по методу темного поля. [c.78]

Эффект освещения по методу темного поля можно получить, применяя простейшие приемы. Одним из таких приемов является использование темнопольной диафрагмы (рис. 2.15). Ее изготавливают из тонкого листового материала (жести, алюминия, картона и т. п.) и покрывают с обеих сторон слоем матовой черной краски. При работе диафрагму вкладывают в круглый паз ирисовой диафрагмы конденсора (последняя полностью открыта). Внутренний диск диафрагмы не пропускает в конденсор центральные лучи светового пучка, а проходящие краевые лучи на выходе из него освещают препарат со всех сторон косым светом. Такую диафрагму применяют три съемке с объективами слабого увеличения и длин--нофокусными объективами среднего увеличения [22, с. 148]. [c.78]

При работе с сильными объективами эффект освещения по методу темного поля получают с помощьй) спёцй- [c.78]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...