Световой луч оптическая длина

Электронный микроскоп в общем аналогичен оптическому или световому микроскопу, но с той разницей, что для освещения образца вместо световых лучей с длиной волны около 500 нм применяют поток электронов с эффективной длиной волны порядка 0,005 нм. Это означает, что электронный микроскоп потенциально может обладать в 10 раз большей разрешающей способностью, чем оптический. В действительности из-за ограничений, обусловленных конструкцией электронных линз и методикой приготовления образцов, возможно разрешение лишь около 0,2 нм, а в повседневной работе — около 1 нм. Существенное повышение разрешающей способности позволило наблюдать и измерять особенности структуры на атомном уровне. Для полного использования разрешающей способности необходимо обеспечить большое увеличение. Лучшие микроскопы обладают огромным диапазоном увеличений от 200 до 500 ООО. Однако часто электронно-микроскопические исследования ограничены не возможностями микроскопа, а качеством приготовленного объекта исследования. Остановимся на этом вопросе несколько подробнее.. [c.61]

Обобщим результаты предыдущего параграфа на случаи произвольных оптических систем. Среды, в которых распространяются световые лучи, здесь предполагаются изотропными, но могут быть неоднородными. Таким образом, в общем случае световые лучи будут криволинейными. Пусть Р и Р — две точки с радиусами-векторами г и г, лежащие на одном луче. Оптическая длина луча, соединяющего эти точки, рассматриваемая как функция их координат, называется точечным эйконалом, или характеристической функцией оптической системы. Она была введена Гамильтоном (1805—1865) и оказалась весьма полезной при исследовании оптических изображений. Характеристическую функцию будем обозначать через Я = Я (г, г ). [c.123]

Пуассона v ). Если верхняя поверхность балки отполирована и на нее положена стеклянная пластинка, то после изгиба между стеклянной пластинкой и криволинейной поверхностью балки создается воздушный просвет переменной толщины. Эти переменные толщины можно замерить оптическим путем. Луч монохроматического света, скажем, желтого света натрия, перпендикулярный поверхности пластинки, будет частично отражаться пластинкой, а частично поверхностью балки. Два отраженных световых луча интерферируют друг с другом в точках, где толщина воздушной прослойки такова, что разность между длинами путей двух этих лучей равна нечетному числу световых полуволн. Таким путем получена картина гиперболических горизонталей, показанная на рис. 146, б. [c.297]

Планка 1 (рис. 10, а), установленная на образце 2, удерживается при помощи пружинной струбцинки 3. Одной опорой планки служит острие В, другой конец планки опирается на призму А ромбического сечения. Длина АВ, которую обозначим через I, называется базой прибора. К призме А прикреплено зеркальце (на рис. 10, а плоскость зеркальца перпендикулярна к плоскости чертежа). На некотором расстоянии D от зеркальца на особой подставке установлена линейка 7 с миллиметровыми делениями. Посредством оптической трубы 4 наблюдают отсчеты по линейке, отражаемой зеркальцем. Пусть в начале испытания по волоску трубы прочитывается некоторый отсчет п , определяемый точкой F на линейке световой луч 5 от этой точки падает под некоторым углом фх на зеркальце [c.19]

Для нас наибольший интерес представляют те лучи, возникновение которых определяется только температурой и оптическими свойствами излучающего тела. Такими свойствами обладают световые и инфракрасные лучи, т. е. лучи с длиной волны приблизительно от 0,4 до 800 мкм. Эти лучи и называют тепловыми, а процесс их распространения тепловым излучением или радиацией. [c.150]

В последнее время в промышленности используются оптические квантовые генераторы, называемые лазерами. Лазер представляет собой физический прибор, обладающий способностью в определенных условиях генерировать непрерывные или импульсные световые лучи, которые характеризуются высокой плотностью энергии и практически не расширяются даже при значительной длине. [c.395]

Лит. Гиббс Д ж.. Термодинамика. Статистическая механика. пер. с англ., М., 1982, гл- 12 К р ы л о в Н. С., Работы по обоснованию статистической физики, М,— Л,. 1950 Б а л е-с к у Р., Равновесная и неравновесная статистическая механика, лер. с англ., т. 2. приложение Эргодическая проблема, М.. 1978 Заславский Г, М., Стохастичность динамических систем, М,, 1984, гл. 1 Л о с н у т о в А. Ю., Михайлов А. С,, Введение в синергетику, М., 1990. Д, Н. Зубарев. РАЗНОСТНЫЙ тон — комбинационный тон с частотой 0)1 — Юа, возникающий в нелинейной акустич. системе при воздействии на неё двух звуковых колебаний с частотами о>1 и Особое значение Р. т. заключается в том, что он может оказаться в слышимом диапазоне частот, даже если 0)1 и ш, — неслышимые частоты, а это позволяет регистрировать сигналы с частотами ( 1 и Шд. РАЗНОСТЬ ХОДА лучей (в оптике) — разность оптических длин путей двух световых лучей, имеющих [c.248]

Фиксирование процесса, происходящего в пограничном слое осуществлялось с помощью интерферометра Маха-Цендера.Оптическая длина модели по ходу светового луча составляла 0,3 м. [c.186]

Тепловое излучение. Носителями лучистой энергии являются электромагнитные колебания с длиной волн от долей микрометра до многих километров. Для нас наибольший интерес представляют те лучи, возникновение которых определяется только температурой и оптическими свойствами излучающего тела. Такими свойствами обладают световые и инфракрасные лучи, т.е. лучи с длиной волны 0,5 - 800 мкм. Эти лучи называют тепловыми, а процесс их распространения — тепловым излучением. [c.299]

Приборы второй разновидности основаны на получении авто-коллимационного изображения. Автоколлимацией называется ход световых лучей, при котором они, выйдя из некоторой части оптической системы параллельным пучком, отражаются от плоского качающегося зеркала и проходят систему в обратном направлении. К этим приборам относят оптиметр вертикальный и горизонтальный оптический длиномер вертикальный и горизонтальный интерферометр измерительную машину гониометр. Приборы этой группы применяют для измерения методом сравнения с установочной мерой (размер концевых мер длины) или сравнением размера со шкалой, встроенной непосредственно в прибор. [c.206]

Лазерный дилатометр основан на интерференции двух световых лучей. Когерентный свет получают с помощью Не—Ne лазера (длина волны 0,633 мкм). Световой луч лазера разделяется на две части. После отражения от зеркал измерительный п опорный лучи складываются. При этом интерференция происходит из-за различия оптических путей измерительного и опорного лучей. Вследствие удлинения образца путь измерительного луча изменяется. [c.152]

В большинстве практических задач исследуемые неоднородности можно свести к двум типам двумерным и осесимметричным. В первом случае оптическая длина светового луча через различные участки неоднородности одинакова, во втором зависит от радиуса неоднородности. [c.126]

При увеличении длины оптического пути световых лучей в стекле, т. е. толщины стекла, поглощение в видимой части спектра усиливается и приобретает более отчетливо выраженный избирательный характер. [c.178]

Расстояния между атомами заключены в пределах 1—4 А. Поэтому дифракция на скоплениях атомов не может наблюдаться, например, в случае световых волн, имеющих длину в несколько тысяч ангстремов. Отсюда же следует и невозможность получения в световых лучах увеличенного изображения атомной структуры вещества, так как образование оптического изображения в конечном счете сводится к интерференционным явлениям. [c.8]

Радикальное увеличение разрешающей способности достигается в электронном микроскопе, где вместо световых лучей используются Электроны. Соответствующая электронам длина волны де Бройля K=h/ mv) при ускоряющем напряжении 10 кВ равна 10 " м, что уже меньше размеров атома ( 10 m). В формирующих изображение системах электронных линз (магнитных и электростатических) из-за больших аберраций используются только узкие параксиальные пучки-с малыми апертурами ( 0,01 н-0,1), и все же разрешающая способность электронного микроскопа в сотни раз больше, чем оптического. Это позволяет разрешать детали, всего в несколько раз превосходящие размеры отдельных атомов. [c.371]

Вычисление атмосферной оптической передаточной функции для длительной экспозиции, изложенное в 5, было основано на весьма ограничивающем предположении, что даже в случае наименьших турбулентных вихрей влияние возмущений показателя преломления сводится к задержке световых лучей, проходящих через них. Таким образом, геометрическое искривление лучей и дифракционные эффекты игнорировались. Длины путей, при которых это предположение строго выполняется, столь малы, что оказываются вне пределов практического интереса. [c.390]

Пусть теперь в ход среднего луча введена некоторая допол- нительная оптическая длина пути, например, плоскопараллельная пластинка К (см. рис. 3.4.1). Световое колебание, соответствующее среднему лучу, приобретает дополнительную фазу Р = (2яД)А, где A = t (n —1), причем 1 — толщина пластинки К, п — ее показатель преломления. Результирующее колебание по аналогии с формулой (3.4.3) будет иметь вид [c.135]

Пусть теперь в ход среднего луча введена некоторая дополнительная оптическая длина пути, например, плоскопараллельная пластинка К (см. рис. 6.1). Световое колебание, соответствующее среднему лучу, приобретает дополнительную фазу Р = (2л/Я)А, где А — й (п — 1) ( — толщина пластинки /С п — ее показатель преломления). [c.61]

Если необходимо, например, исследовать неоднородность газового потока, то часто используют интерферометр Цендера—Маха, в одну из ветвей которого помещают объект. Из-за неодинаковой плотности потока оптическая длина пути интерферирующих лучей в различных точках сечения светового пучка будет различной. Это и определит характер расположения и искривления полос. По виду картины можно найти численное значение изменения показателя преломления. В интерферометре Цендера—Маха при этом можно использовать свет небольшой монохроматичности, а плоскость локализации менять поворотом одного из зеркал (см. рис. 10.2). [c.152]

Удельная работа деления древесины лазером значительно выше удельной работы резания. Еще нет лазеров, созданных специально для резания древесины, но лазеры при мощности (в режиме непрерывного излучения), равной 20—50 вт, позволяют делить на части заготовку из древесины толщиной, равной 10 мм, со скоростью подачи 30—50 мм/сек и толщине прореза , равной 0,4—0,2 мм. Теоретически диаметр лазерного луча может быть уменьшен до длины световой волны, излучаемой квантовым генератором. Однако такое сужение луча оптическими линзами ведет к интенсивной концентрации энергии в самих линзах, способной их разрушить. [c.197]

Теплообмен излучением представляет собой такой вид теплообмена, при котором энергия переносится при помощи электромагнитных волн (или фотонов). Тепловое излучение — это излучение, определяемое только температурой тела и его оптическими свойствами. Перенос энергии в этом случае осуществляется световыми и главным образом инфракрасными лучами диапазон длин волн Я световых лучей 0,4—0,8 мкм, инфракрасных— 0,8—800 мкй. Излучение может быть монохроматическим, соответствующим узкому диапазону длин волн вблизи некоторого значения длины волну, которым оно и характеризуется, и интегральным, соответствующим всему спектру длин волн. При излучении с поверхности тел рассматривается обычно полусферическое излучение, которое распространяется по различным направлениям в пределах полусферического телесного угла, равного 2л (телесный угол измеряется отношением площади участка поверхности некоторой сферы, на которой участок вырезан этим углом, к квадрату радиуса сферы). [c.313]

Разность фаз световых волн в точке встречи связана с оптической разностью хода AL световых лучей и длиной К световых волн соотношением Дф = 2яД1Д. Поэтому усиление освещенности происходит в точках пространства, в которых оптическая разность хода когерентных световых волн равна четному числу полуволн [c.124]

Более совершенный гальванометр (например, гальванометр типа H.S. фирмы Лидс и Нортроп ) имеет чувствительность, равную - 3-10 в мм, и время установления 5 сек. В нашем случае он обеспечит точность измерения сопротивления порядка 5%. Очевидно, что в задачах рассматриваемого типа ток, протекающий через гальванометр при практически достижимом приближенном равновесии ( 10 а), не может оказывать прямого влияния па разность потенциалов между концами образца. Чувствительность можно улучшить путем увеличения длины светового указателя. Действительно, в таком гальванометре легко использовать световой указатель длиной 3 м (вместо обычного метрового). Другим путем увеличения чувствительности является применение остроумного и простого оптического умножителя, предложенного недавно Дофини [57] (фиг. 14). Вместо простого однократного отражения светового луча зеркалом гальванометра, которое отбрасывает луч на отсчетную шкалу, в умножителе применено многократное отражение от дополнительного неподвижного зеркала, расположенного вблизи поверхности зеркала гальванометра и примерно параллельного ей. Световой луч испытывает в умножителе ряд последовательных отражений от зеркала гальванометра прежде чем попадает на шкалу, и благодаря этому угловое отклонение зайчика соответственно увеличивается. Дофини получил удовлетворительные результаты, пользуясь гальванометром, который давал с его приспособлением шестикратное увеличение yrjroBoro отклонения. Количество отражений, естественно, зависит от размера зеркала гальванометра. При малых зеркалах обычно используется трех- или четырехкратное увеличение углового отклонения. [c.173]

Квантовая электроника использует новейшие достижения физики в исследовании квантовых процессов, происходящих внутри атомов и молекул вещества, при которых излучается электромагнитная энергия сверхвысокочастотных колебаний, с длиной волны около одного микрона, т. е. в области инфракрасных колебаний. Создаваемые при этом параллельные световые лучи огромной яркости позволяют сконцентрировать колоссальную энергию в малом объеме. Генераторы и усилители этого типа (лазеры и мазеры) могут быть отличным средством для космической связи и для оптических локаторов. Эти генераторы дают возможность использовать энергию высокой плотности и осуществлять новые впды химических реакций, сварки и плавления тугоплавких веществ и другие высокотемпературные процессы. Разработка новых материалов, обладающих квантово-оптическими свойствами, — одно из основных условий успеха в этой области. [c.4]

В так называемых одноосных кристаллах существует только одно выделенное направление, называемое оптической осью, вдоль которого световые волны одинаковой длины распространяются с одной и той же скоростью независимо от направления колебаний их электрических полей. Величина этой скорости зависит только от частоты световых колебаний (явление дис-нерсии). При распространении световой волны по какому-либо направлению, не совпадающему с оптической осью, она распадается на две волны (обыкновенную и необыкновенную) со взаимно перпендикулярной направлениями колебаний их электрических полей. Вектор Еа обыкновенной волны колеблется перпендикулярно к главной плоскости кристалла, проходящей через луч и оптическую ось. Вектор необыкновенной волны колеблется в главной плоскости. Скорость распространения обыкновенной волны (Уо), а значит, и коэффициент преломления обыкновенного луча (по), одинаковы по всем направлениям в кристалле. Скорость распространения необыкновенной волны (Уе), а значит, и коэффициент преломления необыкновенного луча (ле), зависят от направления. [c.232]

Иитерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия. [c.140]

ОПТИКА [ асферическая содержит элементы, поверхности которых, не имеют сферической формы просветленная обладает уменьшенными коэффициентами отражения света у отдельных ее элементов путем нанесения на них специальных покрытий) как оптическая система (волновая изучает явления, в которых проявляется волновая природа света волоконная рассматривает передачу света и изображений по световодам и пучкам гибких оптических волокон геометрическая изучает законы распространения света в прозрачных средах на основе представлений о световых лучах интегральная изучает методы создания и объединения оптических и оптоэлектронных элементов, предназначенных для управления световыми потоками квантовая изучает явления, в которых при взаимодействии света и вещества существенны квантовые свойства света и атомов вещества когерентная изучает методы создания узконаправленных когерентных пучков света и управления ими нелинейная изучает распространение мощных световых пучков в оптически нелинейных средах (твердые тела, жидкости, газы) и их взаимодействие с веществом силовая изучает воздействие на твердые тела интенсивного светового излучения, в результате которого может нарушаться механическая цельность этих тел статистическая изучает статистические свойства световых полей и особенности их взаимодействия с веществом тонких слоев изучает прохождение света через прозрачные слои вещества, толщина которых соизмерима с длиной световой волны физическая изучает природу света и световых явлений) как раздел оптики электронная занимается вопросами формирования, фокусировки и отклонения пучков электронов и получения с их помощью изображений под воздействием электрических и магнитных полей корпускулярная изучает законы движения заряженных частиц в электрическом и магнитном полях нейтронная изучае взаимодейс вие медленных нейтронов со средой) как раздел физики] [c.255]

Оптический эффект, полученный в результате исследо-йания объемной модели в полярископе, представляет собой суммарный эффект от всех напряженных состояний по длине пути светового луча, прошедшего объемную модель. Поэтому для определения напряжений в какой-либо внутренней точке или области объемной модели необходимо выделить эту область так, чтобы по пути светового луча напряженное состояние практически не менялось, т. е. было плоскилЕ (тонкий срез из объемной модели). [c.70]

ОПТИКА НЕОДНОРОДНЫХ СРЕД — раздел физ. оптики, в к-ром изучаются явления, сопровождающие распространение оптического излучения в оптически неоднородных средах, показатель преломления п к-рых не постоянен, а зависит от координат. Характер явлений и методы их исследования существенно зависят от характера изменения п и масштабд неоднородностей по сравнению с длиной волны света К. Оптич, неоднородностями являются поверхности или объёмы внутри среды, на (в) к-рых изменяется и. Независимо от физ. природы неоднородности она всегда отклоняет свет от его пер-вонач. направления. На поверхностях, разделяющих среды с различными н, происходят отражение света и преломление света. В среде с непрерывно изменяющимся п, когда относит, изменение п на расстояниях, сравнимых с очень мало (т. н. градиентная среда), световой луч, задаваемый величиной grad5 =п(1г1(13 в каждой точке волновой поверхности 8 х, у, г), меняет направление в зависимости от неоднородностей пространства, что приводит к его искривлению (рефракции). [c.424]

ОПТИЧЕСКАЯ ПЛОТНОСТЬ (В) — мера непрозрачности слоя вещества толщиной I для световых лучей характеризует ослабление оптич, излучения в слоях разл. веществ (красителях, светофильтрах, растворах, газах и т, п.). Для неотражающего слоя В — gIJI — к 1, где I — интенсивность излучения, прошедшего поглощающую среду — интенсивность излучения, падающего на поглощающую среду — поглощения показатель среды для излучения с длиной волны Я,, связанный с уд. показателем поглощения Хх в Бугера — Ламберта — Бера законе соотношением = 2,303х . О. п. может быть определена и как логарифм величины, обратной пропускания коэффициенту т слоя вещества Г) — lg (1/т). Введение О. п. удобно при вычислениях, т, к. она меняется на неск. единиц, тогда как величина /о// может для разл. образцов и на разл. участках спектра изменяться на неск. порядков, О. п, смеси нереагирующих друг с другом веществ равна сумме О. п. отд. компонентов. л. н. Напорский. [c.441]

Гирация, или вращение плоскости поляризации света, является еще одним примером оптических эффектов в анизотропных кристаллах. Плоскость колебания поляризованного светового луча по мере распространения его в оптически активном кристалле изменяет свою ориентацию — вращается. Величина угла гирации зависит от длины пути оптического луча в кристалле и от структуры кристалла. Наибольшей оптической активностью обладают жидкие кристаллы. Объясняется гирация асимметрией электронного строения оптически активной среды поляризация светового луча вынужденно следует за винтовым структурным расположением связанных в молекулах электронов — вторичных осцилляторов, возбуждаемых в кристалле проходящим светом. В некоторых кристаллах гирация может возникать или изменяться во внешних (управляющих) полях. [c.28]

Магнитные воздействия на прозрачные диэлектрики исследуются и используются в магнитооптике. Под действием магнитного поля наблюдается магнитогирация (эффект Фарадея), когда плоскость поляризации линейно поляризованного света вращается, причем угол поворота зависит от величины поля, длины пути светового луча в диэлектрике и свойств диэлектрика. Причиной маг-нитогирации является изменение в магнитном поле электронных свойств диэлектрика, вследствие чего оптический показатель преломления становится разным для света разной поляризации. [c.30]

При контроле отверстия методом непосредственного пропускания светового луча контролируется, строго говоря, не диаметр отверстия, а его контур. В оптических схемах диафрагмирования световой поток за изделием изменяется не только за счет изменения контролируемого размера, но и за счет рассеивания света. При этом степень рассеивания будет зависеть от качества поверхности и габаритных размеров йзделий, которые не контролируются. Так, например, при контроле отверстия колебание толщины изделия (длины отверстия) будет искажать результаты контроля размера отверстия. [c.204]

Принципиальная схема прибора Микрозил дана на рис. 11.37, а. Большое передаточное отношение (от 500 до 20 ООО) обеспечивается сочетанием пружинной передачи и оптического рычага. В приборе Микрозил передаточное отношение от пружинной передачи составляет 120, и от оптического рычага — 10. Общее передаточное отношение прибора составляет 1200. Измерительный шток прибора 1 присоединен к подвижной скобе 10, подвешенной на двух плоских пружинах 11 к неподвижной скобе 3, прикрепленной к корпусу прибора. На скобах 3 я 10 закреплены нижние концы двух плоских параллельно расположенных пружин 9. Верхние концы этих пружин жестко соединены между собой и с ножкой 8 козырька 5. Козырек находится между конденсором 6 я объективом 4 я при перемещении пересекает лучи света, идущие от источника света 7 к шкале 2. Шкала на всей ее длине освещена. При нажатии на измерительный шток козырек смещается и отсекает часть световых лучей, в результате чего часть шкалы оказывается затемненной. Отношение величины перемещения тени по шкале к соответствующему перемещению измерительного штока определяет общее передаточное отношение прибора. Отсчет показа- [c.358]

ОВФ-фазировка составных пучков имеет свои особенности, которые мы рассмотри.м на примере фазирования двух световых пучков в схеме опыта Юпга (рис. 4.22а) или интерферометре Майкельсона (рис. 4.226). Для первого пучка набег фазы на два прохода равен (/г,.Л1+ф1)—ф1, где 1, — оптическая длина пути, Л/г=/г —/г ,—До)/с=2лЛт (Лv в см ) — разность волновых чисел прямой и обратной волн, ф, — фаза, вносимая ОВФ-зеркалом. Аналогично набег фазы для второго пучка равен —фг, и разность фаз между двумя лучами определяется следующим выражение ем [c.182]

Л упревая постановка задачи расчета ДОЭ. В однородной среде световые лучи являются прямыми линиями. Расстояние между двумя точками на луче, умноженное на показатель преломления среды, называется оптической длиной пути. Функция оптической длины пути в зависимости от координат точки луча называется эйконалом. Фазой называется аргумент комплексной функции, описывающей любую из проекций электрического или магнитного векторов электромагнитной волны. Геометрическое место точек равного эйконала называется геометрическим волновым фронтом. Пучок лучей, выходя1цих из малой области на одном волновом фронте и входящих в соответствующую малую область другого волнового фронта, называется лучевой трубкой. Вдоль лучевой трубки поток интенсивности (произведение интенсивности на площадь световой трубки) сохраняется. В рамках геометрической оптики задача фокз сировки лазерного излучения эквивалентна поиску функции отображения (или преобразования) координат (u,v) в координаты (х,р), разделенных расстоянием f. Это отображение строится с помощью прямых световых лучей, соединяющих между собой точки обеих плоскостей. Так как луч перпендикулярен волновому фронту, то, зная ход лучей между двумя плоскостями, можно однозначно найти уравнение волнового фронта И (х, р, z) = onst. [c.27]

Фактор асимметрии и фактор эффективности Q д вл детально исследовались Ирвайном [33]. Точный численный расчет выявил наличие регулярной последовательности узких оптических резонансов. Ашкин и Дзидзик тщательно измерили зависимость силы светового давления от длины волны [34]. В частности, используя лазер на красителе с высокой спектральной однородностью выходного излучения, эти авторы исследовали силу светового давления, действующую на прозрачную масляную каплю, и обнаружили ряд узких резонансов, тем самым подтвердив результат численного расчета Ирвайна. Они показали также, что если сфокусировать луч на каплю таким образом, чтобы при этом не задевать края капли, то резонансы исчезнут. [c.463]

Если совокупность элементарных поверхностей образует математически определимую поверхность, отклонения которой от идеальной формы малы по сравнению с длиной волны, то такая поверхность называется оптически гладкой (полированной, зеркальной). Если же элементы плоскости по величине и направлен распределены неравномерно, то поверхность называется матовой (рассеивающей). Идеально отражающей является плоскость, которая отклоняет падающий пучок световых лучей по направлениям, определяемым законами отражения и прело.<1ления идеально рассеивающей (диффузной) является поверхность, которая при любом направлении падающих лучей отражает во все стороны приблизительно одинаковое количество энергии (к такому случаю близко подходит полированная гнпсовля поверхность). [c.525]

При рассмотрении аберраций выше считалось, что свет, проходящий через оптическую систему, монохроматический. Однако, как известно [27], прохождяше через оптическую систему светового не юнохроматического пучка (присутствует излучение все.х длин волн в некотором пнтервале) связано с дисперсией света, обусловленной зависимостью показателя преломления среды от длины волны излучения. Поэтому лучи, соответствующие, например, двум различным длинам волн и вошедшие в оптическую систему по одному направлению, пересекут плоскость изображения уже в двух различных точках. В связи с этим возникает хроматическая аберрация положения (разность расстояний от последней поверхности оптической системы до параксиальных изображений точки, образуемых лучами различных длин волн) и хроматическая [c.117]

Во вращающихся эмалеплавильных печах температура измеряется оптическими пирометрами, которые можно применять при измерении температуры выше 800°. Работа этих пирометров основана на использовании методов измерения температуры тела по его световому излучению. В промышленности широко применяются оптические пирометры с исчезающей нитью, принцип действия которых основан на сравнении в лучах определенной длины волны яркости исследуемого тела с яркостью нити пирометрической лампц, установленной внутри прибора. На наших заводах пользуются оптическими приборами ОП и ОППИР-09. Последний своей конструкцией выгодно отличается от других моделей пирометров. На рис. 36 показана схема. оптического пирометра типа ОППИР-09. В этом приборе телескоп пирометра представляет собой одно целое с показывающим прибором, что дает значительные преимущества в сравнении с оптическим пирометром ОП, состоящим отдельно из телескопа и показывающего прибора (миллиамперметра). Оптический пиро метр ОППИР-09 имеет два предела измерения 800—1400° и 1200—2000°. При переходе на второй предел необходимо ввести светофильтр 3. [c.240]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...