Оптика электронная

Автоматизация проектирования оптико-электронных прибо-Л17 ров Учеб. пособие для оптических специальностей вузов/ [c.2]

Оптико-электронный тракт может бь(ть существенно нелинейным, а для синтеза нелинейных систем в настоящее время нет еще удовлетворительного математического аппарата. [c.15]

Таким образом, формулировка задачи синтеза оптико-электронного тракта или разомкнутого ОЭП аналогич)1а хорошо известной задаче Винера [ 15], но для преобразования многомерного детерминированного сигнала. [c.17]

Среднее квадратическое значение уровня помехи на выходе оптико-электронного тракта определяется как [c.18]

Рассмотрим подробнее методику анализа чувствительности сигналов ОЭП к изменению его конструктивных параметров. Если для анализа одномерной части ОЭП проектанту достаточно оценить влияние изменения параметров объекта проектирования на форму сигнала или его одномерный спектр, то в многомерных звеньях такая оценка затруднена ввиду известных сложностей представления двумерных (в общем случае многомерных) сигналов. Поэтому если нет необходимости проводить анализ влияния изменения параметров на выгодной сигнал, а следует оценить лишь степень влияния того или иного параметра в сопоставлении с остальными, удобнее пользоваться интегральными оценками выходных сигналов. Для двумерных участков оптико-электронного тракта такой оценкой является [c.29]

МОДЕЛЬНОЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЕ МНОГОМЕРНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОГО ТРАКТА [c.39]

Выбор метода описания волнового поля источника излучения зависит от системы допущений на его ) арактеристики (монохроматичность, когерентность, поляризацию) и, кап показано ниже, определяет аппарат, с помощью которого описьшается преобразование оптического сигнала в оптико-электронном тракте. [c.42]

На системотехническом уровне оптическая система определяется совокупностью параметров и характеристик, выражающих ее действие в оптико-электронном тракте и позволяющих производить ее синтез, анализ и параметрическую оптимизацию. [c.46]

Необходимо отметить, что для современного этапа развития механики многофазных сред характерны экспериментальные исследования, интенсивно проводимые с целью изучения физических особенностей процессов движения и накопления их количественных характеристик. Однако опытное изучение таких течений связано со значительными трудностями, так как необходимо разрабатывать п применять новые методы измерений, позволяющие фиксировать дисперсность и скорости дискретной фазы, а также параметры течения газовой фазы. До сих пор такие методы окончательно не разработаны, но уже достигнуты результаты, показывающие, что напбо.тее перспектпвны.ми следует считать оптические, оптико-электронные и оптико-радиометрические методы измерений. [c.6]

Оптико-электронный тракт в совок /пности с сервоприводом и обратной связью к источнику излучения обргзуют класс ОЭП для определения координат и производных от координат источников излучения в процессе автоматического или полуавтоматического сопровождения источника излучения. Оптико-электронный тракт, на выходе которого установлен регистратор, образует класс ОЭП, предмазначенных для измерения и регистрации параметров излучения, а также неоптических величин. Этот [c.5]

Как уже отмечалось, для САПР характерно единство методологии на каждом уровне проектирования. Поэтому математическое обеспечение схемотехнического уровня САПР 0 Ш должно соответствовать математическому обеспечению системотехнического уровня, т. е. одни конструктивные параметры должны выражаться через другие. Схемы каждого из звеньев оптико-электронного трак-а являются основой для разработки проектной документации непосредственно для изготовления прибора, т. е. для решения конструкторских зада . Назовем уровень САПР, на котором осуществляется конструирование ОЭП, распределение объема, энергетических затрат и массы, уровнем рабочего проектирования. Выходной проектной документацией на этом уропне являются чертежи узлов и блоков ОЭП. [c.14]

Системотехнический уровень САПР ОЭП должен обеспечивать выработку ТЗ на проектирование звены в оптико-электронного тракта по известному ТЗ на объект проектирования в целом. Для выполнения такой работы необходимо [c.14]

Оптик о-электронный тракт преобразует сигнал переменной размерности, а математический аппарат для синтеза таких систем даже в линейном приближении не разработан. Если работу оптико-электронного тракта описать линейным опеоатором, то получим уравнение [c.15]

С учетом ограничений на объект проектирования сформулируем задачу синтеза ОЭП в общем случае, когда на вход оптико-электронного тракта поступают одновременно случай1ый и детерминированный сигналы, являющиеся адаптивными. Детерминированный сигнал является полезной компонентой и описьшается детерминированной функцией L (х, у), случайный сигнал - соответст g. илlй А (х, у). [c.17]

Оптико-электронный тракт синтезируе мого прибора с учетом фиктивного восстанавливающего звена имеет перераточную функцию [c.18]

На этапе синтеза ОЭП (см. гл. 2 п. 4) проектант получает представление о характере анализа изображения в оптико-электронном тракте и выбирает изменяемую часть прибора. В следствие неоднозначности решения задачи синтеза проектанту необходимо установить закон анализа изображения и закон сканирования изображения. Кроме того, в силу специфики постановки задачи синтеза остальные звенья оптико-электронного тракта выбраны только лишь с учетом настоящего уровня развития техники, значения их конструктивных параметров требуют уточнения. Для уточнения Ъхемы объекта проектирования необходимо провести выбор значений конструктивных параметров так, чтобы проектируемый прибор был оптимальным по ТЗ. [c.24]

При проектировании ОЭП эти Э1апы имеют более конкретную трактовку построение математической ivioflejm оптико-электронного тракта и изменяемой части ОЭП, определение тестового входного возмущения и желаемого выходного сигнала, опрелеление значений конструктивных параметров модели, обеспечивающих г олучение желаемого выходного сигнала минимальным количеством аппаратных средств. [c.24]

Таким образом, как и для мнстомерной части оптико-электронного тракта, задачу анализа удобнее ставить с позиций теории чувствительности. При этом частные производные дл определения функций чувствительности при анализе ОЭП можно вычислять аналитически. [c.28]

В этом случае целесообразно ввести в рассмотрение редуцированные энергетические характеристики объекта и изображения, учитывающие спектральные характеристики g (X) не только оптической системы, но и других звеньев оптико-электронно о тракта ( ) слоя пространства между объектом и оптической системой и (X) приемника излучения. Пространственный спектр редуцироканной освещенности в изображении оптической системы [c.52]

Это выражение являегся модельным представлением частично когерентного слоя пространства. Анализируя его, легко убедиться, что, как и для когерентного слоя пространс1ва, реализация такой магематаческон модели на ЭВМ сводится к операщш i вертки, которая легко реализуется с помощью алгоритма БПФ в частотней области. Таким образом, открывается возможность в качестве ядра м нематического обеспечения для модельного представления многомерных звеньев оптико-электронного тракта выбрать преобразование Фурье. [c.60]

Уравнение (51) отвечает также требованиям, предъявляемым к модели элементов оптико-электронного тракта как объекта проектирования. Оно наглядно представляет процесс пр< образования сигнала в анализаторе изображения и в то же время явным образом связано с конструктивными параметрами системотехнического уровня проектирования. В качестве таких параметров целесообразно рассматривать коэффициенты рядов, описывающих импульсный отклик h (х, j ) и закон анализа х = х (г), у = у(/). Как и в случае оптической системы, функцию h x, у) удобнее представлять в ЭВМ в форме двумернсго массива (матрицы) и в форме степенного ряда [c.61]

Учитывая сказанное, а также существующие методы описания ПЛЭ в оптико-электронных трактах ра пичньюс ОЭП [9], можно предложить структурную схему ПЛЭ, приведею1ую на рис. 10. Она состоит из входно- [c.64]

Использование идеальных спектр шьных характеристик ПЛЭ целесообразно на начальных этапах пapaмeтpи еской оптимизации ОЭП, когда уточняется спектральный диапазон его чувствительности, так как процесс оптимизации не сковывается рамками каталога ПЛЭ. Реальные спектральные характеристики ПЛЭ используются на завершенных этапах оптимизации ОЭП, когда окончательно формируется задание на ПЛЭ как элемент оптико-электронного тракта. Необходимость конкретизации спектральной характеристики и, следовательно, материала ПЛЭ вызывается тем, что в ряде случаев реальные спектральн1.1е характеристики могут существенно отличаться от идеальных. [c.66]

Модельное представление оптико-электронного тракта требует записи входного сигнала — яркостного поля в пространстве предметов в виде массива отсчетов (см. гл. 3). Наиболее уде бным для проектанта способом ввода этого массива в ЭВМ является устройство ввода полутоновых изображений (как телевизионного, так и фототелеграфного типа). Уровень развития техники позволяет осуществлять ввод изображений при числе отсчетов до 1024 X 1024 и при числе градаций до.256. [c.117]

Перспективным направлением в развитии вычислительных комплексов в целях достижения значительных скоростей обработки информации является создание многопроцессорных систем. Так, моделирование сложных оптико-электронных систем, проведение анализа протекающих в них процессов в реальном масштабе времени может потребовать высокой производительности обработки - по)5ядка 1 млрд. опер/с и вьппе. Требуемое быстродействие достижимо при использовании МВК. [c.122]

Принцип действия устройств ввода графической информации (считывателей координат) основан па считывании координат точек, совокупность которых формирует изображениэ чертежа. Устройством, осуществляющим считывание, может служить элементарная оптико-электронная система следящего типа. При этом коо здинаты расположения перекрытия автоматически вводятся в ЭВ.М, отожд( ствляя координаты контурных линий чертежа. [c.125]

Смотреть страницы где упоминается термин Оптика электронная : [c.17] [c.121] [c.793] [c.2] [c.2] [c.2] [c.3] [c.4] [c.6] [c.6] [c.7] [c.13] [c.13] [c.13] [c.13] [c.14] [c.14] [c.15] [c.15] [c.17] [c.19] [c.19] [c.23] [c.26] [c.29]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...