Освещение полу отраженное

Осветительная арматура 192, XV. Осветительная установка 192, XV. Освещение безопасности 199, XV. Освещение локализованное 199, XV. Освещение отраженное 194, XV. Освещение полу отраженное 194, [c.489]

Рис, 2.3. Построение изображения и ход лучей в оптической системе микроскопа при освещении объекта отраженным светом а — по методу светлого поля I — объект 2 — конденсор 3 — выходной зрачок объектива 4 — пластинка Бека 5 — изображение объекта б — по методу темного поля 1 — объект 2 — объектив 3 — зеркало с асферической повер-х-ностью 4 — плоское кольцевое зеркало 5 — изображение объекта 6 — диафрагма. [c.37]

Схема оптического устройства станка показана на рис. 14.. Световые лучи от лампочки I через линзы и стеклянную пластину 2 частично преломляются и идут вниз, создавая в окуляре 6 освещенное поле 3. Частично отражаясь от пластины 2, лучи попадают на поверхность зеркального валика и, также отражаясь от нее, попадают в окуляр 6. В поле зрения окуляра виден индекс 4, в просвет которого нужно ввести риску 5, отраженную от поверхности штриховой меры. [c.42]

Интерферометр работает в оптимальном режиме при коэффициентах отражения для крайних зеркал 1 = 7 3 = 0,8 и среднего зеркала Рч = 0,998. Для создания такого высокого коэффициента отражения в качестве средней пластины Р используется эталон Фабри—Перо с малым промежутком (см. 18). Объект исследования — газоразрядная аргоновая плазма, которая возникает в разрядной трубке Г, наполненной аргоном под малым давлением. Перед зажиганием разряда интерферометр должен быть настроен на равномерно освещенное поле. Для этого зеркала Р , Р и Р устанавливаются строго параллельно. После зажигания разряда в поле зрения интерферометра возникают интерференционные кольца. Интерферограмма такой плазмы представляет собой концентрические интерференционные кольца, соответствующие областям одинаковой разности фаз и, следовательно, одинаковой плотности частиц плазмы (рис. 23.2). Разность хода между лучами, образующими соседние интерференционные кольца, равна %. Эта разность хода набегает в результате того, что показатель преломления плазмы меняется от точки к точке вдоль радиуса трубки по определенному закону. Его можно экспериментально установить, если измерить расстояние между максимумами интерференционных полос и определить цену одной полосы. Изменение показателя преломления Ап соответствует изменению разности хода на одну длину волны X. [c.182]

В главных помещениях следует применять для стен матовую окраску мягких светловатых тонов (желтовато-зеленоватую, светлосерую) с коэф-том отражения <40%, а для потолков — белую с коэфициентом отражения <60%. Наилучшая система общего О. для главных помещений полу отраженное освещение и прямое с нижними светорассеивающими колпаками. Отраженное О. не имеет особых преимуществ по сравнению с другими системами. [c.102]

Для измерения прибор устанавливается на нуль. С этой целью стол опускается, к нему притирается установочная мера. Направив в трубку оптиметра зеркалом свет от какого-либо источника, наблюдают в окуляр. Там должно быть освещенное поле и часть шкалы. Грубая установка трубки оптиметра производится перемещением кронштейна 3, для чего вращают гайку 6 до тех пор, пока измерительный стержень не коснется установочной меры, что будет видно по движению изображения шкалы в поле зрения окуляра. Окончательная установка выполняется при помощи гайки 12 стол перемещается до тех пор, пока нуль отраженной шкалы не будет против указателя. Винтами 7 и 13 стопорится положение кронштейна и стола. [c.200]

Вкратце, метод состоит в следующем. Рассеянная акустическая волна падает на поверхность, заставляя ее колебаться с амплитудой, значительно меньшей оптической длины волны. Деформация поверхности регистрируется при освещении ее импульсным лазером, и на фотопластинке получается оптическая голограмма поверхности. Через полпериода (т. е. через половину миллионной доли секунды) второй импульсный лазер, расположенный на той же оси, что и первый, на ту же фотопластинку записывает вторую голограмму деформированной поверхности. Однако за время, прошедшее между двумя экспозициями, световой путь оптической опорной волны уменьшается на четверть оптической длины волны. Когда восстанавливается двухкомпонентная оптическая голограмма, то вариации яркости восстановленного изображения поверхности пропорциональны вызванным акустической волной деформациям, происшедшим между двумя импульсами. Полученное таким образом восстановленное изображение поверхности и является временной опорной голограммой акустического волнового поля, отраженного от поверхности. [c.126]

Вопросы дифракции плоской акустической волны на некоторых отражателях рассмотрены в 1.4. Здесь будет показано, как использовать результаты дифракционной теории для расчета акустического тракта, т. е. как учесть особенности полей излучения и приема преобразователя. Кроме того, в этом разделе изложены приближенные и (более простые) способы расчета отражения, пригодные, когда размеры отражателя больше длины волны энергетическое приближение, основанное на представлениях лучевой акустики, и метод Кирхгофа. Согласно последнему каждую точку освещенной поверхности плоского отражателя рассматривают как вторичный излучатель волн, а поле отраженной волны вне отражателя считают равным нулю. В приводимом далее выводе формул акустического тракта пе учтено затухание ультразвука. Чтобы учесть этот эффект, следует ввести во все формулы для контактных прямых преобразователей множитель e-2 где г — расстояние от преобразователя до отражателя, а для преобразователей с акустической задержкой — множитель , в котором Га и г в — средние пути ультразвука в задержке и изделии, а 6а и Ьв — затухание ультразвука в этих средах. [c.108]

Схема фотометра с применением кубика Люммера показана на рис. 3.12. Здесь и 2 — Два сравниваемых источника света 5 — белый диффузно разбрасывающий свет экран, вполне идентичный с обеих сторон и 8 — два вспомогательных зеркала Р Рч — кубик Люммера А — глаз наблюдателя и V — лупа, позволяющая визировать плоскость раздела кубика. При наблюдении мы видим центр кубика освещенным лучами, идущими от источника а внешняя часть поля освещается лучами от испытавшими полное внутреннее отражение на грани РгР - Если освещенность экрана 5 с обеих сторон одинакова, то граница между полями исчезает. Определяя соответственные расстояния 5 и мы найдем отношение сил света источников. [c.58]

В статье [58] описано устройство, состоящее из двухсторонней рейки и плоского зеркала, установленных на прямоугольной раме так, что в поле зрения трубы теодолита одновременно видны передняя и отраженная в зеркале задняя плоскости рейки. Но в условиях плохой освещенности здесь возникает задача подсветки не одной, а двух шюскостей рейки. [c.27]

Все названные зоны являются источниками волн дифракции, которые, распространяясь в разных направлениях, проникают как в освещенную область и интерферируют в ней с отраженными и преломленными волнами, так и в область тени, образуя суммарное поле в объекте. [c.34]

Рнс. 4. Принципиальная схема освещения для создания темного поля. Сплошная, линия — падающие лучи, пунктирная — отраженные лучи [c.11]

С помощью данного микроскопа можно наблюдать и фотографировать микроструктуру металлических образцов в отраженном свете, в светлом поле при прямом и косом освещении. [c.92]

В книге изложены результаты исследования закономерностей распространения волн и стационарных волновых процессов в упругих телах. Основное внимание уделено освещению тех свойств таких процессов, которые вследствие особенностей отражения упругих волн от границы не имеют аналогов в акустике и электродинамике. С этой точки зрения проведен количественный и качественный анализ волновых полей в полупространстве, составном пространстве, бесконечных слое и цилиндре. Детально исследованы особенности частотных спектров и собственных форм колебаний конечных пластин, в частности раскрыта природа краевого и толщинного резонансов. Показана возможность существования изолированных резонансов в областях типа полуполосы. [c.2]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

К методу светлого поля относится и так называемый метод косого освещения (как в проходящем, так и в отраженном свете). Он осуществляется путем смещения апертурной диафрагмы в направ- [c.13]

Микроскоп МБИ-11 — большая модель исследовательского микроскопа, предназначенная в отличие от предыдущих моделей, для наблюдения препаратов как в проходящем, так и в отраженном свете в светлом и темном полях. Микроскоп снабжен встроенным осветителем с лампой 100 вт, благодаря чему даже при темном поле создается освещенность, достаточная для фотографирования. [c.50]

Опак-иллюминаторы, иногда не совсем точно называемые осветителями отраженного света , предназначены для освещения объекта падающим сверху светом и для наблюдения их в прямых отраженных лучах (светлое поле) либо в рассеянных лучах (темное поле). [c.169]

Осветитель ОИ-12 применяется совместно с поляризационными микроскопами и предназначен для освещения непрозрачных объектов естественным и поляризованным светом и для их исследований в отраженном свете в светлом поле. [c.174]

В работе [238] приведены распределения функций плотности тока на одиночном цилиндре для ka = nxs =3,1 (X ж 2а). Оказывается, что при -поляризации амплитуда этой функции монотонна по периметру цилиндра и на освещенной области в среднем в шесть-семь раз больше, чем на теневой. Если рассматривать исследуемую решетку как систему независимых друг от друга излучателей, то в случае густой решетки (s < 1) для ка =3,1 мы должны были бы получить и поле под решеткой, в соответствующее число раз меньше отраженного. Реально для решетки при этих параметрах прошедшее поле оказывается равным нулю, вследствие сильного взаимного влияния проводов. Если S = 0,5, то для fea = 3,1 (и 2) при отсутствии взаимовлияния должно иметь место половинное прохождение. [c.67]

Однако и в этом случае освещение не получается достаточно однородным и обычно применяется просвечивающий экран, который может состоять из одного листа белой тонкой бумаги, или из двух листов с промежутком между ними или еще лучше из одного листа матового стекла, так как последнее дает очень хорошие результаты и может легко очищаться от пыли, оседающей очень быстро,, благодаря конвекционным потокам. Хотя эти способы получения достаточно однородного поЛя видимости значительно уменьшают интенсивность света, потеря все же не так велика, как при поляризации его, в виду того, что, как показали предыдущие исследования, при прохождении света через ряды стеклянных пластинок, установленных под углом поляризации, или при отражении света от такой системы получается очень слабое использование света. Наилучшее действие полу- [c.73]

На состояние освещения влияет степень отражения внутренних поверхностей производственного помещения. Коэффициент отражения для потолка и верхней части стены равен 0,70—0,65, для панели стены 0,60—0,40, для пола 0,40—0,15, для оборудования 0,55—0,25. [c.8]

Снимки, выполненные на рентгенопленке и фотокальке, расшифровываются в проходящем свете с помощью специальных осветителей — негатоскопов, которые рекомендуется использовать с регулируемой яркостью и размером освещенности поля. Снимки на фотобумаге расшифровываются в отраженном свете, при этом определяется тип дефекта сварного соединения и его размеры. [c.69]

Для физико-химических исследований применяется Р. системы Пульфриха, служащий для измерения показателей преломления и дисперсии прозрачных жидких и твердых тел при различных °..Р. сист. Пульфриха состоит из прямоугольной призмы с большим показателем преломления, на к-рую молшо накладывать й приклеивать хорошо пришлифованный цилиндрич. сосуд (фиг. 3) для жидкости, и из зрительной трубы, вращающейся около )азделейного на градусы круга. По другую сторону от зрительной трубы ставится монохроматич. источник.света—натровая горелка, свет от к-рой направляется скользящим пучком на горизонтальную грань вспомогательной призмы с помощью призмы полного внутреннего отражения, на к-рой наклеена собирательная линза. Зрительная труба устанавливается на бесконечность, что дает при сходящемся пучке равномерно освещенное поле. В трубу попадают лучи, угол преломления к-рых меньше угла преломления скользящего луча,—получается одна резкая граница, которую наводят на крест нитей, производят отсчет и с помощью таблиц определяют п. Для определения дисперсии о свешают призму трубкой Гейслера через конденсор. В поле зрения получается ряд цветных границ, соответствующих различному показателю преломления для различных длин волн. Цветные [c.355]

Оптическая измерительня машина Цейсса (в настоящее время не изготовляется), имеет металлическую шкалу с делениями, нанесенными с интервалом 100 мм, которые рассматриваются через стеклянную пластинку с двойным штрихом (юстировка с помощью стеклянного клина). Коэффициент теплового расширения материала шкалы выбирается близким к коэффициенту расширения большинства контролируемых изделий (лучше всего применять стеклянную шкалу). Штрихи шкалы освещаются с помощью проходящего света, отчего получается меньший нагрев шкалы, чем при освещении в отраженном свете, когда требуется более сильный источник света. Вдоль металлической шкалы по специальным направляющи.м скользит подвижная бабка (упорная). Кроме того, машина имеет так называемую короткую (или точную) 100-миллиметровую шкалу, разделенную на 0,1 мм, по которой устанавливается измерительная бабка, причем одно из делений точной шкалы всегда находится в поле зрения вместе с двойным штрихом и металлической шкалой. Определение 10- и 1-микронных делений производится с помощью оптиметра, расположенного на измерительной бабке. Наконечник оптиметра перемещается при соприкосновении с изделием. Оптическая схема машины представлена на фиг. 24-25. [c.421]

При параллельных зеркалах Мх и М полосы в квазимонохроматическом -свете имеют внд окружностей и локализованы в бесконечности. Они отличаются от полос равного наклона, рассмотренных в п. 7.5.1, только тем, что здесь нет многократных отражений, и, значит, распределение интенсивности находится в полном согласии с (7.2.15). Если М, приближается к М , полосы стягиваются по направлению к центру, а угловой масштаб картины возрастает до тех пор, пока Мг не совпадет с М при этом освещенность поля зрения становится равномерной и ее уровень зависит от ф. Тогда говорят, что зеркала М, и М находятся в оптическом контакте. Когда Мг и М близки и образуют клин с небольшим углом, полосы локализуются либо на поверхпости клина, либо вблизи нее. При достаточно малом расстоянии между А1г и М они являются полосами равной толщины и, следовательно, имеют вид эквидистантных прямых линий, параллельных ребру клина. При увеличении расстояния диапазон углов падения, соответствующих каждой точке поля зрения, и вариации среднего угла падения по полю зре1шя перестают быть незначительными, видность полос уменьшается, и они искривляются, обращаясь выпуклостью в сторону ребра клина. [c.279]

Дифракция звука на цилиндре больших волновых размеров. Асимптотическое суммирование ряда (18.33), определяющего рассеянное цилиндром звуковое поле, также можно выполнить методом Ватсона. Для абсолютно жесткого и абсолютно мягкого цилиндра преобразование рядов приведено в работе [103]. В отличие от задачи излучения для задачи дифракции интеграл по полупетле оказывается большой величиной. Вычислив его методом перевала, найдем, что полное поле в освещенной области складывается из падающей волны, волны, отраженной от цилиндра по законам геометрической оптики, и набора волн, обогнувших цилиндр целое число раз. Диаграмма рассеяния состоит из двух частей. Участок 2 (рис. 56) характеризует поле, отраженное от цилиндра по законам геометрической оптики. В этой области для абсолютно жесткого цилиндра диаграмма рассеяния имеет вид [c.184]

Во многих случаях достаточно знать среднюю сферическую силу света, т. е. значение полного потока, посылаемого источником, а не его распределение по различным направлениям. Такое измерение может быть произведено в так называемых интегральных фотометрах. Одним из таких фотометров служит шаровой фотометр Ульбрехта. Исследуемый источник подвешивается внутри полого шара К (рис. 3.14), внутренняя поверхность которого покрыта белой матовой краской. Белый матовый экран 5 защищает отверстие О на поверхности шара от действия прямых лучей источника. Если отражение света от внутренней поверхности шара К следует закону Ламберта, то освещенность Е отверстия О пропорциональна полному световому потоку Ф лампы [c.60]

Процесс захода волны во вторую среду можно наблюдать экспериментально. Толщина такого освещенного слоя тем больше, чем больше длина волны, и поэтому изучение его легче удается с длинными электромагнитными волнами. Так, Шеффер и Гросс, применяя электромагнитные волны с = 15 см, наблюдали их полное внутреннее отражение при помощи парафиновой призмы. Они могли убедиться в существовании волнового поля и во второй среде (воздух), помещая воспринимающий прибор (детектор) достаточно близко к поверхности парафина. Квинке осуществил опыт со световыми волнами, основанный на описанном явлении, пользуясь следующим приемом. Так как световое поле во второй среде может достигать заметных размеров на расстояниях, меньших длины световой волны, то, делая прослойку этой второй среды (воздух) тоньше X, мы заставим световое поле проникнуть при значительных еще амплитудах во второй слой стекла, где оно будет распространяться дальше по обычным законам и может быть исследовано, как обычно. [c.487]

И.чмеоения светимости поверхности 3 и измерения распределения освещенности в сечении 9 осуществляются с. помощью фотоэлемента 7, подключенного к измерительному П1рибору 8. При этом фотоэлемент обычно снабжается специальной насадкой и покрывается снаружи черной матовой краской (ил,и оклеивается черным бапхатом) с целью устранения отраженных от его поверхности лучей, которые могли бы внести искажение в исследуемое световое поле. Вне полости канала светящийся экран закрывается черной бумагой 6. [c.302]

ЗАКОН [Бера для разбавленных растворов поглощающего вещества в непоглощающем растворителе коэффициент поглощения света веществом зависит от свойств растворенного вещества, длины волны света и концентрации раствора Био для вращательной дисперсии в области достаточно длинных волн, удаленной от полос поглощения света веществом, угол вращения плоскости поляризации обратно пропорционален квадрату длины волны Био — Савара — Лапласа элементарная магнитная индукция в любой точке магнитного поля, создаваемого элементом проводника с проходящим по нему постоянным электрическим током, прямо пропорциональна силе тока в проводнике, абсолютной магнитной проницаемости, векторному произведению вектора-элемента длины проводника на модуль радиуса-вектора, проведенного из элемента проводника в данную точку и обратно пропорциональна кубу модуля-вектора Бойля — Мариотта при неизменных температуре и массе произведение численных значений давления на занимаемый объем идеальным газом постоянно Брюстера отраженный свет полностью линейно поляризован при угле падения, равному углу Брюстера, тангенс которого должен быть равен относительному показателю преломления отражающей свет среды Бугера — Ламберта интенсивность J плоской волны монохроматического света уменьшается по мере прохождения через поглощающую среду по экспоненциальному закону J=Joe , где Jo — интенсивность света на выходе из слоя среды толщиной / а — показатель поглощения среды, который зависит от химической природы и состояния поглощающей среды и от волны света Бунзеиа — Роско количество вещества, прореагировавшего в фотохимической реакции, пропорционально мощности излучения и времени освещения Бернулли в стационарном потоке сумма статического и динамического давлений остается постоянной ] [c.231]

Темнопольное освещение используется при наблюдении небольших областей, дающих диффузное отражение (трещины, ямки, поры, включения) в светлом поле при этом получаются феолы. Наблюдается увеличение контраста в случае, когда после полировки возник рельеф и в светлом поле особенности структуры плохо различимы. [c.177]

ВИДЫ отражения). Способы применения светопольиого освещения приведены на рис. 1.465. Наблюдения структуры в светлом поле нашли широкое применение в металлографии. [c.177]

Метод темного поля в отраженном свете (фиг. 8) осуществляется путем освещения препарата, например, шлифа металла или биологической ткани, сверху с помощью специальной кольцевой зеркальной системы, расположенной вокруг объектива и называемой эпиконденсором. Так же как и при проходящем свете, изображение создается только лучами, рассеянными объектом, тогда как лучи света, вышедшие из эпиконденсора и зеркально отразившиеся от поверхности объекта, в объектив не попадают. [c.15]

ЧИНЫ 1,4. Конденсор темного поля — более сложная оптическая система, обеспечивающая освещение препарата полым конусом света с большим углом. Конденсор для освещения препарата при работе методом темного поля в отраженном свете представляет собой кольцеобразную зеркальную или зеркально-линзовую систему, в середину которой помещается объектив. Такой конденсор называется эппконденсором. В особую группу можно выделить зеркально-линзовые и линзовые конденсоры, прозрачные для ультрафиолетовых лучей и применяющиеся в ультрафиолетовых микроскопах. [c.22]

Микроскоп МБИ-6 — универсальный исследовательский прибор, предназначенный для проведения всевозможных работ как с прозрачными, так и с непрозрачными препаратами. Микроскоп позволяет изучать микропрепараты различными современными методами исследования визуальное наблюдение и фотографирование в проходящем свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете, с фазовым контрастом, а в отраженном свете — в светлом и темном полях. Такое многообразие методов наблюдения позволяет всесторонне изучить препарат, а также проводить быстрое и удобное фотографирование. Фотографирование может производиться с помощью пленочной фотокамеры либо на фотопластинку. Источником света служит лампа накаливания мощностью 170 вт. [c.54]

Предметные стекла. Толщина предметных стекол не должна превышать 1 мм, в крайнем случае 1,2 мм. При большей толщине предметного стекла нельзя получить правильного освещения с апланатическим конденсором и конденсором темного поля. При проведении ответственных работ следует пользоваться плоскопараллельными стеклами с хорошими поверхностями. Если смотреть на отражение в стекле, например, окна, то в случае непарал-лельности сторон изображение окна раздвоится, а при плохом качестве поверхности предметного стекла изображение будет искаженным. [c.234]

Из (7.108) видно, что вне области G средняя интенсивность света в два раза выше, чем в пределах области С, при условии to(x, ) с = )U, уфс -Это объясняется тем, что световые поля, соотретствующие первой и второй зкспозициям вне области G, являются пространственно когерентными и интерферируют, тогда как в пределах области G вследствие нарушения микрорельефа зти поля оказываются пространственно некогерентными и, следовательно, складываются по интенсивности. В силу такого различия освещенности область С может быть выявлена и в зтом случае, однако с меньшей уверенностью, так как изображение G в зтом случае формируется на ярком фоне. Более того, амплитудный козффициент отражения может значительно изменяться на поверхности объекта и может быть в области С больше, чем на других участках поверхности, что еще больше затруднит ее выявление. Это означает, что пространственная ( 1лырация в темной полосе обладает очевидными преимуществами при решении рассматриваемой задачи. [c.185]

Голограмма образуется в светочувствительном материале (фотопластинке или фотопленке) в процессе его экспонирования в голографическом световом поле и дальнейшей фотохимической обработки. Голографическое световое поле образуется в результате когерентного сложения опорной волны света, направляемой непосредственно от лазера, и объектной волны, отраженной от объекта, освещенного тем же лазером. Возникающая интерференционная картина регистрируется в виде голограммнрй структуры. При этом каждый малый элемент фотоматериала регистрирует интенсивность объектных лучей света, падающих на этот элемент, независимо для каждого направления в виде изменения оптической плотности и показателя преломления слоя. Зарегистрированная в слое голограмма обладает свойствами дифракционной решетки. [c.11]

При освещении голограммы диффузно-рассеянным белым или монохроматическим светом полное изсбраженне объекта сфокусировано на самой голограмме, оно монотонно и контрастно по всему полю н наблюдается как в отраженном, так и в проходящем свете под углом Ок к оси голограммы (рис. [c.124]

Среди оптических экспериментальных методов, применяющихся в динамической механике разрушения, весьма эффективным и популярным стал так назьшаемый метод каустик [ 107 ]. Метод може- применяться с использованием проходящего света для прозрачных материалов и отраженного света для непрозрачных. Физическая основа метода состоит в следующем. Образец, содержащий вызванную концентратором (трещиной) сингулярность напряжений и нагруженный внешними силами, освещается параллельным пучком света. Повышение интенсивности напряжений в зоне, окружающей конец трещины, вызывает два эффекта уменьшает толщину пластины и изменяет показатель преломления материала. Следовательно, в первом приближении область, содержащая сингулярность напряжений, действует как рассеивающая линза, отклоняющая лучи света от оси пучка. Эти лучи образуют сильно освещенную сингулярную поверхность. При этом на экране, расположенном на удалении от образца и пересекающем эту поверхность, возникает сингулярная кривая (каустика), ограничивающая теневую зону. Метод каустик, таким образом, основан на преобразова ии сингулярного поля напряжений в оптическую сингулярность (каустику), причем размер каустик удается однозначно связать с коэффициентами интенсивности напряжений. [c.97]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...