Освещение темнопольное

При переходе от светлого поля к темному создается разница в соотношении освещения. Метод темнопольного освещения используют для проверки полированной поверхности шлифа на [c.11]

Для усиления контрастности деталей микрорельефа, образующегося на поверхности исследуемого образца, может быть использовано темнопольное освещение, при котором элементы структуры, имеющие в светлом поле слабую контрастность, становятся резко контрастными в темном поле. При темнопольном освещении пучок света проходит мимо объектива и направляется на образец вогнутым отражателем. [c.101]

Использование темнопольного освещения является чувствительным способом обнаружения мельчайших царапин на шлифе, а также получения видимой структуры с помощью высокотемпературного микроскопа. Оно применяется также при наблюдении частиц порошка. [c.177]

Рис. 1.5. Схема темнопольного освещения

При изучении включений на металлографическом микроскопе используют светло- и темнопольное освещение, а также поляризованный свет. Определяют такие признаки включений, как форма, цвет, прозрачность, степень анизотропии, деформируемость, микротвердость, взаимодействие с определенными химическими реактивами и др. Сопоставляя данное включение с эталонами и используя классификационные таблицы, его идентифицируют. [c.34]

В зависимости от того, падает ли свет на поверхность шлифа отвесно или под некоторым углом к ней, различают светло- и темнопольное освещение. [c.114]

Резкость и контрастность изображения. Резкость и контрастность изображения достигается сложной конструкцией объективов и окуляров, устраняющих частично или полностью оптические дефекты. Однако возможности микроскопа используются наилучшим образом, если исследователь правильно пользуется коллектором 2, полевой и апертурной диафрагмами. Кроме того, для увеличения оптического контраста многие микроскопы позволяют применять специальные методы исследования исследование при косом освещении , метод темнопольного освещения, наблюдение в поляризованном свете и др. [c.11]

Метод темнопольного освещения выгодно применять в том случае, когда исследуемый объект имеет фазы, по-различному рассеивающие свет (например, неметаллические включения в металлических сплавах, рельеф). При темнопольном освещении в формировании структуры прямые лучи не участвуют. Зеркально отполированная поверхность объекта при темнопольном освещении кажется темной, участки, вызывающие рассеивание света (рельеф, т. е. впадины, выпуклости), кажутся яркими. При исследовании неметаллических включений легко удается оценить прозрачность включений. [c.11]

Для темнопольного освещения линза 10 перемещается вправо, включается тем самым соседняя линза. На микроскопе линза 10 для светлого ноля обозначена буквой С, для темного поля — Т. [c.11]

В этом случае, хотя никаких подробностей увидеть невозможно, однако возможно обнаружить наличие этих деталей по дифракционной картине, так как каждая из них в виде, например, отдельных коллоидных частиц яв.ляется центром дифракционных колец. Последние сравнительно легко могут различаться только на темном фоне поля зрения микроскопа. Для темнопольных наблюдений конструируются специальные конденсоры, так как простое диафрагмирование обычного конденсора Аббе сильно ослабляет освещенность препарата. [c.64]

Освещение по методу темного поля в проходящем свете производится при помощи специальных темнопольных конденсоров. Простейший из них имеет в фокальной плоскости диа [c.43]

Темнопольное освещение, по существу, является разновидностью косого освещения. [c.147]

Темнопольную диафрагму можно применять с объективами слабого увеличения или с наиболее длиннофокусными объективами среднего увеличения. Фокусировка и центрировка конденсора производятся так же, как и при центральном освещении. [c.149]

При темнопольном освещении применяются хорошо полированные предметные и покровные стекла, тщательно промытые и очищенные от пыли и грязи. Пыль, царапины, следы расстеклования будут хорошо видны на темном поле в виде светящихся точек и полос, затрудняющих восприятие структуры объекта (рис. 81). [c.149]

Темнопольное освещение применяется при съемке колоний бактерий, коллоидальных химических растворов, кристаллов и т. п. [c.149]

Контраст изображения повышается при использовании косого или темнопольного освещения, при этом возникает подобие негативного изображения. Темные участки объекта становятся светлыми, а светлое поле — темным. При таком освещении хорошо различаются контуры объекта, но теряется его внутренняя структура. [c.153]

Для выявления отдельных мелких рельефных частиц на гладком поле (например, при исследовании неметаллических включений) целесообразно применять темнопольное освещение. [c.26]

Еще в конце XIX в. был создан первый металлографический микроскоп. Использование в дальнейшем более точных оптических систем, соответствующего освещения и вспомогательного оборудования для темнопольного освещения, фазового контраста, интерференционного контраста, поляризации и других дополнительных средств, позволяющих выявить дополнительные детали изображения, дало возможность улучшить этот микроскоп. Однако сам принцип оптического микроскопа (длина волны видимого света) ограничивает его разрешающую способность приблизительно 1750 Л (175 нм). [c.7]

При темнопольном освещении в отличие от вертикального освещения падающий световой пучок не проходит через объектив. Чтобы создать необходимые условия, на пути пучка помещают кольцеобразный экран, в результате чего пучок попадает на осветитель в виде кругового кольца. [c.12]

То же самое поле при темнопольном освещении с применением простого ахроматического объектива. Изображение дополняет ф. 101/4. Обратите внимание на искажение изображения на краях микрофотографии вследствие аберрации. [c.108]

Тот же участок при темнопольном освещении. [c.110]

Э/б. Темнопольное освещение. Видна сплошная сетка существующих границ, одновременно наблюдается сетка, образованная большим количеством фигур травления, как правило, неопределенной формы, которая соответствует следам границ железа после прокатки. Это демонстрирует промежуточные положения границ в процессе миграции во время отжига видно, что миграция не была непрерывной. Обратите также внимание на несколько нерастворившихся выделений на одной из старых границ. [c.114]

Темнопольное освещение. После большей степени деформации все еще обнаруживается точечная сетка, однако она все сильнее вытягивается в направлении прокатки с увеличением степени деформации. [c.114]

Чистое железо, отжиг при 950° С в течение 103 ч в среде водорода и охлаждение. Темнопольное освещение. Кроме существующих границ, показанных сплошными линиями, которые разделяют области большей частью различных цветов, видны также следы первоначальных а-границ. Они выявляются рядами фигур травления. Видна также незаконченная сетка из. довольно широких ячеек (от 10 до 50 мкм), границы которых характеризуются отсутствием фигур травления, и поэтому при. темнопольном освещении кажутся черными. Это — границы у-фазы. [c.114]

Слабодеформированная осевая зона видна структура исходного слитка — три больших дендрита на фоне более мелких дендритов. Два больших дендрита окружены областью с сильной ликвацией (черные). Темнопольное освещение выявляет белые дендритные оси. [c.60]

Область, соседняя с показанной на предыдущей микрофотографии, после слабого травления. При темнопольном освещении окисные частицы и границы зерен кажутся белыми. Окислы находятся на границах зерен и замедляют их рост. В нижней части микрофотографии имеется очень крупное зерно, появившееся в результате критической холодной деформации. Аналогичное влияние критической холодной деформации показано на микрофотографии 622/4. [c.69]

Тот же участок, что и на микрофотографии 628/5 темнопольное освещение с малыми углами падения. Ориентиро ванные зерна можно различить по светлым бликам, соответствующим фигурам травления. [c.70]

Метод темпопольного освещения. При темнопольном освещении в отличие от светлопольного свет не проходит через объектив. Пройдя через кольцевую диафрагму 1 (рис. 1.5), свет отражается от кольцевого зеркала 2, установленного на месте полупрозрачной пластинки, и попадает на зеркальную отражающую параболическую поверхность специального конденсора темного поля 3, который устанавливается на объектив или монтируется в одной оправе с ним (эпиобъектив). Такая система создает косое освещение объекта, при котором освещающий пучок имеет большую апертуру, чем в случае светлолольного освещения. Темнопольное изображение является обратным по отношению к светлопольному [c.26]

Темнопольное освещение используется при наблюдении небольших областей, дающих диффузное отражение (трещины, ямки, поры, включения) в светлом поле при этом получаются феолы. Наблюдается увеличение контраста в случае, когда после полировки возник рельеф и в светлом поле особенности структуры плохо различимы. [c.177]

При темнопольном освещении свет зеркального отражения от поверхностей зерен не позволяет получггть изображение. Поверхности зерен темные, на границах зерен— диффузное отражение. Только диффузноотраженные компоненты светового излучения позволяют получить изображение. При этом границы зерен светлые (рис. 1-469). [c.178]

Применение косого освещения увеличивает контраст благодаря образованию видимой тени, в то время как свет падает на поверхность под таким углом, что зеркальное отражение не попадает в объектив и доле зрения выглядит темным. Если угол отклонения луча от поверхности объекта может быть измерен, становится возможной количественная оценка угла наклона поверхности. Подобную функцию выполняет темнопольный диафрагмирующий микроскоп он аналогичен устройству, используемому в широко известном методе Шлирена для исследования полос деформации в металлах. [c.365]

Эффект освещения по методу темного поля можно получить, применяя простейшие приемы. Одним из таких приемов является использование темнопольной диафрагмы (рис. 2.15). Ее изготавливают из тонкого листового материала (жести, алюминия, картона и т. п.) и покрывают с обеих сторон слоем матовой черной краски. При работе диафрагму вкладывают в круглый паз ирисовой диафрагмы конденсора (последняя полностью открыта). Внутренний диск диафрагмы не пропускает в конденсор центральные лучи светового пучка, а проходящие краевые лучи на выходе из него освещают препарат со всех сторон косым светом. Такую диафрагму применяют три съемке с объективами слабого увеличения и длин--нофокусными объективами среднего увеличения [22, с. 148]. [c.78]

Несмотря иа широкое использованпе -микроскопического метода для определения окислов, все же в этом направлении еще многое предстоит сделать. Идентификация незагрязненного простого окисла, напрп-мер, значительно легче, чем определение окисных фаз, образующихся на технических сплавах. Эта задача, подобная задаче определения неметаллических включений в -металлах, обычно решается с помощью травления и последующего рассмотрения в обычно-м белом (включая темнопольное освещение) и в поляризованно-м свете. Так как эти. методы применяются при обычных металлографических исследованиях, здесь они не рассматриваются. [c.228]

Осесимметричная пространственная индикатрисса отражения создается за счет освещения образца полым конусом света. Это не изменяет значения ОС по сравнению с обычным способом освещения при заданных углах Аа и Аф, так как эффект темнопольного освещения сводится к увеличению числа аналогично расположенных относительно пов х-ности освещенных пучков, т.е. эквивалентно увеличению интенсивности падающего пучка (при изопропности отражательных свойств обьекга). Для измерения падающего потока вместо образца ставится приемник излучения. [c.63]

Темнопольное изображение является обратным (взаимным) по отношению к светлопольному (линии и углубления становятся светлыми на однородном темном фоне), поскольку в объектив попадают только лучи, отраженные от неровностей поверхности. Этот тип освещения дает высококонтрастные изображения и, кроме того, улучшает разрешающую способность, благодаря большой апертуре падающего светового конуса. [c.12]

При темнопольном освещении контраст зависит только от электронов, рассеянных в апертуре объектива. Следовательно, контраст должен быть лучше, чем у светлопольного изображения, так как угол апертуры объектива па порядок больше, чем угол апертуры конденсора. Однако круг рассеяния, который определяет сферическую аберрацию, оказывается в 10 раз больше, чем при светлопольном освещении соответственно ухудшается качество темнопольного изображения, по крайней мере для объектов, рассеивающих электроны. В случае кристаллов круг рассеяния как в темнопольпом, так и в светлопольном изображениях определяется электронами, рассеянными в пределах апертуры конденсора. При идентичных условиях качество и интенсивность темнопольного изображения кристаллических объектов значительно выше, чем образцов со слабо выраженной кристаллической структурой. На практике только кристаллические вещества дают изображения, в которых можно четко различить детали структуры. [c.17]

Кинематическая теория контраста на дефектах дает объяснение большинству особенностей получаемых изображений например, изменение контраста в зависимости от угла наклона дислокации к поверхности образца обратный контраст при переходе от светлопольного к темнопольному освещению тот факт, что дислокации видны на светлопольных изображениях в виде темных линий положение и ширина изображений дислокаций наличие пунктирных изображений дислокаций и наконец, то, что некоторые дислокации остаются невидимыми. Основной идеей в этой теории является то, что контраст по существу является фазовым, при этом фазовые изменения вызываются перемещениями атомов около дислокаций. [c.54]

Тот же участок после повторной полировки и травления. Темнопольное освещение. Термически протравленные бороздки соответствуют ранее существовавшим границам и суб-границам, существующим границам и недекорированным следам, [c.114]

Тот же участок, что и на предыдущей микрофотографии, но в темнопольном освещении. Показанные выше светлые участки теперь подразделились на зерна серого цвета. С другой стороны, зерна, которые на микрофотографии 628/3 были темными, теперь кажутся светлыми. [c.70]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...