Темное поле

Рис. 15.9. Разрез специального конденсора для осуществления метода темного поля.

В ультрамикроскопе осуществляется принцип темного поля, состоящий в том, что мы устраняем из поля зрения прямые лучи и наблюдаем лишь лучи дифрагировавшие. Этот принцип реализуется в целом ряде приспособлений. В частности, на нем основано применение специальных конденсоров (рис. 15.9), создающих такое освещение препарата на микроскопическом столике, при котором на него падает интенсивный пучок косо направленных лучей, непосредственно в объектив не попадающих. Центральные лучи задерживаются специальной непрозрачной ширмой, а боковые лучи [c.362]

Задержав 5, мы получим микроскоп с темным полем, в котором структура уже может наблюдаться благодаря наличию дифрагировавшей волны О. Изменив же фазу 5 на мы заставим 8 и О [c.365]

Микроскоп 329 —. метод темного поля 362 —, — фазового контраста 362 —, разрешающая способность 330, 348—357 [c.923]

Если разность Д равна нулю, то и амплитуда (с) также равна нулю. Следовательно, если модели нет или модель не нагружена, то экран будет темным. Таким образом, мы получаем темное поле. Если ось анализатора повернута на 90° по отношению к то мы получаем освещенное поле, где место бывших темных полос занимают светлые полосы. Тот же эффект можно вызвать в плоскости полярископа, если поместить оси поляризатора и анализатора не под прямым углом, а параллельно друг другу. [c.170]

Марк-5 США, I M А (10-45) 2,5—20 100 Снабжен осветителем темного поля для контроля обработанных алмазов [c.83]

Протравленная поверхность шлифа обычно исследуется при вертикальном освещении (светлое поле) (рис. 3). Только в особых случаях применяют другое освещение, например темное поле, косое освещение, поляризованный свет или фазовый контраст . [c.11]

Рнс. 4. Принципиальная схема освещения для создания темного поля. Сплошная, линия — падающие лучи, пунктирная — отраженные лучи [c.11]

При этом способе освещения узкий пучок света при эксцентричном положении апертурной диафрагмы падает (с одной стороны) через объектив под углом на поверхность шлифа. По сравнению со всесторонним косым освещением темного поля свет падает под большим углом к поверхности шлифа и, отражаясь от объекта, еще раз падает на него. При этом дифракционная картина рассечена односторонне, ее асимметрия равна асимметрии рисунка. Поэтому получается впечатление рельефа, который из-за одностороннего освещения создает тени. Этот вид освещения часто применяют при незначительной глубине резкости нетравленых [c.12]

Темное поле Поляризованный свет [c.182]

Ри 6. Картины изохром, обусловленные усадочными напряжениями в моделях волокнистого композита Вверху — светлое поле, внизу — темное поле. [c.505]

Рис. 7. Картины изохром в моделях композита с квадратной укладкой включений при параллельной нормальной нагрузке (расстояние между включениями Д// = 1). Вверху — светлое поле, внизу—темное поле нагрузки указаны в фунт/дюйм (1 фунт/дюйм 0,07 Кг/см ).

Для усиления контрастности деталей микрорельефа, образующегося на поверхности исследуемого образца, может быть использовано темнопольное освещение, при котором элементы структуры, имеющие в светлом поле слабую контрастность, становятся резко контрастными в темном поле. При темнопольном освещении пучок света проходит мимо объектива и направляется на образец вогнутым отражателем. [c.101]

Возможность использования темного поля для изучения роста зерна, поведения неметаллических включений при нагреве, развития скольжения и двойникования и т. п. предусмотрена в микроскопе конструкции ЛОМО, примененном на установке УВТ-1 [25], и на некоторых зарубежных приборах для высокотемпературной металлографии, [c.101]

С помощью таких объективов можно осуществлять микроскопические исследования в светлом и темном полях, а также методами интерференционного и фазового контраста. [c.106]

Темное поле полярископа. Круговой полярископ состоит из следующих элементов источника света, поляризатора, первой и второй четвертьволновых пластин и анализатора, установленных в порядке, показанном на фиг. 2.3. [c.40]

Темное поле в круговом полярископе можно создать двумя разными способами (фиг. 2.4). При первом способе поляризатор и анализатор, как и четвертьволновые пластинки скрещены, причем главные оси этих пластинок установлены под углом 45° к осям поляризатора и анализатора. При втором способе оси поляризатора и анализатора устанавливаются параллельно друг другу, а главные оси четвертьволновых пластинок также устанав- [c.42]

На этом заканчивается установка кругового полярископа на темное поле. [c.60]

Как уже было показано [см. уравнение (2.16)], в круговом полярископе, установленном на темное поле, полное гашение света достигается в точках, где разность хода равна целому числу длин волн п, т. е. [c.67]

Фиг. 3.7. Ступенчатый растягиваемый по оси стержень (порядки полос, как и напряжения, относятся как 5 3 1). а темное поле б —. светлое поле.

На фиг. 3.13 показана модель соединения лопатки турбины с ротором в виде ласточкина хвоста . На фиг. 3.14 воспроизводится картина полос интерференции для модели соединения, полученная при темном поле. Прикладываемые нагрузки (растягивающие или изгибающие) можно точно определить по результатам оптических измерений в тягах. Если нагрузки, прикладываемые механическим путем, известны, то можно определить величину оптической постоянной материала модели. Однако [c.84]

Фиг. 9.4. Картины полос для моделей с 4 вырезами (X = 2 светлое поле) и с 5 вырезами (X = 0,5 темное поле).

Фиг. 10.24. Картины полос интерференции при темном поле для пяти срезов (указаны номера) из модели с Т-образным расположением отверстий.

Своеобразной разновидностью рефлексометрического метода является метод фотометра темного поля, успешно [c.73]

ОГ-40 СССР, НИНИН 9 — 20 0,1-0,4 5,0-1,0 3—0,5 10-2 Освещение по методу сьетлою н темного полей. Индикатор часового типа (ИГМ) фиксирует перемещение микрообъектива [c.76]

В качестве квазиоптическон системы в интросконе используют специально разработанные объективы миллиметрового диапазона. Прибор может работать по методам светового поля, темного поля и фазового контраста. [c.242]

Рис. 5. Нетравленый стальной образец в светлом поле и в темном поле, Х200

Просмотр шлифов в поляризованном свете — это важнейшее вспомогательное средство при исследовании включений и различии оптически изотропных кристаллов от оптически анизотропных. Изотропность определяется строением кристалла. Все вещества, кристаллизующиеся в кубической системе, и аморфные материалы являются оптически изотропными. Все вещества, кристаллизующиеся в других системах, относятся к оптически анизотропным материалам. Изотропные вещества, т. е. большинство металлов, дают одинарное лучепреломление и не изменяют плоскости поляризации плоскополяризованного света, так что наблюдаемое поле при рассмотрении со скрещенными николями (+Л/) остается темным и освещенность незначительно изменяется при повороте объектного столика. Оптически анизотропные кристаллы, например бериллия, кадмия, магния, титана, цинка, а также пластинчатого и коагулированного графита, напротив, дают двойное лучепреломление. Они соответственно их кристаллографической ориентации разлагают плоскополяризованный свет на две взаимно перпендикулярные поляризованные компоненты. Яркость света увеличивается в зависимости от положения оси кристалла к плоскости колебания анализатора при скрещенных николях. Интер металл иды цветных металлов, кроме йнтерметал-лидов, образующихся на основе алюминия, кремния, свинца и AlSb, оптически различаются благодаря тому, что во время поворота объектного столика на 360 они четыре раза попеременно попадают в светлое и темное поле, при этом в отдельных случаях наблюдается окрашивание. [c.13]

Травитель 122 [100 мл насыщенного раствора КМПО4 10 г КОН ]. С помощью этого раствора Клемм [114] обнаружил отпускную хрупкость низколегированных сталей. Полированные образцы без царапин погружают на 1 мин в горячий (60—70° С) реактив и после промывки водой и сушки в спирте и в воздушной струе просматривают в темном поле микроскопа, причем степень отпускной хрупкости проявляется в упорядоченности расположенных в виде окантовки светящихся выделений карбидов и фосфидов по границам зерен (рис. 58). [c.151]

Травитель 10 [10 мл H2SO4 1 г КМПО4 90 мл НдО]. Это травление применил Бейертц [15] для различения оксидов, имеющихся в феррохромовых сплавах. Два вида оксидных включений выглядят при исследовании в темном поле или поляризованном свете (+Л ) красновато-серыми с зеленоватым оттенком у отдельных частичек включений, причем один из видов включений при сильном рельефе оказывается более серым и глянцевым. [c.178]

При горячей деформации эти включения в зависимости от температуры не изменяют или повышают сопротивление деформации. Сопротивление деформации повышается с увеличением содержания SiOg. При кристаллизации включения образуют гетерогенную (ячеистую) структуру и при исследовании в темном поле или поляризованном свете кажутся относительно прозрачными. [c.179]

При наблюдении в темном поле и в поляризованном свете оксид меди (I) выглядит рубиново-красным (см. Бернхард и Вистер [20]), в то время как сульфид меди (I) кажется черным. Чем меньше включений закиси и сульфида меди (I) в образце, тем тщательнее должна быть подготовлена поверхность шлифа. [c.192]

Ф п г. 2.3. Схема кругового полярископа со скрещенными осями по.т1ярп-затора и анализатора и скрещенными осями четвертьволновых пластинок (темное поле полярпскопа). [c.40]

Фиг. 2.6. Схема оптических превращений в круговом полярпскопе с темным полем.

Фиг. 2.16. Типы полярископов с различным располошепием основных элементов. Полярископы с прямым просвечиванием плоский а), плоский с компенсатором (б) и круговой (в) отражательные полярископы Нёренберга плоский с компенсатором или без него (г) и круговой (3) е — отражательный круговой полярископ с одним поляроидом (только с темным полем) ж — отражательный полярископ наклонного просвечивания (плоский или круговой с компенсатором или без него).

Порядок полос (изохром) в точке определяют двумя основными методами. При первом из них фотографируют картину полос, вычерчивают график изменения порядка полос вдоль некоторой линии, а порядок полос в рассматриваемой точке определяют с помощью этого графика путем интерполяции или экстраполяции. Этот способ особенно удобен при достаточном числе полос. Другой метод состоит в непосредственном оптическом измерении порядка полос в данной точке. В круговом полярископе можно определить точки, в которых относительное запаздывание равно целому числу, полуволн порядок полос равен О, 1, 2, 3. . ., если полярископ настроен на темное поле, и V2, IV2, 2 /г. . ., если полярископ настроен на светлое поле. В произвольной точке модели, где дробная часть порядка полос отличается от Va, можно, добавляя или Бычитая дополнительную разность хода, сделать общий порядок [c.98]

Готовые срезы рассматривали в полярископе с диффузором и фотографировали при светлом и темном поле. При небольших порядках полос измерения выполняли по методу Тарди. [c.295]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...