Рассеянные лучи

Движение электронов, получивших заметные скорости в результате рассеяния рентгеновских лучей, удается наблюдать непосредственно на опыте. Для этой цели были произведены исследования с помощью камеры Вильсона, которая позволяет судить и о направлении рассеянных лучей и о направлении движения электронов, выбитых при рассеянии рентгеновских лучей (электроны отдачи ). И на пути электронов, и на пути рассеянного рентгеновского света появляются ионы, на которых конденсируется водяной пар, что делает видимым эти пути. [c.656]

Как уже указано, можно рассчитать взаимные направления электронов и рассеянных лучей, необходимые для классического объяснения явления Комптона при помощи эффекта Допплера. С другой стороны, можно вычислить это распределение направлений электронов и фотонов по теории упругих столкновений. Э-ги две точки зрения приводят к разным результатам. Упомянутые опыты свидетельствуют в пользу квантовой теории явления, так что объяснение его с помощью аспекта Допплера следует признать неудовлетворительным. Таким образом, явление Комптона, подобно основным законам фотоэффекта, говорит в пользу представления о фотонах. [c.656]

Погрещности измерения температуры яркостными оптическими пирометрами обусловлены главным образом неточностью знания степени черноты объекта измерения ех] изменением коэффициента пропускания ослабляющего светофильтра при измерениях в помещениях, температура в которых заметно отличается от 293 К отражением лучей объекта измерения от посторонних источников света поглощением лучей в слое воздуха, содержащего пары воды и углекислоты поглощением и рассеянием лучей в слое запыленного и задымленного воздуха ослаблением излучения стеклами, расположенными между объектом измерения и пирометром неточной наводкой пирометра при небольших размерах объектов измерений. Сведения о возможностях расчетной оценки этих погрешностей и рекомендации по их уменьшению содержатся в [5, 7, 12]. [c.187]

На контролируемую поверхность направляют пучок света, на пути которого вблизи поверхности (чтобы избежать существенного рассеяния лучей, вызванного конечными размерами источника света) располагают экран с прямолинейными краями. Границу тени при отражении светового пучка от поверхности, представляющую собой теневую картину профиля обследуемого участка поверхности, рассматривают через микроскоп. [c.113]

Для изотропной среды индикатриса инвариантна относительно угла между направлениями приходящего и рассеянного лучей. [c.269]

Во-первых, действительно только неравномерность распределения материи производит явление диффузии или рассеяния, о котором идет речь. Можно показать, что при совершенно правильном распределении молекул тела, тело было бы абсолютно прозрачным. Идеальный кристалл оставался бы совершенно невидимым, каким бы образом мы его ни освещали (отвлекаясь от света, отраженного от его грани) . Таким образом, только неравномерность распределения производит рассеяние лучей. Укажем вкратце, как можно его вычислить. [c.61]

J — падающий луч 2 — образец 3 — регистратор падающего излучения 4 — рассеянный луч 5—вектор рассеяния 6 — счетчик [c.65]

Бока сушилки можно закрывать металлическими листами, чтобы обеспечить возвращение излучений, рассеянных веществом или его подставками, и тем самым увеличить отдачу. Но поскольку сушка происходит за счет инфракрасных лучей, проникающих в толщу слоя, возвращение рассеянных лучей не является обязательным. Оно оказывается полезным только тогда, когда желательно работать при более высокой температуре. [c.225]

При сушке теплым воздухом, поверхность тела нагревается рассеянными лучами. Ясно, что это целиком объясняется явлениями, происходящими в толще материала. Связанная вода должна выйти на поверхность через капилляры, причем в ряде случаев ей [c.233]

В случае когда рассеивающие частицы среды однородны, изотропны, обладают сферической симметрией и в среде нет предпочтительного направления рассеяния, индикатриса рассеяния зависит только от угла 0о между направлениями 2 и Q. Из геометрических соображений следует, что угол 0о между падающим и рассеянным лучами определяется выражением [c.38]

Угловое распределение рассеянного излучения, т. е. индикатрису рассеяния, также можно получить из решения Ми. Так как сфера — симметричная частица, рассеяние не зависит от азимутального угла ф, но является функцией угла рассеяния 9, заключенного между направлениями падающего и рассеянного лучей. [c.92]

Ввиду того, что при методе темного поля изображение образуется только рассеянными лучами, имеющими слабую интенсивность, для уверенной работы необходимо применять наиболее яркие источники света. [c.15]

Опак-иллюминаторы, иногда не совсем точно называемые осветителями отраженного света , предназначены для освещения объекта падающим сверху светом и для наблюдения их в прямых отраженных лучах (светлое поле) либо в рассеянных лучах (темное поле). [c.169]

Абсолютная интенсивность диффузно рассеянных лучей выражается следующим образом [c.271]

Единичный вектор П, характеризуемый углами в и ф в — угол, составляемый вектором П с нанравлением оси Oz, — азимут), соответствует паправлепию рассеиваемого луча, единичный вектор П, характеризуемый углами в ф — паправлепию рассеянного луча. Скалярное произведение П П представляет собой косинус угла рассеяния [c.749]

Рис. 40. Ход двух диффузно рассеянных лучей.

Колеблющиеся электроны являются источником электромагнитных волн, так называемых рассеянных лучей, распространяющихся во все стороны. Можно считать, что эти волны исходят из центра атома. Вследствие правильного расположения атомов в кристалле рассеянные лучи взаимодействуют между собой в одинх направлениях усиливают друг друга, в других — гасят. Если по направлению потока этих лучей расположить фотопластинку, то в направлениях усиления лучей возникнут пятна или кольца. [c.36]

Схема опыта Комптона представлена на рис. 15.5. Монохроматическое рентгеновское излучение с длиной волны I, исходящее из рентгеновской трубки, проходит через диафрагмы D и и в виде узкого пучка направляется па рассеиватель. Рассеянные лучи анализируются с помош,ью спектрографа рентгеновских лучей. С помощью этого опыта Комптоном было установлено, что при рассеянии рентге- ] l f f рааеибатель новских лучей наблюдается увеличение [c.347]

Среди решений уравнений Дирака, описывающих обычные (с положительной энергией) состояния электрона, имеются также решения, которые соответствуют состояниям с отрицательными значениями энергии. Это представляло большие трудности для теории, и первые несколько лет предпринимались 1юпытки избавиться от состояний с отрицательной энергией. Одним из авторов этих попыток был Э. Шредингер. Однако было ясно (как показал И. Е. Тамм), что без состояний, соответствующих отрицательным энергиям, теория Дирака становится бессильной объяснить ряд важнейших явлений. (Теория Дирака успешно объясняет аномальный эффект Зеемана, тонкую структуру спектральных линий, закон рассеяния -лучей, закон тормозного излучения электрона.) [c.350]

Во-вторых, пропорциональность (21.27) между —(11 и I для рассеянных лучей справедлива лишь при однократ- [c.100]

НОМ рассеянии и для узких пучков. Как и в случае широкого пучка, часть рассеянных лучей из боковой части пучка может дополиительно попасть в приемник. Как туда попадают некоторые многократно рассеянные лучи, показано на рис. 21.14. Эти обстоятельства особенно важно учитывать количественно для рентгеновских и у-лучей, которые очень слабо поглощаются веществом и для которых доля рассеяния в общем ослаблении падающего пучка значительна. [c.101]

Лейбниц также пытался опровергнуть объяснение Ферма. В A tes de Leipzig для объяснения преломления света он намеревался обратиться к Философии конечных причин, которые были изгнаны Декартом, и восстановить объяснение, выведенное Декартом из рассмотрения столкновения тел, в противоположность мнению Ферма. Он начинает, следовательно, с отрицания того, что Природа действует или по наиболее короткому пути или по пути наименьшего времени но утверждает, что она выбирает наиболее легкий путь, который не должен совпадать ни с каким из двух названных. Для определения этого наиболее легкого пути служит сопротивление, оказываемое лучу света при пересечении рассматриваемых прозрачных сред и он предполагает, что это сопротивление различно в различных средах. Он устанавливает (что совпадает с мнением Ферма), что в более плотных средах, таких, как вода и стекло, сопротивление больше, чем в воздухе и других разреженных средах. Допустив это, он рассматривает трудность, встречающуюся лучу при пересечении какой-либо среды, и определяет эту трудность с помощью произведения пути на сопротивление. Он утверждает, что луч всегда следует по тому пути, для которого сумма таким образом измеренных трудностей является наименьшей и по методу максимума и минимума он находит правило, известное из опыта. Но хотя это объяснение на первый взгляд кажется согласующимся с объяснением Ферма, оно, однако, затем истолковывается с такой удивительной хитростью, что становится диаметрально противоположным последнему, и согласуется с объяснением Декарта. Ибо, хотя Лейбниц допустил, что сопротивление стекла больше, чем сопротивление воздуха, он утверждает, что луч движется в стекле быстрее, чем в воздухе и благодаря тому, что при этом сопротивление стекла считается большим, получается, конечно, из ряда вон выходящий парадокс. И вот как он пытается его объяснить. Он говорит, что большее сопротивление препятствует рассеянию лучей, вместо того, чтобы сказать, что лучи рассеиваются больше там, где меньше сопротивление и что когда диффузия затруднена, сжатые лучи при своем переходе, подобно потоку, который течет в более узком русле, приобретают в результате этого большую скорость. Таким образом, объяснение Лейбница согласуется с объяснением Декарта в том, что и тот и другой приписывают лучам большую скорость в более плотной среде при этом Декарт полагал, что лучи движутся с большей скоростью в среде с большей плотностью потому, что сопротивление там меньше Лейбниц, напротив, приписывает эту большую скорость [c.28]

Для исследования влияния рассеянного излучения на резкость изображения дефекта величина размытия определялась просвечипанисм эталонов различной толщины. При этом предполагалось, что если рассеянные лучи принимают участие в образовании изображения дефекта, то вследствие увеличения числа рассеянных квантов на больших толщинах их доля в размытии края изображения дефекта будет расти с увеличением толщины. С этой целью проводились многократные просвечивания того же клинообразного эталона, а величина размытия определялась в различных участках f-снимка. Это соответствовало толщине просвечиваемого металла L = 180, 150 и 120 мм. Экспозиции при просвечивании подбирались таким образом, чтобы одна и та же толщина клина давала снимки с одинаковыми плотностями почернения, то есть почерпоние фона различных снимков во всех случаях было бы примерно одинаковым и лежало в пределах D — 0,9—1,0. Проведение опытов в области плотностей почернения (лежащей ниже оптимальной плотности Д — 1,75 и с максимальной разностью почернения А/>), объясняется трудностью ми-крофотометриропания больших плотностей почернения. [c.343]

При прохождении через тела первичные рентгеновы лучи претерпевают рассеяние, что неблагоприятно сказывается на чёткости картины просвечивания. Чтобы избежать влияния рассеянного излучения, между просвечиваемым телом и рентгеновской плёнкой помещают специальные движущиеся фильтры (бленды Букки), поглощающие рассеянные лучи. На фиг. 30 дан схематический вертикальный раз- [c.158]

В заключение отметим, что две рассмотренные модели, описывающие влияние ОДА, синтезируются. Модель, предложенная в [130], не позволяет объяснить того экспериментального факта что рассеяние луча лазера на образовавшихся частицах влаги появляется при введении в поток ОДА до скачка конденсации. Действительно, как было показано выше, присутствие в расширяющемся потоке присадок ОДА в силу экранного эффекта приводит к затягиванию процесса спонтанной конденсации, перемещению зоны максимальной скорости ядрообразования в область больших переохлаждений потока. Вторая модель [126] объясняет появление диспергированной фазы до зоны спонтанной конденсации и причины смещения конденсационного скачка против потока. [c.300]

L (ij) определяются схемой дифракции. Для кристалла с заметным поглощением в Q ( ) нужно учитывать экс-тинкционное ослабление проходящего и рассеянного лучей в объёме кристалла. При Д, р, л. в моза-ИЧН0А1 кристалле имеет место явление вторичной экс-тинкции. [c.672]

МАЛОУГЛОВ0Е рассеяние — упругое рассеяние эл.-магн. излучения или пучка частиц (электронов, нейтронов) на неоднородностях вещества, размеры к-рых существенно превышают длину волны излучения (или дебройлевскую длину волны частиц) направления рассеянных лучей при этом лишь незначительно (на малые углы) отклоняются от направления падающего луча. В зависимости от параметров излучения М. р. может быть обнаружено при рассеянии на неоднородностях разл. масштабов от 10" и и менее (рассеяние электронов на ядрах) до метров и километров (рассеяние радиоволн на неоднородностях. земной поверхности). Распределение интенсивности рассеянного излучения зависит от строения рассеивателя, что используется для изучения структуры ве1цества. [c.41]

СПЁКЛЫ от англ, spe kle — пятнышко, крапинка) — пятнистая структура в распределении интенсивности когерентного света, отражённого от шероховатой поверхности, неровности к-рой соизмеримы с длиной волны света Я, или прошедшего через среду со случайными флуктуациями показателя преломления. С. возникают вследствие интерференции сеета, рассеиваемого отд. шероховатостями объекта. Т. к. поверхность предмета освещается когерентным светом, то интерферируют все рассеянные лучи и интерференц. картина имеет не периодическую, а хаотич. структуру. На рис. 1 представлена фотография спекл-структуры, возникающей при рассеянии высокоинтенсивного (лазерного) пучка света, проходящего через матовое стекло. [c.604]

Метод теневой проекции представляет собой видоизмененный метод светового сечения. Он удобен для исследования сравнительно грубых поверхностей. Принцип метода заключается в том, что на исследуемую поверхность направляют пучок света под некоторым углом и на пути этого пучка располагают экран с прямолинейными краями настолько близко к поверхности, что рассеяние лучей, вызванное конечными размерамя источника света, невелико. Граница тени при отражении световых пучков от поверхности представляет собой теневую картину профиля того участка, против которого находится экран. [c.366]

В сплаве, имеющем две или несколько фаз, эти фазы могут различаться по величине электрохимического потенциала поэтому зерна каждой фазы по-разному ведут себя при травлении. Вследствие наличия некоторого количества косых световых лучейвыступающие фазы отбрасывают тень на более сильно протравленные и расположенные ниже фазы, в результате чего образуются теневые картины. Этот эффект усиливается из-за рассеяния лучей, отраженных более глубоко расположенными и более сильно протравленными фазами. [c.30]

Параболоидальное зеркало из достаточно тонкого металла, на которое с помощью инструмента со сферическим наконечником наносятся через регулярные промежутки ямки равной глубины, заполняющие всю рабочую площадь параболоида без перекрытий (насколько это возможно). Каждая ямка должна вызывать рассеяние лучей в заданном телесном угле для чего должно соблю- [c.472]

Конденсор применяется с масляной иммерсией апертура конденсора 1,2. Конденсор рассчитан на предметное стекло толщиной не более 1,2 мм. При работе с высокоапертурными объективами необходимо уменьшить их апертуру до размера 0,85. В противном случае в объектив будут попадать прямые, не рассеянные, лучи, выходящие из конденсора, а это нарушит принцип освещения по методу темного поля. Для того, чтобы избежать этого при работе с высокоапертурным объективом, в выходной зрачок объектива помещают диафрагму, входящую в комплект конденсора. [c.167]

Третья разновидность динамических методов определения модулей упругости — анализ рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов на тепловых колебаниях решетки. Поскольку тепловые колебания представляют собой суперпозицию продольных и поперечных волн с широким набором длин волн (частот), вместо дифракционного рефлекса возникает более или менее широкая ди( )фузная область рассеянных лучей вблизи брэгговских углов отражения. Отдельным выделенным точкам в диффузном облаке соответствуют константы упругих волн с данной длиной волны и частотой. Таким образом, анализируя спектр теплового диффузного рассеяния в различных точках диффузного пятна, смещенных относительно дифракционного максимума для соответствующей отражающей плоскости кристалла, можно определить длину упругой волны, распространяющейся в выбранном направлении и, следовательно, найти упругие постоянные. [c.270]

Прин ,и1п работы лидара на дифференциальном поглощении рассеянного излучения заключается в поглощении выбранного вида молекул атмосферы. При этом используется по крайней мере два лазерных пучка с различными длинами волн, которые последовательно или одновременно посылаются вдоль одной и той же трассы в атмосферу. Один лазерный пучок поглощается исследуемыми молекулами, в то время как другой с близкой длиной волны— поглощается не очень сильно. Поскольку пучки спектрально разделены небольшим промежутком длин волн, то сечения аэрозольного рассеяния можно считать практически одина1ковым и для обоих случаев. Различие в интенсивности рассеяния лучей в атмосфере обусловлено разницей в их поглощении исследуемыми молекулами [103, 104]. [c.128]

Широкий круг физических методов иссле дования поверхностных слоев металлов и сплавов основан на дифракции рентгеновских лучей, электронов, нейтронов. Особенности картин, получаемых при дифракции, определяются длинами волн излучений и законами рассеяния лучей атомами вещества. В рентгеноструктурном анализе используют лучи с длинами волн в интервале 0,05—0,25 нм (Хр = 1,234/и, где и — напряжение, кВ). При обычно применяемых в электронографии напряжениях 20—100 кВ длины электронных волн лежат в пределах 0,008—0,003 нм, т. е. на порядок меньше длины наиболее жестких монохроматнч еских лучей, используемых при рентгеноструктурном анализе. В нейтронографических исследованиях чаще всего используют так называемые тепловые нейтроны, энергия которых соответствует тепловому равновесию с замедляющими м атомами, т. е. закону распределения Максвелла (Хц = 2,521/Т). [c.64]

Ультразвуковой контроль сварных соединений из меди имеет ряд существенных отличий. Интенсивное затухание сдвиговых волн в меди, а также рассеяние луча на границе зерен в зоне наплавленного металла определяют более низкое значение оптимальной частоты ультразвука по сравнению с диапазонохм оптимальных частот для контроля аналогичных соединений из сталей и легких сплавов. [c.74]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...