Метод светлого поля

Метод светлого поля в отражённом свете применяют для наблюдения непрозрачных объектов, напр. шлифов металлов, сплавов, рудных минералов. Структура препарата видна вследствие различия отражательной способности его элементов. Препарат i (рис. 2) освещается через объектив 2 (выполняющий одновременно роль конденсора) с помощью опак-иллюминатора, в к-ром устанавливается полупрозрачная пластинка 3 или призма 4. [c.144]

Метод светлого поля в проходящем свете (см. фиг.5) применяется при исследовании прозрачных препаратов, у которых различные участки структуры по-разному поглощают свет. Таковы, например, тонкие окрашенные срезы животных и растительных тканей, тонкие шлифы минералов и т. п. Пучок лучей из конденсора К проходит препарат АВ и объектив Об и дает равномерно освещенное поле в плоскости изображения А В. Поглощающие элементы структуры препарата частично поглощают и отклоняют падающий на них свет (пунктирные линии), что и обусловливает согласно теории Аббе возникновение изображения. Этот метод может быть полезен и при непоглощающих объектах, но лишь в том слу- [c.12]

Метод светлого поля в отраженном свете (фиг. 6) применяется для наблюдения непрозрачных объектов, например, травленых шлифов металлов, биологических тканей, [c.13]

Фиг. 5. Ход лучей при методе светлого поля в проходящем свете.

К методу светлого поля относится и так называемый метод косого освещения (как в проходящем, так и в отраженном свете). Он осуществляется путем смещения апертурной диафрагмы в направ- [c.13]

Поляризатор 5 и анализатор 13 включаются в систему одновременно. При переходе от метода светлого поля к методу темного поля полевая диафрагма 6 заменяется диафрагмой 7. В зависимости от метода наблюдения в систему включается один из следующих элементов зеркало 8 для темного поля, полупрозрачная [c.89]

Конденсор (фиг. 90) состоит из корпуса 1, в нижней части которого находятся ирисовая апертурная диафрагма для работы методом светлого поля и кольцевая откидная диафрагма 2 для работы методом темного поля. При работе в темном поле апертурная диафрагма полностью открывается. Сверху в корпус вворачивается оправа 3 с оптической системой конденсора. [c.168]

Следовательно, поглощающий предмет будет виден теперь ярким на темном фоне, как в методе темного поля . В то время как в обычном методе светлого поля интенсивность приблизительно равна [c.244]

Рис. 12. Восстановление прямого края Рис. 13. Восстановление по методу светлого поля. прямого края по методу тем-

Первые высококачественные трехмерные изображения микрообъектов были получены в работах [26, 27, 77, 124]. Микроизображение получалось как по методу светлого поля, так и поляризационным методом [26, 27, 77]. Увеличение достигалось в два этапа. Сначала с помощью обычного микроскопа увеличенное изображение проектировалось на голограмму. Затем при восстановлении с помощью линзы создавалось добавочное увеличение. Хотя при таком методе трехмерность в ее обычном смысле нарушалась, в восстановленном изображении удавалось просматривать различные по глубине плоскости. [c.331]

Изучение препарата при рассмотренном способе освещения называется методом светлого поля в проходящем свете. При реализации данного метода необходимо обеспечить достаточно строгую соосность оптических осей объектива и осветительной системы. Этот метод применяют для исследования прозрачных препаратов с элементами, по разному поглощающими свет. [c.36]

Метод светлого поля (рис. 2.3а) в отраженном свете осуществляется путем введения в световой поток пластинки с полупрозрачным покрытием (пластинка Бека), или призмы, выполняющей роль зеркала. Такая пластинка или призма направляет часть светового пучка в объектив. Изображения частиц препарата, исследуемых таким методом, выглядят слабо светящимися телами на относительно светлом поле. [c.36]

Рис, 2.3. Построение изображения и ход лучей в оптической системе микроскопа при освещении объекта отраженным светом а — по методу светлого поля I — объект 2 — конденсор 3 — выходной зрачок объектива 4 — пластинка Бека 5 — изображение объекта б — по методу темного поля 1 — объект 2 — объектив 3 — зеркало с асферической повер-х-ностью 4 — плоское кольцевое зеркало 5 — изображение объекта 6 — диафрагма. [c.37]

П р и м е р 2. Пыль, образовавшаяся при бурении бурого угля. Проба получена фильтрацией с применением мембранного фильтра. Изучалась методом светлого поля при косом освеш,ении. [c.214]

Описанный метод освещения называется методом светлого поля. Он применяется при наблюдении контрастных препаратов с различной абсорбцией элементов структуры. Такие препараты освещают прямым проходящим светом. В этом случае пучок лучей из конденсора заполняет большую часть апертуры объектива и, в отсутствие препарата, равномерно освещает поле зрения. Поглощающие элементы структуры выглядят темными на светлом фоне. Метод может быть полезен и при непоглощающих объектах в том случае, когда элементы их структуры отклоняют или рассеивают свет настолько сильно, что значительная часть освещающего пучка не попадает в объектив. [c.20]

Рнс. И. Освещение по методу светлого поля в отраженном [c.22]

При наблюдении непрозрачных объектов в отраженном свете применяются аналогичные методы освещения. В случае метода светлого поля освещение производится при помощи опак-иллюминатора через объектив микроскопа, который выполняет одновременно и роль конденсора (рис. П). Свет из осветителя 1—5 полупрозрачной пластиной 6 через объектив 7 направляется к препарату 8. Отраженный объектом свет проходит сквозь объектив 7 и пластину 6 к окуляру, где создается изображение (так же, как и в случае прозрачного объекта). [c.23]

Модели МБР и МББ-1 предназначены для работы в проходящем свете по методу светлого поля. При помощи дополнительных приспособлений на них можно производить освещение по методу темного поля и фазового контраста, а также изучать непрозрачные объекты в отраженном свете. [c.59]

Освещение по методу светлого поля заключается в том, что лучи из осветителя, пройдя объект (проходящий свет) или зеркально отразившись от его поверхности (отраженный свет), попадают непосредственно в объектив, создавая позитивный амплитудный контраст, т. е. изображая поглощающие или плохо отражающие участки объекта темными на общем светлом фоне (поле). [c.20]

Освещение по методу светлого поля происходит лучами, исходящими ЙЗ источника света и проходящими через прозрачный Предмет или отражающимися от непро зрачного предмета, а затем поступающими в фронтальную линзу объектива. При этом фон, на котором наблюдается предмет, будет светлым. [c.334]

Освещение предмета по методу светлого поля осуществляется лучами, которые, выйдя из осветительной системы и пройдя через прозрачный объект или отразившись от непрозрачного объекта, поступают в объектив. При этом фон, на котором наблюдается предмет, будет светлым. [c.203]

При использовании метода светлого поля для получения наилучшего контраста изображения апертурную диафрагму конденсора обычно открывают на величину, равную 2/3 диаметра зрачка микрообъектива реальная освещенность будет тогда равна р - 4/9/f. [c.22]

Метод светлого поля в отражённом свете (рис. 2) применяется для наблюдения непро- [c.420]

Метод фазового контраста служит для получения изображений прозрачных и бесцветных объектов, невидимых при наблюдении по методу светлого поля. К числу таких объектов относятся, напр., живые неокрашенные животные ткани. Метод основан на том, что даже при малом различии показателей преломления объекта и среды световая волна, прошедшая сквозь них, претерпевает разные изменения по фазе и приобретает т. н. фазовый рельеф. Эти фазовые изменения преобразуются в изменения яркости ( амплитудный [c.420]

При переходе от светлого поля к темному создается разница в соотношении освещения. Метод темнопольного освещения используют для проверки полированной поверхности шлифа на [c.11]

Название оптическое выявление структуры не вполне уместно для данного метода. Понятие интерференционные цвета уже давно принято в практике металлографических выявлений структуры (методы горячего травления на воздухе, травление реактивами, образующими поверхностные слои). Для всех этих видов выявления структуры достаточно уже обычного света (отраженные лучи, светлое поле), в то время как эффект оптического цветового травления возникает только при использовании поляризованного отраженного света и гипса красного. [c.97]

Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.99]

Оптическая система установок ВМС-1 и ВМД-1 обеспечивает возможность наблюдения образца в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.136]

Рис. 1. Микрофотографий жп-зых клеток печени мыши, полученные различными методами исследования а — светлое поле б — фазовый контраст — интерференционный контраст г — тёмное воле д — флуоресценция (окраска акридиновым оранжевым) — поляризованный свет м — ультрафиолетовые лучи.

Метод светлого поля в проходящем свете (см. рис. 1 в ст. Микроскоп) наиб, распространён. Он используется для исследования прозрачных объектов с включёнными в них абсорбирующими частицами и деталями. Пучок света, проходя через непоглощающие зоны препарата, даёт равномерно освещённое поле. Абсорбирующая частица на пути пучка света частично поглощает его, частично рассеивает, вследствие чего амплитуда прошедшего через частицу света будет меньше и частица выглядит на светлом фоне тёмным пятном (рнс. 1, а). Контраст изображения микроструктуры объекта тем больше, чем большим поглощением в видимой области спектра обладает абсорбирующая частица. Биол. объекты, в большинстве своём не обладающие этим свойством, предварительно окрашиваются спец, красителями. [c.144]

Метод тёмного поля в проходящем свете применяют в биологии, гл. обр. для наблюдения прозрачных веаб-сорбирующих объектов, невидимых при методе светлого поля, напр. бактерий. Пучок лучей (рис. 3), освещающих препарат 2, выходит из конденсора 1 спец, конструкции (конденсор тёмного поля) в виде полого конуса и непосредственно в объектив 3 не попадает. Изображение создаётся только светом, рассеянным элементами структуры препарата, к-рые отличаются от окружающей среды показателем преломления. В поле зрения микроскопа на тёмном фоне видны светлые изображения деталей (рис. 1, г). Этим методом по виду изображения нельзя определить, прозрачны частицы или непрозрачны, больший или меньший показатель преломления они имеют по сравнению с окружающей средой. [c.144]

Конденсор ОИ-Ю — универсальный конденсор с увеличенным рабочим расстоянием, предназначенный для освещения препаратов как по методу светлого поля, так и по методу темного поля. Однако, он рассчитан для работы с объективами, апертура которых не больше 0,7. Конденсор применяется при работе, главным образом, с рабочими биологическими микроскопами. Расстояние от конденсора до препарата равно 10 мм, благодаря чему можно вести не только наблюдения, но и препарировальные работы с живыми объектами, находящимися в камерах и микрокюветах. Конденсор ОИ-10 устанавливается на микроскопе вместо обычного конденсора. [c.168]

Фотомикроскопы — сложные приборы, предназначенные для фотографирования объектов, исследуемых самыми различными методами. Так, например, фотомикроскоп Ультрафот П (рис. 39) позволяет работать в проходящем и отраженном свете методом светлого поля, темного поля, фазового контраста и в поляризованном свете. На микроскопе могут быть установлены три осветителя с различными источниками света. Система для визуального наблюдения расположена в оптической головке, а фотокамера — в корпусе прибора. Микроскоп снабжен автоматическим фотоэкспонометром, который определяет требуемую выдержку в процессе съемки и управляет затвором. [c.56]

Конденсор ОИ-10 имеет такл< е линзу, освещающую препарат по методу светлого поля. Переход со светлого поля на темное осуществляется устаьгоБкой перед апертурной диафрагмой прозрачного кольца, которое экранирует линзу светлого поля, но пропускает свет в кардиоид-конденсор. Апертурная диафрагма в методе темного поля открывается полностью. [c.23]

В методе светлого поля в ход лучей включается зеркало 8 и светоделительная пластинка 25. Источник света 5 проецируется коллектором 6 и линзой 48 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 46, а затем бифокальной линзой 43 (склейка из двух простых плоско-выпуклых линз) в выходной зрачок эпиобъектива 47. Одновременно линза 43 и эпиобъектив 47 изображают полевую диафрагму 44 в плоскости объекта 18. [c.40]

В осветительном устройстве для падающего света в случае освещения объектов по методу светлого поля объектив микроскопа выполняет роль конденсора при освещении по методу темного поля применяются так называемые эпизеркальные конденсоры (см. рис. IX, поз. 11), с помощью которых освещение объектов осуществляется лучами, идущими вне объектива [38]. [c.348]

Оптическая схема лабора- торной модели агрегатного микроскопа ПОЛАМ-Л (рис. IX.7) имеет следующие основные части осветитель I, содержит лампу КИМ9-75-2 и ахроматический коллектор с ирисовой диафрагмой панкратический конденсор КОН-Ш, обеспечивает освещение объекта по методу светлого поля, кольцевого экранирования, фазового контраста с плавным изменением чнслоии) апертуры и величины освещаемого поля на объекте (фпя<т1.1г кольца и другие диафрагмы находятся в плоскости ппгртуриой [c.377]

Оптическая схема микро-ско11а (рис. IX. 14) позво-ляеГ наблюдать исследуемые объ в отраженном обыкновенном и поляризованном све е. а также в интерференционном контрасте по методу светлого поля. Кроме того, предусмотрена возможность фотографирования изображе- [c.389]

Метод светлого поля в проходящем свете применяется при исследовании прозрачных препаратов с включёнными в них абсорбирующими (поглощающими свет) ч-цами и деталями. Таковы, напр., тонкие окрашенные срезы животных и растит, тканей, тонкие шлифы м1шералов. В отсутствии препарата пучок лучей из конденсора 6 (рис. 1) проходит через объектив 8 и даёт равномерно освещённое поле вблизи фокальной плоскости окуляра 9. Если в препарате 7 имеется абсорбирующий объект, то он отчасти поглощает и отчасти рассеивает падающий на него свет (штриховая линия), что и обусловливает, согласно дифракц. теории, возникновение изображения. Метод может быть полезен и при неабсорбирующих объектах, если они рассеивают освещающий пучок настолько сильно, что значит, часть пучка не попадает в объектив. [c.420]

Обнаружение дислокаций и включений в монокристаллах кремния методом визуального наблюдения на экране ЭОП или фоторегистрации на инфрахрома-тической пленке. Контроль в проходящем и отраженном свете, в темном и светлом поле в видимых и ИК-лучах [c.107]

Фиг. г .22. Картпныполос, полученные поляризационно-оптическим методом (светлое п телшое поле), н картина нзостат, полученная с помощью хрупкого покрытия, при поперечном изгибе. [c.94]

Порядок полос (изохром) в точке определяют двумя основными методами. При первом из них фотографируют картину полос, вычерчивают график изменения порядка полос вдоль некоторой линии, а порядок полос в рассматриваемой точке определяют с помощью этого графика путем интерполяции или экстраполяции. Этот способ особенно удобен при достаточном числе полос. Другой метод состоит в непосредственном оптическом измерении порядка полос в данной точке. В круговом полярископе можно определить точки, в которых относительное запаздывание равно целому числу, полуволн порядок полос равен О, 1, 2, 3. . ., если полярископ настроен на темное поле, и V2, IV2, 2 /г. . ., если полярископ настроен на светлое поле. В произвольной точке модели, где дробная часть порядка полос отличается от Va, можно, добавляя или Бычитая дополнительную разность хода, сделать общий порядок [c.98]

Фиг. 7.1. Зафиксированная картина полос интерференции вращающегося диска из марблет-та, полученная по методу ползучести при светлом поле полярископа.

И светлом поле. В тех случаях, когда порядок полос в срезе был слишком мал или когда срез имел очень малую толщину, доли порядка полосы определяли компенсацией по методу Тарди. [c.285]

Микроскоп ММР 4 (рис. 1.8), Рабочий металлографический микроскоп ММР-4 предназначен для наблюдения и фотографирования микроструктуры металлов в светлом поле при прямо.м и косом освещении, темном поле, по-,тяризованном свете и методом фазового контраста. [c.29]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...