Метод косого освещения

Применение специальных видов освещения при микроскопическом наблюдении, например, метода косого освещения или контрастного разделения фаз. [c.300]

Метод косого освещения. При этом методе в создании изображения участвуют преимущественно косые лучи, не параллельные оптической оси системы. Повышение контраста при косом освещении связано, во-первых, с увеличением роли дифрагированных на разных элементах структуры объекта лучей в формировании изображения и, во-вторых, с образованием теней от рельефа поверхности объекта. Поэтому косое освещение целесообразно применять при достаточно резком рельефе поверхности шлифа, так как только при этом условии выступающие участки будут отбрасывать тень на остальную поверхность, которая дает меньшее отражение луней. Косое освещение достигается обычно включением между объективом и полупрозрачной пластинкой призмы косого освещения или смещением, по отношению к оптической оси системы апертурной диафрагмы, вращением которой изменяется плоскость падения света на объект. [c.26]

К методу светлого поля относится и так называемый метод косого освещения (как в проходящем, так и в отраженном свете). Он осуществляется путем смещения апертурной диафрагмы в направ- [c.13]

Масштаб изображения 19, 188, 197 Метод косого освещения 13 [c.246]

При дальнейшем смещении апертурной диафрагмы конденсора относительно оси объектива до тех пор, пока световой пучок, направляемый конденсором на препарат, совсем не попадает в объектив, метод косого освещения превращается в метод темного поля в проходящем свете (рис. 2.26). В поле зрения микроскопа на темном фоне получаются светлые изображения частиц препарата за счет рассеянного им света. Метод применим для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле объектов. [c.36]

Для исследования рельефных структур применяют метод косого освещения, когда для передачи изображения используются преимущественно косые, не параллельные оси микроскопа, лучи. Образующиеся при этом освещении тени от выступающих частей структуры усиливают контраст. Косое освещение шлифа осуществляется смещением апертурной диафрагмы с оси. Для наилучшего выявления отдельных элементов структуры может оказаться полезным при этом изменить плоскости падения света на шлиф. Это достигается вращением оправы апертурной диафрагмы 5. [c.11]

При освещении непрозрачных объектов падающим светом в качестве конденсора используется объектив, через который производится наблюдение. Свет в объектив направляется прн помощи опак -иллюминатор а, снабженного полупрозрачной пластинкой Бека (рис. 27, а) или призмой Наше (рис. 27, б). В последнем случае освещение производится только через половину зрачка объектива, а наблюдение — через вторую половину. Это равносильно методу косого освещения. [c.44]

Кроме методов светлого и темного поля, известен также метод косого освещения. Косое одностороннее освещение получается при частичном закрытии апертурной диафрагмы до /а—Уд ее диаметра [c.21]

Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.99]

Оптическая система установок ВМС-1 и ВМД-1 обеспечивает возможность наблюдения образца в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.136]

Контроль чистоты поверхности. Для лабораторного контроля чистоты поверхности древесины наиболее пригоден метод оптического сечения плоским луком при помощи прибора акад. Линника. Заслуживает также внимания способ сравнения с эталонами, без увеличения или с малым увеличением при косом освещении — способ, применяемый для контроля особо ответственных изделий. Вообще же в производственной практике контроль качества механически обработанной древесины осуществляется преимущественно путём субъективной оценки мастера. [c.671]

Конденсоры. В зависимости от требуемого метода наблюдения в микроскопах применяются конденсоры различных типов конденсор светлого поля конденсор с апертурной диафрагмой, смещающейся перпендикулярно оптической оси для обеспечения косого освещения конденсор темного поля и специальный конденсор для наблюдения по методу фазового контраста. Конденсор представляет собой двух- или трехлинзовую оптическую систему с ирисовой апертурной диафрагмой. Численная апертура конденсоров при условии применения иммерсионной жидкости достигает вели- [c.21]

Если сместить ось конденсора относительно оси объектива, то ось светового пучка, падающего на препарат, отклонится от перпендикулярного направления на некоторый угол. Когда этот угол составит около 30°, возникает эффект так называемого косого освещения. При этом контуры объектов наблюдения окажутся подчеркнутыми за счет образования теней, и частицы будут выглядеть более рельефно. Изучение препарата при смещенных относительно друг друга осях конденсора и объектива называется методом одностороннего косого освещения. Этот метод применяется для исследования препаратов с низкой абсорбционной способностью. [c.36]

Резкость и контрастность изображения. Резкость и контрастность изображения достигается сложной конструкцией объективов и окуляров, устраняющих частично или полностью оптические дефекты. Однако возможности микроскопа используются наилучшим образом, если исследователь правильно пользуется коллектором 2, полевой и апертурной диафрагмами. Кроме того, для увеличения оптического контраста многие микроскопы позволяют применять специальные методы исследования исследование при косом освещении , метод темнопольного освещения, наблюдение в поляризованном свете и др. [c.11]

Разновидностью этого метода освещения является исследование при косом освещении. Оно достигается смещением апертурной диафрагмы или источника света. При таком косом освещении выступающие участки на поверхности микрошлифа оказываются более светлыми и отбрасывают более резкую тень на остальную поверхность микрошлифа. Последняя, кроме того, в меньшей степени отражает лучи при косом освещении и, таким образом, еще больше возрастает контрастность изображения. [c.90]

Метод одностороннего косого освещения отличается от предыдущего тем, что ось освещающего пучка расположена под углом по отношению к оптической оси микроскопа. Такое освещение подчеркивает контуры объекта за счет образования теней и придает им кажущуюся рельефность. Метод бывает полезен при наблюдении объектов с недостаточной контрастностью. Косое освещение достигается благодаря смещению апертурной диафрагмы конденсора от оптической оси микроскопа. Эксцентричное положение диафрагмы можно наблюдать в выходном зрачке объектива при вынутом окуляре. [c.20]

Универсальной моделью является горизонтальный металлографический микроскоп МИМ-8м (рис. 45). Он предназначен для исследовательских работ в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и методом фазового контраста. Осветитель 1, собственно микроскоп 2 и фотокамера 3 смонтированы на оптической скамье 4, установленной при помощи амортизаторов на специальном столе. Осветитель снабжен лампой накаливания мощностью 170 вт. Фотокамера переменной длины позволяет изменять масштаб изображения в больших пределах при одном и том же объективе и окуляре. Фазово-контрастное устройство (с переносом выходного зрачка объектива) имеет собственный визуальный тубус. [c.65]

Одна из наиболее современных моделей — универсальный исследовательский микроскоп МБИ-6 — стационарная установка для наблюдения и микрофотографирования объектов в исследовательских лабораториях. Он позволяет исследовать объекты в проходящем свете в светлом поле при прямом и косом освещениях, в темном поле и методом фазового контраста в отраженном свете — в светлом и темном полях, а также в поляризованном свете. [c.238]

Однако известно, что даже при оптимальном режиме полировки, исследования определенными оптическими методами (выведение из фокуса, фазовый контраст или косое освещение) обнаруживают такие детали микро- [c.39]

Среди методов второй группы наибольшее распространение получил метод поверхностного рельефа, основанный на св-ве свободной поверхности жидкости вспучиваться под действием падающего на неё изнутри жидкости звук, пучка. Получающийся рельеф хорошо виден при косом освещении. Для реализации метода диска Рэлея в смеси воды и ксилола образуют взвесь мельчайших чешуек лёгкого металла (напр., алюминия). В отсутствии звука эти чешуйки ориентированы беспорядочно, образуя при освещении матово-серую поверхность, а под действием звук, волны часть из них принимает определ. ориентацию, в результате чего на сером фоне появляется видимое изображение звук, поля. [c.76]

Возбуждение люминесценции препарата можно производить сверху косыми пучками, если пользоваться длиннофокусными микрообъективами с небольшим, следовательно, з величением. Данный метод освещения особенно пригоден при исследовании непрозрачных объектов. Для освещения препаратов сверху можно рекомендовать зеркально-линзовый конденсор ГОИ в соединении с микроскопом небольшого увеличения (рпс. 444). Этот прибор предназначен, в частности, для абсорбционно-люминесцентных наблюдении бумажных хроматограмм. [c.580]

Отсутствие теневого рельефа свидетельствует об отсутствии волновых аберраций в пределах чувствительности применяемого метода исследования. Такому положению соответствует позиция 2 на рис. 7. Получается так называемый плоский рельеф. Положение экрана соответствует выбору сферы сравнения с большей кривизной, чем у волнового фронта, положение N3 — с меньшей кривизной. Для фронт волны представляется в виде плавного выпуклого рельефа или общего бугра, как бы освещенного косыми лучами, для N3 — в виде общей плавной ямы. [c.22]

При прямом освещении в микроскопе видны пылинки размером 0,4 мкм и более, а при косом освещении — 0,2 мкм. Предел видимости в темном поле — до 0,06 мкм [ 60]. Подсчет пылинок методом фазового контраста в счетчиках Оуэнса позволяет фиксировать частицы размером до 0,02 мкм. Особо высоким разрешением обладают электронные микроскопы. Поскольку линейные измерения связаны с идентификацией положения и расстояния точек поверхностей, то допускаемую объемную загрязненность воздуха твердыми частицами можно, в частности, определять через нормы запыленности измеряемой поверхности. При контактных измерениях положение точек измерения оценивается с разрешением порядка 1. .. 2 мм (кроме специальных задач), откуда допускаемое число частиц пыли Nan нормируемых размеров а [c.97]

Метод темпопольного освещения. При темнопольном освещении в отличие от светлопольного свет не проходит через объектив. Пройдя через кольцевую диафрагму 1 (рис. 1.5), свет отражается от кольцевого зеркала 2, установленного на месте полупрозрачной пластинки, и попадает на зеркальную отражающую параболическую поверхность специального конденсора темного поля 3, который устанавливается на объектив или монтируется в одной оправе с ним (эпиобъектив). Такая система создает косое освещение объекта, при котором освещающий пучок имеет большую апертуру, чем в случае светлолольного освещения. Темнопольное изображение является обратным по отношению к светлопольному [c.26]

Микроскоп ММР 4 (рис. 1.8), Рабочий металлографический микроскоп ММР-4 предназначен для наблюдения и фотографирования микроструктуры металлов в светлом поле при прямо.м и косом освещении, темном поле, по-,тяризованном свете и методом фазового контраста. [c.29]

Микроскоп МБИ-6 — универсальный исследовательский прибор, предназначенный для проведения всевозможных работ как с прозрачными, так и с непрозрачными препаратами. Микроскоп позволяет изучать микропрепараты различными современными методами исследования визуальное наблюдение и фотографирование в проходящем свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете, с фазовым контрастом, а в отраженном свете — в светлом и темном полях. Такое многообразие методов наблюдения позволяет всесторонне изучить препарат, а также проводить быстрое и удобное фотографирование. Фотографирование может производиться с помощью пленочной фотокамеры либо на фотопластинку. Источником света служит лампа накаливания мощностью 170 вт. [c.54]

Применение косого освещения увеличивает контраст благодаря образованию видимой тени, в то время как свет падает на поверхность под таким углом, что зеркальное отражение не попадает в объектив и доле зрения выглядит темным. Если угол отклонения луча от поверхности объекта может быть измерен, становится возможной количественная оценка угла наклона поверхности. Подобную функцию выполняет темнопольный диафрагмирующий микроскоп он аналогичен устройству, используемому в широко известном методе Шлирена для исследования полос деформации в металлах. [c.365]

Методами интерференционной и оптической микроскопии при косом освещении параллельным пучком лучей детально исследовано поведение отдельных следов скольжения в крупных зернах медных образцов,, т. е. микротопография поверхности в следующих один за другим полуциклах знакопеременного деформирования с постоянной амплитудой. Экспериментально отчетливо выявлено возвратно-поступательное перемещение в следах скольжения. На рис. 13 в качестве примера показано одно и то же поле образца, полученное на интерферометре (а) и микроскопе при косом освещении (б), после растяжения (I) и последующего сжатия (II). Смещение интерференционных полос на ступеньках, которые возникли на поверхности образца в результате скольжения в одном направлении, соответствует темной линии при косом освещении. При сжатии образца изменилось как направление смещения интерференционных полос, так и освещенность следов скольжения. Наблюдаемые изменения свидетельствуют о последовательном образовании на поверхности образцов впадин и выступов. По изменению смещения интерференционных полос проведена количественная оценка смещения одной части кристаллита относительно другой в следах скольжения. Изменение величины смещения по следам скольжения особенно сильно проявляется при первых знакопеременных циклах деформирования, а потом затухает. [c.20]

Наблюдение и контроль следует осуществлять на всех этапах испытаний. Некоторые виды дефектов проявляют себя в период сброса давления. Так, при снижении давления возникают сигналы от трения берегов трещин при их смыкании. Такие дефекты, как отдулины, возникающие чаще всего при наводороживании металла и проявляющиеся в расслоении металла по толщине, также обнаруживаются на этапе сброса давления (отдулины хорошо обнаруживаются визуально при косом освещении, иногда ощущаются при нажатии рукой). Для подтверждения их наличия обычно применяют методы УЗК. [c.176]

Эффект освещения по методу темного поля можно получить, применяя простейшие приемы. Одним из таких приемов является использование темнопольной диафрагмы (рис. 2.15). Ее изготавливают из тонкого листового материала (жести, алюминия, картона и т. п.) и покрывают с обеих сторон слоем матовой черной краски. При работе диафрагму вкладывают в круглый паз ирисовой диафрагмы конденсора (последняя полностью открыта). Внутренний диск диафрагмы не пропускает в конденсор центральные лучи светового пучка, а проходящие краевые лучи на выходе из него освещают препарат со всех сторон косым светом. Такую диафрагму применяют три съемке с объективами слабого увеличения и длин--нофокусными объективами среднего увеличения [22, с. 148]. [c.78]

Наиболее простым и легко применимым методом для выявления неполноценности соединения является следующий участок сварочного прутка длиной 150—200 мм продлевается за шов. После того, как шов полностью остыл, при попытке вынуть наплавленный сварочный пруток из канавки конец шва должен оборваться если же шов непроварен достаточно, то сварочный пруток вынется из канавки. Следует отметить однако, что при применении этого метода можно упустить наличие включения воздуха или наличие трещин в отдельных участках сварного соединения. Для того чтобы не упустить этих дефектов, лучом карманного фонарика производится освещение шва под косым углом, что позволяет в том случае, если свариваемая пластмасса не пигментирована, довольно безошибочно обнаружить включения воздуха. Метод исследования шва с помощью освещения не может дать удовлетворительных результатов при определении качества сварки большинства сортов полиэтилена, предназначенного для изготовления конструкций, работающих на открытом воздухе, а также всех видов пигментированных пластмасс. [c.156]

Назначение бригадиров из числа рабочих, имеющих права стропальщиков, для наблюдения за безопасным перемещением грузов кранами может производиться по согласованию с местными органами технадзора в тех случаях, когда в данной смене не работают инженерно-технические работники. Бригадир должен следить, чтобы при перемещении грузов крапами не применялись запрещенные методы ведения работ (например, подъем груза при косом натяжении канатов, присутствие людей в кузове автомашин во время подъема н опускания груза, перемесюние груза над людьми и т. п.). При этом обязанности по созданию безопасных условий работы (обеспечение рабочих мест достаточным освещением, маркированными стропами и та-[)ой, проектами произвсдства строительно-монтажных работ и т. п.) дол кно быть возложено на инженерно технических работников. [c.221]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...