Другие случаи отражения пучка

Другие случаи отражения пучка. В п. 13.1 отмечалось, что классическая теория отражения ограниченных волновых пучков от границы двух однородных жидкостей, помимо рассмотренного выше случая во 5, неприменима при скользящем падении пучка, когда во тг/2. В этом случае важную роль играет дифракция падающего пучка при распространении. Если пучок с углом падения во составлен из плоских волн с углами паде-ния из интервала (во -Ав, во + Дв), го при во < я/2 - Ав смещение дается классической формулой (13,8). Когда во > тг/2 - А9, в спектре падающего пучка присутствуют плоские волны, несущие энергию как к 292 [c.292]

На рис. 6.5, а схематично показано устройство одного из первых вариантов интерферометра. Свет от источника S (обычно протяженного) делится по амплитуде задней поверхностью стеклянной пластинки О с полупрозрачным серебряным покрытием на два пучка, один из которых отражается, а другой пропускается. Отраженный пучок достигает зеркала Mj и после этого возвращается, частично проходя через О в телескоп Т. В то же время другой пучок, который вначале прошел через делитель пучка, поступает на зеркало М2 и также возвращается к О, откуда он частично отражается к телескопу. Поскольку идущий к пучок проходит через пластинку О в общей сложности три раза по сравнению с одним разом для пучка, идущего к Mj, то обычно в точку С помещается компенсирующая пластинка той же толщины и из того же материала, что и О. В общем случае Mj и М2 находятся на различных расстояниях от О и между двумя лучами преднамеренно вводится разность хода (компенсирующая пластинка предназначена только для выравнивания дисперсионного хода через стекло). Соединившись вместе, два пучка создают интерференцию, результат которой определяется разностью хода между ними. [c.131]

Объясняя то же самое явление отражением, Брэгг отмечал, что требование совпадения по фазе рассеянных в А, В и С лучей аналогично оптическому отражению в зеркале с точками А, В, С на его поверхности при любом угле падения отражение происходит под углом, равным углу падения (рис. В.2). Как объяснял Брэгг, эта связь отраженной и падающей волн приводит к тому, что волны, рассеянные всеми точками в двух пространственных направлениях относительно плоскости решетки, совпадают одна с другой по фазе. Однако в противоположность отражению в оптике, при падении рентгеновских лучей на плоскость кристаллической решетки амплитуда отраженного пучка составляет очень малую долю от амплитуды падающего пучка. Большая часть излучения проходит через кристалл. Кроме того, лучи, отраженные от последующих плоскостей решетки, параллельных первой, в общем случае не будут совпадать по фазе один с другим. Усиление, однако, можно получить путем подбора угла падения. Как показано на рис. В.З, для этого требуется, чтобы разность пути X Y Z-XYZ равнялась целому числу длин волн. Поскольку Y Y = Y W, то это эквивалентно требованию [c.169]

Основные идеи теории кольцевых резонаторов с неплоским контуром изложим сначала в общей форме, а затем рассмотрим некоторые простые частные случаи. Резонатор произвольного вида можно представить в виде совокупности плеч или сторон. Каждая такая сторона состоит из свободного распространения пучка от одного зеркала до другого и отражения в зеркале в конце стороны. Особенность резонаторов с неплоским контуром состоит в повороте плоскости падения пучка на некоторый угол при переходе от одного зеркала к другому, или от одного плеча к другому. [c.111]

Так как сс ра Эвальда поворачивается вокруг линии О—h, она будет проходить через другие, несистематические отражения через различные произвольные интервалы. Когда сфера Эвальда близка к любому несистематическому отражению, возникнет определенная тг-волновая ситуация, которую следует рассматривать соответствующим образом. Если же сфера Эвальда недостаточно близка к точке обратной решетки, возникнет слабый пучок, который можно трактовать практически так же, как в случае слабого несистематического ряда. [c.188]

В любом случае будем считать, что весь излучатель когерентен, т. е. все его элементы колеблются в фазе друг с другом. [Если это условие не выполняется, то угловой разброс будет больше того, что дает ( юрмула (39). В пределе, в случае некогерентного излучателя, пучок вообще не возникнет.] Для основного направления пучка точки поля, достаточно удаленные от излучателя, практически эквидистантны относительно всех частей излучателя. Таким образом, для этого направления мы будем иметь максимум, отвечающий конструктивной интерференции. Это условие и определяет основное направление пучка. (Если изменить разность фаз излучения элементов излучателя, то можно создать пучок, у которого основное направление не будет перпендикулярным поверхности излучателя. Этот случай показан на рис. 9.10, в, где на различные части зеркала, расположенного под углом 45° к падающей плоской волне, действует вынуждающая сила с различной фазой. В результате максимум конструктивной интерференции, т. е. направление отраженного пучка, не перпендикулярен поверхности зеркала, а подчиняется закону зеркального отражения .) [c.425]

Когда угол падения близок к критическому углу полного отражения, вторым слагаемым в (13.37) можно пренебречь. В этом случае смещение пучка допускает наглядную интерпретацию. Причиной смещения является неполное отражение на зтой стороне пучка из-за втекания энергии в полупространство 2 < О, где она переносится вдоль границы неоднородной волной, и отражение более сильное, чем полное, на другой стороне пучка из-за возвращения энергии в верхнюю среду. Если углы 0о и б не близки, необходимо принять во внимание, наряду с неоднородной волной, и другой, интерференционный механизм переноса энергии вдоль границы раздела с одной стороны падающего пучка на другую. Легко понять, почему Д [c.292]

Рд = Рпред- Полное внутреннее отражение, возникшее за счет нелинейной рефракции, в этом случае полностью подавляет (компенсирует) дифракционное расплывание пучка — распространение пучка внутри среды не приводит к какому-либо изменению размера и формы пучка, другими словами, пучок для себя как бы создает своеобразный волновод, внутри которого и распространяется без расходимости. Этот режим называется режимом самоканализации светового пучка [c.399]

Теперь можно полностью истолковать этот эксперимент. При падении на первое зеркало естественного (неполяризованного) света под углом Брюстера отраженный свет оказывается полностью поляризованным. От второго зеркала он либо отразится полностью (П2 II ni рис. 2. 13, а) или совсем не отразится от него (П2 X пх рис. 2.13, б), так как в последнем случае второе зеркало отражает свет только той поляризации, которая отсутствовала в пучке, отраженном от первого зеркала. Контрольными опытами нетрудно показать, что именно поляризация света при первом отражении и определяет условия отражения от второго зеркала. Для этого можно заменить первое зеркало каким-либо поляризатором (например, поляроидом или призмой Николя см. 3.1). Изменяя поляризацию падающего на второе зерка.по света, легко перейти от максимальной к минимальной интенсивности света на выходе. Укажем также, что если одно из диэлектрических зеркал заменить обычным металлическим, то ни при каком положении другого зеркала не удается добиться исчезновения света. Следовательно, при отражении света от металлического зеркала никогда не получается линейно поляризованная волна (см. 2.5). [c.88]

Однако в случае плоскопараллельной пластинки следует принять во внимание многократное отражение света от ее поверхности, ибо и все вторичные когерентные пучки окажутся параллельными друг другу и будут интерферировать, давая полосы равного наклона, локализованные в бесконечности. [c.136]

При падении интенсивного, излучения на границу раздела двух сред в отраженном свете наблюдаются волны не только с частотой падающего излучения, но и с кратными, разностными и суммарными частотами. Будем говорить о случае падения монохроматической плоской волны с частотой о). Опыт показывает, что направления распространения отраженных волн с частотами со и 2о) немного, но все же отличаются друг от друга, причем это отличие зависит от дисперсии показателя преломления среды, в которой распространяется падающая волна. Интенсивность второй гармоники в отраженном свете нД несколько порядков меньше, чем в преломленной волне, и практически не зависит от степени выполнения условия пространственной синфазности. Как и в случае френелевского отражения, амплитуды отраженных волн с частотой 2со зависят от угла падения и ориентации электрического вектора относительно плоскости падения. Наблюдается и аналог явления Брюстера при некотором угле падения для пучка с поляризацией. [c.845]

В принципе, чтобы добиться полной аналогии между системой на рис. 2.2в и резонатором, следовало бы еще учесть скачки фазы при отражении от зеркал. Если зеркала металлические, скачок фазы составляет тг №ленно благодаря тому, что идущие навстречу друг другу пучки на зерка-тх оказываются в противофазе, здесь и находятся, как известно, крайние узлы образующейся благодаря наложению этих пучков стоячей воды. Поскольку при полном обходе резонатора имеют место два отражения от зеркал, суммарный фазовый набег за их счет составляет 2тг и может быть отброшен. Если концевые зеркала имеют многослойные диэлектрические покрытия, скачки фаз уже не равны тт. В этом случае можно при анализе считать резонатор состоящим не из диэлектрических, а из металлических зеркал, поверхности которых находятся там, где был расположен ближайший к диэлектрическому зеркалу узел поля. Это позволяет ste з тывать скачки фаз на зеркалах и в дальнейшем. [c.65]

Новейшим голографическим методом является метод деления амплитуды. Деление амплитуды означает, что соответствующим оптическим элементом часть интенсивности пучка отделяется в другом направлении. Метод деления амплитуды основывается на отражении на границе двух оптических сред, двойном лучепреломлении света и других явлениях. При использовании этого метода структура оптического пучка не меняется и оба пучка имеют одинаковое распределение интенсивности по сечению, что удобно для осуществления последующих этапов голографического эксперимента. Лазерный пучок очень узок, поэтому для целей голографии его нужно обработать оптическими элементами расширить, сфокусировать, отклонить и т. п. Эту обработку можно провести либо перед разделением, либо после разделения пучка. Чаще пользуются вторым способом, поскольку при делении необработанного пучка требуются делительные элементы значительно меньших размеров. Кроме того, в этом случае можно значительно лучше отделить паразитные пучки, возникающие в результате многократного отражения в делительных элементах. [c.98]

Светоделитель, выполненный в виде плоскопараллельной пластины, в результате многократных отражений на его поверхностях дает ряд пучков, распространяющихся параллельно друг другу как в проходящем If /г ), так и в отраженном /Я ) свете (рис. 72, а). В случае клиновидного светоделителя пучки, претерпевшие многократные отражения на его границах, распространяются под разными углами, что облегчает их разделение (рис. 72, б). [c.104]

Назначение оптического прибора заключается в трансформировании путем преломлений и отражений одного расходящегося (или сходящегося) пучка в другой сходящийся (или расходящийся) пучок. Центры пучков в таком случае называются соответственно предметом и изображением. [c.4]

Дальнейшее отличие геометрии дифракции рентгеновских лучей от геометрии при использовании электронов заключается в числе дифрагированных пучков, получающихся одновременно. Для рентгеновских лучей даже при размытии максимумов рассеивающей способности или сферы Эвальда, которые обсуждались выше вероятность того, что сильное отражение будет появляться для любой частной ориентации падающего пучка, мала для кристаллов с малыми элементарными ячейками. Если же сильное отражение действительно появляется, то маловероятно, что появится второе такое же сильное отражение. С другой стороны, для электронов сфера Эвальда обычно пересекает некоторое число протяженных областей рассеивающей способности и для частных ориентаций число дифрагированных пучков может быть значительным. Это иллюстрируется фиг. 6.2, которая дает приближенное сравнение дифракции рентгеновского СиК -излучения и дифракции электронов с энергией 80 кэВ от кристаллов золота или алюминия, для которых условие Брэгга выполняется для 400-точки обратной решетки в обоих случаях. При рассеянии рентгеновских лучей совершенные кристаллические области имеют предположительно размер 1000 А или больше. В случае дифракции электронов кристалл обычно берут в виде тонкой пленки толщиной 50 А. [c.134]

В случае дифракции электронов при высоких ускоряющих напряжениях (20—100 кВ) на поверхностях углы рассеяния составляют примерно несколько градусов. В результате угол, образуемый падающим пучком с поверхностью (11/2—00), будет порядка одного градуса. Проникновение этого пучка в кристалл сильно ограничено поглощением или дифракцией, когда возбуждается сильное отражение, и может составлять только несколько ангстрем. Другой важный фактор, на который нужно обратить внимание в этом случае, заключается в том, что хотя для электронов показатель преломления кристалла может быть лишь немного больше единицы, для таких малых углов падения эффекты преломления будут значительными. Волны, дифрагировавшие от плоскостей, параллельных поверхности и имеющих межплоскостные расстояния порядка 2—3 А, могут претерпеть полное внутреннее отражение и не выйти из кристалла. Дифракционные волны, проникающие в кристалл при немного больших углах, преломятся так, что на дифракционных картинах они сильно сместятся. [c.192]

Второй специальный случай, отмеченный буквой б на фиг. 10.3, соответствует такому наклону падающего пучка, при котором сфера Эвальда точно проходит через точки обратной решетки ООО, 200, 220 и 020. Тогда четыре соответствующих пучка будут эквивалентны в том смысле, что они имеют одинаковые ошибки возбуждения и взаимодействуют друг с другом и с последовательными концентрическими рядами пучков через одинаковые потенциалы взаимодействия. При группировке этого набора отражений эффективное число пучков снова уменьшается. В этом случае пучок ООО выделится среди остальных пучков, если будут наложены граничные условия для входной поверхности, но дальше этого упрощение задачи не идет. [c.227]

Отражение световой волны, происходящее на границе двух различных сред (при соотношении щ Ф пг), неразрывно связано с явлением преломления луча во вторую среду. Если показатели преломления обеих сред одинаковы, то отражения не происходит даже в том случае, когда среды различаются по другим свойствам. Законы отражения принимают простой вид для случая оптически гладкой плоской поверхности раздела. При выполнении этого условия каждый луч падающего пучка света отражается так, что угол падения, образуемый лучом с нормалью к поверхности в точке его падения, равен углу отражения причем оба луча (падающий и отраженный) лежат в одной плоскости с нормалью к поверхности. Эта плоскость называется плоскостью падения. [c.56]

Конечно, следует принять во внимание, что интенсивности пучков 1, 2, 3,. .. неодинаковы. Действительно, пусть, например, коэффициент отражения равен 0,05, т. е. только 5% падающего света отражается, а 95% проходит. В таком случае интенсивность пучка 1 будет составлять 5% от интенсивности падающего, интенсивность пучка 2—4,5%, а интенсивность пучка 3 — всего лишь около 0,01%. Другими словами, третий и следующие пучки практически отсутствуют. В зависимости от значения коэффициента отражения число дучей, интенсивность которых еще достаточно велика (число эффективных лучей), возрастает й, следовательно, в образовании интерференционной картины активное участие принимает тем большее число лучей, чем больше коэффициент отражения. [c.136]

Многослойники, создаваемые для использования в оптике, должны иметь высокое оптическое качество. Это означает, например, что поверхности зеркал не вносят вариаций интенсивности в отраженный пучок либо, в других случаях, что параллельный пучок после прохождения оптической системы остается параллельным. Среди таких применений следует назвать двухзеркальные монохроматоры, рентгеновские микроскопы и телескопы, рентгеновский микроанализ, зеркала для управления пучками синхротронного излучения, а также любые применения, где требуется фокусировка. [c.446]

Пусть свет падает по нормали к поверхности тонкой пластинки, а между двумя поверхностями имеется малый угол ip. Тогда отраженные пучки нулевого, первого и более высоких порядков отклонены от нормали на углы О, 2гир, 4п(р и т. д. Проходящие пучки первого, второго и других порядков отклонены от нормали на углы гир, Ъгир и т.д. В плоскости фотоприемника возникает смещение пучков соседних порядков относительно друг друга на расстояние Аж Htg2n(p. При Я = 50 см, (р = 3-10 4 рад и п = 3,54 (кремний) получаем Ах Ai 0,1 см. Таким образом, пучки высоких порядков могут оказываться за пределами фоточувствительной площадки приемника. Пучки высоких порядков дают вклад в регистрируемый сигнал только при небольших температурах, и при повышении температуры их вклад падает из-за поглощения света при многократном прохождении сквозь пластину. При высоких температурах вклад в отражение R и прохождение Т света дают только пучки нулевого (для R) и первого порядка (для R и Т). Поэтому эффект угловой расходимости пучков может приводить к существенным ошибкам в области температур, где пластинка имеет малые значения ah и большой коэффициент пропускания. Проверить влияние клиновидности пластинки на результат измерения можно, измеряя мощность отраженного или проходящего пучков с помощью фотоприемника, который последовательно устанавливается на разных расстояниях от исследуемого образца. Если регистрируемая мощность не зависит от расстояния, роль клиновидности можно считать пренебрежимо малой. В противном случае необходимо применить другой фотоприемник, у которого больше размер фоточувствительной площадки. [c.124]

Даже в случае двухволновой ориентации, когда удовлетворяется условие Брэгга для сильного близкого отражения, а для всех других сильных отражений ошибки возбуждения велики, известно, что для очень тонкого кристалла появляется большое число дифракционных пучков. Таким образом, представляет интерес способ сведения ситуации к двухволновой через увеличение толщины. В первых п-волновых вычислениях без учета поглощения предполагалось, что относительные интенсивности всех пучков устанавливаются на первомэкстинкционном расстоянии, т.е. основной периодичности, которую дает падающий пучок. Помимо этого, все пучки сохраняли свои относительные интенсивности, усредненные по нескольким экстинкционным расстояниям для всех толщин. [c.336]

Строго говоря, замена излучателей рэлеевских волн напряжениями допустима только при условии малости волновых сопротивлений материалов излучателей (т. е. кварца, материала гребенчатой структуры и материала клина) ПО сравнению с материалом твердого телк, что в большинстве практических случаев выполняется только приближенно, однако другой предельный случай (малость волнового со(противления твердого тела), когда излучатели рэлеевских волн можно было бы заменить смещениями, заданными на поверхности твердого тела, еще более далек от практики. Заметим также, что в методе клина мы будем пренебрегать расхождением пучка продольных волн в клине и смещением отраженного пучка на границе клин — твердое тело. [c.16]

В установке рис. 27 ослабление осуществляется градуированным фотометрическим клином и эталонированными ослабителями 0 , Оз и Од. В других случаях для ослабления света используются три поляризатора, последовательно расположенных в пучке сравнения, как это сделано Дором [199]. С успехом также используется ослабление путем многократных отражений [200] и целый ряд других приемов [43, 198, 201, 205]. [c.172]

Чтобы порять причины различий во внешнем виде, можно рассмотреть распределение света, отраженного от некоторых типичных пленок. На рис. 15.1 и 15.2 иллюстрируются данные, полученные при освещении очень узким пучком света под углом 60°. Для идеальной зеркальной поверхности весь свет отражается зеркально. В других случаях интенсивность отраженного света зависит от косинуса угла отражения, как показано на рис. 15.1 для обширной поверхности при любом направлении наблюдения яркость одинакова. Для полуглянцевых белых покрытий характерен круговой график отражения с пиком, соответствующим углу зеркального отражения узость пика и его высота в точке зеркального отражения являются мерой глянца покрытия. Для полуглянцевых покрытий форма пика меняется с величиной глянца (рис. 15.2). [c.440]

Нетрудно заметить, что в этом случае все отраженные волны синфазны и усиливают друг друга. Для некоторой области длин волн, близкой к /-0 (удовлетворяющей условию i/i = 2 2 0/4), мы получим максимумы, ширина которых тем меньше, чем больше число интерферирующих пучков. Так, например, если нанести семь слоев, то легко добиться коэффициента отражения fR = 90 /<1 в области шириной около 500А. Для получения Л 99% (такие коэффициенты отражения необходимы в лазерной технике) надо нанести 11—13 слоев. [c.220]

Принцип голографической интерферометрии состоит в следующем. После экспонирования и фотообработки голограмму устанавливают на прежнее место, освещают лазерным пучком и. наблюдают сквозь нее объект, также оставшийся на прежнем месте, но получивший какие-либо деформации механические, тепловые и т. д. причем оператор увидит объект, покрытый сетью интерференционных полос. Интерференционная картина в данном случае возникает в результате интерференции двух фронтов световых волн отраженного от объекта в момент наблюдения и восстановленного с голограммы предметного пучка. Интерференционные полосы являются геометрическим местом точек равных перемещений, полученных объектом. Часто метод голографической интерферометрии реализуется другим способом. Об состоит в том, что на одну и ту же пластинку двумя экспозициями Босле-довательно записываются голограммы от объекта, находящегося в исходном в деформированном состоянии. При этом суммарная экспозиция должна находиться в пределах линейного участка характеристической кривой фотоэмульсии. [c.78]

Если мы имеем один монокристалл (см. стр. 156), то для получения отражения от какой-либо плоскости (кк1) этот кристалл надо облучать белым" рентгеновским излучением, в составе которого всегда найдётся такая длина волны X, которая будет удовлетворять уравнению (19). В методе порошков (Дебая-Шеррера) применяется не белое, а монохроматическое (характеристическое, см. стр. 154) излучение и в качестве образца не один монокристалл, а порошок (или другой агрегат), состоящий из множества мельчайших монокристалликов величиной не более 10 см, беспорядочно ориентированных в пространстве. В виде образца для исследования в случае пластичных металлов или сплавов может служить проволочка диаметром 0,2-0,5 мм и длиной около 5— 7 мм. Если пропускать параллельный пучок рентгеновых лучей через такой порошковый образец О (фиг. 56), то в нём всегда найдётся большое число монокристальных крупинок, в которых данная плоскость (кк1) будет ориентирована по отношению к направлению луча под брэгговским углом 6. В то же время все эти попадающие под условие отражения плоскости (Нк11 не будут параллельны между собой в различных крупинках, поэтому в сумме все отражённые лучи дадут конус отражения с характерным для данной плоскости кк1) [c.166]

В интерферометре Физо поверхности контролируемой и эталонной пластинок из-за малости угла (угл. секунды) почти полностью соприкасаются друг с другом и в процессе юстировки могут быть повреждены. Поэтому для контроля поверхностей часто используются бесконтактные П., построенные по схеме интерферометра Майкельсона (рнс. 3). Здесь параллельный пучок света пз объектива 0 входного коллиматора падает на полупрозрачную разделит, пластинку П и нанравляется к зеркалам Л/i и к-рыми в данном случае служат эталонная Э и контролируемая К пластинки. После отражения от зеркал-пластинок оба пучка вновь соединяются разделит, пластинкой П и направляются в объектив Оя выходного коллиматора и интерферируют. При. этом оба зеркала ориентированы так, чтобы контролируемая поверхность К и мнимое изображение эталонной поверхности Э в разде. 1ит. пластинке образовали небольшой В0.ЭДУШНЫЙ клин толщиной в его ср. части (на оп- [c.171]

Источники света вследствие размеров ламп должны быть расставлены друг от друга они отстоят от оси иа некотором, иногда довольно значительном, расстоянии зто вызывает появление комы в пучках, отраженных от рефлектора, и равномерность, которая могла быть осуществлена при осевом положении источинка, нарушается. Эго нарушение может оказаться очень ощутимым при больших габаритах светильников. Оно может быть исправлено симметрнчньгм относительно оси расположением источников при условии, что последние обладают одинаковыми световыми характеристиками, так как в этом случае происходит взаимная компенсация отступлений от равномерности освещения. При этом число источников ие должно превышать нескольких единиц при больших отступлениях компенсация может оказаться недостаточной. [c.465]

Обсудим теперь вопрос об отражении цилиндрическим зеркалом пучка конечного диаметра d. При этом следует прини-мать во внимание два обстоятельства. Во-первых, коэффициент отражения R в этом случае будет изменяться вдоль поперечного сечения пучка в соответствии с формулой (4.1) или (4.7), в которой угол скольжения 0, очевидно, меняется от нуля до 0тах == = 7/2й1Го. Во-вторых, при многократном отражении у первоначально плоскопараллельного пучка появляется угловой разброс, другими словами, искажается волновой фронт [c.132]

В тех случаях, когда эффективность является определяющим параметром прибора, более выгодна по сравнению с классической другая схема освещения решетки, в которой п.лоскость падения пучка перпендикулярна к плоскости дисперсии (в случае прямолинейных штрихов — параллельна линии штрихов). В литературе такую схему часто называют схемой внеплоскостной установки решетки или схемой конической дифракции . Из-за отсутствия затенения в этой схеме полностью используется плоскость штриха, и эффективность отражения оказывается существенно (в некоторых случаях — на порядок) выше, чем в классической схеме. Возможны модификации этой схемы с коррекцией аберраций путем изменения периода и формы линии штрихов для получения стигматических спектральных изображений. [c.272]

Возможность взаимодействия или кажущееся рассеяние в экспериментальных условиях получается также по целому ряду причин, имеющих различную природу. В том слзшае, когда в области взаимодействия находятся какие-либо неоднородности (пузырьки, рассеивающие первичные волны препятствия и др.), в результате рассеяния первичных волн на этих препятствиях появляются волны, идущие в одном и том же направлении эти волны, как ун е отмечалось, взаимодействуют с образованием комбинационных частот. Такая н е возможность не исключена и в том случае, когда область взаимодействия однородна, но в качестве взаимодействующих используются пучки недостаточно хорошо коллимированные, о чем говорилось уже выше, или имеет место отражение (хотя бы и небольшое) от стенок экспериментального сосуда или помещения, приводящее к параллельному взаимодействию. В этой связи следует подчеркнуть, что экспериментально довольно большие уровни комбинационных частот наблюдаются при 0 = О, т. е. в одном из взаимодействующих hjpikob, что, по-видимому, связано с появлением в этом пучке (из-за отражений или особенностей характеристики направленности) слабого излучения другой частоты, распространяющегося в том же направлении. [c.95]

Очевидно, что аппроксимация (10.3) может оказаться удовлетворительной лишь для ограниченного класса задач не только благодаря частному виду аппроксимирующей функции, но и благодарй тому, что коэффициенты аккомодации предполагаются не зависящими от функции распределения падающих молекул. Более того, аппроксимирующая функция (10.3) с заданными коэффициентами аккомодации в форме (10.6) и (10.7) противоречива. Действительно, пусть, например, (Хт.= 1 и а ф I. Рассмотрим два пучка молекул, падающих на поверхность соответственно со скоростями i и gj- Если плотность падаюпщх пучков молекул не очень велика, то функция распределения отраженных молекул для каждого из пучков молекул не должна зависеть от присутствия молекул другого пучка (речь идет о пучках молекул, достигших стенки, и об отраженных молекулах непосредственно у стенки, так что столкновения молекул между собой не могут изменить наших рассуждений). Функция распределения отраженных частиц при падении на стенку сразу двух пучков должна быть равна сумме функций распределения отраженных молекул каждого из пучков. Однако легко видеть, что функция (10.3) при 1 не удовлетворяет этому условию аддитивности. Во всех трех случаях функция распределения отраженных молекул имеет вид [c.84]

В оптических приборах в результате неправильного выбора параметров оптической системы иногда наблюдается наложение друг на друга основного и побочного изображений. Побочное изображение в телескопических системах возникает в тех случаях, когда вследствие неправильного выбора размеров призменной системы различные пучки лучей имеют неодинаковое число отражений. Для устранения побочного изображения, даваемого качающимися визирньиш призмами, иногда приходится вводить подвижные шторки (фиг. 261). [c.414]

Светоделительный кубик Л.—Б. состоит из двух прямоугольных призм полного внутреннего отражения, склеенных своими диагональными гранями. Одна из них (в простейшем случае) со-шлифовывается предварительно так, что на ней остается в центре грани полированная часть в виде круга. На рис. 276 показан ход параллельных пучков через кубик от двух сравниваемых источников света. Один из пучков проходит через центральную часть кубика, а другой отражается от периферических частей диагональной грани и затем идет в том же направлении, что и первый. [c.345]

Другим примером подобных устройств может служить рефрактометр, изображенный на рис. 519. Здесь Р — стеклянный полуцилиндр, плоское сечение которого находится в контакте с контролируемым раствором. На границу стекло—раствор надает расходящийся пучок света. Частично он испытывает полное внутреннее отражение. Луч 1 является предельным. Отраженный свет попадает на фотоэлемент Ф, который соединен со специальным электронным устройством ЭП, собранным по мостовой схеме.-Мостовая схема отрегулирована так, что ее равновесие сохраняется нри некоторой величине светового потока, попадающего на фотоэлемент. С изменением показателя преломления раствора предельный угол полного внутреннего отражения меняется. При этом величина светового потока, попадающего на фотоэлемент, также будет меняться. Разбалансированная схема ЭП приводит в движение мотор, который поворачивает фотоэлемент относительно центра цилиндрической поверхности до восстановления равновесия моста. Таким образом, в данном случае мы имеем следящее устройство, которое способно не только сообщить о достижении заданной концентрации раствора, но и показывать ее значение величиной угла поворота трубы с фотоэлементом в любой момент времени. [c.698]

Пространственная структура лазер- ного пучка зависит от геометрии оптического резонатора. От других известных типов резонаторов (например, микроволновых) оптический отличается тем, что его размеры велики по сравнению с длиной волны [ (Ю" 10 ) X], поэтому он обладает большим числом мод. Однако это открытый резонатор, образованный двумя далеко разнесенными зеркалами, и большинство мод характеризуется сильным затуханием из-за ухода излучения за его пределы. Моды с малыми потерями должны (в приближении геометрической оптики) соответствовать такому направлению распространения излучения, чтобы после повторных проходов и отражений излучение не выходило из резонатора. Требование существования таких мод налагает ограничения на соотношение между длиной резонатора и радиусами кривизны его зеркал, известные как условия устойчивости (неустойчивый резонатор может использоваться только в системах с очень высоким уровнем усиления в активной среде). Из-за ограниченного размера зеркал распространение света в резонаторе сопровождается дифракционными явлениями, и в общем случае задача расчета поля в резонаторе оказывается довольно сложной. [c.449]

Амплитуда пучка, рассеянного в каком-либо определенном направлении, в значительной степени зависит от упорядочения в расположении атомов. Если, подобно тому как в случае рентгеновских лучей и нейтронов, взаимодействие с атомами настолько слабое, что в кристалле энергия продифрагировавшего излучения может концентрироваться в одном или двух четко определенных направлениях благодаря трехмерной дифракции прежде, чем падающий пучок успеет потерять значительную часть своей энергии, тогда можно рассматривать возможность рассеяния строго определенных пучков. Продифрагировавший пучок будет дифрагировать снова, если он проходит через другую область кристалла, которая ориентирована под правильным углом для брэгговского отражения. Это условие всегда выполняется в большом совершенном монокристалле, но его выполнение становится менее вероятным при наличии кристаллических дефектов, границ зерен и т.д. Для совершенного кристалла и сильного кристаллического отражения многократное рассеяние становится заметным для рентгеновских лучей при длине пути порядка 1 мкм. Для нейтронов необходимая длина Пути в несколько раз больше. Если атомы недостаточно упорядочены, чтобы давать хорошо определенные дифрагированные пучки, то интенсивность дифрагированного излучения в любом направлении будет значительно меньше и эффекты многократного рассеяния будут соответственно менее важными. [c.99]

Строгое обоснование использования одномерных вычислений неочевидно, но их точность по сравнению с полными двумерными вычислениями была всестороне проверена для кристаллов в некоторых ориентациях. Например, в случае MgO Мак-Магон [299] сравнил одномерные систематические вычисления для отражений ЙОО с двумерными вычислениями для ориентаций, выбранных так, чтобы свести к минимуму число и силу несистематических отражений. Для большинства благоприятных случаев, проиллюстрированных на фиг. 15.7, профили интенсивностей, вычисленные для дифракционных пятен в сходящемся пучке, в двумерном и систематическом случаях согласуются очень хорошо только тогда, когда значения использованных структурных амплитуд для систематического ряда отражений взяты примерно на 1 % выше точных значений. Для других несколько менее благоприятных ориентаций использование одномерных вычислений дает большие отклонения, соответствующие 1,5—2% ошибки в структурных амплитудах, и для произвольной ориентации, которой соответствует в основном систематический ряд отражений, ошибки могут быть значительно выше. Одна ко точность в 1 или 2% требуется только для таких экспериментов, в которых хотят получить очень точные значения структурных амплитуд, а для многих целей можно предположить, что одномерные вычисления достаточно хорошо определяют интенсивности, если не существует очевидных нарушений, возможных в случае несистематических взаимодействий. [c.251]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...