Плоскость решетки

Поперечная сила сопротивления решетки равна разности проекций на ее плоскость количества движения жидкости перед решеткой и за ней. Проекция количества движения на плоскость решетки в сечении перед ней [c.120]

Оказалось, что для большинства прямоугольных решеток разрушение при оптимальном очертании имеет поле скоростей прогибов, которое в прямоугольной системе координат, расположенной в плоскости решетки, является зонально квадратичным. В областях этого рода главные скорости кривизн имеют фиксированные направления. Выберем оси и в этих направлениях. Так, например, в области типа Т поле [c.61]

Рассмотрим простой случай — направим пучок света перпендикулярно плоскости решетки, т. е. вдоль оси 2. В этом случае а = = ро == 90° и 7о = О- Условия максимумов вдоль осей х и у будут [c.156]

В предыдущих параграфах этой главы рассматривалась одномерная задача дифракции плоской волны на правильной структуре из N параллельных щелей. При расчете коэффициента пропускания дифракционной решетки учитывалась зависимость лишь от одной переменной величины (текущей координаты х). Считалось, что ось X, лежащая в плоскости решетки, направлена перпендикулярно образующим щелей. При перемещении приемника параллельно оси У никаких интерференционных эффектов не наблюдалось — вдоль щели интенсивности складывались. Перейдем к исследованию дифракции в более сложных слу- [c.344]

Таки.м образом, если параллельный пучок всех длин волн (белый свет) направить на линейную решетку, то получим максимумы для каждой длины волны, располагающиеся вдоль линии, перпендикулярной к штрихам решетки (спектр). Если параллельный пучок белого света падает на двумерную решетку, то получим максимумы для всех длин волн, располагающиеся в определенном порядке в плоскости, параллельной плоскости решетки (цветные пятна). Если же направить на пространственную решетку свет всех длин волн, то получатся дифракционные максимумы только для некото- [c.230]

В опытах по дифракции рентгеновских лучей пучок падает на решетку с периодом 2 мкм под углом скольжения в 30 (угол скольжения — угол, составляемый направлением луча с плоскостью решетки). Угол дифракции для спектра третьего порядка получился равным lVa°- Определить длину волны рентгеновских лучей. [c.881]

Силы, стремящиеся устранить несовпадение положений атомов в соседних плоскостях, наиболее слабы между плотноупакованными плоскостями, так как расстояние между такими плоскостями больше, чем между любыми другими плоскостями решетки. Поэтому самые широкие дислокации лежат в плотноупакованных пло- [c.63]

Концы стрелы считать защемленными при изгибе в плоскости решетки и шарнирно опертыми при [c.199]

Смещение (с изгибом) некоторой части плоскости решетки из регулярного положения [c.234]

Форма и метод возведения сетчатых оболочек, начиная с деталей, были всегда одинаковыми. Пересекающиеся, изогнутые по эллипсу стержневые элементы решетки образовывали своды с поперечным сечением в виде кругового сегмента. Они выполнялись из неравнобоких стальных уголков, широкие стороны которых ставились на ребро, а узкие располагались в плоскости решетки, что позволяло без затруднений соединять их на заклепках в местах пересечения с арочными элементами. В зависимости от пролета применялись уголки различного поперечного сечения (например, при пролете 13 м сечение уголков составляло 80 х 40 х X 4,5 мм при пролете 28 м — 100 х 50 х 7, 5 мм). Концы верхних арочных ребер выступали под наклоном через наружные стены и несли свес кровли. Распор свода воспринимался установленными поперек здания затяжками, которые для уменьшения напряжений изгиба в контурной балке в концах разветвлялись. При сооружении здания, завершающего машинный отдел, Шухов впервые предпринял попытку применить в сетчатых конструкциях поверхности двоякой кривизны. На одном из двух сохранившихся ранних проектов (рис. 58) над центральной частью здания показан купол в форме шляпы (пролет 25,6 м, стрела подъема 10,3 м). К сожалению, конструкция этого сетчатого купола больше нигде не приводится. Однако, исходя из размеров 16 расположенных по окружности гибких стоек и легких подкосных конструкций, которыми завершались эти стойки, можно сделать вывод, что вес этого купола был незначительный. По-видимому, не было найдено удовлетворительного конструктивного решения, так как в окончательном проекте над средней частью здания вместо купола возвышается свод с большей кривизной (рис. 61). Его оба стеклянных торца, выходящие над уровнем более пологих сводов, образовывали большие серповидные световые про- [c.40]

Чувствительность методов фазового анализа зависит от многих факторов от отражательной способности атомных плоскостей (точнее, от рассеивающей способности атомов, составляющих данные плоскости решетки), от соотношения коэффициентов поглощения всей смеси и определяемой фазы, от доли некогерентного рассеяния (фона) на рентгенограмме, от величины искажений решетки искомой фазы, от величины кристаллов. [c.13]

Здесь Jу—момент инерции поперечного сечения стойки (четыре уголка или два швеллера) относительно оси у, перпендикулярной к плоскости решетки и Fi — соответственно площадь поперечного сечения одной диагонали и одной распорки (фиг. 13, а) или двух диагоналей и двух распорок (фиг. 13.6 и в) а — угол между распоркой и диагональю (фиг. 12). [c.318]

На рис. 2.23,6 приведены значения /с в зависимости от скорости при разных 0. Лазерный решеточный анемометр на прямом рассеянии изображен на рис. 2.24, а. Луч лазера 1 фокусируется линзой 2 в некоторой точке А потока, где частицы имеют скорость Ск- Изображение этих частиц объективом 3 переносится на плоскость решетки-модулятора 4, расположенного на катоде фотоприемника 5. Если пространственный период решетки-модулятора D, а линейный коэффициент преобразования объектива т, то доплеровская частота [c.53]

Рис. 4. Схема атомной плоскости решетки, содержащей линейные дислокации

В нашем случае моделирование процесса смешения производилось на плоской решетке, установленной в специально созданной экспериментальной установке. Конструкция установки позволяла поддувать холодный воздух через щелевой коллектор (5 X 250 мм) к основному газовому потоку, расположенному в торцовой плоскости, решетки на расстоянии [c.215]

При падении на решетку плоской волны, фронт которой параллелен плоскости решетки, на экране, расположенном по другую сторону решетки, при наличии линзы, удаленной от экрана на фокусное расстояние, возникает чередование светлых и темных полос разной интенсивности. Между двумя главными максимумами располагаются N—2 промежуточ- [c.224]

В коническом течении линии тока представляют винтовыми линия.мп, лежащими на конических поверхностях. Поскольку меридиональная проекция скорости убывает вдоль поверхности тока быстрее, чем окружная, то шаг винта уменьшается. Угол наклона скорости к плоскости решетки, закрутившей поток, будет уменьшаться. [c.261]

При рациональном конструировании составного стержня следует так расположить элементы сечения, чтобы моменты инерции относительно обеих главных осей были примерно равны (разумеется, элементы соединительной решетки в состав сечения не включаются). Обычно даже стремятся момент инерции относительно оси, перпендикулярной к плоскости решетки, сделать несколько большим, так [c.470]

Рис. 4.14. Типы распределения л-электронов в комплексе атом кисло рода — базисная плоскость решетки фафита.

Согласно одной из моделей, зона — это диск атомов меди толщиной в один атом, окруженный плоскостями решетки алюминия. Смещение в кристаллической решетке вокруг зоны охватывает не менее 14 атомных плоскостей. В первой соседней плоскости Аа/й равно —0,10 а — межплоскостное расстояние), а в 10-й — только —0,02 (на основе. расчета и рентгеновских данных). [c.225]

Наблюдение дислокаций в атомно-кристаллических решетках под электронным микроскопом стало возможно благодаря усовершенствованию их конструкции, позволяющей различать кристаллографические плоскости решетки с расстоянием друг от друга в 6,9 А. Это позволило исследовать решетку кристалла фталоцианина платины, у которого расстояние между плоскостями (201) около 12 А. [c.31]

При падении на решетку плоской волны, фронт которой параллелен плоскости решетки, на экране, расположенном по другую сторону решетки, при наличии линзы, удаленной от экрана на фокусное расстояние, возникает чередование светлых и темных полос разной интенсивности. Между двумя главными максимумами располагаются N -2 промежуточных максимума. Однако интенсивность света в них не превышает нескольких процентов интенсивности главных, так что в оптических приборах с дифракционными решетками практически используются лишь главные максимумы. [c.247]

Каждая комбинация индексов Миллера (hkl) описывает семейство плоскостей решетки, в которой каждая отдельная плоскость отстоит от соседней всегда на равные отрезки d—межплоскостное расстояние. [c.14]

Не представляет принципиальной трудности рассмотреть случаи, когда штрихи в двух направлениях составляют угол, отличный от 90°, и луч падает наклонно к плоскости решетки. Учет этих факторов не изменит общего характера дифракцион1ЮЙ картины. Однако нарушетш строгой периодичности щелей (хаотическое распределение их) приводит к существенному изменению общей картины — наблюдаются симметричные размытые интерференционные кольца, обусловленные дифракцией света на отдельных частицах. Интенсивность наблюдаемых колец будет пропорциональна не квадрату числа щелей, приходящихся на единицу поверхности (как это было при дифракции на правильной структуре), а числу щелей. Эти две принципиально разные картины позволяют по результату наблюдения сделать вывод о характере расположения щелей (или частиц) на плоскости. [c.156]

Уточним физические принципы действия таких решеток. Выше уже указывалось, что соотношение 1/т не является универсальным. При выводе формулы (6.49) предполагалось, что плоскость каждой щели совпадает с плоскостью решетки, и не учитывалась дополнительная разность фаз, возникающая при прохождении плоской волной тела самой решетки. Таким обра- [c.298]

Пусть объектом служит однолте )ная дифракционная решетка с постоянной d (рис. 6.7 )). Будем считать ее плоской, что приемлемо, гак как и микроскопе исс.]едуются тошсие препараты, а глубина резкости столь сильного объектива мала. Плоская волна проходит сквозь решетку, распространяясь вдоль оптической оси микроскопа перпендикулярно плоскости решетки. В главной фокальной плоскости объектива получается спектр — [c.342]

В конфузорных межлопаточных каналах происходит преобразование потенциальной энергии потока в кинетическую и придание потоку определенного направления. Ось канала направлена не под прямым углом к плоскости решетки, в результате чего на выходе из нее образуется так называемый косой срез — область AB на рис. 3.6. При сверхзвуковом или звуковом истечении в точке А имеет место скачкообразное изменение давления (от давления в канале до давления за решеткой). Это является причиной возникно- [c.100]

Геометрически двоиникование в кристаллах описывается при помощи четырех кристаллографических элементов или индексов Ки 2> Hi. TI2 117], где Ki — плоскость двойникования К2 — второе круговое сечение t j — направление двойникования г 2 — ось основной зоны (см. рис. 1.2). Для более подробного описания двойникования обычно еще указывают плоскость сдвига 5 и кристаллографический сдвиг S. Если плоскость двойникования Ki совпадает с плоскостью решетки и эта плоскость характеризуется индексами, представляющими собой целые и малые числа, а щ отвечает направлению в решетке, определяемому также целыми и малыми индексами (т. е. К и т)2 рациональны), то такие двойники называются двойниками первого рода. При этом /Сз и t]i могут быть как рациональными, так и иррациональными. У двойников второго рода /Сз и t]i рациональны, а /(i и т]2 иррациональны. У кристаллов высокой симметрии, к которым относятся обычно металлы, все элементы Ки К , T i и т]з чаще всего рациональны. Такие двойники можно рассматривать как двойники и первого, и второго рода. [c.10]

Сущ,ествует также мнение, по которому граничная линия между кристаллами представляет собой пластинчатообразные пустоты. Убедительной является теория, по которой границы зерен представляют собой более или менее ограниченные локальные равновесные нарушения плоскостей решетки, ненасыщенной в данном месте. Едва видимые линии скольжения, вызванные незначительной деформацией — результат нарушения решетки. [c.28]

Видимое отсутствие застойных зон могло быть следствием работы с очень большими скоростями фильтрации По крайней мере проведенная авторами (Л. 535] киносъемка движения частиц над горизонтальной пластинкой шириной всего 50 мм, размещаемой в псевдо-ожиженном слое на разных уровнях, в том числе в плоскости решетки, показала наличие застойных зон. Авторы [Л. 535] закрепляли пластинку на высоте О—200 мм от решетки в двухмерном (9—380 мм) псевдоожижен-ном слое катализатора крекинга нефти (частицы 75— 100 мкм г0п.у=О,б2 см1сек угол естественного откоса 29,4°). Над пластинкой возникала мертвая зона неподвижного материала. Выше мертвой зоны находилась квазистабильная застойная зона , материал (В которой периодически (1 раз в несколько секунд) сменялся за счет пульсаций окружаюш,его слоя. Зависимость высоты мертвой зоны от типа решетки (перфорированной с отверстиями 0 1 мм или пористой — из фильтровальной бумаги) и высоты расположения пластинки была незначительной. Она уменьшалась с увеличением скорости фильтрации до Л/ — 4, после чего оставалась почти неизменной. Впрочем, данных для N, больших 5,35, не указано, а при Л = 5,35 —мала форсировка для слоя столь мелких частиц. [c.75]

Размер частиц варьировал от 0,9 до 12 мм. Трассирующая жидкость (3 н. раствор соляной кислоты или горячая вода) непрерывно подводилась через расположенную аксиально трубку диаметром 4 или 6 мм, выходное отверстие которой лежало в плоскости решетки. Концентрация соляной кислоты в различных точках определялась датчиком электропроводимости. В случае подачи в качестве трассера горячей воды датчиком зонда служила термопара. Типичные кривые распределения концентрации трассера, полученные в опытах Викке и Травинского, показаны на рис. 5-9. Опытные данные примерно удовлетворяют Гауссовой функции распределения [c.198]

Как было показано выше, при повороте потока перед газораспределительным устройством плоские решетки не обеспечивают равиомерного пяспределеиия, так как не могут изменить нанравления потока. Поэтому для распределения газов в нижних секциях необходимо перед плоской решеткой создать такие условия, чтобы поток двигался перпендикулярно плоскости решетки и имел малую неравномерность. Поэтому опускной короб выполняется сечением 1 500X4 000 мм, что обеспечивает перед поворотом равномерное распределение газов по ширине корпуса. Скос задней стеики короба и объемные вставки в месте поворота перед входом в электрофильтр способствуют равномерному распределению потока по высоте Kopiny a и создают условия для поворота. Во входном сс-чении устанавливается плоская решетка, завершающая распределение потока (рис. 7-11,6). [c.201]

Теоретическое значение прочности при растяжении кристаллов графита в направлении атомных плоскостей решетки составляет 180 ГПа [25]. Если исходить из теоретаческого значения их модуля упругости при растяжении, принимая, что прочность составляет 1/10 величины модуля упругости, то она должна быть равна 100 ГПа. Экспериментальное значение прочности при растяжении нитевидных монокристаллов графита лишь немного превышает 20 ГПа [26] Прочность углеродных волокон зависит от условий их производства и микроскопических дефектов и характеризуется определенным законом распределения. Если определять среднюю прочность углеродного волокна, используя распределение [c.43]

Для объяснения самопроизвольного превращения на чередующихся плоскостях решетки в большом объеме Зегер предположил, что движущиеся частичные дислокации в результате пересечения с другими дислокациями закономерно переходят из одной плоскости в другую, параллельную первой. Описанный механизм напоминает деформационное двойникование для о. ц. к. решетки — дислокационную мельницу . [c.266]

Расстояние между плоскостями решетки d определяется путем ориентации кристалла в спектрометре. Следовательно, положение дифракционного максимума зависит от длины волны рентгеновского луча, падающего на кристалл, а длина волны рентгеновского характеристичного излучения от порядкового номера элемента уменьшается с увеличением атомного номера. Для регистрирования дифракционного максимума, по положению и интенсивности которого можно судить о типе и количестве данного элемента в пробе, в рентгеноспектрометре применяют счетчик Гейгера—Мюллера или сцинтилляционный счетчик с последующим подключением усилителя и самописца. Возможности и границы спектрографического метода для анализа бокситов описаны Пфундтом 12]. [c.21]

Небольшое различие между соотношениями (8.3.44) и (8.3.45) показывает, что упаковка частиц в однородных суспензиях не очень важна. Чтобы подробнее выяснить степень справедливости этого утверждения, Фамуларо получил скорости оседания суспензий, которые были, по существу, ромбоэдрическими, за тем исключением, что вертикальное расстояние между прилегающими горизонтальными плоскостями решетки варьировалось по сравнению с таким расстоянием для истинной ромбоэдрической решетки. Если I — длина стороны равностороннего треугольника в горизонтальной плоскости ромбоэдрической суспензии, а fe — высота [c.443]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...