Узкие пучки

Чтобы определить не только расстояние до тела, но и его положение в пространстве, необходимо посылать радиоволны узконаправленным пучком. Узкий пучок радиоволн создается с помощью антенны, имеющей форму, близкую к сферической. Для того чтобы антенна радиолокатора могла создать узконаправленный пучок радиоволн, в радиолокации используются ультракороткие волны (Х<10 м). [c.260]

В исландском шпате оптическая ось совпадает по направлению с линией, соединяющей два тупых угла кристалла ( естественная грань исландского шпата имеет вид ромба с углами около 102 и 78°). Спилим эти углы по плоскостям, перпендикулярным оптической оси (рис.3.2). Пропуская через такой кристалл узкие пучки света, легко убедиться, что двойное лучепреломление всегда отсутствует, если луч в кристалле распространяется параллельно его оптической оси. Следовательно, формулируя понятие оптической оси, имеет смысл говорить о некотором направлении, а не о линии. [c.115]

Если напряжения превосходят граничное значение а и, следовательно, кривые податливостей П t) не укладываются в узкий пучок кривых линейной области, то применение линейных уравнений (5.11) и (5.13) не-Рис. 5.3 законно. В таких случаях для опи- [c.218]

Для линейных свойств деформаций материала кривые модулей релаксации R (t) совпадают (или укладываются в узкий пучок, ширина которого обусловлена разбросом эксперимента). [c.221]

Изложенное относительно способа наблюдения интерференции в тонкой пластинке при помощи линзы верно и при наблюдении при помощи другой оптической системы, например трубы, или просто невооруженным глазом. Следует только иметь в виду, что при наблюдении глазом мы используем обычно гораздо более узкие пучки, чем при проектировании линзой (диаметр человеческого зрачка — около 3—5 мм). Это означает, что работает небольшой участок источ- [c.124]

Узкий пучок монохроматического света, пройдя через первую решетку с вертикальными штрихами, должен дать совокупность максимумов (нулевой и максимумы высших порядков) вдоль горизонтальной линии. [c.225]

Понятие светового луча можно получить из рассмотрения реального светового пучка в однородной среде, из которого при помощи одной или последовательности диафрагм с отверстиями выделяется узкий параллельный пучок. Чем меньше диаметр этих отверстий, тем уже выделяемый пучок, и в пределе, переходя к отверстиям сколь угодно малым, можно казалось бы получить световой луч как прямую линию. Мы знаем, однако, что подобный процесс выделения сколь угодно узкого пучка (луча) невозможен вследствие явления дифракции. Неизбежное угловое расширение реального светового пучка, пропущенного через диафрагму диаметра О, определяется углом дифракции ф к/О (направление на 1-й минимум, см. 39). Только в предельном случае, когда = О, подобное расширение не имело бы места, и можно было бы говорить о луче как о геометрической линии, направление которой определяет направление распространения световой энергии. Таким образом, световой луч есть абстрактное математическое понятие, а не физический образ, и геометрическая оптика есть лишь предельный случай реальной волновой оптики, соответствующий исчезающе малой длине световой волны. [c.272]

Пользуясь свойствами параксиальных гомоцентрических пучков, можно построить изображение небольших площадей при преломлении на сферической поверхности. Представим себе сферическую поверхность, около центра которой расположена небольшая диафрагма 00, выделяющая узкие пучки, имеющие характер параксиальных по отношению к соответствующим осям. Параксиальный [c.284]

Окуляр работает с узкими пучками, но при этом приходится иметь дело и с наклонными пучками. Поэтому в окуляре стремятся к исправлению астигматизма, кривизны поля и хроматической аберрации (см. 86). Объектив и окуляр микроскопа делаются сменными, так что можно применять различные их комбинации в зависимости от задачи. Массивный штатив н тщательно выполненные приспособления для передвижения подвижных частей микроскопа составляют существенную часть хороших аппаратов. [c.331]

Очень большое значение имеют дифракционные явления в спектрографах. Если узкая щель аппарата освещена небольшим удаленным источником света (т. е. почти параллельным пучком), то на объектив коллиматора падает очень узкий пучок света. В таком случае работала бы очень небольшая часть объектива, что соответствовало бы очень малой разрешающей способности его и, следовательно, могло бы повести к нерезкому изображению щели на ( юто-пластинке. Однако на щели происходит дифракция света, ведущая к тому, что коллиматор заполняется светом в соответствии с размерами щели. [c.366]

Кристалл исландского шпата легко выкалывается в виде ромбоэдра, причем ромбы, его ограничивающие, имеют углы 101 °52 и 78°08 (рис. 17.1). Если на такой кристалл падает узкий пучок света, то, преломляясь, он дает два [c.381]

Опыт, осуществленный Лауэ и его сотрудниками, состоит в следующем. Узкий пучок рентгеновских лучей (рис. 19.3), выделенный рядом свинцовых диафрагм 01, Оо, падает на кристалл К и, проходя сквозь него, достигает фотографической пластинки РР. На пластинке после ее проявления обнаруживается, кроме центрального пятна, соответствующего первоначальному направлению рентгеновских лучей, ряд правильно расположенных пятнышек (рис. 19.4). Их положение вполне определено для данного кристалла и меняется, если [c.408]

Узкий пучок рентгеновских лучей, вырезанный диафрагмами Ос и />2, падает на кристалл К, покачиваемый с помощью часового механизма. [c.410]

Схема опыта Комптона показана на рис. 33.1. Узкий пучок рентгеновских лучей, выделяемый диафрагмами рассеи- [c.653]

В качестве зонда для прощупывания атома Резерфорд выбрал а-частицы, т. е. быстро летящие ионы гелия с атомным весом 4 и двойным элементарным зарядом, выделяющиеся при радиоактивном распаде сложных атомов. Так как а-частицы представляют собой сравнительно тяжелые частицы (атомный вес их равен 4, т. е. масса 6,65 10 г), летящие с большой скоростью (до /l5 скорости света), то кинетическая энергия отдельных а-частиц весьма значительна. Это делает возможным непосредственное наблюдение на опыте отдельных а-частиц. Действительно, существует несколько методов таких наблюдений. Простейшим из них является метод сцинтилляций, основанный на способности а-частицы при ударе о фосфоресцирующий экран вызывать вспышку, достаточно яркую для наблюдения при помощи лупы. Можно также непосредственно наблюдать путь а-частицы в виде узкого пучка тумана в камере Вильсона. [c.719]

Если освещенность в сечении пучка изменяется немонотонно, то достаточно мощный пучок, как показывают опыты, расслаивается на более узкие пучки, оси которых проходят через точки с повышенными зпачения.ми освещенности. Это явление часто наблюдается при распространении лазерного излучения, не отличающегося высокой степенью пространственной когерентности. [c.824]

Рассмотрим схему голографического интерферометра фазовых объектов (рис. 43). Узкий пучок света от лазера 13 через щель II падает на полупрозрачную пластину 5, где он делится на два. Отраженный пучок зеркалом 6 направляется на микрообъектив 4, который находится в фокусе сферического зеркала 1. Расширенный луч, отражаясь от зеркала 1, формирует плоскую волну, проходящую через рабочую зону интерферометра и направляется вторым сферическим зеркалом 2, плоскими зеркалами 7, 4 и линзой 15 на фотопластинку 17. Это объектная световая волна. [c.105]

Узкий пучок молекул или атомов при своем движении из нагревателя Я в детектор Д проходит через все три магнитных поля, которые, взаимодействуя с магнитными моментами атомов и ядер, ориентируют их в соответствии с возможными значениями для проекций векторов / и /. В результате вектор магнитного момента будет прецессировать с частотой Лармора вокруг направления внешнего магнитного поля подобно волчку в поле силы тяжести. [c.75]

Методика отклонения пучков в магнитных полях не могла быть использована для определения магнитного момента нейтрона, так как опыты с узкими пучками требуют очень высокой плотности потока частиц, которую трудно достичь для нейтронов даже при помощи современных ядерных реакторов. Тем более это было невозможно сделать при помощи обычных нейтронных источников. [c.77]

Я. Г. Дорфман предпринял попытку изменить Схема опыта Дорфмана представлена в двух проекциях на рис. 10.8. От источника 1 узкий пучок электронов пропускали через тонкую (d 20 мкм) фольгу никеля 2, помещенную между полюсами электромагнита 4. На фотопластинке 3 регистрировали след пучка. При постановке опыта предполагалось, что если фольга намагничена до насыщения параллельно ее поверхности, то молекулярное поле Bi ориентировано во всем образце параллельно внешнему полю В, т. е. перпендикулярно скорости электронов в пучке (рис. 10.8,а). Если это внутреннее поле Bi имеет магнитную природу, fo пучок электронов при прохождении через фольгу должен отклоняться под действием суммарного поля B+Bi. Это должно привести к смещению следа электронов на фотоснимке. При выбранных Дорфманом условиях опыта ожидалось получить смещение мм (рис. 10.8,6). Однако оказалось, что отклонение пучка электронов значительно меньше Ь 0,3 мм). Это отклонение [c.335]

Если на достаточно толстый кристалл исландского шпата направить узкий пучок света, то после преломления он даст два пространственно разделенных световых пучка (рис. 17.1). Даже в том случае, когда первичный пучок света падает нормально к естественной грани кристалла, т. е. угол падения равен нулю, преломленный пучок разделяется на два, причем один из них представляет собой продолжение падающего, а второй отклоняется, так что угол преломления отличен от нуля. При вращении кристалла вокруг направления падающего света один из преломленных лучей останется неподвижным, а второй будет обходить вокруг первого. [c.31]

Недостаток компенсатора Бабине состоит в том, что необходимо использовать очень узкие пучки света, так как для широкого пучка в разных его местах возникнут различные разности фаз. [c.55]

Эффект Комптона состоит в изменении длины волны рентгеновских лучей, происходящем при их рассеянии в веществе. Схема опыта Комптона приведена на рис. 27.1. Выделяемый диафрагмами 1 и 1 узкий пучок рентгеновского излучения направляется на рассеивающее вещество 2. Спектральный состав рассеянного излучения исследуется с помощью рентгеновского спектрографа, со- [c.178]

Рис. 42.4. Массовый коэффициент ослабления узкого пучка у-излучения в различных веществах в зависимости

Магнитами А и D создаются сильно неоднородные магнитные поля, градиенты которых направлены противоположно друг другу и перпендикулярно направлению движения пучка. Магнит С создает однородное магнитное поле в перпендикулярном движению пучка направлении. Диафрагма S между магнитами А п С выделяет из потока атомов узкий пучок. Источник атомов О и приемник П атома расположены вдоль оси прибора. [c.226]

В опыте Штерна Герлаха узкий пучок атомов серебра, находящихся в нормальном состоянии, проходит со скоростью V = 1000 м/с сильно неоднородное магнитное поле протяженностью д = 410 ми падает на пластину, расположенную на расстоянии 10 м от места выхода пучка из магнитного поля. Расщепление при этом равно 1 мм. Определить градиент магнитного поля. [c.230]

При просвечивании изделий в случае использования геометрии узкого пучка излучения (отношение длины коллиматора к его ширине не менее 10 1) степень ослабления потока быстрых нейтронов из источника в поток тепловых нейтронов в месте установки детектора составляет 10 . Таким образом, если иеобходима плотность потока тепловых нейтронов 10 см , то соответствующий выход быстрых нейтронов из источника должен состав- см [c.287]

Выполненными в [128] измерениями пропускания инфракрасных дисперсных фильтров (также относящихся к концентрированным дисперсным системам) не установлены отклонения от закона Бугера для этих систем. Измерения интенсивности рассеянного концентрированной системой света, порожденного узким падающим пучком, показали, что для некоторых направлений рассеяния (угол рассеяния порядка нескольких градусов) наблюдаются отклонения от закона Бугера [159]. По-видимому, в результате рассе 1ния происходит пространственное перераспределение энергии, которое становится заметным при рассеянии узких пучков. В то же время для полусферического рассеянного излучения в концентрированных дисперсных средах не происходит нарушения закона Бугера. [c.140]

Поверхностная закалка при нагреве лазером. Лазеры — это генераторы света (квантовые генераторы оптического диапазона). В основу их работы положено усиление электромагнитных колебаний при помощи индукцированного излучения атомов (молекул). Лазерное излучение монохроматично, распространяется очень узким пучком и характеризуется чрезвычайно высокой концентрацией энергии. Для промышленных целей применяют лазеры, у которых в качестве активных тел, т. е. источников генерируемого излучения, служат 1) твердые тела (твердотельные лазеры) рубины, иттрий-алюминиевые гранаты (ИАГ) и стекла, активированные неодимом [c.225]

Схема опыта Комптона представлена на рис. 15.5. Монохроматическое рентгеновское излучение с длиной волны I, исходящее из рентгеновской трубки, проходит через диафрагмы D и и в виде узкого пучка направляется па рассеиватель. Рассеянные лучи анализируются с помош,ью спектрографа рентгеновских лучей. С помощью этого опыта Комптоном было установлено, что при рассеянии рентге- ] l f f рааеибатель новских лучей наблюдается увеличение [c.347]

Рис. 15.12. Распределение плотноети протонных звезд по толщине защиты (2, г — расетояпне от оси пучка) а — проинтегрированное распределение по радиусу пучка б — ослабление потока протонов в условиях узкого пучка.

Ликойчатк..1е скактры. Вая -ным фактором, свидетельствующим о сложной внутренней структуре атомов, было открытие линейчатых спектров. Исследования показали, что при нагревании до высокой температуры пары любого химического элемента испуска ют свет, узкий пучок которого разлагается призмой на несколько узких пучков света различного цвета. Совокупность наблюдае- [c.307]

В качестве основного объекта исследования разумно и по сей день выбирать упомянутый выше исландский шпат, хотя почти все кристаллы в той или иной степени обладают этим свойством. Опыт показывает, что при освещении кристалла исландского шпата узким пучком света в нем возникают два луча, которые со времен Гюйгенса называют обыкновенным и необыкновенным (рис.3.1). Этот эффект наблюдается и при нормальном падении света на естественную грань кристалла. Для необыкновенного луча показатель преломления rig зависит от направления луча а кристалле, тогда как Пд — показатель преломления обыкновенного луча — остается постоянным при любом угле падения световой волны на кристалл. В частности, для исландского шпата (для света с длиной волны X = 5893А — желтый дуб.иет натрия) Лц = 1,658, а 1,486 < < 1,658. Следовательно, в данном случае Пе < По- Такие кристаллы называют отрицательными. Вместе с тем существует широкий класс веществ (например, кристаллический кварц), для которых > л,,. Такие кристаллы называют положительными. [c.114]

Мы предполагаем пучок настолько узким, т. е. угол ф настолько малым, что практически можно считать отрезок LS равным LA, L S равным L A ИТ. д. Такой узкий пучок будем называть параксиальным ). Итак, условие параксиальности пучка есть [c.280]

Используются и другие варианты метода магнитного резонанса. Отличие их друг от друга в основном сводится к способу обнаружения переориентации магнитных моментов в резонансном поле. В одном ив способов, например, переориентация обнаруживается по испусканию или поглощению квантов излучения, которым сопровождается переориентация диполей, в другом — по наведению прецессирующими ядерными спинами э. д. с. в катушке, помещенной около исследуемого образца. Оба способа не требуют создания узких пучков и неоднородных полей. [c.77]

Для определения магнитного момента нейтрона был использован несколько измененный ло сравнению со способом Рабн вариант метода магнитного резонанса. В этом методе нейтроны пропускаются последовательно через два намагниченных до насыщения ферромагнетика, причем не требуется узких пучков. [c.77]

Эти соотношения легко проиллюстрировать на опыте. Пусть на кристалл К исландского шпата (рис. 17.5, а) падает узкий пучок линейно поляризованного света, прошедшего через поляризатор П. Два луча, вышедшие из кристалла, дадут на экране два светлых кружка О и . При повороте кристалла вокруг оси, совпадающей с направлением обыкновенного луча, кружок О останется неподвижным, а центр кружка Е будет перемещаться вокруг него ПО окружности, обозначенной на рис. 17.5, б пунктиром. При этом яркость обоих пучков не будет постоянной. Если установить кристалл таким образом, чтобы направление колебаний вектора Е в падающем и обыкновенном лучах совпадали (и=0, см. рис. 17.4), то интенсивность обыкновенного луча будет максимальна, а необыкновенный луч полностью погаснет. При повороте кристалла на некоторый угол появится необыкновенный луч и достигнет наибольшей яркости при а=я/2, а обыкновенный луч исчезнет. При а = я интенсивность обыкновенного луча снова станет максимальной, а ршобыкновенный луч исчезнет и т. д. Однако суммарная яркость обоих лучей останется неизменной (см. область перекрытия кружков на рис. 17.5,6). [c.33]

НОМ рассеянии и для узких пучков. Как и в случае широкого пучка, часть рассеянных лучей из боковой части пучка может дополиительно попасть в приемник. Как туда попадают некоторые многократно рассеянные лучи, показано на рис. 21.14. Эти обстоятельства особенно важно учитывать количественно для рентгеновских и у-лучей, которые очень слабо поглощаются веществом и для которых доля рассеяния в общем ослаблении падающего пучка значительна. [c.101]

Очевидно, что чем меньше угол конуса, т. е. чем уже пучок звуковых волн, создаваемых пластиной, тем медленнее падает амплитуда звуковой волны в направлении иормали к пластине. Поэтому во многих случаях (например, чтобы озвучить длинную, но узкую площадь) выгодно применять источники звука, дающие узкий пучок волн, т, е. направленные источники звука. Для этого потребовались бы пластины, например мембраны громкоговорителей, размеры которых больше длины звуковой волны. Однако даже для средних звуковых частот (волны длиной 20—30 см) это условие выполнить невозможно. Мембраны сами по себе практически не могут дать направленного излучения звуковых волн. Более того, так как мембраны практически приемлемых размеров оказываются много меньше длины волн для длинных звуковых волн, то на низких частотах явление дифракции играет заметную роль уже в непосредственной близости к мембране. Даже вблизи мембраны создаваемые ею волны существенно отличаются от плоских. Поэтому приведенный выше расчет мощности, излучаемой пластиной, в этом случае неприменим. [c.741]

Как указывалось, вдали от излучателя невозможно получить узкий, нерасходя-щийся пучок волн, поперечные размеры которого сравнимы с длиной волны. Между тем как с точки зрения использования звуковой энергии (передачи звуковых сигналов на большие расстояния), так и для решения ряда специальных задач иногда необходимо получать возможно более узкие пучки звуковых волн. Осуществить это можно, только применяя достаточно короткие акустические волны, лежащие за верхней границей слышимости уха человека. Такие ультразвуковые волны, или ультразвуки, не только позволяют решить указанную важную задачу прикладно11 акустики, но представляют интерес и с других точек зрения. Все сказанное выше об акустических волнах и акустических приборах остается в общем справедливым и для ультразвуков, но малые длины волн и соответственно высокие частоты колебаний придают особые черты всей этой области явлений. [c.743]

Радиометрия — это метод получения информадии о внутреннем состоянии объекта контроля с регистрацией выходящего пучка излучения в виде электрических сигналов. Схема данного метода контроля приведена на рис. 6.17. В радиометрии используют в основном два метода среднетоковый и импульсный, которые различают способами регистрации излучения и электронной обработки информации. Контроль осуществляется сканированием объекта узким пучком. Плотность потока выходного пучка при наличии дефекта меняется и преобразуется в электрический сигнал, пропорциональный плотности пучка. В среднетоковом методе используют сцинцилляционные кристаллы, которые выдают сигнал в виде среднего тока, а в импульсном — полупроводниковые счетчики, которые регистрируют излучение в виде последовательности импульсов двумя независимыми полупроводниковыми детекторами. [c.164]

При прохождении у излучения через вещество наиболее интенсивно протекают три процесса фотоэффект, комптон-эффект и рождение электронно-позитронных пар. Каждый из этих процессов приводит к удалению, фотона из пучка. Поэтому ослабление узкого пучка мо-ноэнергетических фотонов описывается экспонентой [c.1170]

В настоящее время рентгеновское излучение применяется в мировой практике для измерения толщины проката от —0,2 до 15—20 мм (по стали) и редко, с худшим быстродействием, до — 35 мм. Этот диапазон толщин перекрывается, как правило, тремя-четырь-мя моделями с трубками и высоковольтными устройствами разных типов. Большая интенсивность потока даже в узких пучках в сочетании с оптимальным его значением позволяет проводить измерения с погрешностью менее 1 % при высоком быстродействии. Кроме того, благодаря значительной интенсивности рентгеновской трубки можно увеличить рабочий зазор, что облегчает эксплуатацию аппаратуры на стане. Поэтому рентгеновские толщиномеры широко применяют, несмотря на сложность аппаратуры и обслуживания (табл. 2). [c.389]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...