Ошибка возбуждения

Фиг. 8.1. Схема, иллюстрирующая волновые векторы волн, возникающих в кристалле, когда на его поверхность падает волна с вектором Ко-Показана ошибки возбуждения Сд для точек решетки Ь и аккомодация точка Лауэ 1 и волновые векторы для одной блоховской волны.

В своей оригинальной статье Бете [22] принял во внимание то обстоятельство, что (особенно при дифракции электронов) условие, при котором в кристалле существуют только два пучка, никогда полностью не удовлетворяется. Всегда присутствуют некоторые слабые пучки, отвечающие таким точкам обратной решетки, для которых ошибка возбуждения велика, но не настолько, чтобы вклад их полностью исчез. Для специального класса отражений систематического ряда ошибки одинаковы, и систематические взаимодействия соответствующих слабых волн с сильными дифракционными волнами всегда одинаковы для любого направления падающего пучка, удовлетворяющего углу Брэгга для отражения h. Этот систематический ряд содержит ряд целых или почти целых кратных величин вектора решетки h, как показано на фиг. 8.5. [c.188]

Условие Брэгга для h удовлетворяется при любой ориентации падающего луча, для которого сфера Эвальда проходит через h, т. е. при любом вращении плоскости чертежа вокруг линии О Ь. Для любой такой ориентации ошибки возбуждения для отражения nh будут всегда одинаковы. [c.188]

Когда выполняется условие Брэгга для одного отражения, другие отражения систематического ряда имеют одинаковые ошибки возбуждения. [c.189]

Таким образом, двухволновое решение приводит к формуле кинематической интенсивности, если сила взаимодействия с решеткой, пропорциональная о , стремится к нулю и если для конечного ошибка возбуждения достаточно велика. [c.196]

Другими словами, эти уравнения устанавливают, что изменение амплитуды прошедшего пучка с толщиной определяется рассеянием от пучка И с изменением фазы на я/2, и рассеивающей способностью, пропорциональной коэффициенту Фурье потенциала Фд. Амплитуда дифрагированного пучка модифицируется благодаря рассеянию из прошедшего пучка с изменением фазы, так как волновой вектор к , проведенный в данную точку обратной решетки, не равен вектору, проведенному в начало обратной решетки ко, но отличается от него на ошибку возбуждения [c.223]

Второй специальный случай, отмеченный буквой б на фиг. 10.3, соответствует такому наклону падающего пучка, при котором сфера Эвальда точно проходит через точки обратной решетки ООО, 200, 220 и 020. Тогда четыре соответствующих пучка будут эквивалентны в том смысле, что они имеют одинаковые ошибки возбуждения и взаимодействуют друг с другом и с последовательными концентрическими рядами пучков через одинаковые потенциалы взаимодействия. При группировке этого набора отражений эффективное число пучков снова уменьшается. В этом случае пучок ООО выделится среди остальных пучков, если будут наложены граничные условия для входной поверхности, но дальше этого упрощение задачи не идет. [c.227]

В малоугловом приближении это есть ошибка возбуждения для точки обратной решетки с координатами [c.239]

Знак выбран так, чтобы удовлетворить условию, согласно которому ошибка возбуждения должна быть положительной для точек обратной решетки внутри сферы Эвальда, когда падаюш,ий пучок направлен в сторону положительных г. Интересно отметить, что кривизна сферы Эвальда, содержащаяся в выражении [c.239]

F(hn, k , / ) относятся только к л-му процессу рассеяния, ошибки возбуждения являются интегральными и определяются историей рассеяния на слоях от 1 до п. Это сильно затрудняет после-дуюш,ее упрощение (11.28). [c.240]

Каждый полином только один раз содержит каждую возможную при заданном показателе степени комбинацию переменных независимо от их порядка. Ошибки возбуждения в этих выражениях определяются так же, как в (11.26), и, следовательно, зависят от всех индексов для всех процессов рассеяния вплоть до п = т. [c.244]

Таким образом, выражение (11.44), получаемое суммированием первого столбца в (11.43), дает амплитуды дифрагированных пучков, когда все ошибки возбуждения в сумме дают нуль, как если бы сфера Эвальда была плоской или длина волны была равна нулю. То есть выражение (11.44) дает приближение высоких энергий. [c.245]

При измерении поглощения и отражения образец лучше всего поместить за выходной щелью монохроматора, чтобы избежать возбуждения других процессов под действием излучения с длинами волн за пределами интересующей спектральной области. Например, при освещении образца с широким спектром фотоны, для которых К(й> АЕ, могут образовывать электронно-дырочные пары. Последние, рекомбинируя, будут испускать фотоны с меньшей энергией, что может привести к ошибкам в измерении поглощения. [c.167]

Исследованиями установлено, что причинами возникновения виброударных процессов являются циклическая ошибка основного шага зацепления, которая служит источником кинематического возбуждения в системе, и наличие в зацеплении бокового зазора, который приводит к уменьшению числа условий связи в механизме и ударному взаимодействию парциальных систем. [c.143]

Из выражения (V. 6) видно, что в дорезонансной области частот, где перемещения сосредоточенных масс системы имеют один и тот же знак, возбуждение динамических нагрузок характеризуется низкой эффективностью, так как /Сэ<1. Для обеспечения оптимальных условий возбуждения достаточно параметры системы и частоту со выбрать такими, чтобы знаменатель выражения (V. 6) обращался в нуль. Анализируя полученное при этом уравнение, приходим к выводу, что максимальная эффективность возбуждения возможна только в зарезонансной области частот и что такой наиболее выгодный режим нагружения в то же время обеспечивает наибольшую точность испытаний. Это объясняется тем, что повышения эффективности возбуждения можно достичь изменением только массы mi, не влияющей, согласно выражениям (V. 3) и (V. 4), на величину динамической ошибки. Величина этой массы может быть найдена путем решения относительно mi уравнения, получающегося после приравнивания нулю знаменателя выражения (V. 6). Полагая, что условие 01 = —, при котором А=0, выполнено, получаем гпг [c.100]

Подсчет и экспериментальные наблюдения показали, что на малых частотах возбуждения динамическая ошибка невелика и при использовании данных статической тарировки ею можно [c.135]

Парциальная частота продольных колебаний рамы обычно значительно выше частоты возбуждения, поэтому можно принять т,- = 0. Для этих условий ошибка клапанного разделителя определится выражением [c.346]

Чтобы выявить сущность предлагаемого метода нахождения динамической ошибки, вернемся к уравнению (5.1). Выше было указано, что в этом уравнении при неизменных параметрах возбуждения все коэффициенты являются функциями положения механизма, так что [c.159]

Вместе с тем из практики известно, что при определенном характере возбуждения динамические ошибки сбалансированного механизма могут достигать заметной величины даже при пренебрежимо малых зазорах в кинематических парах. Для того чтобы рассмотреть это явление, обратимся к анализу влияния сил сухого трения на движение механизма в случае поступательно-круговой вибрации его стойки. [c.210]

Поэтому для определения величины возбуждения разобьем находящуюся в зацеплении зубчатую пару плоскостями, перпендикулярными оси вращения колес на ряд косозубых колес с элементарной шириной dB (рис. 1), для которых величиной изменения ошибки по длине зуба можно пренебречь. Тогда усилие Р в каждой i-й зубчатой паре dB-ro сечения можно записать как [3] [c.106]

Накопленная ошибка шага приводит к возбуждению зубчатой передачи на оборотных частотах, а также на модулированной или зубцовой частоте. [c.110]

На практике, неудобно записывать кривую качания, поворачивая для этого тонкий совершенный кристалл в электронном пучке . Вместо этого можно использовать любой из двух методов. Так, например, можно наблюдать в электронном микроскопе светлопольные или темнопольные изображения равномерно изогнутой плоскопараллельной кристаллической пластинки. Для плоской падающей волны угол падения на плоскости решетки меняется при перемещении электронного пучка вдоль кристалла, как показано на фиг. 9.2. Интенсивность прошедшего и дифракционного пучков в любой точке выходной поверхности будет зависеть от ошибки возбуждения для плоскостей решетки в данной точке, и при постоянной кривизне кристалла ошибка возбуждения будет меняться вдоль кристалла почти линейно. Тогда, если в изображении участвуют дифракционные пучки, интенсивность в результирующем изображении будет меняться, согласно (9.4), как функция расстояния вдоль кристалла, эквивалентная изменению Прямые проходящие пучки дадут светлопольное изображение, которое в этом случае, если пренебречь поглощением, покажет изменение интенсивностей 1— / ( й). [c.197]

В общем единственный способ оценить результат динамического взаимодействия большого числа пучков в кристалле — это выполнить большое количество подробных п-волновых вычислений для разных кристаллов, имеющих набор по толщине и ориентациям, и попытаться проанализировать результаты. Существуют, однако, специальные случаи, для которых результат п-волновой дифракции можно понять из сравнения с более простым аналогичным результатом для относительно малого числа пучков. Существуют случаи высокой симметрии в дифракционной картине, когда некоторые пучки из набора пучков эквивалентны в том смысле, что имеют равные ошибки возбуждения и взаимодействуют через эквивалентные значения структурного фактора Способ, в котором такие ряды эквивалентных пучков могут соединяться, давая для каждого ряда один характерный пучок, продемонстрировал Йённес [158], использовавший представление с помощью интегрального уравнения этот подход применял Фишер [137]. Другое приближение, через матричную формулировку уравнения (10.8), дал Фукухара 151 ]. [c.225]

Это приближение фазовой решетки можно рассматривать как первый член ряда—так называемого ряда фазовой решетки, в котором последующие члены включают в себя последовательно другие столбцы членов в (11.43) и, как ожидают, соответствуют учету трехмерных дифракционных эффектов с возрастающей точностью. Однако для членовэтого ряда, за исключением первого, не найдено подходящей формы упрощения. И на самом деле не сразу видно, что члены более высокого порядка могут быть полезны, так как содержат все более высокие положительные степени ошибок возбуждения, а следовательно, выделяют менее важные отражения — те отражения, для которых ошибка возбуждения велика. [c.246]

Из выражений( 13.14) и (13.15) определить изменение контраста и положения полос от решетки в двухволновом приближении как функцию толщины кристалла и ошибки возбуждения для случая, когда поглощение отсутствует (ср. с работой Хашимото и др. [1801). [c.311]

Даже в случае двухволновой ориентации, когда удовлетворяется условие Брэгга для сильного близкого отражения, а для всех других сильных отражений ошибки возбуждения велики, известно, что для очень тонкого кристалла появляется большое число дифракционных пучков. Таким образом, представляет интерес способ сведения ситуации к двухволновой через увеличение толщины. В первых п-волновых вычислениях без учета поглощения предполагалось, что относительные интенсивности всех пучков устанавливаются на первомэкстинкционном расстоянии, т.е. основной периодичности, которую дает падающий пучок. Помимо этого, все пучки сохраняли свои относительные интенсивности, усредненные по нескольким экстинкционным расстояниям для всех толщин. [c.336]

Для большей части отражений, по-видимому, сильные -волновые динамические взаимодействия, которые происходят для многих ориентаций небольших кристаллов, усредняются и мало сказываются на интенсивностях порошкограмм, но, как и можно было ожидать, систематические взаимодействия остаются, поскольку, когда данное отражение возбуждается, ошибки возбуждения [c.364]

Как следует из табл. 3—6, более высокая максимальная ошибка (в метрике пространства С) наблюдается па первых временных интервалах проводимых экспериментов, что связано с особенностями автоматической установки начальных условий и состояний возбуждения на моделях, набираелтых на АВМ типа МН-18М. [c.72]

В случае пассивных пневмодемпферов внешнее возбуждение выбиралось в виде суммы гармонических составляющих с рационально независимыми частотами. Это позволит (п. 4) равномерно пройти фазовой траекторией исследуемую область определения модели и, регулируя амплитуды гармонических составляющих, осуществить различные движения (большие, средние и малые). Как показывают результаты, приведенные в табл. 1, 2, линейная модель дает удовлетворительное приближение лишь на малых движениях. Оценки параметров для этих случаев показывают, что они нечувствительны к появлению нелинейных членов-в характеристике жесткости, а погрешности при этом практически не снижаются. Следовательно, полученные в этих случаях погрешности могут быть отнесены к ошибкам воспроизведения таких классов уравнений на АВМ. [c.82]

Ошибки при определении напряжений в испытываемых образцах и возникающих при этом динамических погрешностей для машин с возбуждением постоянной силой и машин других типов имеют существенно различный характер. Динамические ошибки в определении нагруженности образца порождаются колебаниями упругой системы, возникающими в результате биения вращающихся деталей. Сложившиеся представления о характере динамических ошибок в рассматриваемых машинах сводятся к тому, что биение системы существенно влияет на амплитуду возбуждаемых в образце напряжений, увеличивая ее с ростом величины начального биения. Поэтому к точности изготовления и тщательности установки зах вато в и образцов предъявляются очень высовие требования. [c.89]

Если объем жидкости в цилиндре пульсатора мал и парциальная частота объема жидкости в трубопроводе, запертом иа входе в цилиндр машины, много выше частоты возбуждения и. можно пренебречь влиянием fee feo, то значе П1е ошибки силоизмерения при золотипковом разделителе примет вид [c.346]

В среднечастотном диапазоне возбуждение вибрации станка определяется высшими гармониками возмущающих сил, действующих в низкочастотном диапазоне, процессом пересопряже-ния зубьев, циклическими ошибками в зацеплении зубчатых передач и т. п. Возмущающие силы в этом диапазоне — узкополосные случайные процессы с определенной средней частотой, амплитудой и фазой, статистически меняющейся около некоторого среднего значения. В первом приближении возмущение можна также считать детерминированным. [c.54]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...